本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種圖像校正方法及裝置。

背景技術(shù)：

在X射線攝影系統(tǒng)中，X射線能量轉(zhuǎn)換成電信號是通過平板探測器來實現(xiàn)的，因此平板探測器的性能對X射線攝影系統(tǒng)的圖像的質(zhì)量會有較大的影響。平板探測器通?？梢苑譃閮煞N：非晶硒平板探測器和非晶硅平板探測器，前者屬于直接轉(zhuǎn)換平板探測器，后者屬于間接轉(zhuǎn)換平板探測器。由于平板探測器的結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜以及制造工藝方面的限制，平板探測器輸出的原始圖像會存在較多瑕疵，直接影響了最終成像的質(zhì)量，因此有必要對平板探測器輸出的圖像進(jìn)行校正。

暗場圖像是指在沒有X射線輻射平板探測器時采集到的圖像，如圖1所示，圖1是探測器采集到的暗場圖像，實際應(yīng)用中暗場圖像會疊加到X射線輻射平板探測器時采集到的圖像中，因此需要對平板探測器輸出的圖像進(jìn)行暗場校正。目前暗場校正的方法有兩種：第一種是在特定的條件下(通常為特定的溫度下)采集暗場圖像，用該特定條件下的暗場圖像來對平板探測器采集到的圖像進(jìn)行校正。第二種則是通過實時更新暗場圖像來進(jìn)行暗場校正，具體地，就是在采集平板探測器輸出的圖像之后，平板探測器實時地再采集一張暗場圖像，利用該暗場圖像來對采集到的圖像進(jìn)行暗場校正。對于第一種校正方法而言，校正后的圖像質(zhì)量較差，不符合實際的臨床需求。而對于第二種校正方法而言，由于在采集完圖像之后還需要再采集一幅暗場圖像，然后利用該暗場圖像對采集到的圖像進(jìn)行校正，因此校正效率低且校正后的圖像質(zhì)量一般，此外，每次采集完圖像后仍需再采集一張暗場圖像，增加了曝光結(jié)束到圖像顯示的時間，或者說延長了圖像顯示的時間，當(dāng)受檢者過多時，每一幅圖像可能不能及時的顯示，給醫(yī)生帶來不便的同時也降低了其工作效率。

因此，如何提高暗場校正的效率，提高校正后的圖像的質(zhì)量，以使得其符合實際的需求，成為目前亟待解決的問題之一。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明要解決的問題是提供一種圖像校正方法，以使得校正后的圖像質(zhì)量較高，且校正速度快。

為解決上述問題，本發(fā)明技術(shù)方案提供一種圖像校正方法，包括：

獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像；

根據(jù)采集圖像時的溫度，查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像；

根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正。

可選的，所述獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像包括：

基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像；

對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

可選的，獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像包括：

基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像，對所述至少兩幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像；

對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

可選的，所述根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正包括：

將所述溫度下采集的圖像中各像素點的灰度值減去與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像中對應(yīng)像素點的灰度值以對所述溫度下采集到的圖像進(jìn)行校正。

為解決上述問題，本發(fā)明技術(shù)方案還提供一種圖像校正裝置，包括：

圖像采集單元，用于采集圖像；

溫度檢測單元，用于檢測采集圖像時的溫度；

暗場圖像獲取單元，用于獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像；

查詢單元，用于查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像；

校正單元，用于根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正。

可選的，所述暗場圖像獲取單元包括：

第一獲取單元，用于基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像；

第一擬合單元，用于對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

可選的，所述暗場圖像獲取單元包括：

第二獲取單元，用于基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像，對所述至少兩幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像；

第二擬合單元，用于對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

為解決上述問題，本發(fā)明技術(shù)方案還提供一種圖像校正方法，包括：

獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合；

獲取被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像；

獲取所述探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)時的工作溫度；

根據(jù)所述工作溫度，查詢所述暗場圖像集合中相對應(yīng)的暗場圖像；

根據(jù)所述暗場圖像對所述醫(yī)學(xué)圖像進(jìn)行校正。

可選的，所述獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合包括：

基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像；

對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。

可選的，所述獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合包括：

基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像，對所述至少兩幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像；

對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明技術(shù)方案具有以下優(yōu)點：

獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像，根據(jù)采集圖像時的溫度，查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像，并根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正；由于考慮了溫度變化對暗電流的影響，因此校正后的圖像質(zhì)量較高，此外，由于在采集所述圖像之前，已經(jīng)獲取了各溫度對應(yīng)的暗場圖像，因此不用在采集完圖像后再采集一幅暗場圖像來對采集到的圖像進(jìn)行校正，在提高了校正速度的同時也縮短了圖像顯示的時間，在一定程度上提高了用戶體檢度。

