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      移動(dòng)終端及其目標(biāo)檢測方法及裝置與流程

      文檔序號:12597373閱讀:來源:國知局

      技術(shù)特征:

      1.一種目標(biāo)檢測方法,其特征在于,包括:

      訓(xùn)練目標(biāo)的根濾波器和多個(gè)部件濾波器,得到關(guān)于目標(biāo)的根濾波器的樣本和各個(gè)部件濾波器的樣本;

      采用基于部件的變形模型和級聯(lián)檢測的方式進(jìn)行搜索,確定目標(biāo)位置;

      所述采用基于部件的變形模型和級聯(lián)檢測的方式進(jìn)行搜索包括:

      計(jì)算訓(xùn)練的所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值,計(jì)算訓(xùn)練的各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值;

      確定級聯(lián)順序;

      計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值;

      依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口;在所述依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值的過程中,依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪;

      依據(jù)所述關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口,確定目標(biāo)位置。

      2.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Th</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mi>&Omega;</mi> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <mi>R</mi> <mo>+</mo> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mrow> <mi>q</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </munderover> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>j</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>j</mi> </msub> </mrow> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,R為根響應(yīng)圖像,P為部件響應(yīng)圖像,D為變形代價(jià)圖像。

      3.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出變形修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Td</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mi>&Omega;</mi> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <mi>R</mi> <mo>+</mo> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mrow> <mi>q</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </munderover> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>j</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>j</mi> </msub> </mrow> <mo>)</mo> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,R為根響應(yīng)圖像,P為部件響應(yīng)圖像,D為變形代價(jià)圖像。

      4.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出近似正樣本修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Tp</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mrow> <mi>p</mi> <mo>&Element;</mo> <mi>&Omega;</mi> </mrow> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> <mo>-</mo> <msub> <mi>max</mi> <mrow> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </msub> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,p為當(dāng)前像素點(diǎn),p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,S為響應(yīng)圖像。

      5.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出近似負(fù)樣本修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Tn</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mrow> <mi>p</mi> <mo>&Element;</mo> <mi>&Omega;</mi> <mo>,</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>(</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,p為當(dāng)前像素點(diǎn),p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,S為響應(yīng)圖像。

      6.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述確定級聯(lián)順序?yàn)椋菏褂秘澙匪惴ù_定級聯(lián)順序。

      7.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值為:根據(jù)概率近似正確原則計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值。

      8.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口包括:

      步驟a)在所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值的基礎(chǔ)上,依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加各個(gè)部件濾波器的樣本的響應(yīng)值;

      步驟b)在累加部件濾波器的樣本的響應(yīng)值之后,依據(jù)所述假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行假設(shè)修剪、變形修剪、近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪;

      重復(fù)上述步驟a)至b),直至累加完各個(gè)部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口。

      9.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪包括:

      采用以下公式進(jìn)行近似正樣本修剪:

      其中,p為當(dāng)前像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),S(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的響應(yīng)值,Tpq為第q個(gè)近似正樣本修剪的閾值,prune代表修剪操作。

      10.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪包括:

      采用以下公式進(jìn)行近似負(fù)樣本修剪:

      <mrow> <mo>&Exists;</mo> <mi>S</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>&lt;</mo> <msub> <mi>Tn</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>,</mo> <mi>p</mi> <mi>r</mi> <mi>u</mi> <mi>n</mi> <mi>e</mi> <mi> </mi> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,p為當(dāng)前像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),S(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的響應(yīng)值,Tnq為第q個(gè)近似負(fù)樣本修剪的閾值,prune代表修剪操作。

      11.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述訓(xùn)練目標(biāo)的根濾波器和多個(gè)部件濾波器,得到關(guān)于目標(biāo)的根濾波器的樣本和各個(gè)部件濾波器的樣本包括:對于根濾波器/每一個(gè)部件濾波器,

      使用標(biāo)準(zhǔn)的支持向量機(jī)訓(xùn)練出初始根濾波器/部件濾波器;

