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      磁盤的故障預(yù)測方法和裝置與流程

      文檔序號:11590148閱讀:253來源:國知局

      本發(fā)明涉及磁盤領(lǐng)域,具體而言,涉及一種磁盤的故障預(yù)測方法和裝置。



      背景技術(shù):

      目前,硬盤是存儲數(shù)據(jù)的主要介質(zhì),硬盤一旦出故障,便會造成巨大的數(shù)據(jù)損失。因此如何保證硬盤的穩(wěn)定性能非常重要。在通常狀態(tài)下,硬盤在24小時中出錯的概率在是萬分之一左右,當一臺服務(wù)器具有十塊硬盤時,服務(wù)器硬盤出錯的概率就會上升到千分之一,而隨著當前網(wǎng)站等業(yè)務(wù)的發(fā)展,服務(wù)器需要使用的硬盤會越來越多,多塊硬盤同時出錯的概率也會提升。

      通常情況下,數(shù)據(jù)存儲通常會有多個備份,如mysql主備庫,gfs文件默認3個備份。在大量數(shù)據(jù)存儲平臺上,如果多個硬盤同時出故障,那么這些硬盤上存儲著同一個文件的備份的概率就會很高,即如果多塊硬盤同時出現(xiàn)故障,就會導(dǎo)致一些文件的丟失,對于一些線上的服務(wù),大都依賴于服務(wù)器中存儲的海量數(shù)據(jù),如果硬盤出故障,就會導(dǎo)致上述在線服務(wù)異常,甚至暫停使用。

      由于上述原因,需要具有預(yù)測硬盤是否會出錯的系統(tǒng)需要有一套系統(tǒng)能提前告訴我們哪些硬盤會出錯,數(shù)據(jù)可能丟失導(dǎo)致硬盤故障的原因有很多,最常見的有以下幾種:外部振動、溫度和濕度、電器元件損壞、聲音和灰塵,在上述因素中,有些因素能夠被采集到,比如溫度和濕度、一些元器件數(shù)據(jù),但是更多的數(shù)據(jù)無法被采集和量化,因此便會導(dǎo)致預(yù)測結(jié)果不準確。

      針對現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集胡或量化導(dǎo)致的預(yù)測結(jié)果不準確的問題,目前尚未提出有效的解決方案。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      本發(fā)明實施例提供了一種磁盤的故障預(yù)測方法和裝置,以至少解決現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測結(jié)果不準確的技術(shù)問題。

      根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面,提供了一種磁盤的故障預(yù)測方法,包括:通過磁 盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      根據(jù)本發(fā)明實施例的另一方面,還提供了一種磁盤的故障預(yù)測裝置,包括:獲取模塊,用于通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);分類模塊,用于采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;訓(xùn)練模塊,用于采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;確定模塊,用于在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      在本發(fā)明實施例中,采用通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型的方式,通過在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,達到了確定待測磁盤是否為故障磁盤的目的,從而實現(xiàn)了預(yù)測磁盤故障的技術(shù)效果,進而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測結(jié)果不準確的技術(shù)問題。

      附圖說明

      此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進一步理解,構(gòu)成本申請的一部分,本發(fā)明的示意性實施例及其說明用于解釋本發(fā)明,并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當限定。在附圖中:

      圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種磁盤的故障預(yù)測方法的計算機終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖;

      圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例一的磁盤的故障預(yù)測方法的流程圖;

      圖3是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測方法的流程圖;

      圖4是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種磁盤的故障預(yù)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖5是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖6是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖7是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;

      圖8是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種可選的磁盤的故障預(yù)測裝置的結(jié)構(gòu)示意圖;以及

      圖9是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種計算機終端的結(jié)構(gòu)框圖。

      具體實施方式

      為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本發(fā)明方案,下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分的實施例,而不是全部的實施例?;诒景l(fā)明中的實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都應(yīng)當屬于本發(fā)明保護的范圍。

      需要說明的是,本發(fā)明的說明書和權(quán)利要求書及上述附圖中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別類似的對象,而不必用于描述特定的順序或先后次序。應(yīng)該理解這樣使用的數(shù)據(jù)在適當情況下可以互換,以便這里描述的本發(fā)明的實施例能夠以除了在這里圖示或描述的那些以外的順序?qū)嵤?。此外,術(shù)語“包括”和“具有”以及他們的任何變形,意圖在于覆蓋不排他的包含,例如,包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備不必限于清楚地列出的那些步驟或單元,而是可包括沒有清楚地列出的或?qū)τ谶@些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