進(jìn)一步地，先獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像，然后對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像，由于不需對各個溫度下的暗場圖像進(jìn)行采集，因此在一定程度上降低了校正的成本。

附圖說明

圖1是探測器采集到的暗場圖像；

圖2是本發(fā)明實施方式的圖像校正方法的流程示意圖；

圖3是本發(fā)明實施例的圖像校正方法的流程示意圖；

圖4是本發(fā)明實施例的圖像校正裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實施方式

為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施方式做詳細(xì)的說明。在以下描述中闡述了具體細(xì)節(jié)以便于充分理解本發(fā)明。但是本發(fā)明能夠以多種不同于在此描述的其它方式來實施，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不違背本發(fā)明內(nèi)涵的情況下做各種改變。因此本發(fā)明不受下面公開的具體實施方式的限制。

正如現(xiàn)有技術(shù)中所描述的，目前通常采用兩種方法對平板探測器采集到的圖像進(jìn)行校正，發(fā)明人經(jīng)過分析知曉，對于第一種方法而言，其僅在特定溫度下采集暗場圖像，并基于在該特定溫度下采集到的暗場圖像來對探測器采集到的圖像進(jìn)行校正，而實際應(yīng)用中室溫的變化或者隨著平板探測器工作時間的增加都會導(dǎo)致平板探測器內(nèi)部像元溫度的增加，像元溫度的增加勢必會直接導(dǎo)致平板探測器暗電流的變化，因此，以特定溫度下的暗場圖像對平板探測器采集到的圖像進(jìn)行校正，校正后的圖像的質(zhì)量較差。對于第二種方法而言，在采集了平板探測器輸出的圖像之后再實時的采集一幅暗場圖像，雖然在一定程度上可以避免溫度對暗場校正的影響，但是每對采集到的圖像進(jìn)行一次校正均需要相應(yīng)地采集一幅暗場圖像，校正速度較慢，且可能會導(dǎo)致每一幅圖像不能及時的顯示，用戶體驗度較差。

發(fā)明人提出，根據(jù)探測器工作溫度的范圍，獲取該溫度范圍內(nèi)不同溫度下的暗場圖像，對探測器在不同溫度下采集到的圖像采用與其溫度相對應(yīng)時獲得的暗場圖像進(jìn)行校正，以提高校正后的圖像的質(zhì)量。

請參見圖1，圖1是本發(fā)明實施方式的圖像校正方法的流程示意圖，如圖1所示，所述圖像校正方法包括：

S10：獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像；

S11：根據(jù)采集圖像時的溫度，查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像；

S12:根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正。

以下結(jié)合使用探測器的醫(yī)療設(shè)備來對探測器的校正進(jìn)行詳細(xì)的說明，但本發(fā)明的技術(shù)方案不僅僅局限于對使用探測器的醫(yī)療設(shè)備所采集的醫(yī)學(xué)圖像進(jìn)行校正，但凡涉及對探測器輸出的圖像進(jìn)行暗場校正均可以采用本發(fā)明提供的技術(shù)方案進(jìn)行校正。

請參見圖3，圖3是本發(fā)明實施例的圖像校正方法的流程示意圖；如圖3所示，首先執(zhí)行S101：基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像。本實施例中，根據(jù)探測器在實際工作中的工作溫度范圍，可以確定初始溫度，如可以以探測器上電后反饋的溫度作為初始溫度，也可以以探測器工作一小段時間后反饋的溫度作為初始溫度。在確定了初始溫度后，可以根據(jù)預(yù)設(shè)的溫度間隔，來獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像，所述預(yù)設(shè)的溫度間隔可以根據(jù)實際的需求而定，一般來講，溫度間隔越小，則可以采集到多個不同溫度下的暗場圖像，而溫度間隔大，采集到的不同溫度下的暗場圖像會稍微少點。而采集的暗場圖像越多則后續(xù)通過采集到的暗場圖像中各像素點的灰度值來擬合出各溫度下的暗場圖像的準(zhǔn)確度就越高，但采集的暗場圖像越多，會增加暗場校正的成本，因此，預(yù)設(shè)的溫度間隔可以根據(jù)實際的需求而定，本實施例中，所述預(yù)設(shè)的溫度間隔的范圍可以在3℃至6℃之間。舉例來說，若初始溫度為18℃，預(yù)設(shè)的溫度間隔為3℃，則可以采集18℃、21℃、24℃、27℃、30℃、33℃、36℃……等相應(yīng)溫度下的暗場圖像，采集過程中，具體在哪一個溫度結(jié)束采集，取決于探測器工作溫度的上限。

