本發(fā)明涉及一種線性器件值估計方法和電容檢測方法，其中的每一個檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點處形成的多個電容器的電容分布。本發(fā)明還涉及均根據(jù)所述方法進行操作的集成電路、觸摸傳感器系統(tǒng)以及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：
已知一種用于檢測以矩陣分布的線性器件值的設(shè)備。專利文獻1例如公開了一種用于檢測形成于M個驅(qū)動線與L個讀出線之間的電容矩陣Cij（i＝1,…,M且j＝1,…,L）的電容值的分布的觸摸傳感器設(shè)備（接觸檢測設(shè)備）。觸摸傳感器設(shè)備根據(jù)掃描檢測方法進行操作；具體地，觸摸傳感器設(shè)備連續(xù)地選擇驅(qū)動線中的一個并因此檢測連接到所選驅(qū)動線的線性器件的各值。專利文獻2公開了一種電容檢測電路，其（i）在驅(qū)動多個驅(qū)動線時，基于時間系列代碼序列在第一驅(qū)動線組與第二驅(qū)動線組之間切換，（ii）在被驅(qū)動驅(qū)動線與讀出線的多個交叉點處輸出通過將跨越連接到讀出線的電容的各電流的總和轉(zhuǎn)換成電信號而獲得的測量電壓，以及（iii）對每個讀出線執(zhí)行此類測量電壓和代碼序列的積和操作，從而發(fā)現(xiàn)對應(yīng)于每個交叉點處的電容的電壓值。專利文獻6公開了一種電容分布檢測電路，其檢測多個電容器的電容分布，該電容器均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點處形成。如專利文獻6的圖1中所示，（i）用于驅(qū)動觸摸面板的驅(qū)動線路與（ii）用于從觸摸面板讀出信號的讀出線的位置關(guān)系相對于觸摸面板是固定的。圖27是圖示出常規(guī)觸摸傳感器系統(tǒng)91的配置的框圖。圖28是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)91中提供的觸摸面板93的配置的示意圖。觸摸傳感器系統(tǒng)91包括觸摸面板93和電容分布檢測電路92。觸摸面板93包括被布置成在水平方向上相互平行的驅(qū)動線HL1至HLM、被布置成在垂直方向上相互平行的傳感線VL1至VLM以及均在驅(qū)動線HL1至HLM與傳感線VL1至VLM的交叉點處形成的電容器C11至CMM。電容分布檢測電路92包括驅(qū)動器95。驅(qū)動器95根據(jù)代碼序列向驅(qū)動線HL1至HLM施加電壓，以驅(qū)動電容器C11至CMM。電容分布檢測電路92包括讀出放大器96。讀出放大器96經(jīng)由讀出線VL1至VLM來讀出對應(yīng)于由驅(qū)動器95驅(qū)動的電容器C11至CMM的電壓的線性和，并將電壓的此線性和供應(yīng)給A/D轉(zhuǎn)換器98。A/D轉(zhuǎn)換器98將經(jīng)由讀出線VL1至VLM讀出的與電容器相對應(yīng)的電壓的線性和從模擬轉(zhuǎn)換成數(shù)字，并將已轉(zhuǎn)換線性和供應(yīng)給電容分布計算部99。電容分布計算部99基于（i）從A/D轉(zhuǎn)換器98供應(yīng)的與電容器相對應(yīng)的電壓的線性和，以及（ii）代碼序列來計算觸摸面板93上的電容分布，并且將計算結(jié)果供應(yīng)給觸摸識別部90。觸摸識別部90基于從電容分布計算部99供應(yīng)的電容分布來識別在觸摸面板93上觸摸的位置。電容分布檢測電路92包括定時發(fā)生器97。定時發(fā)生器97生成指定驅(qū)動器95的操作的信號、指定讀出放大器96的操作的信號以及指定A/D轉(zhuǎn)換器98的操作的信號，并將這些信號分別地供應(yīng)給驅(qū)動器95、讀出放大器96以及A/D轉(zhuǎn)換器98。引用列表專利文獻1日本專利申請公開，特開，No.2010–92275A（公開日期：2010年4月22日）專利文獻2日本專利公開號4364609，說明書（公開日期：2005年6月16日）專利文獻3日本專利公開號4387773，說明書（公開日期：2005年6月16日）專利文獻4日本專利申請公開，特開，No.2005–114362A（公開日期：2010年4月28日）專利文獻5日本專利申請公開，特開，No.2005–134240A（公開日期：2010年5月26日）專利文獻6美國專利號7,812,827（2010年10月12日）。

技術(shù)實現(xiàn)要素：
技術(shù)問題然而，根據(jù)掃描檢測方法操作的專利文獻1的觸摸傳感器設(shè)備的缺點在于要求觸摸傳感器設(shè)備在一段時間內(nèi)（T/m）完成同時地選擇和掃描多個線路、從而檢測電容矩陣Cij的電容的過程。針對以上符號T/m，T表示給定以獲得二維分布電容值的時間段，并且m表示掃描次數(shù)。一般地能夠用諸如求平均的過程來更好地改善檢測過程的準確度，因為過程時間較長。另一方面，（i）給定以獲得電容值的時間段T需要較短以便觸摸傳感器設(shè)備跟隨高速操作，并且（ii）掃描次數(shù)M需要較大以便改善分辨率。（i）和（ii）中的任一個有問題地減少了過程時間（T/m）并因此降低檢測準確度。專利文獻2的電容檢測電路為了抵消測量電壓中的偏移誤差，（i）基于代碼序列在驅(qū)動第一驅(qū)動線群組與驅(qū)動第二驅(qū)動線群組之間切換，并且（ii）用基于第一驅(qū)動線群組的驅(qū)動的測量電壓減去基于第二驅(qū)動線群組的驅(qū)動的測量電壓（參見說明書段落[0058]和[0061]）。然而，該電容檢測電路執(zhí)行兩級操作，并且在同時地實現(xiàn)高速操作和功率消耗減少方面有問題地不那么有效。以下描述考慮其中用導(dǎo)電筆經(jīng)由觸摸傳感器系統(tǒng)91的觸摸面板93來接收輸入的情況。圖29是描述在觸摸傳感器系統(tǒng)91中生成的幻像噪聲的視圖。優(yōu)選的是導(dǎo)電筆的尖端是鋒利的，具有約1mm至4mm的直徑，以便防止在使用的意義上的劣化。此外，為了容易書寫，優(yōu)選的是能夠在其中手的手掌位于大尺寸觸摸面板上的狀態(tài)下使用筆。在本說明書中，將其中將握住導(dǎo)電筆以進行輸入的手被放置在觸摸面板上的區(qū)域稱為“手放置區(qū)域”。通過制造電容分布檢測電路92使得經(jīng)由讀出線從設(shè)置在手放置區(qū)域HDR（圖29中所示）中的電容器讀出的信號不被接收，應(yīng)可以在其中握住導(dǎo)電筆以進行輸入的手被放置在觸摸面板上的狀態(tài)下在筆輸入位置P處用筆輸入條目。在前述背景下，用于輸入的導(dǎo)電筆的筆尖端的觸摸信號與放置在觸摸面板上的手的觸摸信號相比是極弱的，該手握住導(dǎo)電筆以進行輸入，并且具有約10倍至20倍的SN比的差。此外，人體接收存在于空間中的電磁噪聲，并且由人體從空間接收到的此電磁噪聲通過握住導(dǎo)電筆以進行輸入的手被輸入到觸摸面板中。被輸入到觸摸面板中的電磁噪聲被疊加在流過所提供的讀出線的信號上，握住導(dǎo)電筆以進行輸入的手被放置在該讀出線上。這導(dǎo)致在手被放置在其上面的讀出線的位置上生成錯誤信號，在圖29中被示為幻像噪聲NZ。結(jié)果，出現(xiàn)變得難以檢測筆的信號的問題。此外，不僅限于通過使用筆的輸入，當使用軟件鍵盤（應(yīng)用程序）時，還存在智能電話方面的問題，即如果由用戶的身體接收到的電磁噪聲是大的，則在用戶的手指等碰觸的讀出線上生成幻像噪聲，從而促使未被按壓的軟件鍵盤的鍵起作用。在本說明書中，這樣生成的錯誤信號被稱為“幻像噪聲”，其中，由人體從空間接收到的電磁噪聲經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中，并被疊加于在手、手指等觸屏的讀出線中流動的信號上。例如，如圖29中所示，幻像噪聲NZ在限制線L1和L2之間的區(qū)域中生成，所述限制線L1和L2沿著讀出線SL1至SLM限制手放置區(qū)域HDR，并且其在手放置區(qū)域HDR外面。本發(fā)明的目的是提供一種線性器件值估計方法、電容檢測方法、集成電路、觸摸傳感器系統(tǒng)以及電子設(shè)備，其中的每一個使得能夠消除通過用已接收到電磁噪聲的人體的手、手指等觸摸面板而生成的幻像噪聲所引起的效應(yīng)。問題的解決方案根據(jù)本發(fā)明的線性器件值估計方法是一種估計線性設(shè)備值以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個線性器件的值的分布的方法該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于線性器件的輸出；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于線性器件的輸出，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于代碼序列di來并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以及因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的線性器件的輸出的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第二信號線設(shè)置的線性器件的值，即（i）沿著各第二信號線輸出的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列di來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以及因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的線性器件的輸出的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第一信號線提供的線性器件的值，即（i）沿著各第一信號線輸出的線性和和（ii）代碼序列di。根據(jù)此特征，在第一定時中，第一信號線被驅(qū)動以從第二信號線輸出對應(yīng)于線性器件的輸出，在第一定時之后的第二定時中，控制第一和第二信號線的連接的切換，并且在第二定時之后的第三定時中，驅(qū)動第二信號線以從第一信號線輸出對應(yīng)于線性器件的輸出。因此，可以從第一信號線和第二信號線兩者輸出對應(yīng)于線性器件的輸出。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。一種根據(jù)本發(fā)明的電容檢測方法是一種檢測電容分布的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di來并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和和（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列di來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di。根據(jù)本發(fā)明的集成電路是一種集成電路，其檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該集成電路（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以使第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；（ii）在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以使第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，所述集成電路包括：驅(qū)動部，其針對多個電容器中的每一個，基于如下這樣的代碼序列di，即包括均為+1或–1的元素以使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V的代碼序列di，（a）在第一定時中并行地驅(qū)動多個第一信號線，以（b）使得沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作在第一定時中估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來在第三定時中估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di。根據(jù)本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)是一種觸摸傳感器系統(tǒng)，包括：傳感器面板，包括均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器；以及集成電路，其控制所述傳感器面板，該觸摸傳感器系統(tǒng)檢測所述多個電容器的電容分布，所述觸摸傳感器系統(tǒng)（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線以使得第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，（ii）在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線以使得第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，并且所述集成電路包括：驅(qū)動部，其針對所述多個電容器中的每一個基于代碼序列di，該代碼序列包括均是+1或–1的元素，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，（a）在第一定時中并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以（b）使得沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作在第一定時中估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來在第三定時中估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di。根據(jù)本發(fā)明的電子設(shè)備包括：根據(jù)本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)；以及顯示面板，其被放置在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板，或者包含傳感器面板。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di來并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以及因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和到模擬積分器；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和和（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以及因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出到模擬積分器的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，步驟（A）在模擬積分器被復(fù)位時以用電壓Vref表示的第一電壓來驅(qū)動所述多個第一信號線，并且當對沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和進行采樣時，以（i）針對代碼序列中的+1的元素的第二電壓，該第二電壓用電壓（Vref+V）來表示，以及（ii）針對代碼序列中的–1的元素的第三電壓，該第三電壓用高電壓（Vref–V）來表示，驅(qū)動所述多個第一信號線。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，并且因此（b）沿著所述第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所訴多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以及因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，步驟（A）針對代碼序列中的+1的元素（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和進行采樣時以第二電壓來驅(qū)動所述多個第一信號線，并且針對代碼序列中的–1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對線性和進行采樣時以第一電壓驅(qū)動所述多個第一信號線。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以及因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出到模擬積分器的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以及因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出到模擬積分器的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，該電容檢測方法還包括：在步驟（A）之前的步驟：（E）（a）當模擬積分器被復(fù)位時且當對沿著各第二信號線輸出到模擬積分器的電荷的線性和進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動所述多個第一信號線，使得電荷的線性和的輸出被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出電荷的線性和的輸出作為偏移輸出，以及（c）將該偏移輸出存儲在存儲器中。根據(jù)本發(fā)明的另一集成電路是一種集成電路，其檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，所述集成電路（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線以使得第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，（ii）在第一定時之后的第二定時中，控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線以使得第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，該集成電路包括：驅(qū)動部，其針對所述多個電容器中的每一個，基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，（a）在第一定時中，并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以（b）使得沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作來在第一定時中估計沿著第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且針對所述多個第一信號線中的每一個基于以下兩者的內(nèi)積操作在第三定時中估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，該驅(qū)動部針對代碼序列中的+1的元素（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對來自所述多個電容器的輸出進行采樣以第二電壓驅(qū)動第一信號線或第二信號線，并且針對代碼序列中的–1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對來自所述多個電容器的輸出進行采樣時以第一電壓來驅(qū)動第一信號線或第二信號線。