      實施例1

      根據(jù)本發(fā)明實施例,提供了一種磁盤的故障預(yù)測方法實施例,需要說明的是,在附圖的流程圖示出的步驟可以在諸如一組計算機可執(zhí)行指令的計算機系統(tǒng)中執(zhí)行,并且,雖然在流程圖中示出了邏輯順序,但是在某些情況下,可以以不同于此處的順序執(zhí)行所示出或描述的步驟。

      本申請實施例一所提供的方法實施例可以在移動終端、計算機終端或者類似的運算裝置中執(zhí)行。以運行在計算機終端上為例,圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種磁盤的故障預(yù)測方法的計算機終端的硬件結(jié)構(gòu)框圖。如圖1所示,計算機終端10可以包括一個或多個(圖中僅示出一個)處理器102(處理器102可以包括但不限于微處理器mcu或可編程邏輯器件fpga等的處理裝置)、用于存儲數(shù)據(jù)的存儲器104、以及用于通信功能的傳輸模塊106。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解,圖1所示的結(jié)構(gòu)僅為示意,其并不對上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如,計算機終端10還可包括比圖1中所示更多或者更少的組件,或者具有與圖1所示不同的配置。

      存儲器104可用于存儲應(yīng)用軟件的軟件程序以及模塊,如本發(fā)明實施例中的磁盤的故障預(yù)測方法對應(yīng)的程序指令/模塊,處理器102通過運行存儲在存儲器104內(nèi)的軟件程序以及模塊,從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理,即實現(xiàn)上述的磁盤的故障預(yù)測方法。存儲器104可包括高速隨機存儲器,還可包括非易失性存儲器,如一個或者多個磁性存儲裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲器。在一些實例中,存儲器104可進一步包括相對于處理器102遠程設(shè)置的存儲器,這些遠程存儲器可以通過網(wǎng)絡(luò)連接至計算機終端10。上述網(wǎng)絡(luò)的實例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動通信網(wǎng)及其組合。

      傳輸裝置106用于經(jīng)由一個網(wǎng)絡(luò)接收或者發(fā)送數(shù)據(jù)。上述的網(wǎng)絡(luò)具體實例可包括計算機終端10的通信供應(yīng)商提供的無線網(wǎng)絡(luò)。在一個實例中,傳輸裝置106包括一個網(wǎng)絡(luò)適配器(networkinterfacecontroller,nic),其可通過基站與其他網(wǎng)絡(luò)設(shè)備相連從而可與互聯(lián)網(wǎng)進行通訊。在一個實例中,傳輸裝置106可以為射頻(radiofrequency,rf)模塊,其用于通過無線方式與互聯(lián)網(wǎng)進行通訊。

      在上述運行環(huán)境下,本申請?zhí)峁┝巳鐖D2所示的磁盤的故障預(yù)測方法。圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例一的磁盤的故障預(yù)測方法的流程圖。

      步驟s21,通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù)。

      在上述步驟中,磁盤監(jiān)控技術(shù)用于監(jiān)視并記錄磁盤狀態(tài),

      在一種可選的實施例中,樣本磁盤數(shù)據(jù)可以是樣本磁盤的數(shù)據(jù)吞吐性能、馬達啟動時間、尋道錯誤率等。

      此處需要說明的是,在使用現(xiàn)有技術(shù)(例如s.m.a.r.t,自我監(jiān)測、分析及報告技術(shù))對磁盤進行監(jiān)測時,能夠得到多維度的體現(xiàn)磁盤狀態(tài)的數(shù)據(jù),以及根據(jù)監(jiān)測得到的數(shù)據(jù)對磁盤是否故障,或是否會在未來的較短時間內(nèi)發(fā)生故障做出分析,這樣的分析在磁盤監(jiān)測技術(shù)監(jiān)測的數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進行的,然而磁盤的狀態(tài)還能通過其他數(shù)據(jù)量體現(xiàn),這些數(shù)據(jù)量可能是不能被檢測或不能被量化的數(shù)據(jù)量,因此本申請建立了磁盤預(yù)測模型,使用磁盤預(yù)測模型對磁盤的故障狀態(tài)進行分析,其中,磁盤預(yù)測模型由owlqn模型對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練得到。上述實施例的方案通過對磁盤樣本數(shù)據(jù)的樣本訓(xùn)練建立了預(yù)測故障的模型,使得向磁盤監(jiān)控系統(tǒng)輸入待測磁盤樣本數(shù)據(jù)后,能夠根據(jù)預(yù)測故障的模型,對待測磁盤進行故障狀態(tài)分析,避免了在分析磁盤故障時,采用對單一或固定的多個樣本數(shù)據(jù)進行分析,導(dǎo)致的不可統(tǒng)計或不可量化的磁盤數(shù)據(jù)對磁盤故障預(yù)測結(jié)果的影響。

