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      一種電容屏觸摸檢測電路和檢測方法與流程

      文檔序號:11154016閱讀:765來源:國知局
      一種電容屏觸摸檢測電路和檢測方法與制造工藝

      本發(fā)明涉及電容式觸摸屏領(lǐng)域,尤其涉及一種電容屏觸摸檢測電路和檢測方法。



      背景技術(shù):

      近幾年來,隨著智能手機、平板電腦的興起,電容式觸摸屏市場得到了較快的發(fā)展。從技術(shù)的角度來說,電容式觸摸屏能取代電阻式觸摸屏,是由于方便實現(xiàn)多點觸控,電容式觸摸屏在玻璃表面貼上一層透明的特殊金屬導(dǎo)電物質(zhì)。當(dāng)手指觸摸在金屬層上時,觸點的電容就會發(fā)生變化,使得與之相連的振蕩器頻率發(fā)生變化,通過測量頻率變化可以確定觸摸位置獲得信息。

      公開號為CN101840297的中國發(fā)明專利申請,公開了一種電容式觸摸屏的電容檢測電路和檢測方法,其檢測電路如圖1所示。分析這個檢測電路可知,它是一個一路的電容檢測器,即在一個時鐘周期內(nèi)實現(xiàn)一次對觸摸信號的檢測。其公開的檢測方法既可同時檢測兩行或者兩列,即按照差分的方式工作,也可以每次只檢測一行或者一列,即單端工作模式。

      隨著電容式觸摸屏的廣泛使用以及應(yīng)用程序,如游戲,對用戶觸摸體驗的不斷升級,因此,為了提高檢測電路的檢測效率,在智能手機的電容屏、PAD屏、筆記本觸控板和觸控遙控器等觸摸屏上,本領(lǐng)域的技術(shù)人員致力于開發(fā)一種電容屏觸摸檢測電路和檢測方法,極大地增加了檢測的準確性和高效性。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      有鑒于現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷,本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是如何提高檢測電路的檢測效率。

      為實現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種電容屏觸摸檢測方法,用于提高檢測效率,在一個時鐘周期內(nèi),針對多路的屏電容模塊,通過時序控制,共用檢測模塊,并行進行多路檢測。

      進一步地,所述時序控制通過高低電平或開關(guān)實現(xiàn)。

      進一步地,所述檢測方法包括以下步驟:

      步驟1、對第一電容和第三電容進行充電;

      步驟2、清空第二電容上的電荷;

      步驟3、將所述第一電容和所述第二電容并聯(lián),所述第一電容的電荷分享至所述第二電容;

      步驟4、將所述第二電容和所述第三電容反向?qū)?,所述第二電容和所述第三電容的電容被求差?/p>

      步驟5、將參考電壓接入所述反向?qū)拥乃龅诙娙莺退龅谌娙葸M行采樣;

      步驟6、通過運算放大器和第四電容放大所述采樣的信號,得到檢測結(jié)果。

      進一步地,所述屏電容模塊包括兩路所述第一電容,其中,在第一路的所述第一電容充電的同時,第二路的所述第一電容依次進行所述分享、所述被求差和采樣,最后得到所述第一路的檢測結(jié)果;在第二路的所述第一電容充電的同時,第一路的所述第一電容依次進行所述分享、所述被求差和采樣,最后得到所述第二路的檢測結(jié)果。

      進一步地,所述屏電容模塊包括四路所述第一電容,所述檢測模塊包括兩路檢測電路,其中,第一路所述檢測電路與第一路和第二路所述第一電容配合,第二路所述檢測電路與第三路和第四路所述第一電容配合;四路的檢測結(jié)果在時序上相互錯開輸出。

      本發(fā)明還提供了一種電容屏觸摸檢測電路,包括充電模塊、電荷分享模塊、電荷求差模塊和采樣放大模塊,所述充電模塊、電荷分享模塊、電荷求差模塊和采樣放大模塊依次級聯(lián),其特征在于,所述充電模塊包括多組充電通道,每組所述充電通道包括第一開關(guān)和第一電容,驅(qū)動電壓經(jīng)所述第一開關(guān)連接所述第一電容的正極,所述第一電容的負極接地;所述充電模塊還包括第二開關(guān)、第三電容和第四開關(guān)A,電源電壓Vdd經(jīng)過所述第二開關(guān)連接所述第三電容的負極,所述第三電容的正極經(jīng)過所述第四開關(guān)A接地。