根據(jù)本發(fā)明的另一集成電路是一種集成電路，其檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該集成電路（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線以使得第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，（ii）在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線以使得第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，該集成電路包括：驅(qū)動部，其針對所述多個電容器，基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，（a）在第一定時中并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以（b）使得沿著所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積在第一定時中估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，以及針對所述多個第一信號線中的每一個基于以下兩者的內(nèi)積在第三定時中估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，該驅(qū)動部在從所述多個電容器向模擬積分器輸出輸出之前，（a）當模擬積分器被復(fù)位時且當對來自所述多個電容器的輸出進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動第一信號線或第二信號線，使得來自所述多個電容器的輸出被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出來自所述多個電容器的輸出作為偏移輸出，以及（c）將該偏移輸出存儲在存儲器中。根據(jù)本發(fā)明的另一觸摸傳感器是一種觸摸傳感器系統(tǒng)，包括：傳感器面板，包括均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器；以及集成電路，控制傳感器面板，該觸摸傳感器系統(tǒng)檢測所述多個電容器的電容分布，該觸摸傳感器系統(tǒng)（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線以使得第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，（ii）在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線以使得第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，并且所述集成電路包括：驅(qū)動部，其針對所述多個電容器中的每一個，基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，（a）在第一定時中并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以（b）使得所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積在第一定時中估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，以及針對所述多個第一信號線中的每一個,基于以下兩者的內(nèi)積，在第三定時中估計沿著第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，該驅(qū)動部針對代碼序列中的+1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對來自所述多個電容器的輸出進行采樣時以第二電壓來驅(qū)動第一信號線或第二信號線，并且針對對代碼序列中的–1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對來自所述多個電容器的輸出進行采樣時以第一電壓來驅(qū)動第一信號線或第二信號線。根據(jù)本發(fā)明的另一觸摸傳感器系統(tǒng)是一種觸摸傳感器系統(tǒng)，包括：傳感器面板，包括均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器；以及集成電路，其控制傳感器面板，該觸摸傳感器系統(tǒng)檢測所述多個電容器的電容分布，所述觸摸傳感器系統(tǒng)（i）在第一定時中驅(qū)動第一信號線以使得第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，（ii）在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線以使得第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，所述集成電路包括：驅(qū)動部，其針對所述多個電容器中的每一個，基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，（a）在第一定時中并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，以（b）使得所述多個第二信號線中的每一個輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和，以及（c）在第三定時中并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，以（d）使得沿著所述多個第一信號線中的每一個輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及估計部，其針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積操作在第一定時中估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積在第三定時中估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，所述驅(qū)動部在從所述多個電容器向模擬積分器輸出輸出之前，（a）當模擬積分器被復(fù)位時且當對來自所述多個電容器的輸出進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動第一信號線或第二信號線，使得來自所述多個電容器的輸出被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出來自所述多個電容器的輸出作為偏移輸出，以及（c）將該偏移輸出存儲在存儲器中。根據(jù)本發(fā)明的另一電子設(shè)備包括：根據(jù)本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)；以及顯示面板，其被放置在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板，或者包含傳感器面板。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中，控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，并行地驅(qū)動所述多個信號線，使得針對所述多個第一信號線中的+1的元素施加電壓+V，并且針對所述多個第一信號線中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，并且因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的相應(yīng)元素的總和的絕對值來切換模擬積分器的增益。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中，控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1的元素的代碼序列di，并行地驅(qū)動所述多個信號線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，并且因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第一信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第一信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和，根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的相應(yīng)元素的總和的絕對值來將代碼序列的列劃分成多個列，從而將所述多個第一信號線的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中，控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1且對應(yīng)于用Sylvester法創(chuàng)建的2n維哈德碼矩陣的各行的元素的代碼序列di，并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，并且因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第一信號線形成的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出到模擬積分器的電極的線性和與（ii）代碼序列di，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和，將代碼序列的第一列劃分成多個列，從而將用于代碼序列的第一列的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。根據(jù)本發(fā)明的另一電容檢測方法是一種檢測電容的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中，控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，驅(qū)動第一信號線的步驟包括：（A）（a）基于包括均為+1或–1且對應(yīng)于用Sylvester方法創(chuàng)建的2n維哈德碼矩陣的各行的元素的代碼序列di，并行地驅(qū)動所述多個第一信號線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）沿著所述多個第二信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第二信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（B）針對所述多個第二信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第二信號線形成的電容器的電容，即（i）到模擬積分器的沿著各第二信號線輸出的電荷的線性和與（ii）代碼序列di，并且驅(qū)動第二信號線的步驟包括：（C）（a）基于代碼序列來并行地驅(qū)動所述多個第二信號線，并且因此（b）沿著所述多個第一信號線中的每一個向模擬積分器輸出與所述多個第一信號線中的那相應(yīng)的一個對應(yīng)的電容器中所存儲的電荷的線性和；以及（D）針對所述多個第一信號線中的每一個，基于以下兩者的內(nèi)積來估計沿著該第一信號線形成的電容，即（i）沿著各第一信號線輸出到模擬積分器的電極的線性和與（ii）代碼序列ii，步驟（A）將第一代碼序列的特定列劃分成多個列，該特定列具有沿著列方向存在于第一代碼序列中的相應(yīng)元素的總和的絕對值，該絕對值超過用于模擬積分器的飽和的閾值Num，從而將用于該特定列的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。本發(fā)明的有利效果根據(jù)本發(fā)明的線性器件值檢測方法包括以下步驟：在第一定時中驅(qū)動第一信號線以從第二信號線輸出對應(yīng)于該線性器件的輸出；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于該線性器件的輸出。相應(yīng)地，該方法在第一定時中驅(qū)動第一信號線以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，并且在第一定時之后的第二定時中控制第一和第二信號線的連接的切換，并且在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷。這允許從第一信號線和第二信號線兩者輸出對應(yīng)于線性器件的輸出。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。附圖說明圖1圖1是圖示出第一實施例的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的電路圖。圖2圖2是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的集成電路的估計部的配置的框圖。圖3圖3是描述用于驅(qū)動在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板的方法的圖。圖4圖4是描述用于驅(qū)動傳感器面板的方法的定時圖。圖5圖5是圖示出作為到在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板的輸入的正交代碼序列的第一特定示例的圖。圖6圖6是圖示出正交代碼序列的第二特定示例的圖。圖7圖7是圖示出正交代碼序列的第三特定示例的圖。圖8圖8是圖示出用于驅(qū)動在實施例2的觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板的方法的定時圖。圖9圖9是圖示出用于驅(qū)動在實施例2的觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板的方法的另一定時圖。圖10圖10是圖示出用于驅(qū)動實施例3的傳感器面板的方法的圖。圖11圖11（a）和（b）是均圖示出供在驅(qū)動實施例4的傳感器面板時使用的代碼序列的圖。圖12圖12是圖示出供在驅(qū)動實施例5的傳感器面板時使用的代碼序列的圖。圖13圖13是圖示出用于驅(qū)動傳感器面板的方法的圖表。圖14（a）是用于解釋上述實施例的代碼序列的圖，該代碼序列是基于M序列的圖，并且（b）是圖示出基于M序列的代碼序列的特定示例的圖。圖15圖15是圖示出包括觸摸傳感器系統(tǒng)的移動電話的配置的功能框圖。圖16圖16是圖示出根據(jù)實施例7的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的框圖。圖17圖17是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)中提供的觸摸面板的配置的示意圖。圖18圖18是圖示出（a）被連接到觸摸面板的信號線與（b）被連接到驅(qū)動器的驅(qū)動線和被連接到讀出放大器的讀出線之間的連接開關(guān)電路的配置的電路圖。圖19圖19是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)的電容器分布檢測電路提供的復(fù)用器的配置的電路圖。圖20在圖20的（a）和（b）中所示的是用于描述觸摸傳感器系統(tǒng)的操作方法的示意圖。圖21在圖21的（a）和（b）中所示的是用于描述觸摸傳感器系統(tǒng)的另一操作方法的示意圖。圖22圖22是圖示出根據(jù)實施例8的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的框圖。圖23圖23是圖示出（a）被連接到觸摸面板的信號線與（b）被連接到驅(qū)動器的驅(qū)動線和被連接到讀出放大器的讀出線之間的連接開關(guān)電路的配置的電路圖。圖24圖24是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)的電容器分布檢測電路提供的復(fù)用器的配置的電路圖。圖25圖25是圖示出根據(jù)實施例9的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的框圖。圖26圖26是圖示出根據(jù)實施例10的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的框圖。圖27圖27是圖示出常規(guī)觸摸傳感器系統(tǒng)的配置的框圖。圖28圖28是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)中提供的觸摸面板的配置的示意圖。圖29圖29是描述在觸摸傳感器系統(tǒng)中生成的幻像噪聲的視圖。具體實施方式下面參考圖1至26來描述本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)的實施例。（實施例1）（實施例1的觸摸傳感器系統(tǒng)的配置）圖1是圖示出本實施例的觸摸傳感器系統(tǒng)1的配置的電路圖。觸摸傳感器系統(tǒng)1包括：傳感器面板2；以及用于控制傳感器面板2的集成電路3。傳感器面板2包括：M個驅(qū)動線DL1至DLM，相互平行，在水平方向上被提供，從而以預(yù)定間隔相互分離；L個讀出線SL1至SLL，在與驅(qū)動線交叉的這樣的方向上被提供且相互平行，從而以預(yù)定間隔相互分離；以及電容Cij（其中，i=1至M，并且j=1至L），在M個驅(qū)動線DL1至DLM與L個讀出線SL1至SLL的各交叉點處以M行×L列的矩陣被提供。集成電路3包括：驅(qū)動部4，被連接到M個驅(qū)動線DL1至DLM；以及估計部5。圖2是圖示出在集成電路3中所包括的估計部5的配置的框圖。估計部5包括：L個模擬積分器6，分別被連接到L個讀出線SL1至SLL；開關(guān)7，被連接到L個模擬積分器6；AD轉(zhuǎn)換器8，被連接到開關(guān)7；內(nèi)積計算部9，被連接到AD轉(zhuǎn)換器8；以及RAM10，被連接到內(nèi)積計算部9。