      步驟s23,采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類。

      在上述步驟中,在對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理時能夠采用多種分箱方法達到平滑數(shù)據(jù)的目的,其中,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱的方法包括按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的平均值平滑數(shù)據(jù)、按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的中間值平滑數(shù)據(jù)以及按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的邊界值平滑數(shù)據(jù)。

      在一種可選的實施例中,可以先將樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的多個樣本數(shù)據(jù)分至多個分箱中,在此示例中,將樣本磁盤數(shù)據(jù)分至5個分箱中,將樣本磁盤數(shù)據(jù)分至不同的分箱中時可將樣本磁盤數(shù)據(jù)按照升序排列,然后計算每個分箱中的數(shù)據(jù)量,在將樣本磁盤數(shù)據(jù)按照每個分箱中應(yīng)該有的數(shù)據(jù)量分至5個分箱,然后對每個分箱中的數(shù)據(jù)進行處理,在此實施例中采用按照箱內(nèi)數(shù)據(jù)的平均值平滑數(shù)據(jù)的方法進行處理,即計算得到每個分箱中數(shù)據(jù)的平均值,然后該分箱內(nèi)所有數(shù)據(jù)均變?yōu)樵撈骄怠?/p>

      此處需要說明當時,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理用于將每個分箱中的數(shù)據(jù)進行平滑處理,由于每個分箱中的數(shù)據(jù)都較為相近,因此分箱處理在達到穩(wěn)定平滑數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上,并不會影響下一步驟中對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練的結(jié)果。

      此處還需要說明的是,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理的方法包括上述實施例中的任意一種分箱方法,且不限于此,任何能夠達到平滑或穩(wěn)定數(shù)據(jù)目的方法都可用于對樣本磁盤數(shù)據(jù)的分箱處理。

      步驟s25,采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型。

      在上述步驟中,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練可以為將處理后的樣本磁盤數(shù)據(jù)輸入至owlqn模型,其中,上述樣本磁盤數(shù)據(jù)為預(yù)先知曉真實值的樣本,樣本的真實值可以是1或者0,用于表示樣本為正樣本或負樣本,正樣本用于表示該樣本為故障磁盤,負樣本表示該樣本為正常磁盤。

      在一種可選的實施例中,每個輸入的樣本磁盤數(shù)據(jù)都能夠從owlqn模型中得到相應(yīng)的輸出值,在得到樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中每個樣本相應(yīng)的輸出值之后,獲取所有正樣本的輸出值,構(gòu)成正樣本輸出值區(qū)間,同樣獲取所有負樣本的輸出值,構(gòu)成負樣本的輸出區(qū)間,由此得到磁盤預(yù)測模型。

      步驟s27,在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      需要進一步說明的是,在使用owlqn模型對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練時,使用 的是對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類后的樣本數(shù)據(jù),并且對分類后的樣本數(shù)據(jù)進行了分箱處理,使得分類后的每個類別中的樣本數(shù)據(jù)離散化,從而能夠?qū)颖敬疟P的樣本數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練。

      在一種可選的實施例中,上述樣本磁盤數(shù)據(jù)可以包括:底層數(shù)據(jù)讀取錯誤率、啟動/停止計數(shù)、重映射扇區(qū)數(shù)、通電時間累計、主軸起旋重試次數(shù)、磁盤校準重試次數(shù)、磁盤通電次數(shù)、溫度以及寫錯誤率,可以根據(jù)磁盤歷史故障情況獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。例如,可以按照正負樣本比例為1:5的比例進行樣本獲取,其中,正樣本為存在故障的磁盤,負樣本為不存在故障的磁盤。

