本實用新型涉及刷卡機的刷卡測試技術領域，尤其是涉及一種自動刷卡測試裝置。

背景技術：

傳統(tǒng)的自動刷卡測試裝置，分為圓周轉動IC卡片使IC卡片移動靠近或遠離刷卡機的刷卡方式與來回直線移動IC卡片使IC卡片移動靠近或遠離刷卡機的刷卡方式。其中，圓周轉動IC卡片刷卡方式的自動刷卡測試裝置包括電機、轉軸和轉架。在轉架上裝設IC卡片，通過電機驅動轉軸帶動轉架轉動從而使得IC卡片靠近或遠離刷卡機產品。當轉架帶動IC卡片靠近刷卡機產品在刷卡機感應范圍內時，即實現(xiàn)一次測試；而當轉架帶動IC卡片遠離刷卡機產品在刷卡機感應范圍外時，則將刷卡機產品與IC卡片之間斷開以用于下一次重新刷卡測試。同樣的，來回直線移動IC卡片刷卡方式的自動刷卡測試裝置包括直線驅動機構、滑動軌道與卡片夾具?？ㄆ瑠A具裝設有IC卡片，通過直線驅動機構驅動卡片夾具沿著滑動軌道來回移動。當卡片夾具帶動IC卡片靠近刷卡機產品在刷卡機感應范圍內時，即實現(xiàn)一次測試；而當卡片夾具帶動IC卡片遠離刷卡機產品在刷卡機感應范圍外時，則將刷卡機產品與IC卡片之間斷開以用于下一次重新刷卡測試。

上述的圓周轉動IC卡片刷卡方式的自動刷卡測試裝置，或者來回直線移動IC卡片刷卡方式的自動刷卡測試裝置，雖然能夠實現(xiàn)自動測試刷卡機產品，但是均具有如下缺陷：1、自動刷卡測試裝置的結構復雜，制作難度高，成本較高；2、電機在進行長久測試時，易發(fā)生電機卡死，計數(shù)失靈現(xiàn)象，造成測試不準確；3、測試裝置適應性差，在測試不同刷卡機產品時，由于刷卡機產品體積大小不同，如此需要改裝裝置結構，增加工時。

技術實現(xiàn)要素：

基于此，本實用新型在于克服現(xiàn)有技術的缺陷，提供一種自動刷卡測試裝置，它外形結構簡單、并能實現(xiàn)長時間刷卡測試。

其技術方案如下：一種自動刷卡測試裝置，包括：IC卡，所述IC卡包括芯片與線圈，所述芯片與所述線圈之間電性連接；開關模塊，所述開關模塊設置在所述IC卡中，所述開關模塊用于控制所述芯片與所述線圈之間斷開或者連通；及控制模塊，所述控制模塊與所述開關模塊電性連接，所述控制模塊用于控制所述開關模塊斷開或導通、并用于記錄所述開關模塊通斷次數(shù)。

在其中一個實施例中，還包括第一顯示模塊，所述第一顯示模塊與所述控制模塊相連，所述第一顯示模塊用于將所述控制模塊記錄的所述開關模塊通斷次數(shù)進行顯示。

在其中一個實施例中，所述控制模塊包括第一驅動電路，所述第一顯示模塊為第一數(shù)碼管，所述第一驅動電路與所述第一數(shù)碼管相連，所述第一驅動電路用于控制所述第一數(shù)碼管將所述開關模塊通斷次數(shù)進行顯示。

在其中一個實施例中，還包括開鎖電壓獲取模塊，所述開鎖電壓獲取模塊與刷卡機的開鎖電壓輸出端、及所述控制模塊相連，所述開鎖電壓獲取模塊用于獲取所述刷卡機的開鎖信號、并將所述開鎖信號發(fā)送給所述控制模塊，所述控制模塊用于根據(jù)所述開鎖信號記錄所述刷卡機的開鎖次數(shù)。