模擬積分器6均包括：運算放大器，第一輸入端被接地；積分電容Cint，在運算放大器的輸出端與其第二輸入端之間提供；第一晶體管，被連接到運算放大器的第二輸入端；以及第二晶體管，被與第一晶體管并聯(lián)地連接到第二輸入端。集成電路3還包括應(yīng)用程序處理部11，其被連接到內(nèi)積計算部9，并且其以240Hz執(zhí)行手勢識別過程（例如，ARM）。集成電路30因此包括模擬電路和數(shù)字電路兩者。（常規(guī)觸摸傳感器系統(tǒng)的操作）以下描述首先涉及在上述專利文獻1中公開的常規(guī)觸摸傳感器設(shè)備的操作，并且然后詳細地涉及本實施例的觸摸傳感器系統(tǒng)1的操作。下面著眼于在M個驅(qū)動線與L個讀出線的各交叉點處且具體地在其中連續(xù)地選擇單獨驅(qū)動線的掃描檢測時以矩陣形式形成的電容Cij（其中，i＝1,…,M且j＝1,…,L）的檢測。被連接到所選驅(qū)動線的電容Cij（j＝1,…,L）均被供應(yīng)電壓V，從而存儲電荷（信號）Cij×V。假設(shè)此信號經(jīng)由讀出線被讀出，使得獲得增益G，如下表示要檢測的信號：。（本實施例的觸摸傳感器系統(tǒng)的操作）圖3是圖示出用于驅(qū)動在觸摸傳感器系統(tǒng)1中所包括的傳感器面板2的方法的圖。圖3中所示的與在圖1和2中示出并參考的其各自等同物相同的組成部分均被相應(yīng)地給定相同的附圖標記。在這里未詳細地描述圖3中的此類組成部分。首先，本發(fā)明的本實施例準備代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中，i＝1,…,M）。代碼序列di相互正交且包括+1和–1。此外，代碼序列di均具有代碼長度N。均具有代碼長度N的代碼序列di（di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）的正交性意味著代碼序列di滿足以下條件：其中如果i=k，則δik=1如果i≠k，則δik=0。驅(qū)動部4基于代碼序列di并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線DL1至DLM，使得向?qū)?yīng)于+1的每個電容施加電壓+V，并且向?qū)?yīng)于–1的每個電容施加電壓–V。電容Cij（其中i＝1至M且j＝1至L）因此均根據(jù)代碼序列中的對應(yīng)元素（+1或–1）來存儲電荷（信號）±Cij·V。模擬積分器6然后均（i）經(jīng)由其到對應(yīng)讀出線的連接將存儲在連接到讀出線的電容中的電荷相加，并且因此（ii）讀出針對其對應(yīng)讀出線的信號。模擬積分器6因此獲得輸出序列矢量sj（=sj1,sj2,…,sjN,其中j=1,…,L）。圖4是圖示出用于驅(qū)動傳感器面板2的方法的定時圖。首先，復(fù)位信號將（i）模擬積分器6的積分電容Cint和（ii）以矩陣形式在傳感器面板2中提供的電容復(fù)位。本文所使用的術(shù)語“復(fù)位”意指使電容放電。接下來，根據(jù)代碼序列中的d11,d21,d31,…,dM1的每個值（+1或–1）均在Vref+V或Vref–V下并行地驅(qū)動驅(qū)動線DL1至DLM。這促使每個對應(yīng)的電容根據(jù)代碼序列的對應(yīng)元素±1來存儲電荷±CV。然后，模擬積分器6中的對應(yīng)的一個（i）經(jīng)由其到對應(yīng)讀出線的連接將存儲在連接到讀出線的電容中的電荷相加，并且因此（ii）讀出針對其對應(yīng)讀出線的信號。模擬積分器6然后輸出用下式表示的結(jié)果（在此電路中，G＝–1/Cint），其隨后根據(jù)采樣信號而在AD轉(zhuǎn)換器8中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換。以上操作生成表示為下式的輸出序列矢量sji并且因此為了發(fā)現(xiàn)代碼序列di與輸出序列矢量sj的內(nèi)積di·sj其中如果i=k，則δik=1如果i≠k，則δik=0。公式1和公式2之間的比較顯示本實施例的方法使得可以檢測一信號，該信號為由常規(guī)掃描讀出方法所檢測的信號的N倍大。增益GF在其中通過使用圖1和2中所示的模擬積分器6經(jīng)由讀出線來讀出信號的情況下為1/Cint，所述模擬積分器6亦即電荷積分器，均包括配備有積分電容Cint的運算放大器。集成電路3的驅(qū)動部4因此并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，使得對于第一電容列Cip（其中p不小于1且不大于（L–1），并且i＝1,…,M）和第二電容列Ciq（其中，p<q，q不小于2且不大于L，并且i＝1,…,M）中的每一個而言，根據(jù)代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M），向電容施加+V和–V，從而分別地對應(yīng)于代碼序列的+1和–1，其相互正交且包括+1和–1的元素，并且其中的每一個具有長度N。驅(qū)動部4然后促使（i）第一電容列輸出sFirst（＝sp1,sp2,…spN）和（ii）第二電容列輸出sSecond（＝sq1,sq2,…,sqN）。來自對電容列的輸出sFirst（＝sp1,sp2,…,spN）均被對應(yīng)的模擬積分器6求積分，而來自第二電容列的輸出sSecond（＝sq1,sq2,…,sqN）均也被對應(yīng)的模擬積分器6求積分。開關(guān)7連續(xù)地選擇模擬積分器6中的一個，分別地對應(yīng)于讀出線SL1至SLL，從而向AD轉(zhuǎn)換器8供應(yīng)來自每個電容列的輸出，其均已被對應(yīng)的模擬積分器6求積分。具體地，輸出sp1被首先從第一電容列讀出到第一模擬積分器6，并被第一模擬積分器6求積分，同時地，輸出sq1被從第二電容列讀出到第二模擬積分器6且被第二模擬積分器6求積分。然后，開關(guān)7連接到第一模擬積分器6，從而向ADC8供應(yīng)如上那樣讀出和求積分的輸出sp1。開關(guān)7然后從第一模擬積分器6斷開連接并連接到第二模擬積分器6，從而向ADC8供應(yīng)如上那樣讀出和求積分的輸出sq1。接下來，輸出sp2被從第一電容列讀出到第一模擬積分器6并被第一模擬積分器6求積分，同時地，輸出sq2被從第二電容列讀出到第二模擬積分器6并被第二模擬積分器6求積分。然后，開關(guān)7對應(yīng)于第一模擬積分器6，從而向ADC8供應(yīng)如上讀出和積分的輸出sp2。開關(guān)7然后從第一模擬積分器6斷開連接并連接到第二模擬積分器6，從而向ADC8供應(yīng)如上那樣讀出和求積分的輸出sq2。此操作允許經(jīng)由第一和第二模擬積分器6和開關(guān)7連續(xù)地將輸出sp1至spN和輸出sq1至sqN供應(yīng)給ADC8。用于所有讀出線的模擬積分器6根據(jù)驅(qū)動線的驅(qū)動而并行地操作。AD轉(zhuǎn)換器8相對于來自每個電容列的輸出執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換，該輸出均被模擬積分器6中的對應(yīng)的一個求積分，并且將作為結(jié)果的輸出供應(yīng)給內(nèi)積計算部9。內(nèi)積計算部9參考存儲在RAM10中的數(shù)據(jù)，通過計算對應(yīng)輸出sFirst和對應(yīng)代碼序列di的內(nèi)積來估計（i）第一電容列中的電容值，該電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線（其中，1≤k1<M），并且通過計算對應(yīng)輸出sSecond和對應(yīng)代碼序列di的內(nèi)積來估計（ii）第二電容列中的電容值，該電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線（其中，k1<k2且1<k1≤M）。應(yīng)用程序處理部11基于電容的電容值來執(zhí)行手勢識別過程，該電容值是由內(nèi)積計算部9估計的，并且因此生成手勢命令。（代碼序列的特定示例）圖5是圖示出作為到傳感器面板2的輸入的正交代碼序列的第一特定示例的圖。例如，可以具體地如下所述地創(chuàng)建均具有長度N的正交代碼序列di。用圖5中所示的Sylvester方法來創(chuàng)建哈德碼矩陣，其為正交代碼序列的典型示例。該方法首先創(chuàng)建2行×2列的構(gòu)建塊作為基本結(jié)構(gòu)。該構(gòu)建塊包括四個位，其中，右上方的一個、左上方的一個以及左下方的一個是彼此相同的，而右下方的一個是上述位的逆。該方法然后將右上方、左上方、右下方以及左下方位置處的上述2×2基本結(jié)構(gòu)的四個塊組合，從而以4行×4列的位布置來創(chuàng)建代碼。該方法還如在2×2構(gòu)建塊的上述創(chuàng)建中那樣對在右下方塊中的位求逆。接下來，該方法同樣地以8行×8列的位布置來創(chuàng)建代碼，并且然后以16行×16列的位布置來創(chuàng)建代碼。這些矩陣均滿足本發(fā)明中的“正交”的上述定義。在其中例如本實施例的傳感器面板2包括16個驅(qū)動線的情況下，本實施例使用圖5中所示的16行×16列的位布置中的代碼作為正交代碼序列。哈德碼矩陣是包括均為1或–1的元素且包括相互正交的行的方形矩陣。換言之，哈德碼矩陣中的每兩個行表示相互垂直的矢量。本實施例的正交代碼序列可以是從N維哈德碼矩陣獲取的任何M行矩陣（其中M≤N）。如下所述，在本發(fā)明中可以替換地使用用除Sylvester方法之外的方法創(chuàng)建的哈德碼矩陣。圖6是圖示出正交代碼序列的第二特定示例的圖。圖7是圖示出正交代碼序列的第三特定示例的圖。雖然可以用N＝2的冪來表示用Sylvester方法創(chuàng)建的任何N維哈德碼矩陣，但假設(shè)如果N是4的倍數(shù)，則可以創(chuàng)建哈德碼矩陣。例如，圖6圖示出其中N＝12的哈德碼矩陣，其中，圖7圖示出其中N＝20的哈德碼矩陣。用除Sylvester方法之外的方法創(chuàng)建的這些哈德碼矩陣能夠替換地被用作本實施例的正交代碼序列。（如何計算內(nèi)積）通過下述步驟來計算內(nèi)積矩陣C'ij＝di·sj。（1）集成電路3將存儲在估計部5的RAM10（參見圖2）中的內(nèi)積矩陣復(fù)位為C'ij＝0。（2）驅(qū)動部4在時間tk（其中，k是1,…,N中的一個）并行地以電壓V×dik來驅(qū)動第i驅(qū)動線DLi（其中，i=1,…,M），從而為均已連接電容供應(yīng)電荷Cij×V×dik。（3）集成電路3將模擬積分器6連接到其對應(yīng)的讀出線j（其中，j=1,…L），使得模擬積分器6均從已經(jīng)在時間tk被充電的電容中的對應(yīng)的一個讀出輸出電壓sjk。開關(guān)7然后連續(xù)地向AD轉(zhuǎn)換器8供應(yīng)用于時間tk的L個輸出電壓sjk以用于轉(zhuǎn)換。L個輸出電壓sjk已被L個各模擬積分器6讀出，其被提供為從而對應(yīng)于L個讀出線。AD轉(zhuǎn)換器8相對于用于時間tk的輸出電壓sjk執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換，并且然后將其供應(yīng)給內(nèi)積計算部9。如下表示這樣被供應(yīng)給內(nèi)積計算部9的用于時間tk的輸出電壓sjk：。（4）內(nèi)積計算部9根據(jù)（i）從AD轉(zhuǎn)換器8輸出的L個各輸出電壓sjk和（ii）存儲在RAM10中的代碼序列dik相對于Cij來執(zhí)行加法或減法。具體地，如果正在討論中的代碼序列dik為1，則內(nèi)積計算部9執(zhí)行加法，而如果正在討論中的代碼序列dik為–1，則其執(zhí)行減法。內(nèi)積計算部9然后基于加法或減法的結(jié)果來更新Cij的值：。（5）將以上程序重復(fù)N次，從而對應(yīng)于每個代碼序列的長度，同時，時間的值以各增量（亦即，tk+1）增加。該過程然后返回至步驟（1）。完成上述步驟促使C'ij具有等于內(nèi)積計算的結(jié)果的值。如上所述，本實施例的傳感器面板2包括M個驅(qū)動線和L個讀出線，并且具有針對每個代碼序列的長度N。在其中例如在4英寸級移動數(shù)據(jù)終端等中使用傳感器面板2的情況下，傳感器面板2將具有約3mm的節(jié)距，如果M＝16且L＝32。在其中例如在包括20英寸級屏幕的電子設(shè)備中使用傳感器面板2的情況下，傳感器面板2將具有約6mm的節(jié)距，如果M＝48且L＝80。代碼序列的長度N具有非常大的自由度，例如N＝64至512（本發(fā)明與常規(guī)技術(shù)之間的驅(qū)動概念的差異）在上述專利文獻2中公開的電容檢測電路還（i）基于代碼序列來驅(qū)動驅(qū)動線，（ii）在每個讀出線與被驅(qū)動驅(qū)動線的多個各交叉點處輸出通過將跨越連接到讀出線的電容的電流的總和轉(zhuǎn)換成電信號而獲得的測量電壓，以及（iii）針對每個讀出線，基于測量電壓和代碼序列來執(zhí)行積和操作。電容檢測電流因此發(fā)現(xiàn)對應(yīng)于各交叉點處的每個電容的電壓值。然而，此電容檢測電路在驅(qū)動驅(qū)動線的概念上如下不同于本實施例。為了簡化說明，以下描述涉及其中在單個讀出線與四個驅(qū)動線之間形成四個電容（C1、C2、C3和C4）的示例性情況。假設(shè)用于四個驅(qū)動線的驅(qū)動信號（代碼序列）是1、1、–1以及–1（在專利文獻2中1、1、0和0），本實施例針對每個驅(qū)動操作驅(qū)動所有驅(qū)動線，并且因此生成對應(yīng)于下式的積分輸出而在專利文獻2中公開的電容檢測電路僅驅(qū)動對應(yīng)于“1”的驅(qū)動線，并且因此生成對應(yīng)于下式的積分輸出。本實施例的公式3與專利文獻2的公式4之間的比較顯示在本實施例中提出的積分輸出與專利文獻2的相比具有較大的信息量。假設(shè)其中，?Ci表示電容的變化（?Ci是C的正常地約10%），其中，符號“≈”意指“幾乎相等”。由于在觸摸傳感器面板等中?Ci為C的約10%，所以公式6提供為公式5的值的約10倍大的值。這指示滿足專利文獻2的公式6的集成電路遺憾地（i）被要求設(shè)置增益，該增益為本實施例的集成電路的增益的約1/10，該集成電路滿足公式5，并且因此（ii）在S/N比方面低于本實施例的集成電路。此S/N比的差隨著驅(qū)動線的數(shù)目M的增加而進一步增加。針對每個驅(qū)動操作并行地驅(qū)動所有驅(qū)動線的本實施例不同于在專利文獻2中公開的電容檢測電路，其基于代碼序列在驅(qū)動第一驅(qū)動線群組（C1和C2）與驅(qū)動第二驅(qū)動線群組（C3和C4）之間切換，從而抵消測量電壓中的偏移誤差。在本實施例中，能夠基于在其中沒有信號正在被輸入到驅(qū)動線（亦即，在電壓Vref下驅(qū)動驅(qū)動線）的狀態(tài)下從AD轉(zhuǎn)換器8獲得的輸出來測量由于復(fù)位開關(guān)中的饋通而引起的偏移。對數(shù)字電路中的測量偏移值做減法抵消偏移誤差。（本發(fā)明與常規(guī)技術(shù)之間的正和負操作的差異）本實施例通過根據(jù)代碼序列中的值并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線、亦即通過驅(qū)動M個驅(qū)動線、使得向電容施加電壓+V和–V、從而分別地對應(yīng)于+1和–1來立刻計算公式3的值。相反，在專利文獻2中公開的電容檢測電路首先計算公式4的電容C1+C2，并且然后計算其C3+C4。專利文獻2的電容檢測電路因此執(zhí)行兩級操作，并且在同時地實現(xiàn)高速操作和功率消耗減少兩者方面不是那么有效。本發(fā)明與專利文獻2的電容檢測電路的不同之處還在于本實施例驅(qū)動驅(qū)動線，使得施加電壓–V，從而對應(yīng)于代碼序列中的–1的值，而專利文獻2的電容檢測電路僅僅在電壓+V下驅(qū)動驅(qū)動線，并且因此缺少在電壓–V下驅(qū)動驅(qū)動線的概念。（估計部5的另一配置）本實施例描述了一種示例性布置，包括（i）模擬積分器6，其被提供為從而對應(yīng)于L個各讀出線，（ii）開關(guān)7，其連續(xù)地選擇模擬積分器6中的一個，（iii）單個AD轉(zhuǎn)換器8，以及（iv）單個內(nèi)積計算部9。然而，本發(fā)明不限于此布置。本實施例可以替換地包括單個模擬積分器6，使得該單個模擬積分器6連續(xù)地選擇輸入以讀出針對每個讀出線的信號。本發(fā)明還可以替換地包括（i）AD轉(zhuǎn)換器8，被提供為從而對應(yīng)于各讀出線和各模擬積分器6，以及（ii）開關(guān)7，在AD轉(zhuǎn)換器8與內(nèi)積計算部9之間被提供。（本實施例的變化）本實施例描述了檢測在驅(qū)動線與讀出線之間形成的各電容的電容值的示例性情況。然而，本發(fā)明不限于此。本發(fā)明還可應(yīng)用于例如用于估計在驅(qū)動線與讀出線之間的各線性器件的值的布置中。本發(fā)明還可在用于估計對應(yīng)于系統(tǒng)的第k輸入端xk（k＝1,…,M）的系數(shù)Ck的布置，該系統(tǒng)包括M個輸入端xk且具有線性輸入端/輸出端。此外，可以將（i）本實施例的觸摸傳感器系統(tǒng)1和（ii）放置在觸摸傳感器系統(tǒng)1的傳感器面板2上的顯示面板相互組合，從而組成電子設(shè)備。替換地，可以將（i）觸摸傳感器系統(tǒng)1和（ii）包括傳感器面板2且具有在觸摸傳感器系統(tǒng)1中所包括的傳感器面板2的功能的顯示面板相互組合，從而組成電子設(shè)備。（實施例2）（用于在兩個電壓下驅(qū)動傳感器面板的方法）圖8是圖示出用于驅(qū)動在實施例2的觸摸傳感器系統(tǒng)1中所包括的傳感器面板2的方法的第一定時圖。在以上實施例1中參考圖4描述的用于驅(qū)動傳感器面板2的方法在三個電壓下、即Vref、Vre+V和Vref–V下驅(qū)動傳感器面板2。相反，實施例2的驅(qū)動方法在兩個電壓V1和V2下驅(qū)動傳感器面板2。具體地，對于代碼序列中的+1的值而言，該方法（i）當模擬積分器6（參見圖1）中的對應(yīng)的一個被復(fù)位時以電壓V1且（ii）對來自被連接到對應(yīng)讀出線的電容的輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動對應(yīng)的驅(qū)動線。此外，對于代碼序列中的–1的值而言，該方法（i）當模擬積分器6中的對應(yīng)的一個被復(fù)位時以電壓V2且（ii）當對來自被連接到對應(yīng)讀出線的電容的輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動對應(yīng)的驅(qū)動線。更具體地，在圖8中所示的示例中，（i）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL1，（ii）當對輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL1，（iii）當模擬積分器6下一次被復(fù)位時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL1且（iv）當下一次對輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL1，其對應(yīng)于具有元素d11＝+1和d12＝+1的代碼序列。