      此處需要說明的是,在通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)時,由于預(yù)測磁盤故障的各個機構(gòu)使用的磁盤并不一定相同,且由于各個機構(gòu)不同溫濕度等環(huán)境因素對磁盤的影響,使得不同機構(gòu)的磁盤的好壞比例并不相同,為了使樣本磁盤數(shù)據(jù)的訓(xùn)練提供更可靠的樣本磁盤數(shù)據(jù),還可以根據(jù)機構(gòu)的實際上磁盤損壞情況進行獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

      由此,解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測結(jié)果不準確的技術(shù)問題

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個維度上的樣本數(shù)據(jù):原始值、標準值、最差值和累積值。

      上述原始值為磁盤運行時的當前參數(shù);上述標準值為正常磁盤運行時各項參數(shù)的數(shù)值;上述最差值為磁盤運行時,磁盤的各項檢測參數(shù)曾出現(xiàn)過與正常值偏差最大的非正常值;上述累計值為磁盤的各項檢測參數(shù)從磁盤使用至當前時刻的累計結(jié)果。

      在一種可選的實施例中,磁盤的各項參數(shù)可以是對磁盤的各項屬性進行描述的信息,可以包括錯誤讀取率、加電次數(shù)、重新分配扇區(qū)數(shù)、旋轉(zhuǎn)重試次數(shù)、磁盤校準重試次數(shù)以及奇偶校驗錯誤率中的一項或多項,也可以包括磁盤的其他屬性信息。

      在一種可選的實施例中,可以采用hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,步驟s21在通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù)之后,上述方法還包括:

      步驟s211,對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)進行如下任意一種或多種運算:差分運算、平方運算和分布求和運算,使得任意一個維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴展出新的維度上的樣 本數(shù)據(jù)。

      在一種可選的實施例中,對樣本數(shù)據(jù)中的原始值進行差分運算、平方運算和分布求和運算,從而能得到原始值的差分值、原始值的平房值以及原始值的分布求和值,因此在知曉樣本磁盤數(shù)據(jù)的原始值的基礎(chǔ)上,得到另外四個維度的樣本磁盤數(shù)據(jù);同樣可以將樣本數(shù)據(jù)中的標準值、最差值以及累積值分別作上述運算,到的更多維度的樣本磁盤數(shù)據(jù)。

      需要說明的是,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行多種運算得到更多維度的樣本磁盤數(shù)據(jù),能夠提高對樣本磁盤數(shù)據(jù)的利用率以及對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練時,樣本磁盤數(shù)據(jù)的敏感度,從而提高故障預(yù)測模型的準確度。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,步驟s23采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類,包括:

      步驟s231,確定預(yù)先劃分的每個分箱的取值范圍以及每個分箱對應(yīng)的id值。

      在上述步驟中,劃分的每個分箱的取值范圍的目的在于確定與樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的數(shù)據(jù)對應(yīng)的分箱,即樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的范圍對應(yīng)的分箱即為該樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的分箱。確定每個分箱的id值用于區(qū)分不同的分箱。

      步驟s233,通過將每個維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱來對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值。

      在一種可選的實施例中,將樣本磁盤數(shù)據(jù)分配至不同的分箱后,以分箱的id號對分配至該分箱的數(shù)據(jù)進行替換,即將每一維度上的樣本磁盤數(shù)據(jù)都被替換為該樣本磁盤數(shù)據(jù)對應(yīng)的分箱id值,使得原始的樣本磁盤數(shù)據(jù)的每一個維度上的數(shù)據(jù)都被替換為如上的整數(shù)值。

      在另一種可選的實施例中,例如在設(shè)置5個取值范圍不同的分箱,且每個分箱的id值分別為1,2,3,4,5的情況下,每個分箱中都包含不同的數(shù)據(jù),當樣本磁盤數(shù)據(jù)a落入分箱1和分箱3的取值范圍內(nèi)時,樣本磁盤數(shù)據(jù)a的id值可以為10100。按照上述實施例中的方案,使得每個維度上的樣本數(shù)據(jù)都能夠得到與之對應(yīng)的id值。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,步驟s25,采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型,包括:

      步驟s251,owlqn模型對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值進行訓(xùn)練,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值。

      在上述步驟中,每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值為該樣本為“1”的概率,即為該樣本為正樣本的概率。

