本發(fā)明涉及集成電路檢測的技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法及系統(tǒng)及外接SD卡的卡槽。

背景技術(shù)：

隨著各種多媒體娛樂內(nèi)容的豐富，消費者對所用的電子產(chǎn)品的儲存容量要求越來越高，SD卡作為儲存裝置已被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中，其要么作為產(chǎn)品內(nèi)置的儲存裝置；要么作為其擴(kuò)展儲存裝置，即在電子產(chǎn)品的本體上設(shè)有SD接口，如需電子產(chǎn)品與外部設(shè)備互換數(shù)據(jù)或增加電子產(chǎn)品本身儲存容量時，就可以直接將SD卡插入電子產(chǎn)品上的SD卡接口即可。

為了保證SD卡工作穩(wěn)定可靠，生產(chǎn)時，生產(chǎn)廠商一般都要對SD卡采樣時序進(jìn)行測試，目前市場上對SD卡接口測試都是直接利用SD卡插入接品進(jìn)行測試。這種方式對于研發(fā)以及成品階段都存在不足：

首先，不同電子產(chǎn)品其系統(tǒng)的讀寫頻率不同，當(dāng)接入外接SD卡存在讀寫數(shù)據(jù)發(fā)生錯誤的現(xiàn)象；其次，研發(fā)以及成品驗收階段，圖形在測試卡槽不同插拔，造成SD卡容易磨損或燒毀，增加測試成本；再次，由于SD卡體積很小，測試人員操作很不方便，不易管理。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明目的是提供一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法及系統(tǒng)，其目的是能夠?qū)崿F(xiàn)在研發(fā)或者成品階段對SD卡采樣時序延遲的數(shù)據(jù)信息讀寫自動化測試，能夠節(jié)約測試成本、便于管理、安全可靠。

本發(fā)明提供的技術(shù)方案如下：

一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法，包括：

步驟S10利用IO控制器開啟外接SD卡處于工作狀態(tài)；

步驟S20獲取用戶向所述外接SD卡輸入預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率；

步驟S40根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，向所述外接SD讀寫預(yù)設(shè)的容量的數(shù)據(jù)信息；

步驟S50檢測所述外接SD卡讀寫的數(shù)據(jù)信息一致性；當(dāng)一致時，執(zhí)行步驟S60。

步驟S60利用所述IO控制器關(guān)閉外接SD卡的工作狀態(tài)。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述步驟S40之前還包括：

步驟S30根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，設(shè)置所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息的時序延時參數(shù)。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述步驟S50包括：

步驟S51從所述外接SD卡中提取寫入的預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述數(shù)據(jù)信息中樣本數(shù)據(jù)；

步驟S52從所述外接SD卡中提取讀出的所述預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述樣本數(shù)據(jù)；

步驟S53將所述步驟S51提取寫入所述樣本數(shù)據(jù)與所述步驟S52提取讀出所述樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比對；

當(dāng)至少有一個寫入和讀出對應(yīng)的字節(jié)段所述樣本數(shù)據(jù)比對不一致時，返回執(zhí)行步驟S30。

進(jìn)一步優(yōu)選的，當(dāng)向所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息時包括：

當(dāng)向所述外接SD卡讀數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD寫數(shù)據(jù)信息；

當(dāng)向所述外接SD卡寫數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD讀數(shù)據(jù)信息。

進(jìn)一步優(yōu)選的，還包括：

利用所述IO控制器的GPIO輸出的電平控制所述外接SD卡工作狀態(tài)。

一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的檢測系統(tǒng)，包括：

SD卡開啟模塊，用于利用IO控制器開啟外接SD卡處于工作狀態(tài)；

頻率獲取模塊，當(dāng)所述外接SD卡處于工作狀態(tài)時，用于獲取用戶向所述外接SD卡輸入預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率；

數(shù)據(jù)讀寫模塊，根據(jù)所述頻率獲取模塊獲取的預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，用于向所述外接SD讀寫預(yù)設(shè)的容量的數(shù)據(jù)信息；