（i）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL2，（ii）當對輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL2，（iii）當模擬積分器6下一次被復(fù)位時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL2且（iv）當下一次對輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL2，其對應(yīng)于具有元素d21＝+1和d22＝–1的代碼序列。（i）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL3，（ii）當對輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL3，（iii）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL3且（iv）當下一次對輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL3，其對應(yīng)于具有元素d31＝–1和d32＝–1的代碼序列。（i）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL4，（ii）當對輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL4，（iii）當模擬積分器6下一次被復(fù)位時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DL4且（iv）當下一次對輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DL4，其對應(yīng)于具有元素d41＝–1和d42＝+1的代碼序列。（i）當模擬積分器6被復(fù)位時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DLM，（ii）當對輸出進行采樣時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DLM，（iii）當模擬積分器6下一次被復(fù)位時以電壓V1來驅(qū)動驅(qū)動線DLM且（iv）當下一次對輸出進行采樣時以電壓V2來驅(qū)動驅(qū)動線DLM，其對應(yīng)于具有元素dM1＝–1和dM2＝+1的代碼序列。假設(shè)V1＝vdd且V2＝Vss，將輸出表示為。在上文實施例1中參考圖4描述的用于驅(qū)動傳感器面板2的方法中，如果Vref=（Vdd–Vss）/2，則因為Vdd＝Vref+V且Vss＝Vref–V。此V是圖8中所示的示例中的輸出的一半。圖8中所示的實施例2的驅(qū)動方法因此（i）實現(xiàn)為通過圖4中所示的實施例1的驅(qū)動方法實現(xiàn)的信號強度的兩倍大的信號強度，并且因此（ii）允許電容均存儲相應(yīng)地兩倍大的電荷。（讀出偏移）圖9是圖示出用于驅(qū)動在實施例2的觸摸傳感器系統(tǒng)1中所包括的傳感器面板2的方法的第二定時圖。該方法在其如圖4或8中所示并行地驅(qū)動驅(qū)動線DL1至DLM之前驅(qū)動如圖9中所示的驅(qū)動線DL1至DLM。具體地，該方法在模擬積分器6被復(fù)位時和對輸出進行采樣時以恒定電壓Vref來驅(qū)動驅(qū)動線DL1至DLM，并且因此不向驅(qū)動線供應(yīng)信號。此狀態(tài)下的方法從各模擬積分器6（參見圖1和2）讀出偏移輸出值。ADC8然后如上所述地相對于從模擬積分器6讀出的偏移輸出值來執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換。內(nèi)積計算部9接下來測量已在ADC8中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換的偏移輸出值。這樣測量的偏移輸出值均被與讀出線SL1至SLL中的對應(yīng)的一個相關(guān)聯(lián)地存儲在RAM10中。（偏移補償方法）該方法接下來如圖4或8中所示并行地驅(qū)動驅(qū)動線DL1至DLM，并且促使每個電容列向?qū)?yīng)的模擬積分器6供應(yīng)輸出。ADC8然后相對于來自電容列的輸出執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換，該輸出已被模擬積分器6接收到，并且因此將作為結(jié)果的輸出供應(yīng)給內(nèi)積計算部9。內(nèi)積計算部9接下來針對各讀出線SL1至SLL用來自電容列的輸出減去存儲在RAM10中的偏移輸出值，所述輸出是從ADC8供應(yīng)的。這抵消了由于每個模擬積分器6中的復(fù)位開關(guān)中的饋通而引起的偏移。該方法可以替換地（i）將以下程序重復(fù)多次：當模擬積分器6被復(fù)位時且當對輸出進行采樣時以恒定的電壓Vref驅(qū)動驅(qū)動線DL1至DLM；從各模擬積分器6讀出偏移輸出值；促使ADC8相對于如上讀出的偏移輸出值來執(zhí)行AD轉(zhuǎn)換；以及促使內(nèi)積計算部9測量作為結(jié)果的偏移輸出值，從而測量多組偏移輸出值，以及（ii）發(fā)現(xiàn)偏移輸出值的平均值，從而在RAM10中存儲已從其去除了在偏移中所包括的噪聲分量的平均偏移輸出值。以上多次可以被設(shè)置成針對60Hz的16次或針對240Hz的100次。（實施例3）（模擬積分器的開關(guān)增益）圖10是圖示出用于驅(qū)動實施例3的傳感器面板2的方法的圖。與其在實施例1中的各自等同物相同的本實施例的組成部分均被相應(yīng)地分配相同的附圖標記。在這里未詳細地描述本實施例的此類組成部分。本實施例涉及一示例，其涉及到（i）傳感器面板2，包括四個驅(qū)動線DL1至DL4和四個讀出線SL1至SL4，以及（ii）基于用Sylvester方法創(chuàng)建的四維哈德碼矩陣的代碼序列。本實施例包括模擬積分器6A。模擬積分器6A均包括：運算放大器，具有被連接到參考電壓Vref的第一輸入端；積分電容Cint，在運算放大器的輸出端與其第二輸入端之間提供；三個其他積分電容，被并聯(lián)地連接到該積分電容；以及三個開關(guān)，均在三個其他積分電容中的一個與運算放大器的輸出端之間提供?；谟肧ylvester方法創(chuàng)建的四維哈德碼矩陣的代碼序列包括元素，使得沿著列方向的元素的總和對于第一列而言是“4”且對于第二至第四列中的每一個而言是“0”。因此，通過將來自電容列的輸出相加獲得的值在基于代碼序列的第一列中的元素來驅(qū)動驅(qū)動線時明顯比在基于代碼序列的第二至第四列中的一個中的元素來驅(qū)動驅(qū)動線時更大。該值可以超過對應(yīng)的模擬積分器6A的容量，并且因此使模擬積分器6A飽和。鑒于此，當基于具有沿著列方向存在于代碼序列中的元素的總和的列來驅(qū)動驅(qū)動線時，該總和如此大，以致于使對應(yīng)的模擬積分器6A飽和，在對應(yīng)的模擬積分器6A中所包括的開關(guān)適當?shù)乇婚_啟，從而防止模擬積分器6A的飽和。用Sylvester方法創(chuàng)建的哈德碼矩陣不變地包括具有均為+1的元素的第一列。哈德碼矩陣因此具有第一列中的元素的總和，該總和明顯比在任何其他列中更大，并且因此可以使對應(yīng)的模擬積分器6A飽和。然而，可以通過如上所述地開啟模擬積分器6A中的開關(guān)從而對模擬積分器6A的增益進行切換來防止模擬積分器6A的此類飽和。如上所述，實施例3根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值來對每個模擬積分器6A的增益進行切換。同樣地，可以防止模擬積分器6A的飽和。（用內(nèi)積計算部的增益開關(guān)來補償用于模擬積分器的增益開關(guān)）內(nèi)積計算部9通過計算以下兩者的內(nèi)積來估計電容列中的電容值，該電容值對應(yīng)于各驅(qū)動線，即（i）代碼序列和（ii）數(shù)字值，均是通過由ADC8進行的來自電容列的輸出的AD轉(zhuǎn)換來獲得的，該輸出已被供應(yīng)給能夠?qū)ζ涓髯栽鲆孢M行切換的模擬積分器6A中的對應(yīng)的一個。內(nèi)積計算部9根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值對用于每個數(shù)字值的加權(quán)進行切換。這實現(xiàn)代碼序列的各列之間的相等的（i）模擬積分器6A的增益與（ii）通過對數(shù)字值進行加權(quán)獲得的增益的積。（實施例4）（用于驅(qū)動驅(qū)動線多次并計算內(nèi)積的劃分）圖11（a）和（b）是均圖示出供在驅(qū)動實施例4的傳感器面板2時使用的代碼序列的圖。圖11的（a）圖示出基于用Sylvester方法創(chuàng)建的四維哈德碼矩陣的代碼序列。該代碼序列與圖10的代碼序列的類似之處在于沿著列方向的元素的總和對于第一列而言是“4”且對于第二至第四列中的每一個而言是“0”。因此，從電容列獲得的輸出的總和的值在基于代碼序列的第一列中的元素來驅(qū)動驅(qū)動線時明顯比在基于代碼序列的第二至第四列中的一個中的元素來驅(qū)動驅(qū)動線時更大。該值可以超過對應(yīng)的模擬積分器6A的容量，并且因此使模擬積分器6A飽和。鑒于此，如圖11（b）中所示，本實施例將代碼序列的第一列（1、1、1、1）劃分成兩個列：用（1、1、0、0）表示的一個列和用（0、0、1、1）表示的另一列。此布置（i）將用于四個驅(qū)動線的驅(qū)動操作的數(shù)目增加4倍至5倍，以及（ii）將列方向上的元素的總和“4”劃分成“2”和“2”。以上布置因此將列方向上的元素的最大總和從“4”減小“2”，并因此防止模擬積分器的飽和。實施例4圖示出基于用Sylvester方法創(chuàng)建的四維哈德碼矩陣的示例性代碼序列。然而，本發(fā)明不限于此。本發(fā)明替換地可應(yīng)用于基于除四維哈德碼矩陣之外的2n維哈德碼矩陣的代碼序列中。本發(fā)明還可應(yīng)用于基于任何維度的哈德碼矩陣的代碼序列中，該哈德碼矩陣是用除Sylvester方法之外的方法創(chuàng)建的。（實施例5）（三角山形驅(qū)動方法）圖12是圖示出供在驅(qū)動實施例5的傳感器面板2時使用的代碼序列的圖。在實施例5的傳感器面板2中，針對在M個驅(qū)動線與L個讀出線之間形成的每個電容列并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線。同樣地基于代碼序列來驅(qū)動M個驅(qū)動線，所述代碼序列相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有代碼長度N＞M。該代碼序列對應(yīng)于用Sylvester方法創(chuàng)建的2n維哈德碼矩陣（其中M＜2n）的各行。圖12圖示出13行×16列的代碼序列的示例，其是基于16維哈德碼矩陣且其對應(yīng)于M個驅(qū)動線（其中，M＝13）。圖13是圖示出用于驅(qū)動傳感器面板2的方法的圖表。該圖表具有（i）表示圖12中所示的哈德碼矩陣（其中N＝16）的沿著列方向的位置的橫軸和（ii）表示沿著列方向存在于哈德碼矩陣（其中N＝16）中的元素的總和的絕對值的豎軸。在其中N＝16的哈德碼矩陣中，第一列中的元素均是“1”。因此，用示出線性、單調(diào)遞增的線L1來表示（i）沿著列方向（橫軸）的位置與（ii）沿著列方向（豎軸）的元素的總和的絕對值之間的關(guān)系。在其中N＝16的哈德碼矩陣中，第9列（亦即第（2（4–1）+1）列）包括從第1行直至第8行的“1”和從第9行直至第16行的“–1”。因此，用線L2來表示用于第9列的上述關(guān)系，其示出了線性單調(diào)遞增和然后的線性單調(diào)遞減，因此形成具有16的基本長度和8的高度的三角山形狀。在其中N＝16的哈德碼矩陣中，第5列（亦即，第（24–1–24–2+1）列）包括（i）從第1行直至第4行的“1”，（ii）從第5行直至第8行的“–1”，（iii）從第9行直至第12行的“1”以及（iv）從第13行直至第16行的“–1”。因此，用線L3來表示對于第5列的上述關(guān)系，其形成具有8的基本長度和4的高度的兩個三角山形狀。此外，第13列（亦即，第（24–1+24–2+1）列）包括（i）從第1行直至第4行的“1”，（ii）從第5行直至第8行的“–1”，（iii）從第9行直至第12行的“–1”以及（iv）從第13行直至第16行的“1”。因此，還用線L3來表示對于第13列的上述關(guān)系，其形成兩個三角山形狀。第3列、第7列、第11列和第15列均用線L4來表示，其形成均具有4的基本長度和2的高度的四個三角山形狀。第2列、第4列、第6列、第8列、第10列、第12列、第14列以及第16列均用線L5來表示，其形成均具有2的基本長度和1的高度的八個三角山形狀。以下描述假設(shè)沿著列方向存在于代碼序列中的元素的總和的上述絕對值具有閾值Num，在其以上，對應(yīng)的模擬積分器6（參見圖1）飽和。在圖12和13中所示的示例中，Num＝3，并且驅(qū)動線的數(shù)目是13（M＝13）。如圖13中所示，該絕對值在對應(yīng)于線L5的任何列（亦即，第2列、第4列、第6列、第8列、第10列、第12列、第14列和第16列）或?qū)?yīng)于線L4的任何列（亦即，第3列、第7列、第11列和第15列）中不超過閾值Num＝3。因此，同時地驅(qū)動M（＝13）個驅(qū)動線不會使對應(yīng)于上述列的模擬積分器6飽和。對應(yīng)于線L1的第1列超過閾值Num＝3。因此基于閾值Num＝3來驅(qū)動第1列，使得從第1驅(qū)動線開始依次地驅(qū)動均包括三個驅(qū)動線的四組，并且然后驅(qū)動驅(qū)動線DL13。這防止模擬積分器6的飽和。一般而言，執(zhí)行上述驅(qū)動，使得從第1驅(qū)動線直至第Num×[M/Num]驅(qū)動線依次地驅(qū)動均包括NuM個驅(qū)動線的[M/Num]組，并且然后并行地驅(qū)動對應(yīng)于（M/Num）的其余部分的驅(qū)動線。在以上描述中，[x]表示x的整數(shù)部分，這在以下描述中也適用。對應(yīng)于線L2的第9列超過閾值Num＝3。對于對應(yīng)于線L2的第9列而言，根據(jù)其在代碼序列中的各自對應(yīng)元素來并行地驅(qū)動第2驅(qū)動線至第13驅(qū)動線，并且然后驅(qū)動第1驅(qū)動線。一般而言，執(zhí)行上述驅(qū)動，使得首先并行地驅(qū)動基于第（2n–1–（M–2n–1））行（=第（2n–M）行）的行上的驅(qū)動線至第M行上的驅(qū)動線。接下來，從第1驅(qū)動線直至在第（2n–1–（M–2n–1））行（＝第（2n–M）行）上的驅(qū)動線依次地驅(qū)動均包括NuM個驅(qū)動線的[基于第（2n–1–（M–2n–1）–1）行/Num的行]組。然后，并行地驅(qū)動除（基于第（2n–1–（M–2n–1）–1）行/Num的行）組之外的驅(qū)動線。在實施例5的示例中，其中n＝4且M＝13，第（2n–1–（M–2n–1））行＝第3行。甚至在其中并行地驅(qū)動第3驅(qū)動線至第13驅(qū)動線的情況下，沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和是+1，其比閾值Num＝3小2。因此，甚至在其中并行地驅(qū)動第2驅(qū)動線至第13驅(qū)動線的情況下，沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和是+2，其仍小于閾值Num＝3。同樣地，雖然第（2n–1–（M–2n–1）行是第3行，但鑒于閾值Num，將第2行選作基于第（2n–1–（M–2n–1））行（＝第3行）的行，并且因此并行地驅(qū)動第2驅(qū)動線至第13驅(qū)動線。對應(yīng)于線L3的第5列和第13列均超過閾值Num＝3。對于對應(yīng)于線L3的第5列和第13列而言，首先同時地并行地驅(qū)動第1驅(qū)動線至第8驅(qū)動線。然后驅(qū)動第10驅(qū)動線至第13驅(qū)動線。接下來驅(qū)動第9驅(qū)動線。一般而言，首先同時地并行地驅(qū)動第1驅(qū)動線至第（2n–1）驅(qū)動線。接下來，并行地驅(qū)動基于第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））行的行上的驅(qū)動線至第M行上的驅(qū)動線。然后，從第（2n–1+1）行上的驅(qū)動線直至第（（基于第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2））行的行）–1）行上的驅(qū)動線依次地驅(qū)動均包括NuM個驅(qū)動線的[（（基于（（2n–1+2n–2）–（M–（2nn–1+2n–2）））））–（2n–1+1）的行/Num]組。接下來，并行地驅(qū)動除（（（基于（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））））–（2n–1+1）的行/Num）組之外的驅(qū)動線。在實施例5的示例中，其中n＝4且M＝13，第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））行＝第11行。甚至在其中并行地驅(qū)動第11驅(qū)動線至第13驅(qū)動線的情況下，沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和是+1，其比閾值Num＝3小2。因此，甚至在其中并行地驅(qū)動第10驅(qū)動線至第13驅(qū)動線的情況下，沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和是+2，其仍小于閾值Num＝3。同樣地，雖然第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））行是第11行，但鑒于閾值Num而將第10行選作基于第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））行（＝第11行）的行，并且因此并行地驅(qū)動第10驅(qū)動線至第13驅(qū)動線。以下描述涉及在其中驅(qū)動線的數(shù)目為12或更?。∕＜12）的情況下如何驅(qū)動傳感器面板2。以下描述首先涉及其中8＜M≤12的情況：對于線L1和線L2中的每一個而言，驅(qū)動方法與上文針對線L1或線L2所述的對應(yīng)的一個相同。對于線L3而言，首先同時并行地驅(qū)動第1行上的驅(qū)動線至第（2n–1）行上的驅(qū)動線。接下來，從第（（2n–1）+1）行上的驅(qū)動線直至第（2n–1）+Num×[（M–（2n–1））/Num]行上的驅(qū)動線依次地驅(qū)動均包括NuM個驅(qū)動線的[（M–（2n–1））/Num]組。然后，并行地驅(qū)動除（（M–（2n–1））/Num）組之外的驅(qū)動線。以下描述現(xiàn)在涉及其中4＜M≤8的情況：對于線L1而言，驅(qū)動方法與上文針對線L1所述的相同。對于線L2而言，驅(qū)動方法也與上文針對線L1所述的相同。