考慮到實際應(yīng)用中可能會出現(xiàn)隨機噪聲，為了避免隨機噪聲的影響，本實施例中根據(jù)上述的初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，在相應(yīng)溫度下采集至少兩幅暗場圖像，然后執(zhí)行S102，對所述至少兩幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像。舉例來說，若采集四幅暗場圖像，則是對采集到的四幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像，所謂求平均就是對四幅暗場圖像中對應(yīng)像素點的灰度值相加然后除以四，以獲得與四幅暗場圖像對應(yīng)的平均暗場圖像。

執(zhí)行S103，對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。在采集了相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像后，相當(dāng)于知道了在相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各個像素點的灰度值，此時可以通過對采集到的這些離散的溫度-灰度值關(guān)系進(jìn)行擬合的方式來獲取在整個連續(xù)的的溫度區(qū)間上各個像素點對應(yīng)的灰度值，也即相當(dāng)于獲得了探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的平均暗場圖像集合，并以探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的平均暗場圖像集合作為探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。本實施例中，考慮到探測器的暗電流主要來自于光電二極管，因此采用指數(shù)函數(shù)來進(jìn)行擬合，具體地就是對每一個像素點在以橫坐標(biāo)為溫度，縱坐標(biāo)為像素點灰度值的溫度-灰度值關(guān)系圖中的每一個離散的數(shù)據(jù)點進(jìn)行指數(shù)擬合以生成擬合后的曲線，對于每一個像素點而言，該曲線反映了該像素點在不同溫度對應(yīng)的灰度值，獲取了每一個像素點在不同溫度對應(yīng)的灰度值即相當(dāng)于獲取了探測器在其工作溫度范圍內(nèi)所對應(yīng)的暗場圖像集合。在另一實施例中，也可以采用二次函數(shù)對溫度-灰度值關(guān)系圖中的每一個離散的數(shù)據(jù)點進(jìn)行二次函數(shù)擬合以獲得該像素點在不同溫度的灰度值，對每一個像素點對應(yīng)的溫度-灰度值關(guān)系圖中離散的數(shù)據(jù)點進(jìn)行二次函數(shù)擬合，最終可以獲得探測器在其工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。在又一實施例中，還可以對溫度-灰度值關(guān)系圖中的每兩個離散的數(shù)據(jù)點進(jìn)行直線擬合，對擬合后的直線進(jìn)行連接以獲得每一個像素點在不同溫度的灰度值，進(jìn)而獲得探測器在其工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。在實際應(yīng)用中，對于最終獲得的探測器在工作溫度范圍對應(yīng)的暗場圖像集合可以采用不同的方式進(jìn)行存儲，如可以存儲各溫度下每一個像素點對應(yīng)的灰度值表，當(dāng)檢測到探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像時的溫度時，查詢該溫度下的暗場圖像，也即查詢存儲的表中在該溫度下每一個像素點對應(yīng)的灰度值；此外，還可以存儲溫度與每一個像素點灰度值之間的函數(shù)關(guān)系，當(dāng)檢測到探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像時的溫度時，根據(jù)存儲的溫度與每一個像素點灰度值之間的函數(shù)關(guān)系，即可以知曉該溫度下的每一個像素點對應(yīng)的灰度值。

本實施例中，是獲取了相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像，并對至少兩幅暗場圖像求平均后獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像，進(jìn)而對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合以獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。在其他實施例中，也可以直接基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像，直接對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合。采用何種擬合方式可參見上述所述，此處不再贅述。

通過上述的步驟獲取了各溫度對應(yīng)的暗場圖像，也即獲取了探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像集合，接下來執(zhí)行S104，獲取被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像，本實施例中可以通過X射線攝影設(shè)備的探測器采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像，也可以通過CT設(shè)備的探測器采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像。執(zhí)行S105，獲取探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)時的工作溫度，對于探測器而言，其自身會實時反饋其當(dāng)前的工作溫度，根據(jù)探測器反饋的當(dāng)前溫度可以知曉探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)時的工作溫度。

執(zhí)行S106，根據(jù)探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)時的工作溫度，查詢所述暗場圖像集合中相對應(yīng)的暗場圖像。由上述可知，與各溫度對應(yīng)的暗場圖像集合可以以表的形式存儲于計算機的存儲介質(zhì)中，因此在知道了探測器采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像時的工作溫度后，可以通過查詢表的方式查找到與該工作溫度對應(yīng)的暗場圖像，也即查找到該工作溫度下每一個像素點對應(yīng)的灰度值。