      在一種可選的是實例中,將待測磁盤數(shù)據(jù)表示為其中,yi為0或1,owlqn模型獲取用于訓(xùn)練的樣本數(shù)據(jù)后,輸出每個磁盤特征數(shù)據(jù)的權(quán)重值,即每個磁盤特征數(shù)據(jù)為故障磁盤數(shù)據(jù)的概率。權(quán)重值可以通過如下公式計算得到:權(quán)重值i用于表示第i個樣本,n用于表示n個維度,k表示1至n之間任意一個維度,wk用于表示k維度上的權(quán)重值,其中,w0為截距,需要注意的是,輸出的權(quán)重值需要滿足條件:能取得最小值,j為最優(yōu)化目標函數(shù)。

      步驟s253,根據(jù)每個維度上的樣本數(shù)據(jù)及對應(yīng)的權(quán)重值,確定磁盤預(yù)測模型,其中,磁盤預(yù)測模型包括每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果。

      在一種可選的實施例中,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)后,計算待測磁盤的預(yù)測值,其中,計算待測磁盤的預(yù)測值可以根據(jù)如下公式進行計算:上述預(yù)測值即為訓(xùn)練樣本磁盤數(shù)據(jù)得到的預(yù)測結(jié)果,由于樣本磁盤是否為故障磁盤為已知量,因此,在得到預(yù)測結(jié)果后,將正樣本磁盤的預(yù)測結(jié)果和負樣本磁盤的預(yù)測結(jié)果進行區(qū)分,得到故障磁盤的預(yù)測值的取值范圍和正常磁盤的預(yù)測值的取值范圍。

      在一種可選的實施例中,向owlqn模型輸入樣本數(shù)據(jù)對應(yīng)的id值,并向owlqn模型輸入id值對應(yīng)的樣本磁盤的故障狀態(tài),使owlqn模型記憶id值以及id值對應(yīng)的磁盤故障狀態(tài),再向owlqn模型重復(fù)輸入id值,驗證owlqn模型是否能夠輸出id值對應(yīng)的故障狀態(tài)。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類后得到的預(yù)測值。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,步驟s27在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤,包括:

      步驟s271,接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,將待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值。

      在上述步驟中,將待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值,可以采用上實施例中的步驟s231至步驟s233中提出的方案實施。

      步驟s273,根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值確定待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值。

      在一種可選的是實例中,將待測磁盤數(shù)據(jù)表示為其中,yi為0或1,owlqn模型獲取用于訓(xùn)練的樣本數(shù)據(jù)后,輸出每個磁盤特征數(shù)據(jù)的權(quán)重值,即每個磁盤特征數(shù)據(jù)為故障磁盤數(shù)據(jù)的概率。權(quán)重值可以通過如下公式計算得到:權(quán)重值需要注意的是,輸出的權(quán)重值需要滿足

      步驟s275,根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測模型中確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      在一種可選的實施例中,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)后,計算待測磁盤的預(yù)測值,其中,計算待測磁盤的預(yù)測值可以根據(jù)如下公式進行計算:得到待測磁盤的預(yù)測值后,將待測磁盤的預(yù)測值與訓(xùn)練樣本磁盤數(shù)據(jù)得到的正樣本的取值范圍和負樣本的取值范圍進行比對,若待測磁盤的預(yù)測值落入正樣本的取值范圍,則可以認為該待測磁盤為故障磁盤,若待測磁盤的預(yù)測值落入負樣本的取值范圍,則可以認為該待測磁盤為正常磁盤。

      需要說明的是,對于前述的各方法實施例,為了簡單描述,故將其都表述為一系列的動作組合,但是本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)該知悉,本發(fā)明并不受所描述的動作順序的限制,因為依據(jù)本發(fā)明,某些步驟可以采用其他順序或者同時進行。其次,本領(lǐng)域技術(shù)人員也應(yīng)該知悉,說明書中所描述的實施例均屬于優(yōu)選實施例,所涉及的動作和模塊并不一定是本發(fā)明所必須的。

      通過以上的實施方式的描述,本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到根據(jù)上述實施例的方法可借助軟件加必需的通用硬件平臺的方式來實現(xiàn),當然也可以通過硬件,但 很多情況下前者是更佳的實施方式?;谶@樣的理解,本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來,該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)(如rom/ram、磁碟、光盤)中,包括若干指令用以使得一臺終端設(shè)備(可以是手機,計算機,服務(wù)器,或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述的方法。