對于線L3而言，驅(qū)動方法與上文針對M（驅(qū)動線數(shù)目）＝13的情況的線L2所述的相同。以下描述涉及其中M≤4的情況：對于線L1而言，驅(qū)動方法與上文針對線L1所述的相同。對于線L2和線L3中的每一個而言，驅(qū)動方法也與上文針對線L1所述的相同。以下描述涉及如何在其中閾值Num＝1和M（驅(qū)動線數(shù)目）＝13的情況下驅(qū)動傳感器面板2：對于線L1、線L2和線L3中的每一個而言，驅(qū)動方法與上文針對其中閾值Num＝3的情況所述的對應(yīng)的一個相同。對于線L4而言，首先同時地并行地驅(qū)動第1行上的驅(qū)動線至第（2n–1+2n–2）行上的驅(qū)動線。接下來，從第（（2n–1+2n–2）+1）行上的驅(qū)動線直至第（2n–1+2n–2）+Num×[（M–（2n–1+2n–2））/Num]行上的驅(qū)動線依次地驅(qū)動均包括NuM個驅(qū)動線的[（M–（2n–1+2n–2））/Num]組。然后，并行地驅(qū)動除（（M–（2n–1+2n–2））/Num）組之外的驅(qū)動線。甚至在其中2n維哈德碼矩陣（其中M＜2n）的階被增加至n＞4的情況下，可以簡單地采用類似于上述驅(qū)動方法的驅(qū)動方法。甚至在其中（i）沿著列方向的代碼序列中的位置與（ii）沿著列方向的對應(yīng)元素的總和的絕對值之間的關(guān)系并非如圖13中所示的情況下，可以對代碼序列的行進行切換以執(zhí)行上述方法，如果此類切換允許用Sylvester方法來創(chuàng)建2n維哈德碼矩陣（其中M＜2n）從而滿足圖13中所示的上述關(guān)系的話。上述實施例1至5均描述了根據(jù)正交代碼序列來并行地驅(qū)動驅(qū)動線的示例。然而，本發(fā)明不限于此。本發(fā)明能夠替換地根據(jù)基于M序列的代碼序列來驅(qū)動驅(qū)動線。圖14的（a）是用于解釋上述實施例的代碼序列的圖，該代碼序列是基于M序列?；贛序列的代碼序列di=（dn,di2,…diN）,d2=（d2i,d22,…d2N）,…dM=（dun,dM2,…dMN）（i）用于并行地驅(qū)動第一驅(qū)動線至第M驅(qū)動線且（ii）均包括均為1或–1的元素?；贛序列的代碼序列d1,d2,…,dM滿足由圖14的（a）中的公式8定義的條件，假設(shè)其為從使具有長度N（＝2n–1）的M序列循環(huán)地移位得到的序列。M序列是一種二進制偽隨機數(shù)序列，并且僅包括兩個值，即1和–1（或1和0）。M序列具有具有用2n–1表示的長度的周期。具有長度=23–1=7的M序列是例如“1,–1,–1,1,1,1,–1”。具有長度=24–1=15的M序列是例如“1,–1,–1,–1,1,1,1,1,–1,1,–1,1,1,–1,–1”。圖14的（b）是圖示出基于M序列的代碼序列的特定示例的圖。圖14的（b）圖示出基于M序列的代碼序列MCS，其為13行×15列的代碼序列。代碼序列MCS包括第一行，其為具有長度＝15的M序列，亦即“1,–1,–1,–1,1,1,1,1,–1,1,–1,1,1,–1,–1”。代碼序列MCS包括第二行，其從使第一行上的M序列向左循環(huán)地移位一個元素而得到。代碼序列MCS包括第三行，其從使第二行上的M序列向左循環(huán)地移位一個元素而得到。循環(huán)移位在隨后的代碼序列中繼續(xù)。代碼序列MCS因此包括第k行，其從使第（k–1）行上的M序列向左循環(huán)移位一個元素而得到（其中2≤k≤13）。（實施例6）（包括觸摸傳感器系統(tǒng)的電子設(shè)備）圖15是圖示出包括觸摸傳感器系統(tǒng)1的移動電話12的配置的功能框圖。智能電話（電子設(shè)備）12包括：CPU15；RAM17；ROM16；照相機21；擴音器18；揚聲器19；操作鍵20；顯示面板13；顯示控制電路14；以及觸摸傳感器系統(tǒng)1。上述組成部分經(jīng)由數(shù)據(jù)總線互連。CPU15控制移動電話12的操作。CPU15例如執(zhí)行存儲在ROM16中的程序。操作鍵20接收由移動電話12的用戶進行的指令輸入。RAM17以易失性方式存儲通過由CPU15執(zhí)行程序而生成的數(shù)據(jù)或通過使用操作鍵20輸入的數(shù)據(jù)。ROM16以非易失性方式存儲數(shù)據(jù)。ROM16是可寫可擦除ROM，諸如EPROM（可擦可編程序只讀存儲器）和閃速存儲器。移動電話12還可以包括用于用導(dǎo)線接于另一電子設(shè)備的接口（IF；圖15中未示出）。照相機21響應(yīng)于由用戶操作操作鍵20而拍攝對象的照片。這樣拍攝的對象的圖像數(shù)據(jù)被存儲在RAM17或外部存儲器（例如，存儲卡）中。擴音器18從用戶接收語音輸入。移動電話12將語音輸入（模擬數(shù)據(jù)）數(shù)字化，并且能夠?qū)?shù)字化語音輸入傳送至通信目標（例如，另一移動電話）。揚聲器19例如基于諸如存儲在RAM17中的音樂數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)來輸出聲音。觸摸傳感器系統(tǒng)1包括傳感器面板2和集成電路3。CPU15控制觸摸傳感器系統(tǒng)1的操作。CPU15例如執(zhí)行存儲在ROM16中的程序。RAM17以易失性方式來存儲通過由CPU15執(zhí)行程序而生成的數(shù)據(jù)。ROM16以非易失性方式存儲數(shù)據(jù)。顯示面板13按照顯示控制電路14的控制來顯示存儲在ROM16或RAM17中的圖像。顯示面板13被放置在傳感器面板2上或包含傳感器面板2。（實施例７）（觸摸傳感器系統(tǒng)101a的配置）圖16是圖示出根據(jù)實施例7的觸摸傳感器系統(tǒng)101a的配置的框圖。圖17是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)101a中提供的觸摸面板103的配置的示意圖。觸摸傳感器系統(tǒng)1a包括傳感器面板103和電容分布檢測電路102。傳感器面板103包括在水平方向上相互平行地布置的信號線HL1至HLM（第一信號線）、在垂直方向上相互平行地布置的信號線VL1至VLM（第二信號線）以及均在信號線HL1至HLM與信號線VL1至VLM的交叉點處提供的電容器C11至CMM。優(yōu)選的是，傳感器面板103具有其中握住輸入筆的手能夠被放置在傳感器面板103上的尺寸。然而，傳感器面板103可以具有可用于智能電話的尺寸。電容分布檢測電路102包括驅(qū)動器105。驅(qū)動器105根據(jù)代碼序列向驅(qū)動線DL1至DLM施加電壓。電容分布檢測電路102包括讀出放大器106。讀出放大器106經(jīng)由讀出線SL1至SLM來讀出對應(yīng)于電容器的電荷的線性和，并將該線性和供應(yīng)給A/D轉(zhuǎn)換器108。電容分布檢測電路102包括復(fù)用器104。圖18是圖示出（a）被連接到傳感器面板103的信號線HL1至HLM和VL1至VLM與（b）被連接到驅(qū)動器105的驅(qū)動線DL1至DLM和被連接到讀出放大器106的讀出線SL1至SLM之間的連接開關(guān)電路的配置的電路圖。復(fù)用器104引起以下兩者之間的轉(zhuǎn)換，即（a）第一連接狀態(tài)，其中信號線HL1至HLM被連接到驅(qū)動器105的驅(qū)動線DL1至DLM且信號線VL1至VLM被連接到讀出放大器106的讀出線SL1至SLM，與（b）第二連接狀態(tài)，其中信號線HL1至HLM被連接到讀出放大器106的讀出線SL1至SLM且信號線VL1至VLM被連接到驅(qū)動器105的驅(qū)動線DL1至DLM。圖19是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)101a的電容器分布檢測電路102中提供的復(fù)用器104的配置的電路圖。復(fù)用器104包括被串聯(lián)地連接的四個CMOS開關(guān)SW1至SW4。經(jīng)由控制線CL來自定時發(fā)生器107的信號是從（i）與CMOS開關(guān)SW2相對的CMOS開關(guān)SW1的一端，（ii）在CMOS開關(guān)SW2與CMOS開關(guān)SW3之間，（iii）與CMOS開關(guān)SW3相對的CMOS開關(guān)SW4的一端，以及（iv）換向器inv的端子輸入供應(yīng)的。反相器inv使其輸出在CMOS開關(guān)SW1與CMOS開關(guān)SW2之間以及在CMOS開關(guān)SW3與CMOS開關(guān)SW4之間被供應(yīng)。信號線HL1至HLM被連接到CMOS開關(guān)SW1至SW2。信號線VL1至VLM被連接到CMOS開關(guān)SW3和SW4。驅(qū)動線DL1至DLM被連接到CMOS開關(guān)SW1至SW4。讀出線SL1至SLM被連接到CMOS開關(guān)SW2和SW3。當使得控制線CL的信號為低時，信號線HL1至HLM變成連接到驅(qū)動線DL1至DLM且信號線VL1至VLM變成連接到讀出線SL1至SLM。當使得控制線CL的信號為高時，信號線HL1至HLM變成連接到讀出線SL1至SLM且信號線VL1至VLM變成連接到驅(qū)動線DL1至DLM。A/D轉(zhuǎn)換器108將經(jīng)由讀出線SL1至SLM讀出的電荷的線性和從模擬轉(zhuǎn)換成數(shù)字，該電荷對應(yīng)于電容器，并且將已轉(zhuǎn)換線性和供應(yīng)給電容分布計算部109。類似于實施例1至5，電容分布計算部109基于代碼序列和從A/D轉(zhuǎn)換器108供應(yīng)的電荷的線性和來計算傳感器面板103的電容分布并將計算的電容分布供應(yīng)給觸摸識別部110，該電荷對應(yīng)于電容器。觸摸識別部110基于從電容分布計算部109供應(yīng)的電容分布來識別傳感器面板103上的被觸摸位置。讀出放大器106、A/D轉(zhuǎn)換器108以及電容分布計算部109對應(yīng)于圖1中所示的估計部105。電容分布檢測電路102包括定時發(fā)生器107。定時發(fā)射器107生成（i）用于指定驅(qū)動器105的操作的信號，（ii）用于指定讀出放大器106的操作的信號，以及（iii）用于指定A/D轉(zhuǎn)換器108的操作的信號，并將這些信號分別地供應(yīng)給驅(qū)動器75、讀出放大器106以及A/D轉(zhuǎn)換器108。（觸摸傳感器系統(tǒng)101a的操作）在圖20的（a）和（b）中所示的是用于描述觸摸傳感器系統(tǒng)101a的操作方法的示意圖。如上文參考圖29所述，存在這樣的問題，即在沿著讀出線SL1至SLM限制手放置區(qū)域HDR且在手放置區(qū)域HDR外面的限制線L1和L2之間的區(qū)域中生成幻像噪聲NZ。然而，當在并未與手放置區(qū)域HDR重疊的讀出線上、即在如圖20的（a）中所示的限制線L1和L2外面的筆輸入位置P上輸入筆信號時，此筆信號是可檢測的，因為在筆輸入位置P通過的讀出線上并未生成幻像噪聲NZ，從而不具有由幻想噪聲NZ引起的SNR的劣化。因此，在其中手放置區(qū)域HDR和筆輸入位置P處于如圖29中所示的位置關(guān)系的情況下，驅(qū)動線DL1至DLM和讀出線SL1至SLM在其之間被切換，以使得在水平方向上的信號線HL1至HLM充當驅(qū)動線DL1至DLM且在垂直方向上的信號線VL1至VLM充當讀出線SL1至SLM，如圖20的（b）中所示，使得在限制線L3和L4之間的區(qū)域外面檢測到該信號。因此，可以檢測到筆輸入位置P的筆信號。相應(yīng)地，例如，通過用復(fù)用器104每一個幀交替地在第一連接狀態(tài)（圖20的（b））與第二連接狀態(tài)（圖29）之間進行切換，該第一連接狀態(tài)是其中信號線HL1至HLM被連接到驅(qū)動器105的驅(qū)動線DL1至DLM且信號線VL1至VLM被連接到讀出放大器106的讀出線SL1至SLM的狀態(tài)，并且第二連接狀態(tài)是其中信號線HL1至HLM被連接到讀出放大器106的讀出線SL1至SLM且信號線VL1至VLM被連接到驅(qū)動器105的驅(qū)動線DL1至DLM的狀態(tài)，可以在第一連接狀態(tài)和第二連接狀態(tài)的定時中的一個處檢測到筆信號，即使由于手放置區(qū)域HDR而生成幻像噪聲NZ。由于在另一定時中生成幻像噪聲NZ，所以筆信號的SNR被減小為一半。然而，通過交替地在第一連接狀態(tài)與第二連接狀態(tài)之間切換，可以檢測筆信號，即使生成由手放置區(qū)域HDR而引起的幻像噪聲NZ。因此，例如，觸摸傳感器系統(tǒng)101a（i）在第一定時中驅(qū)動信號線HL1至HLM，使得信號線VL1至VLM輸出對應(yīng)于電容器的電荷（第一信號線驅(qū)動步驟），（ii）使用復(fù)用器104在第一定時之后的第二定時中控制信號線HL1至HLM和信號線VL1至VLM的連接的切換（切換步驟），以及（iii）在第二定時之后的第三定時中驅(qū)動信號線VL1至VLM，使得信號線HL1至HLM輸出對應(yīng)于電容器的電荷（第二信號線驅(qū)動步驟）。電容分布計算部109被配置成使得未接收到通過讀出線從設(shè)置在限定手放置區(qū)域HDR的矩形中的電容器讀出的信號。手放置區(qū)域HDR是其中握住導(dǎo)電筆以用于輸入的手放置在觸摸面板上的區(qū)域；電容值分配計算部109可以被配置成用未示出的圖像識別裝置來識別此區(qū)域。此外，可以將該配置提供為使得觸摸傳感器系統(tǒng)101a的用戶指定手放置區(qū)域HDR。此外，當在智能電話中執(zhí)行與上述類似的驅(qū)動線與讀出線之間的切換時，用該智能電話不發(fā)生手放置區(qū)域HDR的筆輸入，雖然在任一驅(qū)動狀態(tài)下都生成將通過用手指觸摸而生成的要檢測的信號，但由幻像噪聲引起的錯誤信號是可去除的，因為其中生成幻像噪聲的位置由于驅(qū)動線和讀出線的切換而不同。在圖21的（a）和（b）中所示的是用于描述觸摸傳感器系統(tǒng)1a的另一操作方法的示意圖。如圖21的（a）中所示，在垂直信號線VL1至VLM被連接到驅(qū)動線DL1至DLM且垂直信號線VL1至VLM被驅(qū)動并且水平信號線HL1至HLM被連接到讀出線SL1至SLM之后，在限制線L5和L6（沿著其中手指觸摸的手指觸摸區(qū)域FR的水平方向進行限制）之間且在手指觸摸區(qū)域FR之外的區(qū)域中生成的幻像噪聲NZ經(jīng)由讀出線被連同對應(yīng)于手指觸摸區(qū)域FR的信號一起被讀出。其后，如圖21的（b）中所示，在水平信號線HL1至HLM被連接到驅(qū)動線DL1至DLM且水平信號線HL1至HLM被驅(qū)動并且垂直信號線VL1至VLM被連接到讀出線SL1至SLM之后，在沿著垂直方向限制手指觸摸區(qū)域FR的限制線L7和L8之間生成的幻像噪聲NZ經(jīng)由讀出線被連同對應(yīng)于手指觸摸區(qū)域FR的信號一起讀出。如圖21的（a）中所示的在限制線L5和L6之間生成的幻像噪聲NZ和如圖21的（b）中所示的在限制線L7和L8之間生成的幻像噪聲是隨機地生成的，與相互無關(guān)。相應(yīng)地，當通過使用（i）對應(yīng)于如圖21（a）中的在限制線L5和L6之間生成的幻像噪聲NZ的信號（經(jīng)由讀出線被讀出且對應(yīng)于手指觸摸區(qū)域FR）以及（ii）經(jīng)由讀出線讀出的對應(yīng)于如21的（b）中的在限制線L7和L8之間生成的幻像噪聲NZ的信號（經(jīng)由讀出線被讀出且對應(yīng)于手指觸摸區(qū)域FR）來執(zhí)行“與”（AND）操作時，可以用在限制線L7和L8之間生成的幻像噪聲NZ來抵消在限制線L5和L6之間生成的幻像噪聲NZ。（實施例8）（觸摸傳感器系統(tǒng)101b的配置）圖22是圖示出根據(jù)實施例8的觸摸傳感器系統(tǒng)101b的配置的框圖。圖23是圖示出（a）被連接到傳感器面板103的信號線HL1至HLM和VL1至VLM與（b）被連接到驅(qū)動器105a和105b的驅(qū)動線DL1至DLM和被連接到讀出放大器106a和106b的讀出線SL1至SLM之間的連接切換電路（復(fù)用器104a和104b）的配置的電路圖。與上述那些相同的部件被提供相同的參考標號，并且未重復(fù)地提供其詳細描述。觸摸傳感器系統(tǒng)101b包括電容分布檢測電路102a。電容分布檢測電路102a包括兩個復(fù)用器104a和104b。復(fù)用器104a被以固定方式經(jīng)由信號線HL1至HLM連接到傳感器面板103。電容分布檢測電路102a包括驅(qū)動器105a和讀出放大器106a。驅(qū)動器105a經(jīng)由驅(qū)動線DL1至DLM被連接到復(fù)用器104a，并且讀出放大器106a經(jīng)由讀出線SL1至SLM被連接到復(fù)用器104a。電容分布檢測電路102a包括A/D轉(zhuǎn)換器108a和定時發(fā)生器107a。A/D轉(zhuǎn)換器108a將來自讀出放大器106a的輸出從模擬轉(zhuǎn)換成數(shù)字，并且將已轉(zhuǎn)換輸出供應(yīng)給電容值分配計算部109。定時發(fā)射器107a生成（i）指定驅(qū)動器105a的操作的信號，（ii）指定讀出放大器106a的操作的信號，以及（iii）指定A/D轉(zhuǎn)換器108a的操作的信號，并將這些信號分別地供應(yīng)給驅(qū)動器105a、讀出放大器106a以及A/D轉(zhuǎn)換器108a。定時發(fā)生器107a經(jīng)由控制器CLa來供應(yīng)用于控制復(fù)用器104a的信號。復(fù)用器104b被以固定方式經(jīng)由信號線VL1至VLM連接到傳感器面板103。電容分布檢測電路102a包括驅(qū)動器105b和讀出放大器106b。驅(qū)動器105b經(jīng)由驅(qū)動線DL1至DLM被連接到復(fù)用器104b且讀出放大器106b經(jīng)由讀出線SL1至SLM被連接到復(fù)用器104b。電容分布檢測電路102a包括A/D轉(zhuǎn)換器108b和定時發(fā)生器107b。A/D轉(zhuǎn)換器108b將來自讀出放大器106b的輸出從模擬轉(zhuǎn)換成數(shù)字，并且將已轉(zhuǎn)換輸出供應(yīng)給電容分布計算部109。定時發(fā)射器107b生成（i）指定驅(qū)動器105b的操作的信號，（ii）指定讀出放大器106b的操作的信號，以及（iii）指定A/D轉(zhuǎn)換器108b的操作的信號，并將這些信號分別地供應(yīng)給驅(qū)動器105b、讀出放大器106b以及A/D轉(zhuǎn)換器108b。定時發(fā)生器107b經(jīng)由控制器CLb來供應(yīng)用于控制復(fù)用器104b的信號。電容分布檢測電路102a包括同步信號生成部111。同步信號生成部111生成用于定時發(fā)生器107a和107b控制復(fù)用器104a和104b以引起以下兩者之間的切換的同步信號，即（a）第一連接狀態(tài)，其中，信號線HL1至HLM被連接到驅(qū)動器105a且信號線VL1至VLM被連接到讀出放大器106b，以及（b）第二連接狀態(tài)，其中，信號線HL至HLM被連接到讀出放大器且信號線VL1至VLM被連接到驅(qū)動器105b，并且將生成的同步信號供應(yīng)給定時發(fā)生器107a和107b。讀出放大器106a和106b、A/D轉(zhuǎn)換器108a和108b以及電容分布計算部109對應(yīng)于圖1中所示的估計部5。