數(shù)據(jù)檢測模塊，用于判斷所述數(shù)據(jù)讀寫模塊讀寫的數(shù)據(jù)信息是否一致；

SD卡關(guān)閉模塊，當(dāng)所述數(shù)據(jù)檢測模塊檢測數(shù)據(jù)信息一致時，利用所述IO控制器關(guān)閉外接SD卡的工作狀態(tài)。

進(jìn)一步優(yōu)選的，包括：

信息設(shè)置模塊，分別與所述頻率獲取模塊、所述數(shù)據(jù)讀寫模塊電連接，用于設(shè)置所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息的時序延時參數(shù)。

進(jìn)一步優(yōu)選的，所述數(shù)據(jù)檢測模塊包括：

第一樣本數(shù)據(jù)提取子模塊，用于從所述外接SD卡中提取寫入的預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述數(shù)據(jù)信息中樣本數(shù)據(jù)；

第二樣本數(shù)據(jù)提取子模塊，用于從所述外接SD卡中提取讀出的所述預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述樣本數(shù)據(jù)；

樣本數(shù)據(jù)比對子模塊，用于將所述第一樣本數(shù)據(jù)提取子模塊提取的樣本數(shù)據(jù)與所述第二樣本數(shù)據(jù)提取子模塊提取的所述樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比對；

當(dāng)所述樣本數(shù)據(jù)比對的結(jié)果不一致時，所述信息設(shè)置模塊再次設(shè)置所述時序延時參數(shù)。

一種外接SD卡的卡槽，包括：外接SD卡設(shè)置在專用的外接SD卡卡槽內(nèi)，在所述卡槽內(nèi)設(shè)置連通觸點，與所述外接SD卡電連接的分別為工作始終頻率觸點，數(shù)據(jù)讀寫觸點；

所述外接SD卡的DET觸點與IO控制電連接，用于控制所述外接SD的工作狀態(tài)。

通過本發(fā)明提供的一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法及系統(tǒng)及外接SD卡的卡槽，能夠帶來以下至少一種有益效果：

1、本發(fā)明通過對外接SD工作時鐘頻率的設(shè)置，在此條件下判斷SD卡讀寫數(shù)據(jù)能力，根據(jù)寫入的數(shù)據(jù)與讀出的數(shù)據(jù)判斷一致性，以此判斷當(dāng)前待檢測的SD卡的工作參數(shù)是否匹配正確，實現(xiàn)了SD卡的自動化測試。

2、本發(fā)明中針對SD卡讀寫的數(shù)據(jù)信息的檢測，是按照設(shè)定的在延遲參數(shù)范圍內(nèi)對應(yīng)字節(jié)的檢測，當(dāng)至少一個字節(jié)對比不一致時，停止在該延遲參數(shù)下檢測工作，重新設(shè)置延遲參數(shù)，而延遲參數(shù)的設(shè)置是按照從小到大的順序進(jìn)行的，保障SD卡工作時有最大的延遲性，同時保障數(shù)據(jù)讀寫的安全可靠。

3、本發(fā)明將原有檢測模式進(jìn)行改變，通過對SD卡卡槽控制接口的創(chuàng)新，模擬對SD卡開啟與斷開，實現(xiàn)了SD卡采樣時序延遲的自動化測試，節(jié)省了人力以及時間成本，縮短了產(chǎn)品研發(fā)周期，并且在采用抽象層的封裝后，具有很高的安全性，在自動化測試中不會由于無意識錯誤導(dǎo)致系統(tǒng)崩潰造成軟硬件的破壞。

附圖說明

下面將以明確易懂的方式，結(jié)合附圖說明優(yōu)選實施方式，對一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法及系統(tǒng)及外接SD卡的卡槽的上述特性、技術(shù)特征、優(yōu)點及其實現(xiàn)方式予以進(jìn)一步說明。