      如圖3所示,提供了一種磁盤的故障預(yù)測方法,該方法可以包括如下步驟s31至步驟s37:

      s31,獲取樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)。

      在上述步驟中,樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)可以是smart磁盤數(shù)據(jù)。具體的,在上述步驟中,可以通過hdtune、crystaldiskinfo等軟件獲取樣本磁盤數(shù)據(jù)。

      s32,對樣本數(shù)據(jù)進行差分運算。

      具體的,在上述步驟中,差分運算指磁盤在某一時刻的特征數(shù)據(jù)與過該磁盤在24小時之前的特征數(shù)據(jù)做差運算得到的值。

      s33,對差分運算得到的結(jié)果進行分布求和和/或平方運算。

      上述步驟對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)進行如下任意一種或多種運算:差分運算、平方運算和分布求和運算,使得任意一個維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

      s34,得到訓(xùn)練和預(yù)測使用的數(shù)據(jù)。

      s35,采用分箱進行離散化。

      上述步驟劃分的每個分箱的取值范圍的目的在于確定與樣本磁盤數(shù)據(jù)集合中的數(shù)據(jù)對應(yīng)的分箱,即樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的范圍對應(yīng)的分箱即為該樣本磁盤數(shù)據(jù)所屬的分箱。確定每個分箱的id值用于區(qū)分不同的分箱,并對每個分箱中的數(shù)據(jù)進行離散化處理。

      s36,通過owlqn模型進行訓(xùn)練。

      在上述步驟中,通過owlqn模型對樣本磁盤的樣本數(shù)據(jù)進行訓(xùn)練得到磁盤預(yù)測模型。

      s37,得到磁盤的預(yù)測結(jié)果。

      在上述步驟中,使用上述步驟構(gòu)建的磁盤預(yù)測模型對待測磁盤進行預(yù)測,得到預(yù) 測值后,與模型中的預(yù)測取值范圍進行比對,得到待測磁盤的預(yù)測結(jié)果。

      實施例2

      根據(jù)本發(fā)明實施例,還提供了一種用于實施上述磁盤的故障預(yù)測方法的裝置,如圖4所示,該裝置包括:獲取模塊40、分類模塊42、訓(xùn)練模塊44和確定模塊46。

      其中,獲取模塊40,用于通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);分類模塊42,用于采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;訓(xùn)練模塊44,用于采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;確定模塊46,用于在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      此處需要說明的是,上述獲取模塊40、分類模塊42、訓(xùn)練模塊44和確定模塊46對應(yīng)于實施例一種的步驟s21至步驟s27所實現(xiàn)的實例和應(yīng)用場景相同,但不限于上述實施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是,上述模塊作為裝置的一部分可以運行在實施例一提供的計算機終端10中。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個維度上的樣本數(shù)據(jù):原始值、標準值、最差值和累積值。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,結(jié)合圖5所示,上述裝置還包括:

      運算模塊50,用于對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)進行如下任意一種或多種運算:差分運算、平方運算和分布求和運算,使得任意一個維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

      此處需要說明的是,上述獲取模塊50對應(yīng)于實施例一種的步驟s211所實現(xiàn)的實例和應(yīng)用場景相同,但不限于上述實施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是,上述模塊作為裝置的一部分可以運行在實施例一提供的計算機終端10中。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,結(jié)合圖6所示,上述分類模塊42包括:

      第一確定子模塊60,用于確定預(yù)先劃分的每個分箱的取值范圍以及每個分箱對應(yīng)的id值;分類子模塊62,用于通過將每個維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱來 對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值。

      此處需要說明的是,上述第一確定子模塊60和分類子模塊62對應(yīng)于實施例一種的步驟s231和步驟s233所實現(xiàn)的實例和應(yīng)用場景相同,但不限于上述實施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是,上述模塊作為裝置的一部分可以運行在實施例一提供的計算機終端10中。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,結(jié)合圖7所示,上述訓(xùn)練模塊44包括:

      訓(xùn)練子模塊70,用于owlqn模型對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值進行訓(xùn)練,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值;第二確定子模塊72,用于根據(jù)每個維度上的樣本數(shù)據(jù)及對應(yīng)的權(quán)重值,確定磁盤預(yù)測模型,其中,磁盤預(yù)測模型包括每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果。