圖24是圖示出在觸摸傳感器系統(tǒng)101b的電容器分布檢測電路102a提供的復(fù)用器104a和104b的配置的電路圖。復(fù)用器104a包括串聯(lián)地連接的兩個CMOS開關(guān)SW5和SW6。經(jīng)由信號線CLa來自定時發(fā)生器107a的信號是從（i）與CMOS開關(guān)SW6相對的CMOS開關(guān)SW5的一端，（ii）與CMOS開關(guān)SW5相對的CMOS開關(guān)SW6的一端以及（iii）反相器inv的端子輸入輸入的。反相器inv使其輸出在CMOS開關(guān)SW5與CMOS開關(guān)SW6之間被輸入。信號線HL1至HLM被連接到CMOS開關(guān)SW5至SW6。驅(qū)動線DL1至DLM被連接到CMOS開關(guān)SW5。讀出線SL1至SLM被連接到CMOS開關(guān)SW6。（觸摸傳感器系統(tǒng)101b的操作）當使得控制線CLa的信號為低時，信號線HL1至HLM被連接到驅(qū)動線DL1至DLM。當使得控制線CLa的信號為高時，信號線HL1至HLM被連接到讀出線SL1至SLM。復(fù)用器104b也被與此同樣地配置。同樣地，觸摸面板系統(tǒng)101b包括具有類似配置的復(fù)用器104a和104b；復(fù)用器104a被以固定方式連接到傳感器面板103的信號線HL1至HLM，并且復(fù)用器104b被以固定方式連接到傳感器面板103的信號線VL1至VLM。此外，復(fù)用器104a和104b基于由同步信號生成部111生成的同步信號同步地操作。當復(fù)用器104a被連接到驅(qū)動器105a時，復(fù)用器104b被連接到讀出放大器106b時，并且當復(fù)用器104a被連接到讀出放大器106a時，復(fù)用器104b被連接到驅(qū)動器105b。（實施例9）圖25是圖示出根據(jù)實施例9的觸摸傳感器系統(tǒng)101c的配置的框圖。與上述那些相同的部件被提供相同的參考標號，并且未重復(fù)地提供其詳細描述。觸摸傳感器系統(tǒng)101c包括電容分布檢測電路102c。電容分布檢測電路102c包括控制器112a和112b?？刂破?12a包括復(fù)用器104a1至104a4。復(fù)用器104a1至104a4具有與上文參考圖22至24所述的復(fù)用器104a類似的配置，但是被連接到更少數(shù)目的信號線；復(fù)用器104a1被連接到信號線HL1至HL（m1），復(fù)用器104a2被連接到信號線HL（m1+1）至HL（m2），復(fù)用器104a3被連接到信號線HL（m2+1）至HL（m3），并且復(fù)用器104a4被連接到信號線HL（m3+1）至HLM，其中，1＜m1＜m2＜m3＜M。控制器112b包括復(fù)用器104b1至104b4。復(fù)用器104b1至104b4具有與上文參考圖22至圖24所述的復(fù)用器104b類似的配置，然而被連接到更少數(shù)目的信號線；復(fù)用器104b1被連接到信號線VL1至VL（k1），復(fù)用器104b2被連接到信號線VL（k1+1）至VL（k2），復(fù)用器104b3被連接到信號線VL（k2+1）至VL（k3），并且復(fù)用器104b4被連接到信號線VL（k3+1）至VLM，其中，1＜k1＜k2＜k3＜M。復(fù)用器104a1至104a4和復(fù)用器104b1至104b4均包括各自的驅(qū)動器、讀出放大器、定時發(fā)生器以及ADC，并且基于由同步信號生成部生成的同步信號同步地操作?？刂破?12a和112b可以被制作為集成電路（IC）。在觸摸傳感器系統(tǒng)101c中，執(zhí)行控制以在以下兩項之間切換，即（a）第一連接狀態(tài)，其中，信號線HL1至HL（m1）、信號線HL（m1+1）至HL（m2）、信號線HL（m2+1）至HL（m3）以及信號線HL（m3+1）至HLM被連接到驅(qū)動器且信號線VL1至VL（k1）、信號線VL（k1+1）至VL（k2）、信號線VL（k2+1）至VL（k3）以及信號線VL（k3+1）至VLM被連接到讀出放大器，以及（b）第二連接狀態(tài)，其中，信號線HL1至HL（m1）、信號線HL（m1+1）至HL（m2）、信號線HL（m2+1）至HL（m3）以及信號線HL（m3+1）至HLM被連接到讀出放大器且信號線VL1至VL（k1）、信號線VL（k1+1）至VL（k2）、信號線VL（k2+1）至VL（k3）以及信號線VL（k3+1）至VLM被連接到驅(qū)動器。（實施例10）圖26是圖示出根據(jù)實施例10的觸摸傳感器系統(tǒng)101d的配置的框圖。與上述那些相同的部件被提供相同的參考標號，并且未重復(fù)地提供其詳細描述。觸摸傳感器系統(tǒng)101d的讀出放大器包括用以在減法時從鄰近讀出線讀出信號的配置，允許抵消來自液晶面板等的噪聲并改善SNR。觸摸傳感器系統(tǒng)101d包括電容分布檢測電路102d。電容分布檢測電路102d包括控制器113a和113b?？刂破?13a包括復(fù)用器104b1至114a4。復(fù)用器114a1至114a4具有與上文參考圖22至圖24所述的復(fù)用器104a類似的配置，然而被連接到更少數(shù)目的信號線，并且鄰近的復(fù)用器共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線。復(fù)用器114a1被連接到信號線HL1至HL（m1），復(fù)用器114a2被連接到信號線HL（m1）至HL（m2），復(fù)用器114a3被連接到信號線HL（m2）至HL（m3），并且復(fù)用器114a4被連接到信號線HL（m3）至HLM，其中，1＜m1＜m2＜m3＜M。同樣地，鄰近復(fù)用器114a1和114a2共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線HL（m1），鄰近復(fù)用器114a2和114a3共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線HL（m2），并且鄰近復(fù)用器114a3和114a4共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線HL（m3）。控制器113b包括復(fù)用器114b1至114b4。復(fù)用器114b1至114b4具有與上文參考圖24所述的復(fù)用器104b類似的配置，然而被連接到更少數(shù)目的信號線，并且鄰近的復(fù)用器共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線。復(fù)用器114b1被連接到信號線VL1至VL（k1），復(fù)用器114b2被連接到信號線VL（k1）至VL（k2），復(fù)用器114b3被連接到信號線VL（k2）至VL（k3），并且復(fù)用器114b4被連接到信號線VL（k3）至VLM，其中，1＜k1＜k2＜k3＜M。同樣地，鄰近復(fù)用器114b1和114b2共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線VL（k1），鄰近復(fù)用器114b2和114b3共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線VL（k2），并且鄰近復(fù)用器114b3和114b4共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線VL（k3）。復(fù)用器114a1至114a4和復(fù)用器114b1至114b4均包括各自的驅(qū)動器、讀出放大器、定時發(fā)生器以及ADC，并且基于由同步信號生成部生成的同步信號同步地操作。控制器113a和113b可以被制作為集成電路（IC）。同樣地，在其中讀出放大器被配置成從而在減法時從鄰近讀出線讀出信號、以允許抵消來自液晶面板等的噪聲并改善SNR的情況，通過共享設(shè)置在鄰近復(fù)用器的公共邊界上的信號線，可以以超過該邊界的方式連續(xù)地執(zhí)行設(shè)置在對應(yīng)于鄰近復(fù)用器的讀出線邊界上的讀出線的差分讀出。通過使觸摸傳感器系統(tǒng)與液晶顯示面板疊加或通過在液晶顯示面板內(nèi)部構(gòu)建觸摸傳感器系統(tǒng)，根據(jù)實施例7至10的觸摸傳感器系統(tǒng)可以在媒體黑板（信息輸入/輸出設(shè)備）中被組成，所述媒體黑板能夠在多個人觸摸黑板時接收通過在其上手寫的輸入。本發(fā)明的線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法包括以下步驟：（A）（a）基于相互正交且其中的每個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來向系統(tǒng)輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M），其具有線性輸入端和輸出端，并且將向其輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M），用下式來表示該系統(tǒng)并且（b）輸出N個輸出s＝（s1,s2,…,sN）＝（F（d1l,d21,…,dM1），F(xiàn)（d12,d22,…,dM2）,…,F（d1N,d2N,…,dMN））；以及（B）基于輸出s和代碼序列di的內(nèi)積操作來估計對應(yīng)于第k輸入Xk的系數(shù)Ck。用上述特征，線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M）并輸出N個輸出s＝（s1,s2,…,sN）＝（F（d11,d21,…,dM1），F(xiàn)（d12,d22,…,dM2）,…,F（d1N,d2N,…,dMN））。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此通過同時地輸入全部的M個輸入來估計線性系統(tǒng)的系數(shù)Ck。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此（i）消除了如在常規(guī)布置中依次地選擇M個輸入中的一個并在其中掃描輸入的需要以及（ii）甚至隨著輸入的數(shù)目M的增加，并不縮短用于獲得線性系統(tǒng)的系數(shù)值的過程時間。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。本發(fā)明的另一線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法包括以下步驟：（A）（a）基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來向第一系統(tǒng)和第二系統(tǒng)中的每一個輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M），所述第一系統(tǒng)和第二系統(tǒng)中的每一個具有線性輸入端和輸出端，并且將向其中的每一個輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M），用下式來表示第一和第二系統(tǒng)以及（b）輸出來自第一系統(tǒng)的N個輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）=（F1（d1l,d21,…,dM1）,F1（d12,d22,…,dM2）,…,F1（d1N,d2N,…,dMN））和來自第二系統(tǒng)的N個輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）=（F2（d11,d21,…,dM1）,F2（d12,d22,…,dM2）,…,F2（d1N,d2N,…,dMN））；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作，估計第一系統(tǒng)的系數(shù)C1k，該系數(shù)C1k對應(yīng)于第k1輸入Xk，以及（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作，估計第二系統(tǒng)的系數(shù)C2k，該系數(shù)C2k對應(yīng)于第k2輸入Xk。如上述特征，線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來輸入M個輸入xk（k＝1,…,M），并且輸出來自第一系統(tǒng)的N個輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）=（F1（d11,d21,…,dM1）,F1（d12,d22,…,dM2）,…,F1（d1N,d2N,…,dMN））和來自第二系統(tǒng)的N個輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）＝（F2（d11,d21,…,dM1）,F2（d12,d22,…,dM2）,…,F2（d1N,d2N,…,dMN））。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此通過同時地輸入全部的M個輸入來估計第一系統(tǒng)的系數(shù)C1k和第二系統(tǒng)的系數(shù)C2k。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此（i）消除了如在常規(guī)布置中依次地選擇M個輸入中的一個并在其中掃描輸入的需要以及（ii）甚至隨著輸入的數(shù)目M的增加，并不縮短用于獲得第一和第二線性系統(tǒng)的系數(shù)值的過程時間。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。本發(fā)明的線性器件列值估計方法包括以下步驟：（A）（a）基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M），針對以下兩者中的每一個來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一線性器件列C1i（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二線性器件列C2i（i=1,…,M），以及因此（b）輸出來自第一線性器件列的N個輸出sFirst＝（s11,s12,…s1N）和來自第二線性器件列的N個輸出sSecond＝（s21,s22,…s2N），以及（B）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一線性器件列中的第一線性器件值，該第一線性器件值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二線性器件列中的第二線性器件值，該第二線性器件值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。用上述特征，線性器件列值估計方法（a）基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，以及（b）輸出來自第一線性器件列的N個輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二線性器件列的N個輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）。線性器件列值估計方法因此通過同時地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線來估計（a）第一線性器件列中的第一線性器件值和（b）第二線性器件列中的第二線性器件值。所述線性器件列值估計方法因此（i）消除了如在常規(guī)布置中的依次地選擇M個驅(qū)動線中的一個并在其中掃描輸入的需要，以及（ii）延長了用于獲得第一線性器件列中的第一線性器件值和第二線性器件列中的第二線性器件值的過程時間。線性器件列值估計方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。用上述特征，電容檢測方法（a）基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）。所述電容檢測方法因此通過同時地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線來估計（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，和（b）第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。該電容檢測方法因此（i）消除了如在常規(guī)布置中的依次地選擇M個驅(qū)動線中的一個并在其中掃描輸入的需要，以及（ii）延長了用于獲得以下兩者的過程時間，（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）第二電容列中的第二電容值，其對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。該電容檢測方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。此外，該電容檢測方法根據(jù)代碼序列均以電壓+V或電壓–V并行地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線。與將驅(qū)動線集中以便根據(jù)代碼序列進行驅(qū)動的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法因此（i）增加包含在來自電容列的輸出信號中的信息量和（ii）改善S/N比。與執(zhí)行兩級操作的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法簡單地執(zhí)行單級操作，并且因此在實現(xiàn)高速操作方面時有利的。本發(fā)明的集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計對電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。用上述特征，所述驅(qū)動部（a）基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）。所述集成電路因此通過同時地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線來估計（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，和（b）第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。供在電容檢測方法中使用的集成電路因此（i）消除了如在常規(guī)布置中的依次地選擇M個驅(qū)動線中的一個并在其中掃描輸入的需要，以及（ii）延長了用于估計以下兩者的過程時間，（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）第二電容列中的第二電容值，其對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。該電容檢測方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。