本發(fā)明屬于數(shù)字圖像處理領(lǐng)域，具體涉及一種針對液晶面板IC壓合區(qū)域的ITO分割方法。

背景技術(shù)：

隨著智能手機的普及，傳統(tǒng)的液晶面板生產(chǎn)模式已經(jīng)遠遠滿足不了人們對它的需求，基于數(shù)字圖像處理的各類自動化檢測設(shè)備也應運而生，它們?yōu)樘岣咭壕姘宓纳a(chǎn)效率與質(zhì)量發(fā)揮了重要作用。

液晶面板COG的制備過程需要先在玻璃基板IC壓合區(qū)域貼上一次異方導電膜，該導電膜內(nèi)均勻分布著導電粒子，導電粒子直徑約3到5微米，此時導電粒子在未加溫加壓前是不導電的。當在IC上方施加一定的溫度和壓力后，會使位于IC的bump區(qū)域和玻璃基板ITO之間的導電粒子破裂，進而形成IC的bump電極與ITO線路導通，這樣就能讓驅(qū)動液晶面板正常顯示各種畫面了；在對COG粒子進行壓合的過程中，不能保證所有粒子都被壓合的很好，由于壓合的精度要求高，有可能出現(xiàn)部分區(qū)域壓偏或者壓力不均，從而造成液晶面板顯示不良，因此對COG粒子進行檢測是液晶面板生產(chǎn)過程中必不可少的一個環(huán)節(jié)，但是由于COG粒子區(qū)域多，一塊液晶面板上分布著上千個粒子區(qū)域，因此依靠目前的人工鏡檢方式只能實現(xiàn)部分抽檢，這嚴重制約了生產(chǎn)效率與生產(chǎn)質(zhì)量。實現(xiàn)一種能自動檢測COG粒子的自動化設(shè)備也越來越被企業(yè)所需求，而在進行COG粒子檢測的前提是將一個個包含COG粒子的ITO區(qū)域分割開來，逐個對分割出來的ITO進行粒子檢測。由于不同類型的液晶面板上分布的ITO樣式也各不相同，有灰白的ITO，有黑白相間的ITO等等，所以提出一種能適應各種樣式的ITO的分割方法是至關(guān)重要的。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的是針對ITO線路的復雜性，提出了一種能自動分割I(lǐng)TO的方法，從而達到快速準確分割各種不同類型的ITO的目的。

本發(fā)明提供的技術(shù)方案為一種基于局部投影的ITO分割方法，該方法包括以下步驟：

步驟1：采集液晶面板上IC區(qū)域的ITO圖像，如附圖圖2所示；

步驟2：根據(jù)步驟1中的輸入圖像，利用大津法計算閾值；

步驟3：根據(jù)步驟2計算出來的閾值，對步驟1的輸入圖像進行二值化，如附圖圖3所示；

步驟4：根據(jù)步驟3的二值化圖像計算單個ITO的寬度；

步驟5：根據(jù)步驟3的二值化圖像計算相鄰ITO的間隔距離；

步驟6：對步驟3的二值化圖像進行縱向投影，并求縱向投影均值，得到ITO線路的縱向投影曲線，如附圖圖4所示；

步驟7：根據(jù)步驟6的投影均值，計算每列像素的特征值1，得到特征值1的曲線，如附圖圖5所示；

步驟8：根據(jù)步驟7的特征值1，求特征值里的局部極大值，該極大值位置就是ITO的左邊緣位置；

步驟9：根據(jù)步驟8的投影均值，計算每列像素的特征值2；

步驟10：根據(jù)步驟9的特征值2，求特征值里的局部極小值，該極小值位置就是ITO的右邊緣位置；

步驟11：輸出被找到的所有ITO區(qū)域，如附圖圖6所示。

所述步驟7，具體通過以下過程實現(xiàn)：

每列像素的特征值1的計算公式為：

其中eig1(i)指第i列像素的特征值1，proj(j)是指步驟6中計算出來的第j列像素的投影均值，itowidth是指步驟4中計算的單個ITO的寬度；

所述步驟9，具體通過以下過程實現(xiàn)：

每列像素的特征值2的計算公式為：

其中eig2(i)指第i列像素的特征值2，proj(j)是指步驟6中計算出來的第j列像素的投影均值，itospace是指步驟5中計算的相鄰ITO的間隔距離；

所述步驟12：具體通過以下過程實現(xiàn)：

對步驟8找到的所有ITO左邊緣將和步驟10找到的所有ITO的右邊緣進行依次配對，將步驟1中輸入圖像的上下位置作為所有ITO對應的上下位置，由以上四個位置則可以完全確定每個ITO的位置，輸出每個ITO對應的位置。