      此處需要說明的是,上述訓(xùn)練子模塊70和第二確定子模塊72對應(yīng)于實施例一種的步驟s251和步驟s253所實現(xiàn)的實例和應(yīng)用場景相同,但不限于上述實施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是,上述模塊作為裝置的一部分可以運行在實施例一提供的計算機終端10中。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類后得到的預(yù)測值。

      根據(jù)本申請上述實施例,在一種優(yōu)選的方案中,結(jié)合圖8所示,上述確定模塊46還包括:

      離散模塊80,用于接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,將待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值;第三確定子模塊82,用于根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值確定待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值;第四確定子模塊84,用于根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測模型中確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      此處需要說明的是,上述離散模塊80、第三確定子模塊82和第四確定子模塊84對應(yīng)于實施例一種的步驟s271和步驟s275所實現(xiàn)的實例和應(yīng)用場景相同,但不限于上述實施例一所公開的內(nèi)容。需要說明的是,上述模塊作為裝置的一部分可以運行在實施例一提供的計算機終端10中。

      實施例3

      本發(fā)明的實施例可以提供一種計算機終端,該計算機終端可以是計算機終端群中 的任意一個計算機終端設(shè)備??蛇x地,在本實施例中,上述計算機終端也可以替換為移動終端等終端設(shè)備。

      可選地,在本實施例中,上述計算機終端可以位于計算機網(wǎng)絡(luò)的多個網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中的至少一個網(wǎng)絡(luò)設(shè)備。

      在本實施例中,上述計算機終端可以執(zhí)行磁盤的故障預(yù)測方法中以下步驟的程序代碼:通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      可選地,圖9是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種計算機終端的結(jié)構(gòu)框圖。如圖9所示,該計算機終端a可以包括:一個或多個(圖中僅示出一個)處理器91、存儲器93、以及傳輸裝置95。

      其中,存儲器可用于存儲軟件程序以及模塊,如本發(fā)明實施例中的磁盤的故障預(yù)測方法和裝置對應(yīng)的程序指令/模塊,處理器通過運行存儲在存儲器內(nèi)的軟件程序以及模塊,從而執(zhí)行各種功能應(yīng)用以及數(shù)據(jù)處理,即實現(xiàn)上述的磁盤的故障預(yù)測方法。存儲器可包括高速隨機存儲器,還可以包括非易失性存儲器,如一個或者多個磁性存儲裝置、閃存、或者其他非易失性固態(tài)存儲器。在一些實例中,存儲器可進一步包括相對于處理器遠程設(shè)置的存儲器,這些遠程存儲器可以通過網(wǎng)絡(luò)連接至終端a。上述網(wǎng)絡(luò)的實例包括但不限于互聯(lián)網(wǎng)、企業(yè)內(nèi)部網(wǎng)、局域網(wǎng)、移動通信網(wǎng)及其組合。

      處理器可以通過傳輸裝置調(diào)用存儲器存儲的信息及應(yīng)用程序,以執(zhí)行下述步驟:通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個維度上的樣本數(shù)據(jù):原始值、標準值、最差值和累積值。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)進行如下任意一種或多種運算:差分運算、平方運算和分布求和運算,使得任意一個 維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:確定預(yù)先劃分的每個分箱的取值范圍以及每個分箱對應(yīng)的id值;通過將每個維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱來對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:owlqn模型對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值進行訓(xùn)練,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值;根據(jù)每個維度上的樣本數(shù)據(jù)及對應(yīng)的權(quán)重值,確定磁盤預(yù)測模型,其中,磁盤預(yù)測模型包括每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類后得到的預(yù)測值。

      可選的,上述處理器還可以執(zhí)行如下步驟的程序代碼:接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,將待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱,得到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值;根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值確定待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值;根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測模型中確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      在本發(fā)明實施例中,采用通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型的方式,通過在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,達到了確定待測磁盤是否為故障磁盤的目的,從而實現(xiàn)了預(yù)測磁盤故障的技術(shù)效果,進而解決了現(xiàn)有技術(shù)的硬盤故障預(yù)測系統(tǒng)中一些容易致使硬盤故障的因素不能被采集或量化導(dǎo)致的預(yù)測結(jié)果不準確的技術(shù)問題。