此外，該電容檢測方法根據(jù)代碼序列均以電壓+V或電壓–V并行地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線。與將驅(qū)動線集中以便根據(jù)代碼序列進行驅(qū)動的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法因此（i）增加包含在來自電容列的輸出信號中的信息量和（ii）改善S/N比。與執(zhí)行兩級操作的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法簡單地執(zhí)行單級操作，并且因此在實現(xiàn)高速操作方面時有利的。本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)包括：傳感器面板，包括（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M）；以及集成電路，用于控制傳感器面板，該集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）第一電容列C1i（i=1,…,M）和（II）第二電容列C2i（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計對電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。用上述特征，所述驅(qū)動部（a）基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）。所述觸摸傳感器系統(tǒng)因此通過驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線來估計（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，和（b）第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。所述觸摸傳感器系統(tǒng)因此（i）消除了如在常規(guī)布置中的依次地選擇M個驅(qū)動線中的一個并在其中掃描輸入的需要，以及（ii）延長了用于估計以下兩者的過程時間，（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）第二電容列中的第二電容值，其對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。該電容檢測方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。此外，該電容檢測方法根據(jù)代碼序列均以電壓+V或電壓–V并行地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線。與將驅(qū)動線集中以便根據(jù)代碼序列進行驅(qū)動的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法因此（i）增加包含在來自電容列的輸出信號中的信息量和（ii）改善S/N比。與執(zhí)行兩級操作的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法簡單地執(zhí)行單級操作，并且因此在實現(xiàn)高速操作方面時有利的。本發(fā)明的電子設(shè)備包括：本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)；以及顯示面板，其被放置在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板，或者包含傳感器面板。用上述特征，所述驅(qū)動部（a）基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，以及因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）。所述觸摸傳感器系統(tǒng)因此通過驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線來估計（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，和（b）第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。包括所述觸摸傳感器系統(tǒng)的所述電子設(shè)備因此（i）消除了如在常規(guī)布置中的依次地選擇M個驅(qū)動線中的一個并在其中掃描輸入的需要，以及（ii）延長了用于估計以下兩者的過程時間，（a）第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，以及（b）第二電容列中的第二電容值，其對應(yīng)于第k2驅(qū)動線。該電容檢測方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。此外，該電容檢測方法根據(jù)代碼序列均以電壓+V或電壓–V并行地驅(qū)動全部的M個驅(qū)動線。與將驅(qū)動線集中以便根據(jù)代碼序列進行驅(qū)動的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法因此（i）增加包含在來自電容列的輸出信號中的信息量和（ii）改善S/N比。與執(zhí)行兩級操作的專利文獻2的布置相比，該電容檢測方法簡單地執(zhí)行單級操作，并且因此在實現(xiàn)高速操作方面時有利的。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M），以及因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）在模擬積分器被復(fù)位時以用電壓Vref表示的第一電壓來驅(qū)動所述M個驅(qū)動線，并且當對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時，以（i）針對代碼序列中的+1的元素的第二電壓，該第二電壓用電壓（Vref+V）來表示，以及（ii）針對代碼序列中的–1的元素的第三電壓，該第三電壓用高電壓（Vref–V）來表示，驅(qū)動所述M個驅(qū)動線。上述特征使得可以基于代碼序列通過使用簡單配置來并行地驅(qū)動所述驅(qū)動線。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M），以及因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）針對代碼序列中的+1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第二電壓來驅(qū)動所述驅(qū)動線，并且針對代碼序列中的–1的元素，（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第一電壓來驅(qū)動所述驅(qū)動線。上述特征使得可以實現(xiàn)較高的信號強度并因此增加存儲在電容中的電荷。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M），以及因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，該電容檢測方法還包括，在步驟（A）之前，步驟：（C）（a）當模擬積分器被復(fù)位時和當對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動驅(qū)動線，使得來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond分別地作為第一偏移輸出和第二偏移輸出，以及（c）將第一和第二偏移輸出存儲在存儲器中。上述特征使得可以抵消由模擬積分器引起的偏移。本發(fā)明的集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），并且因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，驅(qū)動部針對代碼序列中的+1的元素（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第二電壓來驅(qū)動驅(qū)動線，并且針對代碼序列中的–1的元素，（i）當模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第一電壓來驅(qū)動驅(qū)動線。上述特征使得可以實現(xiàn)較高的信號強度并因此增加存儲在電容中的電荷。本發(fā)明的集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），并且因此（b）輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，驅(qū)動部在向模擬積分器輸出來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond之前，（a）當模擬積分器被復(fù)位時和當對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動驅(qū)動線，使得來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出來自第一和第二電容columns的輸出sFirst和sSecond分別地作為第一偏移輸出和第二偏移輸出，以及（c）將第一和第二偏移輸出存儲在存儲器中。上述特征使得可以抵消由模擬積分器引起的偏移。本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)包括：傳感器面板，包括（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M）；以及集成電路，用于控制傳感器面板，該集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）第二電容列C2i（i=1,…,M），并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，驅(qū)動部針對代碼序列中的+1的元素（i）在模擬積分器被復(fù)位時以第一電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第二電壓來驅(qū)動驅(qū)動線，并且針對代碼序列中的–1的元素，（i）當模擬積分器被復(fù)位時以第二電壓且（ii）在對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第一電壓來驅(qū)動驅(qū)動線。上述特征使得可以實現(xiàn)較高的信號強度并因此增加存儲在電容中的電荷。本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)包括：傳感器面板，包括（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M）；以及集成電路，用于控制傳感器面板，該集成電路包括：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）第二電容列C2i（i=1,…,M），并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及估計部，用于（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，驅(qū)動部在向模擬積分器輸出來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond之前，（a）當模擬積分器被復(fù)位時和當對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時，以第一電壓驅(qū)動驅(qū)動線，使得來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond被輸出到模擬積分器，（b）從模擬積分器讀出來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond分別地作為第一偏移輸出和第二偏移輸出，以及（c）將第一和第二偏移輸出存儲在存儲器中。上述特征使得可以抵消由模擬積分器引起的偏移。本發(fā)明的電子設(shè)備包括：本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)；以及顯示面板，其被放置在觸摸傳感器系統(tǒng)中所包括的傳感器面板，或者包含傳感器面板。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：驅(qū)動部，用于（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值來切換模擬積分器的增益。上述特征使得可以防止模擬積分器的飽和。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩者中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有長度N的代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列C1i（i=1,…,M）以及（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列C2i（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和，根據(jù)沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值來將代碼序列的列劃分成多個列，從而將所述M個驅(qū)動線的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。上述特征使得可以防止模擬積分器的飽和。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩項中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有代碼長度N＝M的代碼序列di（di1,di2,….,diN，其中i=1,…,M）（該代碼序列di對應(yīng)于用Sylvester方法創(chuàng)建的2n維哈德碼矩陣的各行）來并行地驅(qū)動（M＝2n）個驅(qū)動線，即（I）在（M＝2n）個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在（M＝2n）個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M），使得針對代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容輸出列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）為了防止模擬積分器的飽和，將代碼序列的第一列劃分成多個列，從而將用于代碼序列的第一列的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。上述特征使得可以防止模擬積分器的飽和。本發(fā)明的電容檢測方法包括以下步驟：（A）（a）針對以下兩項中的每一個基于相互正交且包括均為+1或–1的元素且其中的每一個具有代碼長度N＞M的第一代碼序列di（di1,di2,…,diN，其中i=1,…,M）（該第一代碼序列di對應(yīng)于用Sylvester方法創(chuàng)建的2n（其中M＜2n）維哈德碼矩陣的各行）來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線，即（I）在M個驅(qū)動線與第一讀出線之間形成的第一電容列Ci1（i=1,…,M）和（II）在M個驅(qū)動線與第二讀出線之間形成的第二電容列Ci2（i=1,…,M），使得針對第一代碼序列中的+1的元素施加電壓+V，并且針對第一代碼序列中的–1的元素施加電壓–V，并且因此（b）向模擬積分器輸出來自第一電容列的輸出sFirst＝（s11,s12,…,s1N）和來自第二電容輸出列的輸出sSecond＝（s21,s22,…,s2N）；以及（B）（a）基于輸出sFirst和第一代碼序列di的第一內(nèi)積操作來估計第一電容列中的第一電容值，該第一電容值對應(yīng)于第k1驅(qū)動線，并且（b）基于輸出sSecond和第一代碼序列di的第二內(nèi)積操作來估計第二電容列中的第二電容值，該第二電容值對應(yīng)于第k2驅(qū)動線，步驟（A）將第一代碼序列的特定列劃分成多個列，該特定列具有沿著列方向存在于第一代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值，該絕對值超過用于模擬積分器的飽和的閾值Num，從而將用于該特定列的驅(qū)動劃分成多個驅(qū)動。上述特征使得可以來防止基于2n維（其中M＜2n）哈德碼矩陣的驅(qū)動中的模擬積分器的飽和。本發(fā)明的線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法基于相互正交且其中的每一個具有長度N的M個代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）來輸入M個輸入Xk（k＝1,…,M）并輸出N個輸出s＝（s1,s2,…,sN）＝（F（d11,d21,…,dM1），F(xiàn)（d12,d22,…,dM2）,…,F（d1N,d2N,…,dMN））。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此通過同時地輸入全部的M個輸入來估計線性系統(tǒng)的系數(shù)Ck。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此（i）消除了如在常規(guī)布置中依次地選擇M個輸入中的一個并在其中掃描輸入的需要以及（ii）甚至隨著輸入的數(shù)目M的增加，并不縮短用于獲得線性系統(tǒng)的系數(shù)值的過程時間。線性系統(tǒng)系數(shù)估計方法因此保持良好的檢測準確度并實現(xiàn)良好的分辨率和高速操作。本實施例的線性器件列值估計方法可以優(yōu)選地被布置成使得代碼序列di（＝di1,di2,…,diN，其中i＝1,…,M）包括其中的每一個為+V或–V的元素。上述布置使得可以通過向其施加電壓+V或電壓–V來驅(qū)動每個驅(qū)動線。本實施例的電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（B）包括針對基于代碼序列di的每個并行驅(qū)動來執(zhí)行根據(jù)代碼的加法或減法，該加法或減法是第一和第二內(nèi)積操作所需要的。上述布置執(zhí)行用于每個并行驅(qū)動的內(nèi)積操作。與針對對應(yīng)于代碼序列的長度的N個并行驅(qū)動中的每一個執(zhí)行內(nèi)積操作的布置相比，該電容檢測方法因此不僅（i）允許流水線處理并因此在短時間段內(nèi)執(zhí)行操作，而且允許（ii）減少執(zhí)行操作所需的存儲器的量。