      進一步地,所述電荷分享模塊包括第三開關(guān)、第二電容和第四開關(guān)B,所述第三開關(guān)連接所述第一電容的正極和所述第二電容的正極,所述第二電容的負極通過所述第四開關(guān)B接地;所述電荷求差模塊包括第二電容、第三電容和第六開關(guān),所述第二電容和所述第三電容通過所述第六開關(guān)實現(xiàn)正負極反向連接,其中,所述第六開關(guān)包括第六開關(guān)A、第六開關(guān)B和第六開關(guān)C;所述第六開關(guān)A連接所述第二電容的正極和所述第三電容的負極,所述第六開關(guān)B和第六開關(guān)C串聯(lián)后連接所述第二電容的負極和所述第三電容的正極;所述采樣放大模塊包括第七開關(guān)、第八開關(guān)、第四電容和運算放大器,參考電壓Vref經(jīng)過所述第七開關(guān)連接所述第三電容的負極,所述第三電容的正極連接所述運算放大器的負輸入端,所述運算放大器的正輸入端連接所述參考電壓Vref,所述第八開關(guān)和所述第四電容均跨接于運算放大器的負輸入端和輸出端。

      進一步地,所述電容屏觸摸檢測電路還包括清零模塊,所述清零模塊包括第五開關(guān),所述第三開關(guān)和所述第二電容經(jīng)過第五開關(guān)接地。

      進一步地,所述充電模塊包括兩組充電通道。

      進一步地,所述充電模塊包括四組充電通道,并且,所述電容屏觸摸檢測電路包括兩組所述電荷分享模塊、兩組所述電荷求差模塊和兩組所述采樣放大模塊,其中,兩組所述充電通道與一組所述電荷分享模塊、一組所述電荷求差模塊和一組所述采樣放大模塊配合,另兩組所述充電通道與另一組所述電荷分享模塊、另一組所述電荷求差模塊和另一組所述采樣放大模塊配合;所述電容屏觸摸檢測電路還包括第九開關(guān)和第十開關(guān),所述第九開關(guān)和所述第十開關(guān)分別連接兩組所述采樣放大模塊的輸出端。

      本發(fā)明在技術(shù)上實現(xiàn)了更高效的電路掃描;在經(jīng)濟上能夠更好的帶動觸摸屏快速觸控技術(shù)的發(fā)展,為產(chǎn)品帶來更好的用戶體驗,從而帶動相關(guān)產(chǎn)品的銷售與推廣,獲得更大的經(jīng)濟效益;帶動社會觸控技術(shù)的革新與發(fā)展,使觸控效率得到大大提高,激發(fā)觸控領(lǐng)域的技術(shù)革新。

      以下將結(jié)合附圖對本發(fā)明的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果作進一步說明,以充分地了解本發(fā)明的目的、特征和效果。

      附圖說明

      圖1是現(xiàn)有技術(shù)中的一路電容檢測電路的電路圖;

      圖2是本發(fā)明的一個較佳實施例的一周期兩次掃描的電路圖;

      圖3是本發(fā)明的一個較佳實施例的一周期兩次掃描的開關(guān)時序圖;

      圖4是本發(fā)明的一個較佳實施例的對屏電容Ct充電的等效電路圖;

      圖5是本發(fā)明的一個較佳實施例的對內(nèi)置基準電容C3充電的等效電路圖;

      圖6是本發(fā)明的一個較佳實施例的電荷分享等效電路圖;

      圖7是本發(fā)明的一個較佳實施例的電荷求差的閉合回路圖;

      圖8是本發(fā)明的一個較佳實施例的采樣等效電路圖;

      圖9是本發(fā)明的一個較佳實施例的放大等效電路圖;

      圖10是本發(fā)明的另一個較佳實施例的一周期四次掃描的電路圖;

      圖11是本發(fā)明的另一個較佳實施例的一周期四次掃描的開關(guān)時序圖。

      具體實施方式

      現(xiàn)有技術(shù)中的一路電容檢測電路如圖1所示,這個電路可在一個時鐘周期內(nèi)實現(xiàn)一次對觸摸屏電容信號的檢測。這種檢測方法既可同時檢測兩行或者兩列,即按照差分的方式工作,也可以每次只檢測一行或者一列,即單端工作模式。如果按照差分的工作模式,則圖1中的Ct1和Ct2則為兩行或者兩列的觸摸電容。如果按照單端工作模式,則圖1中的Ct1和Ct2中有一個為內(nèi)置基準電容,另一個為行或列的觸摸電容。由于這兩種模式的實施方式基本一樣,下面只描述差分模式的工作原理,即同時檢測兩行或者兩列。這種檢測方法具體實現(xiàn)可以分為五步:充電、電荷分享、電荷求差、采樣和放大。這樣,當(dāng)Vdriver=18V、Ct=50pF、Cs=50pF、δ=-3%、C0=10pF時,圖1中處于保持階段時,Vout=Vref,處于放大階段時,Vout=Vref+0.675V,即對應(yīng)于3%的電容變化轉(zhuǎn)換成了0.675V的電壓變化?,F(xiàn)有技術(shù)的一路傳感電容掃描電路,無論是單端模式還是差分模式,一次只能識別一個電容傳感器,識別效率低下。

