1.一種水平井軌跡校正方法，其特征在于，包括：
獲取導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)，根據(jù)所述導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)確定第一目的層的層頂面位置；
獲取水平井的測井?dāng)?shù)據(jù)，基于所述水平井測井?dāng)?shù)據(jù)確定第二目的層的層頂面位置；
獲取地震資料，基于所述第一目的層的層頂面位置和所述地震資料，建立三維構(gòu)造面；
根據(jù)所述建立的三維構(gòu)造面，調(diào)節(jié)所述水平井的第一參數(shù)以實(shí)現(xiàn)對水平井軌跡的校正。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)為所述導(dǎo)眼井的測井曲線；所述導(dǎo)眼井的測井曲線包括：所述導(dǎo)眼井的巖性曲線。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)確定第一目的層的層頂面位置，包括：將所述巖性曲線發(fā)生偏移的位置作為第一目的層的層頂面位置。
4.如權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述水平井測井?dāng)?shù)據(jù)包括：所述水平井的巖性曲線。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于水平井測井?dāng)?shù)據(jù)確定第二目的層的層頂面位置包括：根據(jù)所述水平井的巖性曲線和所述導(dǎo)眼井的巖性曲線，確定第二目的層的層頂面位置；
具體地，比對所述測井曲線與所述導(dǎo)眼井測井曲線，將所述測井曲線中偏移方向與所述導(dǎo)眼井測井曲線中第一目的層的偏移方向一致的位置作為第二目的層的層頂面位置。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述導(dǎo)眼井測井?dāng)?shù)據(jù)還包括：導(dǎo)眼井孔隙度曲線和/或?qū)а劬娮杪是€；所述水平井的測井?dāng)?shù)據(jù)還包括：水平井孔隙度曲線和/或水平井電阻率曲線。
7.如權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于水平井測井?dāng)?shù)據(jù)確定第二目的層的層頂面位置包括：
比對水平井和導(dǎo)眼井的對應(yīng)測井曲線，確定發(fā)生相同方向偏移的位置，所述水平井曲線發(fā)生偏移的位置為第二目的層的層頂面位置；
所述測井曲線包括：巖性曲線、孔隙度曲線和/或電阻率曲線。
8.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)第一目的層的層頂面位置和所述井震數(shù)據(jù)，建立三維構(gòu)造面，具體包括：
根據(jù)所述井震數(shù)據(jù)確定所述第二目的層的構(gòu)造趨勢面和斷層，
將所述第一目的層的層頂面位置作為基準(zhǔn)位置，建立三維構(gòu)造面；
所述三維構(gòu)造面包括：基準(zhǔn)位置，以及與所述基準(zhǔn)位置對應(yīng)的目標(biāo)層。
9.如權(quán)利要求8所述的方法，其特征在于，所述第一參數(shù)包括所述水平井的補(bǔ)心海拔。
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述根據(jù)建立的三維構(gòu)造面，調(diào)節(jié)所述水平井的第一參數(shù)以實(shí)現(xiàn)對水平井軌跡的校正，包括：確定所述三維構(gòu)造面中的第二目的層的層頂面位置，通過調(diào)節(jié)第一參數(shù)，將所述第二目的層的層頂面位置調(diào)整至所述三維構(gòu)造面中的目標(biāo)層的層頂面位置。
11.一種水平井軌跡校正裝置，其特征在于，包括：第一目的層層頂面位置確定模塊、第二目的層層頂面位置確定模塊、三維構(gòu)造面建立模塊和校正模塊；其中，
所述第一目的層層頂面位置確定模塊，用于獲取導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)，根據(jù)所述導(dǎo)眼井的測井?dāng)?shù)據(jù)確定第一目的層的層頂面位置；
所述第二目的層層頂面位置確定模塊，用于獲取水平井的測井?dāng)?shù)據(jù)，基于所述水平井測井?dāng)?shù)據(jù)確定第二目的層的層頂面位置；
所述三維構(gòu)造面建立模塊，用于獲取井震數(shù)據(jù)，基于所述第一目的層的層頂面位置和所述井震數(shù)據(jù)，建立三維構(gòu)造面；
所述校正模塊，用于根據(jù)所述建立的三維構(gòu)造面，調(diào)節(jié)所述水平井的第一參數(shù)以實(shí)現(xiàn)對水平井軌跡的校正。