      本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解,圖9所示的結(jié)構(gòu)僅為示意,計算機終端也可以是智能手機(如android手機、ios手機等)、平板電腦、掌聲電腦以及移動互聯(lián)網(wǎng)設(shè)備(mobileinternetdevices,mid)、pad等終端設(shè)備。圖9其并不對上述電子裝置的結(jié)構(gòu)造成限定。例如,計算機終端a還可包括比圖9中所示更多或者更少的組件(如網(wǎng)絡(luò)接口、顯示裝置等),或者具有與圖9所示不同的配置。

      本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解上述實施例的各種方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來指令終端設(shè)備相關(guān)的硬件來完成,該程序可以存儲于一計算機可讀存儲介質(zhì)中,存儲介質(zhì)可以包括:閃存盤、只讀存儲器(read-onlymemory,rom)、隨機存 取器(randomaccessmemory,ram)、磁盤或光盤等。

      實施例4

      本發(fā)明的實施例還提供了一種存儲介質(zhì)??蛇x地,在本實施例中,上述存儲介質(zhì)可以用于保存上述實施例一所提供的一種磁盤的故障預(yù)測方法所執(zhí)行的程序代碼。

      可選地,在本實施例中,上述存儲介質(zhì)可以位于計算機網(wǎng)絡(luò)中計算機終端群中的任意一個計算機終端中,或者位于移動終端群中的任意一個移動終端中。

      可選地,在本實施例中,存儲介質(zhì)被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:通過磁盤監(jiān)控技術(shù)獲取磁盤的樣本磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)包括多個維度上的樣本數(shù)據(jù);采用bucketing技術(shù)對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分箱處理,對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類;采用owlqn模型對分類后的樣本磁盤數(shù)據(jù)進行樣本訓(xùn)練,得到磁盤預(yù)測模型;在接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,使用磁盤預(yù)測模型對待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)進行處理,確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:樣本磁盤數(shù)據(jù)為smart磁盤數(shù)據(jù),其中,樣本磁盤數(shù)據(jù)至少包括如下四個維度上的樣本數(shù)據(jù):原始值、標準值、最差值和累積值。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)進行如下任意一種或多種運算:差分運算、平方運算和分布求和運算,使得任意一個維度上的樣本數(shù)據(jù)被擴展出新的維度上的樣本數(shù)據(jù)。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:確定預(yù)先劃分的每個分箱的取值范圍以及每個分箱對應(yīng)的id值;通過將每個維度上的樣本數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱來對樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:owlqn模型對每個維度上的樣本數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值進行訓(xùn)練,得到每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的權(quán)重值;根據(jù)每個維度上的樣本數(shù)據(jù)及對應(yīng)的權(quán)重值,確定磁盤預(yù)測模型,其中,磁盤預(yù)測模型包括每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:每個維度上的樣本數(shù)據(jù)的預(yù)測結(jié)果為樣本磁盤數(shù)據(jù)進行分類后得到的預(yù)測值。

      可選地,上述存儲介質(zhì)還被設(shè)置為存儲用于執(zhí)行以下步驟的程序代碼:接收到待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)之后,將待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)離散化至對應(yīng)的分箱,得到待測磁盤 的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值;根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)所對應(yīng)的id值確定待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值;根據(jù)待測磁盤的磁盤數(shù)據(jù)的權(quán)重值從磁盤預(yù)測模型中確定待測磁盤是否為故障磁盤。

      上述本發(fā)明實施例序號僅僅為了描述,不代表實施例的優(yōu)劣。

      在本發(fā)明的上述實施例中,對各個實施例的描述都各有側(cè)重,某個實施例中沒有詳述的部分,可以參見其他實施例的相關(guān)描述。

      在本申請所提供的幾個實施例中,應(yīng)該理解到,所揭露的技術(shù)內(nèi)容,可通過其它的方式實現(xiàn)。其中,以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的,例如所述單元的劃分,僅僅為一種邏輯功能劃分,實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式,例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng),或一些特征可以忽略,或不執(zhí)行。另一點,所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口,單元或模塊的間接耦合或通信連接,可以是電性或其它的形式。

      所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的,作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元,即可以位于一個地方,或者也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上??梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。

      另外,在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中,也可以是各個單元單獨物理存在,也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn),也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。

      所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時,可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?;谶@樣的理解,本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來,該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中,包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可為個人計算機、服務(wù)器或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括:u盤、只讀存儲器(rom,read-onlymemory)、隨機存取存儲器(ram,randomaccessmemory)、移動硬盤、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

      以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式,應(yīng)當指出,對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護范圍。

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