步優(yōu)化，進(jìn)一步的，為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明 所述方法，在所述將其中一個(gè)通道設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的基礎(chǔ)上進(jìn)一步將設(shè)置為最大檢 測(cè)范圍的通道的檢測(cè)范圍劃分為N個(gè)小區(qū)間檢測(cè)范圍，即將N個(gè)小區(qū)間檢測(cè)范圍分別設(shè)置 為-IOV~+10V, -5V~+5V, -2. 5V~+2. 5V, 0~10V, 0~5V等或?qū)?yīng)的電流范圍，在此不 便窮舉。
[0060] 實(shí)施例7 :
[0061] 本實(shí)施例是在實(shí)施例4或5或6的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的，為更好的實(shí)現(xiàn)本 發(fā)明所述方法，在所述步驟B中，對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，不 輸出該次的轉(zhuǎn)換結(jié)果；對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)包括僅對(duì)設(shè)置為 最大檢測(cè)范圍的通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)和對(duì)所有通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)。
[0062] 實(shí)施例8 :
[0063] 本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的，為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明 所述方法，所述步驟C包括以下具體方法：
[0064] 步驟C. 1、針對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，通過(guò)MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測(cè)值， 確定一個(gè)適合該初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍并再次對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行初始化設(shè)置；
[0065] 步驟C. 2、針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，包括：
[0066] 步驟C. 2. 1、當(dāng)僅對(duì)設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，通過(guò) MCU處理器判斷設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道初檢測(cè)值，確定一個(gè)適合設(shè)置為最大檢測(cè)范圍 的通道初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng)的所述設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通 道；
[0067] 步驟C. 2. 2、當(dāng)對(duì)所有通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，通過(guò)MCU處理器判斷N個(gè) 通道初檢測(cè)值后，確定一個(gè)適合N個(gè)通道初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng) 的通道N。
[0068] 所述最小檢測(cè)范圍，即可以充分利用A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)精度的范圍；如果檢測(cè)到輸入 模擬量是+2V，最小檢測(cè)范圍（即最小的檢測(cè)區(qū)間）可以選擇-2. 5V~+2. 5V;如果檢測(cè)的 模擬量是+9V，最小檢測(cè)范圍（即最小的檢測(cè)區(qū)間）可以選擇0~+IOV ;如果檢測(cè)的模擬量 是_4V，最小檢測(cè)范圍（即最小的檢測(cè)區(qū)間）可以選擇-5V~+5V，在此不便窮舉。
[0069] 實(shí)施例9 :
[0070] 本實(shí)施例是在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)一步優(yōu)化，進(jìn)一步的，為更好的實(shí)現(xiàn)本發(fā)明 所述方法，所述步驟D中，針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，包括對(duì)設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道再 進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)或/和對(duì)通道N再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)。
[0071] 實(shí)施例10 :
[0072] 如圖2所示，針對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)，當(dāng)開(kāi)始 后，包括以下步驟：
[0073] 步驟A、設(shè)定最大的檢測(cè)區(qū)間，將單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍設(shè)定為最大；
[0074] 步驟B、讀取初始模擬量，對(duì)輸入到單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢 測(cè)時(shí)，但不輸出該次的轉(zhuǎn)換結(jié)果；
[0075] 步驟C、判定模擬量所屬最小區(qū)間及調(diào)整檢測(cè)區(qū)間，通過(guò)MCU處理器判斷所述步驟 B的初檢測(cè)值，確定一個(gè)適合該初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍并再次對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn) 行初始化設(shè)置；
[0076] 步驟D，經(jīng)步驟C后，再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)并讀取精確模擬量，輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果即 輸出模擬量至應(yīng)用端。
[0077] 實(shí)施例11 :
[0078] 如圖3所示，針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)，當(dāng)開(kāi)始 后，使用多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行模擬量檢測(cè)時(shí)僅對(duì)單一通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)的 情況下，包括以下步驟：
[0079] 步驟A、設(shè)定各個(gè)通道不同檢測(cè)區(qū)間，設(shè)定通道1 (亦可2-N通道中任一通道）為最 大檢測(cè)區(qū)間；設(shè)定其余通道為不同的檢測(cè)區(qū)間，及通道1的不同子區(qū)間；
[0080] 步驟B、讀取通道1模擬量，對(duì)輸入到多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)通道1的模擬量進(jìn)行 一次初檢測(cè)；
[0081 ] 步驟C、判定模擬量所屬最小區(qū)間，通過(guò)MCU處理器判斷通道1初檢測(cè)值，根據(jù)通道 1的不同子區(qū)間確定一個(gè)適合通道1初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng)區(qū)間 的通道；
[0082] 步驟D，經(jīng)步驟C后，再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)并讀取對(duì)應(yīng)區(qū)間的通道的精確模擬 量，輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果即輸出模擬量至應(yīng)用端。
[0083] 實(shí)施例12 :
[0084] 如圖4所示，針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)，當(dāng)開(kāi)始 后，使用多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行模擬量檢測(cè)時(shí)對(duì)所有通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)的情 況下，包括以下步驟：
[0085] 步驟A、設(shè)定各個(gè)通道不同檢測(cè)區(qū)間，將各個(gè)通道的檢測(cè)區(qū)間范圍設(shè)定為不同，同 時(shí)將其中一個(gè)通道設(shè)置為最大檢測(cè)區(qū)間；
[0086] 步驟B、讀取所有通道模擬量，對(duì)輸入到多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)所有通道的模擬量 進(jìn)tx-次初檢測(cè)；
[0087] 步驟C、判定模擬量所屬最小區(qū)間，通過(guò)MCU處理器判斷所有通道的初檢測(cè)值，并 確定所有的檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng)區(qū)間的通道X ;