圖1是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的實施例的流程圖；

圖2是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的另一實施例的流程圖；

圖3是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的另一實施例的流程圖；

圖4是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)的實施例的結(jié)構(gòu)圖；

圖5是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)的另一實施例的結(jié)構(gòu)圖；

圖6是本發(fā)明一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)的另一實施例的結(jié)構(gòu)圖；

圖7是本發(fā)明一種SD卡的卡槽的實施例的電路圖；

圖8是本發(fā)明一種SD卡的卡槽的另一實施例的電路圖。

具體實施方式

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對照附圖說明本發(fā)明的具體實施方式。顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖，并獲得其他的實施方式。

為使圖面簡潔，各圖中只示意性地表示出了與本發(fā)明相關(guān)的部分，它們并不代表其作為產(chǎn)品的實際結(jié)構(gòu)。另外，以使圖面簡潔便于理解，在有些圖中具有相同結(jié)構(gòu)或功能的部件，僅示意性地繪示了其中的一個，或僅標(biāo)出了其中的一個。在本文中，“一個”不僅表示“僅此一個”，也可以表示“多于一個”的情形。

本發(fā)明提供一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的實施例，參考圖1所示；包括：

步驟S10利用IO控制器開啟外接SD卡處于工作狀態(tài)；

步驟S20獲取用戶向所述外接SD卡輸入預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率；

步驟S40根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，向所述外接SD讀寫預(yù)設(shè)的容量的數(shù)據(jù)信息；

步驟S50檢測所述外接SD卡讀寫的數(shù)據(jù)信息一致性；當(dāng)一致時，執(zhí)行步驟S60。

步驟S60利用所述IO控制器關(guān)閉外接SD卡的工作狀態(tài)。

具體的，本實施例中，利用CPU的IO端口的高低電平控制外接SD卡的工作狀態(tài)，當(dāng)進(jìn)入測試模式時，CPU的IO控制發(fā)送高電平，設(shè)置SD卡的源頭工作頻率，根據(jù)設(shè)定的工作頻率向SD卡進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀寫操作，并設(shè)定讀寫數(shù)據(jù)的數(shù)量向SD卡的存儲文件夾內(nèi)存入，當(dāng)根據(jù)預(yù)設(shè)容量的信息完成讀寫操作后，進(jìn)一步驗證其在此工作頻率條件下，讀入的數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)是否一致，以此驗證對SD卡設(shè)置的工作參數(shù)的準(zhǔn)確性，當(dāng)驗證后讀入與寫入的數(shù)據(jù)是統(tǒng)一數(shù)據(jù)信息時，利用CPU控制器IO發(fā)送低電平，關(guān)閉SD卡的工作狀態(tài)，也即相當(dāng)于沒有SD卡進(jìn)行驗證工作。

優(yōu)選的，所述步驟S40之前還包括：

步驟S30根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，設(shè)置所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息的時序延時參數(shù)。

具體的，參考圖2所示；本實施例中在上一實施例的基礎(chǔ)上增加步驟S30；根據(jù)對SD卡的設(shè)置的工作頻率，進(jìn)一步根據(jù)設(shè)置在此工作頻率下在數(shù)據(jù)讀寫過程中產(chǎn)生的采樣時序延遲量參數(shù)。

優(yōu)選的，所述步驟S50包括：

步驟S51從所述外接SD卡中提取寫入的預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述數(shù)據(jù)信息中樣本數(shù)據(jù)；

步驟S52從所述外接SD卡中提取讀出的所述預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述樣本數(shù)據(jù)；

步驟S53將所述步驟S51提取寫入所述樣本數(shù)據(jù)與所述步驟S52提取讀出所述樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比對；