      使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器繼續(xù)訓(xùn)練,迭代若干次后得到根濾波器/部件濾波器的樣本。

      12.如權(quán)利要求11所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,所述使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器繼續(xù)訓(xùn)練包括:使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器進(jìn)行重選正樣本、數(shù)據(jù)挖掘和隨機(jī)梯度下降法優(yōu)化。

      13.如權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測方法,其特征在于,在所述得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口之后,在所述確定目標(biāo)位置之前,還包括:

      對所述候選窗口進(jìn)行非極值抑制操作。

      14.一種目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,包括:樣本訓(xùn)練單元和目標(biāo)搜索單元;其中:

      樣本訓(xùn)練單元,適于訓(xùn)練目標(biāo)的根濾波器和多個(gè)部件濾波器,得到關(guān)于目標(biāo)的根濾波器的樣本和各個(gè)部件濾波器的樣本;

      目標(biāo)搜索單元,適于采用基于部件的變形模型和級聯(lián)檢測的方式進(jìn)行搜索,確定目標(biāo)位置;

      所述目標(biāo)搜索單元包括:響應(yīng)值計(jì)算子單元、級聯(lián)順序確定子單元、閾值計(jì)算子單元、響應(yīng)值累加子單元和目標(biāo)位置確定子單元;其中:

      響應(yīng)值計(jì)算子單元,適于計(jì)算訓(xùn)練的所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值,計(jì)算訓(xùn)練的各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值;

      級聯(lián)順序確定子單元,適于確定級聯(lián)順序;

      閾值計(jì)算子單元,適于計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值;

      響應(yīng)值累加子單元,適于依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口;在所述依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和各個(gè)所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值的過程中,依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪;

      目標(biāo)位置確定子單元,適于依據(jù)所述關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口,確定目標(biāo)位置。

      15.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述閾值計(jì)算子單元計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Th</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mi>&Omega;</mi> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <mi>R</mi> <mo>+</mo> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mrow> <mi>q</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </munderover> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>j</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>j</mi> </msub> </mrow> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,R為根響應(yīng)圖像,P為部件響應(yīng)圖像,D為變形代價(jià)圖像。

      16.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述閾值計(jì)算子單元計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出變形修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Td</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mi>&Omega;</mi> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <mi>R</mi> <mo>+</mo> <munderover> <mo>&Sigma;</mo> <mrow> <mi>j</mi> <mo>=</mo> <mn>1</mn> </mrow> <mrow> <mi>q</mi> <mo>-</mo> <mn>1</mn> </mrow> </munderover> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>P</mi> <mi>j</mi> </msub> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>j</mi> </msub> </mrow> <mo>)</mo> <mo>-</mo> <msub> <mi>D</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,R為根響應(yīng)圖像,P為部件響應(yīng)圖像,D為變形代價(jià)圖像。

      17.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述閾值計(jì)算子單元計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出近似正樣本修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Tp</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mrow> <mi>p</mi> <mo>&Element;</mo> <mi>&Omega;</mi> </mrow> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> <mo>-</mo> <msub> <mi>max</mi> <mrow> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </msub> <mo>(</mo> <mrow> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mrow> <mo>(</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,p為當(dāng)前像素點(diǎn),p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,S為響應(yīng)圖像。

      18.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述閾值計(jì)算子單元計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值包括:

      采用以下公式計(jì)算出近似負(fù)樣本修剪的閾值:

      <mrow> <msub> <mi>Tn</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>=</mo> <munder> <mrow> <mi>m</mi> <mi>i</mi> <mi>n</mi> </mrow> <mrow> <mi>p</mi> <mo>&Element;</mo> <mi>&Omega;</mi> <mo>,</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </munder> <mrow> <mo>(</mo> <msub> <mi>S</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>(</mo> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>)</mo> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,q∈{1,2,...,Q}為級聯(lián)檢測的階段索引值,Ω為訓(xùn)練樣本集,p為當(dāng)前像素點(diǎn),p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,S為響應(yīng)圖像。