[0088] 步驟D，經(jīng)步驟C后，再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)并讀取對(duì)應(yīng)區(qū)間的通道X的精確模擬 量，輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果即輸出模擬量至應(yīng)用端。
[0089] 以上所述，僅是本發(fā)明的較佳實(shí)施例，并非對(duì)本發(fā)明做任何形式上的限制，凡是依 據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡(jiǎn)單修改、等同變化，均落入本發(fā)明的保護(hù) 范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)電路，其特征在于：包括依次連接的前端處理電 路、A/D轉(zhuǎn)換芯片及MCU處理器； 所述前端處理電路，接收輸入模擬量，完成濾波操作，濾除不需要的雜波信號(hào)，并將濾 除雜波信號(hào)的模擬量信號(hào)輸入到A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)； 所述A/D轉(zhuǎn)換芯片，接收來(lái)至前端處理電路的模擬量信號(hào)，并完成相應(yīng)的AD轉(zhuǎn)換，同時(shí) 受MCU處理器控制； 所述MCU控制器，發(fā)送控制信號(hào)至A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)，根據(jù)實(shí)際模擬量實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)改變A/D 轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)電路，其特征在于：所述 A/D轉(zhuǎn)換芯片為單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片或多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，所述多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的通 道數(shù)為N，且N為自然數(shù)。3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)電路，其特征在于： 所述MCU處理器為單片機(jī)或DSP器件或FPGA器件或CPLD器件。4. 一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：包括以下步驟： 步驟A、設(shè)定A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍； 步驟B、對(duì)輸入到A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)； 步驟C、通過(guò)MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測(cè)值，確定一個(gè)適合該初檢測(cè)值的最小 檢測(cè)范圍； 步驟D，經(jīng)步驟C后，再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)，輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果。5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：所述 A/D轉(zhuǎn)換芯片為單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片或多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，所述多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片的通 道數(shù)為N，且N為自然數(shù)。6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：所述 步驟A中，針對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，將檢測(cè)范圍設(shè)定為最大；針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，將 N個(gè)通道設(shè)置為不同的檢測(cè)范圍，且將其中一個(gè)通道設(shè)置為最大檢測(cè)范圍。7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：在所 述將其中一個(gè)通道設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的基礎(chǔ)上進(jìn)一步將設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道的 檢測(cè)范圍劃分為N個(gè)小區(qū)間檢測(cè)范圍。8. 根據(jù)權(quán)利要求5或6或7所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在 于：在所述步驟B中，對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，不輸出該次的 轉(zhuǎn)換結(jié)果；對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)包括僅對(duì)設(shè)置為最大檢測(cè)范 圍的通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)和對(duì)所有通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)。9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：所述 步驟C包括以下具體方法： 步驟C. 1、針對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，通過(guò)MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測(cè)值，確定 一個(gè)適合該初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍并再次對(duì)單通道A/D轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行初始化設(shè)置； 步驟C. 2、針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，包括： 步驟C. 2. 1、當(dāng)僅對(duì)設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，通過(guò)MCU 處理器判斷設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道初檢測(cè)值，確定一個(gè)適合設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通 道初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng)的所述設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道； 步驟C. 2. 2、當(dāng)對(duì)所有通道的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)時(shí)，通過(guò)MCU處理器判斷N個(gè)通道 初檢測(cè)值后，確定一個(gè)適合N個(gè)通道初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍及最小檢測(cè)范圍所對(duì)應(yīng)的通 道N。10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，其特征在于：所述 步驟D中，針對(duì)多通道A/D轉(zhuǎn)換芯片，包括對(duì)設(shè)置為最大檢測(cè)范圍的通道再進(jìn)行一次模擬量 檢測(cè)或/和對(duì)通道N再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)。
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)電路及檢測(cè)方法，所述電路包括依次連接的前端處理電路、A/D轉(zhuǎn)換芯片及MCU處理器，所述方法包括步驟A、設(shè)定A/D轉(zhuǎn)換芯片的檢測(cè)范圍；步驟B、對(duì)輸入到A/D轉(zhuǎn)換芯片內(nèi)的模擬量進(jìn)行一次初檢測(cè)；步驟C、通過(guò)MCU處理器判斷所述步驟B的初檢測(cè)值，確定一個(gè)適合該初檢測(cè)值的最小檢測(cè)范圍；步驟D，經(jīng)步驟C后，再進(jìn)行一次模擬量檢測(cè)，輸出轉(zhuǎn)換結(jié)果；通過(guò)檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)電路可實(shí)現(xiàn)檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)，利用檢測(cè)范圍自適應(yīng)的模擬量檢測(cè)方法，在AD的位數(shù)一定的情況下，通過(guò)算法自動(dòng)識(shí)別當(dāng)前模擬量，自適應(yīng)調(diào)節(jié)到使電路精度最高的檢測(cè)范圍，實(shí)現(xiàn)最優(yōu)精度的模擬量檢測(cè)。
【IPC分類(lèi)】G05B19/042
【公開(kāi)號(hào)】CN105159182
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510383310
【發(fā)明人】周瑩, 夏奎
【申請(qǐng)人】成都樂(lè)創(chuàng)自動(dòng)化技術(shù)股份有限公司
【公開(kāi)日】2015年12月16日
【申請(qǐng)日】2015年7月2日...