該電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（A）從第一電容列向第一模擬積分器輸出輸出sFirst并從第二電容列向第二模擬積分器輸出輸出sSecond；以及步驟（B）（I）通過使已被輸出到第一模擬積分器的輸出sFirst在AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來自執(zhí)行第一內(nèi)積操作，以及（II）通過使一被輸出到第二模擬積分器的輸出sSecond在AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來執(zhí)行第二內(nèi)積操作。上述布置針對各讀出線并行地提供模擬積分器，并且因此增加檢測以矩陣形式提供的所有電容的速度。該電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（A）從第一電容列向第一模擬積分器輸出輸出sFirst并從第二電容列向第二模擬積分器輸出第二輸出sSecond；以及步驟（B）（I）通過使已被輸出到第一模擬積分器的輸出sFirst在AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來自執(zhí)行第一內(nèi)積操作，以及（II）通過使一被輸出到第二模擬積分器的輸出sSecond在AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來執(zhí)行第二內(nèi)積操作。上述布置允許單個模擬積分器執(zhí)行估計，并且因此使得可以通過使用更簡單的配置來檢測電容。該電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（A）從第一電容列向第一模擬積分器輸出輸出sFirst并從第二電容列向第二模擬積分器輸出輸出sSecond；以及步驟（B）（I）通過使已被輸出到第一模擬積分器的輸出sFirst在第一AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來自執(zhí)行第一內(nèi)積操作，以及（II）通過使一被輸出到第二模擬積分器的輸出sSecond在第二AD轉(zhuǎn)換器中經(jīng)受AD轉(zhuǎn)換來執(zhí)行第二內(nèi)積操作。上述布置針對各讀出線并行地提供模擬積分器和AD轉(zhuǎn)換器兩者，并且因此進一步增加檢測以矩陣形式提供的所有電容的速度。本實施例的電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（B）（a）基于（I）通過用輸出sFirst減去存儲在存儲器中的第一偏移輸出獲得的結(jié)果，和（II）代碼序列di的第三內(nèi)積操作來估計第一電容值，并且（b）基于（I）通過用輸出sSecond減去存儲在存儲器中的第二偏移輸出而獲得的結(jié)果和（II）代碼序列di的第四內(nèi)積操作來估計第二電容值。上述布置使得可以抵消由模擬積分器引起的偏移。本實施例的電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得步驟（C）（I）將（a）當模擬積分器被復(fù)位時和當對來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond進行采樣時以第一電壓驅(qū)動驅(qū)動線，使得來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond被輸出到模擬積分器以及（b）從模擬積分器讀出來自第一和第二電容列的輸出sFirst和sSecond分別地作為第一偏移輸出和第二偏移輸出的操作重復(fù)多次，以及（II）對讀出的多組第一和第二偏移輸出求平均并因此將求平均的結(jié)果存儲在存儲器中。上述布置使得可以在減少包含在由模擬積分器引起的偏移中的噪聲分量之后將偏移輸出存儲在存儲器中。本發(fā)明的電容檢測方法優(yōu)選地可以被布置成使得步驟（B）（a）基于（I）通過輸出sFirst的AD轉(zhuǎn)換獲得的第一數(shù)字值與（II）代碼序列di的第三內(nèi)積操作來估計第一電容值，以及（b）基于（I）通過輸出sSecond的AD轉(zhuǎn)換獲得的第二數(shù)字值與（II）代碼序列di的第四內(nèi)積操作來估計第二電容值；并且步驟（B）根據(jù)沿著列方向存在于代碼列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值對用于第一和第二數(shù)字值中的每一個的加權(quán)進行切換。上述布置使得可以促使在從模擬積分器直到內(nèi)積計算部的路徑上獲得的增益對于基于代碼序列的每個驅(qū)動而言是恒定的。本實施例的電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得具有沿著列方向存在于代碼序列中的對應(yīng)元素的總和的絕對值的列（該絕對值超過針對模擬積分器的飽和的閾值Num）對應(yīng)于2n維哈德碼矩陣的第一列、（2n–1+1）列、（2n–1+2n–2+1）列以及（2n–1–2n–2+1）列中的至少一個。上述布置可以通過使用簡單算法來防止基于2n維（其中M＜2n）哈德碼矩陣的驅(qū)動中的模擬積分器的飽和。本實施例的電容檢測方法可以優(yōu)選地被布置成使得其中[x]表示x的整數(shù)部分，步驟（A）在其中2n維哈德碼矩陣的第一列超過閾值Num的情況下，首先（a）從第一驅(qū)動線直至第Num×[M/Num]驅(qū)動線依次地驅(qū)動[M/Num]組，均包括NuM個驅(qū)動線，以及然后（b）并行地驅(qū)動對應(yīng)于（M/Num）的其余部分的驅(qū)動線，步驟（A）在其中哈德碼矩陣的（2n–1+1）列超過閾值Num的情況下，首先（a）并行地驅(qū)動基于第（2n–1–（M–2n–1））行的行上的驅(qū)動線的直至第M行上的驅(qū)動線，其次（b）依次地驅(qū)動[基于第（2n–1–（M–2n–1）–1）行的行/Num]個組，均包括從第一行上的驅(qū)動線直至基于第（2n–1–（M–2n–1）–1）行的行上的驅(qū)動線，以及第三（c）并行地驅(qū)動對應(yīng)于（基于第（2n–1–（M–2n–1）–1）行的行/Num）的其余部分的驅(qū)動線；以及步驟（A）在其中哈德碼矩陣的（2n–1+2n–2+1）行超過閾值Num的情況下，首先（a）同時地并行地驅(qū)動第一行上的驅(qū)動線至第（2n–1）行上的驅(qū)動線，其次（b）并行地驅(qū)動基于第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n"2）））行的行上的驅(qū)動線至第M行上的驅(qū)動線，第三（c）依次地驅(qū)動[（（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2））））的行–（2n–1+1）/Num]組，均包括來自第（2n–1+1）行上的驅(qū)動線直至基于第（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2）））行的行上的驅(qū)動線的NuM個驅(qū)動線，以及第四（d）并行地驅(qū)動對應(yīng)于（基于（（（2n–1+2n–2）–（M–（2n–1+2n–2））））–（2n–1+1）/Num）的其余部分的驅(qū)動線。上述步驟使得可以通過使用簡單算法來防止基于2n維（其中M＜2n）哈德碼矩陣的驅(qū)動中的模擬積分器的飽和。本實施例的電容檢測方法優(yōu)選地還可以包括：步驟：通過切換行來創(chuàng)建基于哈德碼矩陣的第二代碼序列，其中：步驟（A）基于第二代碼序列來并行地驅(qū)動M個驅(qū)動線。根據(jù)本發(fā)明的電容分布檢測方法是一種檢測電容分布的方法，用以檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布，該方法包括：在第一定時中驅(qū)動第一信號線，以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷；在第一定時之后的第二定時中控制第一信號線的連接與第二信號線的連接的切換；以及在第二定時之后的第三秩序中驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷。根據(jù)此特征，在第一定時中，第一信號線被驅(qū)動以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，在第一定時之后的第二定時中，控制第一和第二信號線的連接切換，并且在第二定時之后的第三定時中，驅(qū)動第二信號線以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷。因此，可以從第一信號線和第二信號線兩者輸出對應(yīng)于電容器的電荷。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明的電容分布檢測電路是檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布的電容分布檢測電路，該電容分布檢測電路包括：復(fù)用器，被連接到所述多個第一信號線和所述多個第二信號線；驅(qū)動器，被連接到所述復(fù)用器；以及讀出放大器，被連接到所述復(fù)用器；所述復(fù)用器使連接狀態(tài)在其中第一信號線被連接到驅(qū)動器且第二信號線被連接到讀出放大器的第一連接狀態(tài)與其中第一信號線被連接到讀出放大器且第二信號線被連接到驅(qū)動器的第二連接狀態(tài)之間切換。用此特征，可以在將第一信號線與驅(qū)動器相連且將第二信號線與讀出放大器相連的第一連接狀態(tài)與將第一信號線與讀出放大器相連且將第二信號線與驅(qū)動器相連的第二連接狀態(tài)之間進行切換。這允許從第一信號線和第二信號線兩者輸出與電容器相對應(yīng)的電荷。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明的另一電容分布檢測電路是檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布的電容分布檢測電路，該電容分布檢測電路包括：第一復(fù)用器，被連接到第一信號線；第一驅(qū)動器，被連接到第一復(fù)用器；第一讀出放大器，被連接到第一復(fù)用器；第二復(fù)用器，被連接到第二信號線；第二驅(qū)動器，被連接到第二復(fù)用器；第二讀出放大器，被連接到第二復(fù)用器；以及控制電路，其控制第一復(fù)用器和第二復(fù)用器，使得連接狀態(tài)可在其中第一信號線被連接到第一驅(qū)動器且第二信號線被連接到第二讀出放大器的第一連接狀態(tài)與其中第一信號線被連接到第一讀出放大器且第二信號線被連接到第二驅(qū)動器的第二連接狀態(tài)之間切換。用此特征，可以在將第一信號線與驅(qū)動器相連且將第二信號線與讀出放大器相連的第一連接狀態(tài)與將第一信號線與讀出放大器相連且將第二信號線與第二驅(qū)動器相連的第二連接狀態(tài)之間進行切換。這允許從第一信號線和第二信號線兩者輸出與電容器相對應(yīng)的電荷。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明的另一電容分布檢測電路檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布的電容分布檢測電路；該電容分布檢測電路包括：第一復(fù)用器，被連接到所述多個第一信號線的一部分；第一驅(qū)動器，被連接到第一復(fù)用器；第一讀出放大器，被連接到第一復(fù)用器；第二復(fù)用器，被連接到所述多個第一信號線的另一部分；第二驅(qū)動器，被連接到第二復(fù)用器；第二讀出放大器，被連接到第二復(fù)用器；以及第三復(fù)用器，被連接到所述多個第二信號線的一部分；第三驅(qū)動器，被連接到第三復(fù)用器；第三讀出放大器，被連接到第三復(fù)用器；第四復(fù)用器，被連接到所述多個第二信號線的另一部分；第四驅(qū)動器，被連接到第四復(fù)用器；第四讀出放大器，被連接到第四復(fù)用器；以及控制電路，其控制第一至第四復(fù)用器，使得連接狀態(tài)可在以下兩者之間切換，即（a）其中第一信號線的所述一部分被連接到第一驅(qū)動器，第一信號線的另一部分被連接到第二驅(qū)動器，第二信號線的所述一部分被連接到第三讀出放大器，并且第二信號線的所述一部分被連接到第四讀出放大器的狀態(tài)，以及（b）其中第一信號線的所述一部分被連接到第一讀出放大器，第一信號線的另一部分被連接到第二讀出放大器，第二信號線的所述一部分被連接到第三驅(qū)動器，并且第二信號線的另一部分被連接到第四驅(qū)動器的狀態(tài)。用此特征，可以在以下兩者之間切換，即（a）第一連接狀態(tài)，其中，第一信號線的一部分被連接到第一驅(qū)動器，第一信號線的另一部分被連接到第二驅(qū)動器，第二信號線的一部分被連接到第三讀出放大器，第二信號線的另一部分被連接到第四讀出放大器，以及（b）第二連接狀態(tài)，其中，第一信號線的一部分被連接到第一讀出放大器，第一信號線的另一部分被連接到第二讀出放大器，第二信號線的一部分被連接到第三驅(qū)動器，并且第二信號線的另一部分被連接到第四驅(qū)動器。這允許從第一信號線和第二信號線兩者輸出與電容器相對應(yīng)的電荷。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。根據(jù)本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)包括：根據(jù)本發(fā)明的電容值分配檢測電路；以及觸摸面板，包括所述多個第一信號線、所述多個第二信號線以及所述多個電容器。根據(jù)本發(fā)明的信息輸入/輸出設(shè)備包括：根據(jù)本發(fā)明的觸摸傳感器系統(tǒng)；以及顯示面板（i）被疊加在提供于觸摸傳感器系統(tǒng)中的觸摸面板上，或者（ii）觸摸面板被構(gòu)建在其中。本發(fā)明的有利效果檢測電容值分配的根據(jù)本發(fā)明的方法在第一定時驅(qū)動第一信號以從第二信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷，在第一定時之后的第二定時控制第一和第二信號線的連接的切換，并且在第二定時之后的第三定時驅(qū)動第二信號線，以從第一信號線輸出對應(yīng)于電容器的電荷。這允許輸出從第一信號線和第二信號線兩者輸出與電容器相對應(yīng)的電荷。結(jié)果，可以消除由經(jīng)由手、手指等被輸入到觸摸面板中并疊加在讀出線的信號上的電磁噪聲所引起的效應(yīng)。用根據(jù)本實施例的電容器值分配檢測方法，優(yōu)選的是所述多個第一信號線、所述多個第二信號線以及所述多個電容器組成控制面板，該控制面板具有允許將握住筆以進行輸入的手放置在其上面的尺寸。根據(jù)該配置，可以消除由經(jīng)由在握住筆以進行輸入的同時在觸摸面板上觸摸的手輸入到觸摸面板中的電磁噪聲引起的效應(yīng)，并且該電磁噪聲被疊加在讀出線的信號上。用根據(jù)本實施例的電容器值分配檢測電路，優(yōu)選的是所述多個第一信號線、所述多個第二信號線以及所述多個電容器組成控制面板，該控制面板具有允許將握住筆以進行輸入的手放置在其上面的尺寸。根據(jù)該配置，可以消除由經(jīng)由在握住筆以進行輸入的同時在觸摸面板上觸摸的手輸入到觸摸面板中的電磁噪聲引起的效應(yīng)，并且該電磁噪聲被疊加在讀出線的信號上。用根據(jù)本實施例的另一電容分布檢測電路，優(yōu)選的是所述多個第一信號線的所述部分和所述多個第一信號線的所述另一部分共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線，并且所述多個第二信號線的所述部分和所述多個第二信號線的所述另一部分共享設(shè)置在其公共邊界上的信號線。用前述配置，可以連續(xù)地執(zhí)行設(shè)置在鄰近復(fù)用器的各部分的公共邊界上的差分讀出，超過該公共邊界的讀出線。用根據(jù)本實施例的觸摸傳感器，優(yōu)選的是電容分布檢測電路根據(jù)借助于筆的輸入來檢測電容分布。用根據(jù)本實施例的信息輸入/輸出設(shè)備，優(yōu)選的是電容分布檢測電路根據(jù)借助于筆的輸入來檢測電容值的分布。本發(fā)明不限于上述實施例的描述，而是可以由技術(shù)人員在權(quán)利要求的范圍內(nèi)以多種方式進行修改?；谠诓煌瑢嵤├泄_的技術(shù)裝置的適當組合的任何實施例也被涵蓋在本發(fā)明的技術(shù)范圍內(nèi)。產(chǎn)業(yè)適用性本發(fā)明適用于一種用于估計或檢測以矩陣形式配置的線性系統(tǒng)中的系數(shù)、器件值或電容的方法。本發(fā)明還適用于均根據(jù)該方法操作的集成電路、觸摸傳感器系統(tǒng)源極電子設(shè)備。本發(fā)明還適用于指紋檢測系統(tǒng)。本發(fā)明適用于電容分布檢測方法、電容分布檢測電路、觸摸傳感器系統(tǒng)以及信息輸入/輸出設(shè)備，其中的每一個檢測均在多個第一信號線與多個第二信號線的交叉點上形成的多個電容器的電容分布。此外，本發(fā)明能夠被用于包括其中當通過使用筆來輸入時將產(chǎn)生手放置區(qū)域的大尺寸觸摸面板的觸摸傳感器系統(tǒng)中，例如，能夠被用于媒體黑板、平板終端等，其能夠接收經(jīng)由多個人在黑板上手寫的條目。附圖標記列表1觸摸傳感器系統(tǒng)2傳感器面板3集成電路4驅(qū)動部5估計部6、6A模擬積分器7開關(guān)8AD轉(zhuǎn)換器9內(nèi)積計算部10RAM11應(yīng)用程序處理部12移動電話13顯示面板14顯示控制電路15CPU16ROM17RAM18擴音器19揚聲器20操作鍵21照相機101a觸摸傳感器系統(tǒng)102電容分布檢測電路103傳感器面板104復(fù)用器104a復(fù)用器（第一復(fù)用器）104b復(fù)用器（第二復(fù)用器）104a1復(fù)用器（第一復(fù)用器）104a2復(fù)用器（第二復(fù)用器）104b1復(fù)用器（第三復(fù)用器）104b2復(fù)用器（第四復(fù)用器）104a1復(fù)用器（第一復(fù)用器）104a2復(fù)用器（第二復(fù)用器）104b1復(fù)用器（第三復(fù)用器）104b2復(fù)用器（第四復(fù)用器）105驅(qū)動器105a驅(qū)動器（第一驅(qū)動器）105b驅(qū)動器（第二驅(qū)動器）106讀出放大器106a讀出放大器（第一讀出放大器）106b讀出放大器（第二讀出放大器）107定時發(fā)生器107a定時發(fā)生器（控制電路）107b定時發(fā)生器（控制電路）108A/D轉(zhuǎn)換器109電容分布計算部110觸摸識別部111同步信號生成部（控制電路）112a、112b、113a、113b控制器HL1–HLM信號線（第一信號線）VL1–VLM信號線（第二信號線）C11–CMM電容器DL1–DLM驅(qū)動線SL1–SLM讀出線SW1–SW4開關(guān)HDR手放置區(qū)域L1–L4限制線P筆輸入位置NZ幻像噪聲。