      實施例1

      為了使得觸控識別效率提高,本發(fā)明公開了“一路變兩路”的電容傳感器掃描電路,即一個時鐘周期內(nèi)對兩路電容進行掃描檢測,實現(xiàn)了一個周期內(nèi)的兩次掃描檢測。具體電路圖如圖2所示。本電路采用不同的時序來對兩路電容分別進行掃描檢測,圖3為兩路并行掃描電路時序圖。

      簡單來說,當(dāng)?shù)谝宦返牡谝婚_關(guān)S1_0處于高電平(開關(guān)閉合)時,第一路屏電容Ct0(第一電容)開始充電;于此同時,第二開關(guān)S2和第四開關(guān)A S4_1處于高電平(開關(guān)閉合)時,內(nèi)置基準電容C3(第三電容)開始充電;接著,當(dāng)?shù)谝宦返牡谌_關(guān)S3_0和第四開關(guān)B S4_2處于高電平(開關(guān)閉合)時,第一路屏電容Ct0(第一電容)開始電荷分享,即將第一路的第一電容Ct0內(nèi)儲存的電荷分享給第二電容C2;再接著,第六開關(guān)S6(包括第六開關(guān)A S6_1、第六開關(guān)B S6_2和第六開關(guān)C S6_3)處于高電平(開關(guān)閉合)時,第二電容C2和第二電容C3正負極反向?qū)樱诙娙軨2和第二電容C3內(nèi)的電荷被求差值,同時,當(dāng)?shù)谄唛_關(guān)S7處于高電平(開關(guān)閉合),運算放大器的負輸入端采樣到第二電容C2和第三電容C3求差后的輸出電壓,當(dāng)?shù)诎碎_關(guān)S8處于低電平(開關(guān)打開),通過放大電容C4(第四電容)使得運算放大器輸出端取得放大后的電壓。

      再接著,當(dāng)S6(包括S6_1、S6_2和S6_3)恢復(fù)到低電平(開關(guān)打開)時,C2和C3正負極被斷開,這時,第五開關(guān)S5處于高電平(開關(guān)閉合),C2上存儲的電荷被清零,然后S5恢復(fù)處于低電平(開關(guān)打開),第二路屏電容Ct1開始分享電荷至C2。后面第二路的求差、采樣和放大的過程和第一路類似。

      第二路屏電容Ct1的充電過程和第一路屏電容Ct0分享電荷至C2的過程是同時進行的,相應(yīng)地,第一路屏電容Ct0的充電過程和第二路屏電容Ct1分享電荷至C2的過程也是同時進行的。

      具體地說,第一步:先對第一路屏電容Ct0和內(nèi)置基準電容C3充電

      根據(jù)圖3時序,第一路屏電容的開關(guān)S1_0、開關(guān)S2和開關(guān)S4閉合,實現(xiàn)對第一路電容Ct0和內(nèi)部傳感器電容C3的充電。連接后的簡化電路圖如圖4和圖5所示。

      Ct0上的電荷量為:

      QCt0=Vdriver*Ct0

      C3上的電荷量為:

      Q3=-Vdd*C3

      第二步:清空電容C2里的電荷

      當(dāng)S5處于高電平時,即開關(guān)S5閉合,電容C2正極接地,C2中的電荷被清空。

      第三步:再對第二路電容Ct1和內(nèi)部傳感器電容C3充電

      根據(jù)圖3時序第二路電容的開關(guān)S1_1、開關(guān)S2和開關(guān)S4閉合,實現(xiàn)對第二路電容Ct1和內(nèi)部傳感器電容C3的再充電。連接后的簡化電路圖和如圖4和圖5類似,第二路電容充電完成后緊隨第一路電容進行如第四、第五、第六和第七步的步驟,此處不再贅述。

      第四步:第一路電容進行電荷分享

      將開關(guān)S2、S3和S4閉合,得到的電荷分享等效電路圖如圖6所示。此時將Ct0上的電荷轉(zhuǎn)移到C2上,其中,C2上的電壓為:

      C2上的電荷量為:

      第五步:第一路電容電荷求差和采樣

      將S6閉合,形成的閉合回路如圖7所示。若規(guī)定向左為正方向,則得到的電荷差值為:

      將S6、S7和S8閉合,則得到如圖8所示的采樣等效電路圖,可以看出后面連接到一個電壓跟隨器,此時得出結(jié)論:

      Vout=Vref

      第六步:放大

      將開關(guān)S6和S7閉合,將S8斷開,即將可變電容C4接入反饋端,如圖9所示。由于V=Q/C,因此可以通過降低C4的電容值而達到放大電壓的作用,

      而∫ifdt=-ΔQ,因此

      當(dāng)?shù)谝宦冯娙萃瓿沙潆姾?,第二路電容緊隨其后進行充電、電荷分享、電荷求差、采樣和放大的過程,兩路電容交替進行,大大提高了傳感器檢測的效率。

      實施例2

      如圖10所示,本發(fā)明的另一個實施例公開了“一路變四路”的電容傳感器掃描電路,使得觸控識別效率更高,同時節(jié)省電容掃描傳感電路的芯片面積。圖11為四路并行掃描電路時序圖。

      簡單地說,當(dāng)sensor0的S1_0處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor0的第一路電容開始充電;當(dāng)sensor1的S1_0處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor1的第一路電容開始充電;當(dāng)sensor0的S1_1處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor0的第二路電容開始充電;,當(dāng)sensor1的S1_1處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor1的第二路電容開始充電;當(dāng)sensor0的S3_0和S4處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor0的第一路電容開始電荷分享;當(dāng)sensor1的S3_0和S4處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor1的第一路電容開始電荷分享;當(dāng)sensor0的S3_1和S4處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor0的第二路電容開始電荷分享;當(dāng)sensor1的S3_1和S4處于高電平(開關(guān)閉合)時,sensor1的第二路電容開始電荷分享;當(dāng)S5處于高電平(開關(guān)閉合)時,電容清空電荷并開始處于充電的狀態(tài);當(dāng)S6、S7和S8處于高電平(開關(guān)閉合)時,電路進行求差和采樣的過程;當(dāng)S8處于低電平(開關(guān)斷開)時,電路進行放大的過程。開關(guān)S9和S10分別用于控制Sensor0通道或Sensor1通道對ADC的輸出。

      具體過程如下:

      第1步:先對sensor0的第一路電容Ct0和sensor0的內(nèi)置基準電容C3充電

      根據(jù)時序sensor0的第一路電容的開關(guān)S0、開關(guān)S2和開關(guān)S4閉合,實現(xiàn)對sensor0的第一路電容Ct0和sensor0的內(nèi)部傳感器電容C3的充電。

      第2步:再對sensor1的第一路電容Ct0和sensor1的內(nèi)部傳感器電容C3充電。

      第3步:在電荷清空后對sensor0的第二路電容Ct1和sensor0的內(nèi)部傳感器電容C3進行再充電。

      第4步:在電荷清空后對sensor1的第二路電容Ct1和sensor1的內(nèi)部傳感器電容C3進行再充電。

      第5步:在充電完成后sensor0的第一路電容進行電荷分享

      將開關(guān)sensor0的S2、S3和S4閉合,得到的電荷分享等效電路圖如圖6所示。此時將sensor0的第一路電容Ct0上的電荷轉(zhuǎn)移到C2上。

      第6步:在充電完成后sensor1的第一路電容、sensor0的第二路電容和sensor1的第二路電容依次進行電荷分享。

      第7步:將sensor0的S6閉合,sensor0的第一路電容進行電荷求差

      第8步:sensor0的第一路電容進行采樣

      將sensor0的S6、S7和S8閉合,可以看出后面連接到一個電壓跟隨器。

      第9步:sensor0的第一路電容進行電壓放大

      將sensor0的開關(guān)S6和S7閉合,將S8斷開,即將可變電容C4接入反饋端。

      當(dāng)?shù)谝宦冯娙萃瓿沙潆姾?,第二路電容緊隨其后進行充電、電荷分享、電荷求差、采樣和放大的過程,兩路電容交替進行;sensor1的第一路電容在進行電荷求差、采樣和放大后,S9閉合,輸出電壓至ADC。

      第10步:sensor1的第一路電容在電荷分享結(jié)束后進行電荷求差、采樣和放大,然后,S10閉合,輸出電壓至ADC。

      第11步:sensor0的第二路電容在電荷分享結(jié)束后進行電荷求差、采樣和放大,然后,S9閉合,輸出電壓至ADC。

      第12步:sensor1的第二路電容在電荷分享結(jié)束后進行電荷求差、采樣和放大,然后,S10閉合,輸出電壓至ADC。

      這樣一個周期性的過程便實現(xiàn)了在一個時鐘周期內(nèi)進行四次采樣的高效操作。

      以上詳細描述了本發(fā)明的較佳具體實施例。應(yīng)當(dāng)理解,本領(lǐng)域的普通技術(shù)無需創(chuàng)造性勞動就可以根據(jù)本發(fā)明的構(gòu)思作出諸多修改和變化。因此,凡本技術(shù)領(lǐng)域中技術(shù)人員依本發(fā)明的構(gòu)思在現(xiàn)有技術(shù)的基礎(chǔ)上通過邏輯分析、推理或者有限的實驗可以得到的技術(shù)方案,皆應(yīng)在由權(quán)利要求書所確定的保護范圍內(nèi)。

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