當(dāng)至少有一個寫入和讀出對應(yīng)的字節(jié)段所述樣本數(shù)據(jù)比對不一致時，返回執(zhí)行步驟S30。

具體的，參考圖3所示；在以上實施例的基礎(chǔ)上繼續(xù)本實施例；在設(shè)定的工作時鐘頻率時進(jìn)一步設(shè)定數(shù)據(jù)讀寫的時序延遲量的條件下，檢測SD卡對數(shù)據(jù)讀寫的正確性；具體的檢測方法為，當(dāng)設(shè)定的時候頻率為12M，同時設(shè)定的延遲量為20ns；向外接的SD卡寫入512個字節(jié)的數(shù)據(jù)，寫入后保存在SD卡的暫存文件夾內(nèi)，進(jìn)一步從SD卡的暫存文件夾內(nèi)讀出寫入的512個字節(jié)數(shù)據(jù)，當(dāng)存入的數(shù)據(jù)量過大時，在系統(tǒng)的內(nèi)部采取樣本式的提取方式，取其中某一字節(jié)端的數(shù)據(jù)信息，進(jìn)行比對，讀取第25-366字節(jié)段數(shù)據(jù)信息，同樣在讀樣本數(shù)據(jù)時在延遲的采樣參數(shù)范圍內(nèi)，讀取第25-366字節(jié)段數(shù)據(jù)信息；將對應(yīng)的各個字節(jié)進(jìn)行比對，如果比對一致那么證明SD卡在設(shè)定的頻率下，設(shè)定延遲參數(shù)下數(shù)據(jù)的讀寫是正確的，此次對于SD卡檢測成功；比對的自己只要其中之一出現(xiàn)異常，則證明在此設(shè)定延遲參數(shù)下數(shù)據(jù)讀寫不一致，進(jìn)一步重新設(shè)定延遲參數(shù)，再次驗證。延遲參數(shù)從最小參數(shù)開始驗證，取最大的延遲參數(shù)。

優(yōu)選的，當(dāng)向所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息時包括：

當(dāng)向所述外接SD卡讀數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD寫數(shù)據(jù)信息；

當(dāng)向所述外接SD卡寫數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD讀數(shù)據(jù)信息。

具體的，在驗證向外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息時，讀或?qū)懼荒軉我贿M(jìn)行，這樣避免了在檢測過程造成信息的錯亂。

優(yōu)選的，還包括：

利用所述IO控制器的GPIO輸出的電平控制所述外接SD卡工作狀態(tài)。

本發(fā)明還提一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測方法的實施例，參考圖3所示；包括：

利用所述IO控制器的GPIO輸出的電平控制所述外接SD卡工作狀態(tài)；

步驟S10利用IO控制器開啟外接SD卡處于工作狀態(tài)；步驟S20獲取用戶向所述外接SD卡輸入預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率；步驟S30根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，設(shè)置所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息的時序延時參數(shù)；步驟S40根據(jù)用戶輸入的所述預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，向所述外接SD讀寫預(yù)設(shè)的容量的數(shù)據(jù)信息；步驟S50檢測所述外接SD卡讀寫的數(shù)據(jù)信息一致性；當(dāng)一致時，執(zhí)行步驟S60；步驟S51從所述外接SD卡中提取寫入的預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述數(shù)據(jù)信息中樣本數(shù)據(jù)；當(dāng)向所述外接SD卡讀數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD寫數(shù)據(jù)信息；步驟S52從所述外接SD卡中提取讀出的所述預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述樣本數(shù)據(jù)；當(dāng)向所述外接SD卡寫數(shù)據(jù)信息時，停止向所述外接SD讀數(shù)據(jù)信息；步驟S53將所述步驟S51提取寫入所述樣本數(shù)據(jù)與所述步驟S52提取讀出所述樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比對；當(dāng)至少有一個寫入和讀出對應(yīng)的字節(jié)段所述樣本數(shù)據(jù)比對不一致時，返回執(zhí)行步驟S30。

本發(fā)明還提供一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)的實施例，參考圖4所示，包括：

SD卡開啟模塊10，用于利用IO控制器開啟外接SD卡處于工作狀態(tài)；

頻率獲取模塊20，當(dāng)所述外接SD卡處于工作狀態(tài)時，用于獲取用戶向所述外接SD卡輸入預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率；