執(zhí)行S107，根據(jù)查詢到的所述暗場圖像對所述醫(yī)學(xué)圖像進(jìn)行校正，也即根據(jù)S106查詢到的與探測器在采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像數(shù)據(jù)時的工作溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述醫(yī)學(xué)圖像進(jìn)行校正。本實施例中，具體地就是將探測器在該工作溫度下采集到的醫(yī)學(xué)圖像中的每一個像素點的灰度值減去查詢到的在該工作溫度下的暗場圖像中與每一個像素點對應(yīng)的像素點的灰度值，舉例來說：若當(dāng)前探測器采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像時的溫度為25℃，則先查詢25℃下的暗場圖像，探測器采集被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像中的像素點在暗場圖像中對應(yīng)的像素點是指像素點坐標(biāo)位置相同的像素點，將25℃下探測器采集到的被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像中每一個像素點的灰度值減去25℃下暗場圖像中對應(yīng)的像素點的灰度值，最終獲得的醫(yī)學(xué)圖像為經(jīng)過暗場校正后的醫(yī)學(xué)圖像。

至此，通過先獲取探測器在工作溫度范圍內(nèi)對應(yīng)的暗場圖像的集合，并對探測器采集到的被檢查體的醫(yī)學(xué)圖像用與采集該醫(yī)學(xué)圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像進(jìn)行校正，由于考慮了溫度對暗場校正的影響，因此校正后獲得的醫(yī)學(xué)圖像質(zhì)量高，此外由于不用在采集完被檢體的醫(yī)學(xué)圖像后又采集一張暗場圖像，因此校正速度快，且由于縮短了曝光結(jié)束到最終顯示的時間，也在一定程度上提高了用戶體驗度。

本發(fā)明實施例還提供一種圖像校正裝置，請參見圖4，圖4是本發(fā)明實施例的圖像校正裝置的結(jié)構(gòu)示意圖，如圖4所示，所述圖像校正裝置包括：

圖像采集單元10，用于采集圖像；

溫度檢測單元11，用于檢測采集圖像時的溫度；

暗場圖像獲取單元12，用于獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像；

查詢單元13，用于查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像；

校正單元14，用于根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正。

本實施例中，圖像采集單元10可以是探測器，采集到的圖像可以是醫(yī)學(xué)圖像也可以是非醫(yī)學(xué)圖像，溫度檢測單元11可以是溫度傳感器。

本實施例中，所述暗場圖像獲取單元包括：

第一獲取單元，用于基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像；

第一擬合單元，用于對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

在其他實施例中，所述暗場圖像獲取單元包括：

第二獲取單元，用于基于初始溫度和預(yù)設(shè)的溫度間隔，獲取相應(yīng)溫度下的至少兩幅暗場圖像，對所述至少兩幅暗場圖像求平均以獲得相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像；

第二擬合單元，用于對相應(yīng)溫度下的平均暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像。

所述圖像校正裝置的實施可以參見上述的圖像校正方法的實施，此處不再贅述。

綜上所述，本發(fā)明實施方式提供的圖像校正方法，至少具有如下有益效果：

獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像，根據(jù)采集圖像時的溫度，查詢與所述溫度對應(yīng)的暗場圖像，并根據(jù)與采集所述圖像時的溫度對應(yīng)的暗場圖像對所述圖像進(jìn)行校正；由于考慮了溫度變化對暗電流的影響，因此校正后的圖像質(zhì)量較高，此外，由于在采集所述圖像之前，已經(jīng)獲取了各溫度對應(yīng)的暗場圖像，因此不用在采集完圖像后再采集一幅暗場圖像來對采集到的圖像進(jìn)行校正，在提高了校正速度的同時也縮短了圖像顯示的時間，在一定程度上提高了用戶體檢度。

進(jìn)一步地，先獲取相應(yīng)溫度下的暗場圖像，然后對相應(yīng)溫度下的暗場圖像中各像素點的溫度與灰度值間的關(guān)系進(jìn)行擬合，以獲取各溫度對應(yīng)的暗場圖像，由于不需對各個溫度下的暗場圖像進(jìn)行采集，因此在一定程度上降低了校正的成本。

本發(fā)明雖然已以較佳實施例公開如上，但其并不是用來限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，都可以利用上述揭示的方法和技術(shù)內(nèi)容對本發(fā)明技術(shù)方案做出可能的變動和修改，因此，凡是未脫離本發(fā)明技術(shù)方案的內(nèi)容，依據(jù)本發(fā)明的技術(shù)實質(zhì)對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬于本發(fā)明技術(shù)方案的保護(hù)范圍。