本發(fā)明一種基于局部投影的ITO分割方法；本方法通過獲取屏幕的ITO圖像，對圖像進行二值化處理，獲取每個ITO的寬度及間隔距離，再分別對二值化圖像進行縱向和橫向投影獲取兩次投影的特征值曲線，根據(jù)獲得特征值曲線計算出ITO的左右邊緣，從而對ITO進行分割。從而能準確分割I(lǐng)TO區(qū)域，并且速度快，處理簡單。

附圖說明

圖1為ITO分割算法的流程圖。

圖2為IC區(qū)域的ITO圖像。

圖3為ITO圖像的二值化圖。

圖4為二值化圖像的投影曲線圖。

圖5為特征值1的曲線圖。

圖6為ITO圖像的分割結(jié)果圖。

具體實施方式

下面結(jié)合附圖，對本發(fā)明提出的基于局部投影思想的ITO分割方法進行詳細說明。具體包括以下步驟：

步驟1：采集液晶面板上IC區(qū)域的ITO圖像，如附圖圖2所示；

步驟2：根據(jù)步驟1中的輸入圖像，利用大津法計算閾值；

步驟3：根據(jù)步驟2計算出來的閾值，對步驟1的輸入圖像進行二值化，如附圖圖3所示；

具體方法為：依次遍歷每個像素，對大于閾值的像素將其像素值置為255，否則置為0；

步驟4：根據(jù)步驟3的二值化圖像計算單個ITO的寬度；

具體方法為:截取步驟3中二值化圖像的最前面區(qū)域，進行邊緣提取，第一個邊緣與第二個邊緣的間距就是所求的單個ITO寬度；

步驟5：根據(jù)步驟3的二值化圖像計算相鄰ITO的間隔距離；

具體方法為:截取步驟3中二值化圖像的最前面區(qū)域，進行邊緣提取，第二個邊緣與第三個邊緣的間距就是所求的相鄰ITO的間隔距離；

步驟6：對步驟3的二值化圖像進行縱向投影，并求縱向投影均值，該均值的計算公式為：其中proj(j)表示第j列像素的投影均值，h表示圖像的高度，Gray(i,j)表示圖像上(i,j)位置的像素灰度值；得到ITO線路的縱向投影曲線，如附圖圖4所示；

步驟7：根據(jù)步驟6的投影均值，計算每列像素的特征值1，

每列像素的特征值1的計算公式為：

其中eig1(i)指第i列像素的特征值1，proj(j)是指步驟6中計算出來的第j列像素的投影均值，itowidth是指步驟4中計算的單個ITO的寬度，得到特征值1的曲線，如附圖圖5所示；

步驟8：根據(jù)步驟7的特征值1，求特征值里的局部極大值，該極大值位置就是ITO的左邊緣位置；

具體方法為:依次遍歷特征值1中的所有值，記錄滿足特征值本身值大于230且同時大于其前后15個特征值的位置，該位置為所求的局部極大值位置；

步驟9：根據(jù)步驟8的投影均值，計算每列像素的特征值2，

每列像素的特征值2的計算公式為：

其中eig2(i)指第i列像素的特征值2，proj(j)是指步驟6中計算出來的第j列像素的投影均值，itospace是指步驟5中計算的相鄰ITO的間隔距離；

步驟10：根據(jù)步驟9的特征值2，求特征值里的局部極小值，該極小值位置就是ITO的右邊緣位置；

具體方法為:依次遍歷特征值2中的所有值，記錄滿足特征值本身值小于150且同時小于其前后15個特征值的位置，該位置為所求的局部極小值位置；

步驟11：輸出被找到的所有ITO區(qū)域，如附圖圖6所示。

具體方法為:對步驟8找到的所有ITO左邊緣將和步驟10找到的所有ITO的右邊緣進行依次配對，將步驟1中輸入圖像的上下位置作為所有ITO對應的上下位置，由以上四個位置則可以完全確定每個ITO的位置，輸出每個ITO對應的位置。