數(shù)據(jù)讀寫模塊40，根據(jù)所述頻率獲取模塊獲取的預(yù)設(shè)的工作時鐘頻率，用于向所述外接SD讀寫預(yù)設(shè)的容量的數(shù)據(jù)信息；

數(shù)據(jù)檢測模塊50，用于判斷所述數(shù)據(jù)讀寫模塊讀寫的數(shù)據(jù)信息是否一致；

SD卡關(guān)閉模塊60，當(dāng)所述數(shù)據(jù)檢測模塊50檢測數(shù)據(jù)信息一致時，利用所述IO控制器關(guān)閉外接SD卡的工作狀態(tài)。

具體的，本實施例中，利用SD卡開啟模塊10CPU的IO端口的高低電平控制外接SD卡的工作狀態(tài)，當(dāng)進(jìn)入測試模式時，CPU的IO控制發(fā)送高電平，頻率獲取模塊20設(shè)置SD卡的源頭工作頻率，根據(jù)設(shè)定的工作頻率向數(shù)據(jù)讀寫模塊40的SD卡進(jìn)行數(shù)據(jù)的讀寫操作，并設(shè)定讀寫數(shù)據(jù)的數(shù)量向SD卡的存儲文件夾內(nèi)存入，當(dāng)根據(jù)預(yù)設(shè)容量的信息完成讀寫操作后，進(jìn)一步利用數(shù)據(jù)檢測模塊50驗證其在此工作頻率條件下，讀入的數(shù)據(jù)和寫入的數(shù)據(jù)是否一致，以此驗證對SD卡設(shè)置的工作參數(shù)的準(zhǔn)確性，當(dāng)驗證后讀入與寫入的數(shù)據(jù)是統(tǒng)一數(shù)據(jù)信息時，利用CPU控制器IO發(fā)送低電平，關(guān)閉SD卡的工作狀態(tài)，也即相當(dāng)于沒有SD卡進(jìn)行驗證工作。

優(yōu)選的，包括：

信息設(shè)置模塊30，分別與所述頻率獲取模塊20、所述數(shù)據(jù)讀寫模塊40電連接，用于設(shè)置所述外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)信息的時序延時參數(shù)。

具體的，參考圖5所示；本實施例中在上一實施例的基礎(chǔ)上增加信息設(shè)置模塊30；根據(jù)對SD卡的設(shè)置的工作頻率，進(jìn)一步根據(jù)設(shè)置在此工作頻率下在數(shù)據(jù)讀寫過程中產(chǎn)生的采樣時序延遲量參數(shù)。

優(yōu)選的，所述數(shù)據(jù)檢測模塊50包括：

第一樣本數(shù)據(jù)提取子模塊51，用于從所述外接SD卡中提取寫入的預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述數(shù)據(jù)信息中樣本數(shù)據(jù)；

第二樣本數(shù)據(jù)提取子模塊52，用于從所述外接SD卡中提取讀出的所述預(yù)設(shè)的字節(jié)段內(nèi)的所述樣本數(shù)據(jù)；

樣本數(shù)據(jù)比對子模塊53，用于將所述第一樣本數(shù)據(jù)提取子模塊提取的樣本數(shù)據(jù)與所述第二樣本數(shù)據(jù)提取子模塊提取的所述樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行比對；