      19.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述級聯(lián)順序確定子單元確定級聯(lián)順序?yàn)椋菏褂秘澙匪惴ù_定級聯(lián)順序。

      20.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述閾值計(jì)算子單元計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值為:根據(jù)概率近似正確原則計(jì)算出假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值。

      21.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述響應(yīng)值累加子單元依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值和所述部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口包括:

      步驟a)在所述根濾波器的樣本的響應(yīng)值的基礎(chǔ)上,依據(jù)所述級聯(lián)順序,依次累加各個(gè)部件濾波器的樣本的響應(yīng)值;

      步驟b)在累加部件濾波器的樣本的響應(yīng)值之后,依據(jù)所述假設(shè)修剪的閾值、變形修剪的閾值、近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行假設(shè)修剪、變形修剪、近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪;

      重復(fù)上述步驟a)至b),直至累加完各個(gè)部件濾波器的樣本的響應(yīng)值,得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口。

      22.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述響應(yīng)值累加子單元依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪包括:

      采用以下公式進(jìn)行近似正樣本修剪:

      其中,p為當(dāng)前像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),S(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的響應(yīng)值,Tpq為第q個(gè)近似正樣本修剪的閾值,prune代表修剪操作。

      23.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述響應(yīng)值累加子單元依據(jù)所述近似正樣本修剪的閾值和近似負(fù)樣本修剪的閾值對累加后的響應(yīng)值進(jìn)行近似正樣本修剪和近似負(fù)樣本修剪包括:

      采用以下公式進(jìn)行近似負(fù)樣本修剪:

      <mrow> <mo>&Exists;</mo> <mi>S</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>&lt;</mo> <msub> <mi>Tn</mi> <mi>q</mi> </msub> <mo>,</mo> <mi>p</mi> <mi>r</mi> <mi>u</mi> <mi>n</mi> <mi>e</mi> <mi> </mi> <msup> <mi>p</mi> <mo>&prime;</mo> </msup> <mo>&Element;</mo> <mi>N</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>p</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow>

      其中,p為當(dāng)前像素點(diǎn),N(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的鄰域,p′為鄰域內(nèi)任一像素點(diǎn),S(p)為當(dāng)前像素點(diǎn)的響應(yīng)值,Tnq為第q個(gè)近似負(fù)樣本修剪的閾值,prune代表修剪操作。

      24.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述樣本訓(xùn)練單元訓(xùn)練目標(biāo)的根濾波器和多個(gè)部件濾波器,得到關(guān)于目標(biāo)的根濾波器的樣本和各個(gè)部件濾波器的樣本包括:對于根濾波器/每一個(gè)部件濾波器,

      使用標(biāo)準(zhǔn)的支持向量機(jī)訓(xùn)練出初始根濾波器/部件濾波器;

      使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器繼續(xù)訓(xùn)練,迭代若干次后得到根濾波器/部件濾波器的樣本。

      25.如權(quán)利要求24所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器繼續(xù)訓(xùn)練包括:使用隱變量支持向量機(jī)對所述初始根濾波器/部件濾波器進(jìn)行重選正樣本、數(shù)據(jù)挖掘和隨機(jī)梯度下降法優(yōu)化。

      26.如權(quán)利要求14所述的目標(biāo)檢測裝置,其特征在于,所述目標(biāo)搜索單元還包括:

      非極值抑制子單元,適于在所述得到關(guān)于目標(biāo)位置的候選窗口之后,在所述確定目標(biāo)位置之前,對所述候選窗口進(jìn)行非極值抑制操作。

      27.一種移動(dòng)終端,其特征在于,包括權(quán)利要求14至26中任一項(xiàng)所述的目標(biāo)檢測裝置。

      28.如權(quán)利要求27所述的移動(dòng)終端,其特征在于,所述移動(dòng)終端為智能手機(jī)或平板電腦。

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