當(dāng)所述樣本數(shù)據(jù)比對的結(jié)果不一致時，所述信息設(shè)置模塊再次所述時序延時參數(shù)。

具體的，參考圖6所示；在以上實施例的基礎(chǔ)上繼續(xù)本實施例；在設(shè)定的工作時鐘頻率時進(jìn)一步設(shè)定數(shù)據(jù)讀寫的時序延遲量的條件下，利用數(shù)據(jù)檢測模塊50檢測SD卡對數(shù)據(jù)讀寫的正確性；具體的檢測方法為，當(dāng)設(shè)定的時候頻率為12M，同時設(shè)定的延遲量為20ns；向外接的SD卡寫入512個字節(jié)的數(shù)據(jù)，寫入后保存在SD卡的暫存文件夾內(nèi)，進(jìn)一步從SD卡的暫存文件夾內(nèi)讀出寫入的512個字節(jié)數(shù)據(jù)，當(dāng)存入的數(shù)據(jù)量過大時，在系統(tǒng)的內(nèi)部采取樣本式的提取方式，取其中某一段字節(jié)的數(shù)據(jù)信息，進(jìn)行比對，利用第一樣本數(shù)據(jù)提取子模塊51從暫存文件夾內(nèi)提取寫入第25-366字節(jié)段數(shù)據(jù)信息，同樣在讀樣本數(shù)據(jù)時在延遲的采樣參數(shù)范圍內(nèi)，利用第二樣本數(shù)據(jù)提取子模塊52從暫存文件夾內(nèi)提取讀出的第25-366字節(jié)段數(shù)據(jù)信息；利用樣本數(shù)據(jù)比對子模塊53將對應(yīng)的各個字節(jié)進(jìn)行比對，如果比對一致那么證明SD卡在設(shè)定的頻率下，設(shè)定延遲參數(shù)下數(shù)據(jù)的讀寫是正確的，此次對于SD卡檢測成功；比對的字節(jié)只要其中之一出現(xiàn)異常，則證明在此設(shè)定延遲參數(shù)下數(shù)據(jù)讀寫不一致，進(jìn)一步重新設(shè)定延遲參數(shù)，再次驗證。延遲參數(shù)從最小參數(shù)開始驗證，取最大的延遲參數(shù)。

本發(fā)明還提供一種外接SD卡的卡槽，包括：外接SD卡設(shè)置在專用的外接SD卡卡槽內(nèi)，在所述卡槽內(nèi)設(shè)置連通觸點，與所述外接SD卡電連接的分別為工作始終頻率觸點(CLK)，數(shù)據(jù)讀寫觸點(DATAn)；

所述外接SD卡的DET觸點與IO控制電連接，用于控制所述外接SD的工作狀態(tài)。

具體的，本實施例中，通過CPU的IO端口的選擇一個空閑的CPU IO飛線到去除內(nèi)置卡檢測金屬片的SD卡卡槽的DET管腳，控制外接SD卡工作狀態(tài)，是一種對原有測試硬件的改變；參考圖7和圖8所示，硬件板1、cpu2、cpu內(nèi)核3、SD控制器4、IO控制器5、IO PAD 6；cpu2包括cpu內(nèi)核3、SD控制器4、IO控制器5；IO PAD 6在硬件板上1。

本發(fā)明還提供一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)，參考圖7和圖8所示，包括相位調(diào)節(jié)通道、驅(qū)動層接口、硬件接口模型；硬件接口模型，提供一個硬件改進(jìn)方式，目的是將原有TF卡接口檢測管腳與硬件板上IO PAD 6接通，改成IO電平控制，由此能夠通過軟件改變IO電平達(dá)到模擬插拔SD卡的過程；驅(qū)動層接口向上為用戶層提供能夠直接控制相位調(diào)節(jié)通道以及運行態(tài)內(nèi)核的模塊時鐘頻率的接口(向用戶層提供硬件接口模型的封裝)，向下直接與相位調(diào)節(jié)通道進(jìn)行信息交互；相位調(diào)節(jié)通道其主要作用在于接受驅(qū)動層接口信息，并控制CPU輸出的對SD卡模塊的采樣時序相位；

相位調(diào)節(jié)通道包括：SD控制器，適于接受來自驅(qū)動層接口的改動，并基于此向外接存儲設(shè)備提供特定延遲量的采樣時序；IO控制器，適于將處理器發(fā)起的存儲設(shè)備讀寫請求和數(shù)字邏輯進(jìn)行雙向轉(zhuǎn)換；SD控制器和IO控制器在驅(qū)動層接口中進(jìn)行封裝，為上層的用戶提供控制接口；通過IO控制器發(fā)出的IO控制電平，控制每次自動化測試時SD卡的插拔，通過模擬插拔來復(fù)位每次測試循環(huán)之后SD控制器內(nèi)部狀態(tài)，使每次測試循環(huán)開始時SD控制器內(nèi)部狀態(tài)都一致，SD控制器提供特定的采樣時序給外接SD卡，并通過存儲控制器向外接SD卡讀寫數(shù)據(jù)，并判斷在特定采樣時序延遲下讀寫的正確性。

驅(qū)動層接口包括：外接SD卡模型的時鐘總線，適于在內(nèi)核狀態(tài)下提供外接模塊的采樣時序頻率，外接SD卡在初始化階段唯一一次接受此采樣時序頻率設(shè)定；工作頻率屬性，適于在初始化階段之外動態(tài)改變采樣時序頻率提供通道；和SD控制器抽象，適于向用戶層展現(xiàn)SD控制器部分細(xì)節(jié)，如時序延時量的控制寄存器，頻率控制接口，數(shù)據(jù)控制接口等；以及向SD控制器報告用戶層改動的作用；IO控制器抽象，適于對數(shù)字信號進(jìn)行控制，形成對外接SD卡檢測管腳的插拔信號。

硬件接口模型包括：改進(jìn)的外接SD卡接口，為去除了內(nèi)置卡檢測金屬片，并將其檢測管腳(結(jié)合圖7和圖8所示，中DET管腳)與IO PAD相連，始終引腳(CLK)和與CPU通訊的數(shù)據(jù)信息的讀出和寫入引腳(DATAn)不變，確保重要信號的正確連通。

本發(fā)明的一種SD卡的數(shù)據(jù)檢測系統(tǒng)，在一個自動化測試循環(huán)周期開始之前，首先做好硬件改動準(zhǔn)備，選擇一個空閑的CPU IO飛線到去除內(nèi)置卡檢測金屬片的SD卡卡槽的DET管腳(此即改進(jìn)的外接SD卡接口)，在隨后的軟件自測的一個循環(huán)周期內(nèi)的內(nèi)核啟動階段，在外接SD卡插入改進(jìn)的外接SD卡卡槽后，驅(qū)動層接口中的外接SD卡模型的時鐘總線工作頻率會被SD控制器讀取；在內(nèi)核啟動之后，用戶層軟件通過驅(qū)動層接口IO控制器抽象使IO PAD的電平為高，此時，CPU將會認(rèn)為改進(jìn)的外接SD卡卡槽已經(jīng)插入卡，SD控制器將會被CPU重置(RESET)，以清除上一個軟件自測周期的狀態(tài)，接著用戶層軟件通過驅(qū)動層接口內(nèi)的工作頻率屬性動態(tài)改變外接SD卡工作所需頻率，并通過SD控制器抽象改變其采樣時序延遲量的數(shù)值；在一個軟件自測周期的最后，系統(tǒng)將對外接SD卡進(jìn)行讀寫操作，若讀寫對比失敗，則改變采樣時序延遲量的數(shù)值后進(jìn)入下一個測試循環(huán)；若讀寫成功，則記錄此采樣時序延遲量數(shù)值，并改變采樣時序延遲量的數(shù)值后進(jìn)入下一個測試循環(huán)，循環(huán)一直持續(xù)到數(shù)值增加到采樣時序延遲量數(shù)值的最大值，此時循環(huán)結(jié)束，由此達(dá)到自動測試的目的。

應(yīng)當(dāng)說明的是，上述實施例均可根據(jù)需要自由組合。以上所述僅是本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤飾，這些改進(jìn)和潤飾也應(yīng)視為本發(fā)明的保護(hù)范圍。