在其中一個實施例中，還包括第二顯示模塊，所述第二顯示模塊與所述控制模塊相連，所述第二顯示模塊用于將所述控制模塊記錄的所述刷卡機的開鎖次數(shù)進行顯示。

在其中一個實施例中，所述控制模塊包括第二驅動電路，所述第二顯示模塊為第二數(shù)碼管，所述第二驅動電路與所述第二數(shù)碼管相連，所述第二驅動電路用于控制所述第二數(shù)碼管將所述刷卡機開鎖次數(shù)進行顯示。

在其中一個實施例中，所述開關模塊為繼電器，所述芯片通過所述繼電器與所述線圈相連。

在其中一個實施例中，還包括主控電路板，所述主控電路板設有所述控制模塊與所述IC卡，所述主控電路板連接有支撐柱，所述支撐柱的長度可調節(jié)。

在其中一個實施例中，所述主控電路板設有若干個按鍵模塊，所述按鍵模塊與所述控制模塊相連。

下面結合上述技術方案對本實用新型的原理、效果進一步說明：

1、上述的自動刷卡測試裝置，通過在IC卡的芯片與線圈之間設置有開關模塊，并通過控制模塊控制開關模塊通斷，當控制模塊控制開關模塊導通時，線圈與芯片之間相應連通，刷卡機便能夠將感應范圍內的IC卡識別，實現(xiàn)刷卡機的一次測試；而當控制模塊控制開關模塊斷開后，線圈與芯片之間相應斷開，刷卡機便不能識別感應范圍內的IC卡，并在下一次開關模塊導通時識別IC卡以進行下一次刷卡測試。另外，控制模塊能夠將開關模塊的通斷次數(shù)進行記錄，開關模塊的通斷次數(shù)為刷卡機的刷卡次數(shù)，如此無需人為記錄刷卡測試次數(shù)。可見，本實用新型，相對于現(xiàn)有技術中的自動刷卡測試裝置，省去了電機等復雜的機械結構，結構極其簡單，大小幾乎和普通的IC卡大小一樣，近似于純電子電路，并具有對刷卡機老化測試的相同功能，可實現(xiàn)持續(xù)長時刷卡測試，能提高測試裝置的穩(wěn)定性，且成本較為低廉。

2、自動刷卡測試裝置包括第一顯示模塊。第一顯示模塊與控制模塊相連，第一顯示模塊用于將記錄的開關模塊通斷次數(shù)進行顯示。通過第一顯示模塊將開關模塊通斷次數(shù)進行顯示，這樣無需人為讀取控制模塊中記錄的開關模塊通斷次數(shù)，測試人員便于快速得知刷卡機的刷卡次數(shù)。

3、當刷卡機感應到IC卡后，刷卡機的開鎖電壓輸出端將產生開鎖電壓。開鎖電壓獲取模塊獲取到刷卡機的開鎖電壓輸出端所輸出的開鎖電壓信號后，便能夠得知刷卡機是否刷卡成功。控制模塊根據(jù)開鎖信號記錄刷卡機的開鎖次數(shù)便是刷卡機成功刷卡的次數(shù)。將控制模塊記錄的開關模塊通斷次數(shù)與刷卡機的開鎖次數(shù)進行比對，便可以得知刷卡機是否有漏刷或者刷卡機因為多次刷卡后系統(tǒng)死機的狀況。

4、自動刷卡測試裝置包括第二顯示模塊。第二顯示模塊與控制模塊相連，第二顯示模塊用于將記錄的刷卡機的開鎖次數(shù)進行顯示。通過第二顯示模塊將刷卡機的開鎖次數(shù)進行顯示，這樣無需人為讀取控制模塊中記錄的刷卡機的開鎖次數(shù)，測試人員便于快速得知刷卡機的開鎖次數(shù)。

5、主控電路板設有可調節(jié)高度的支撐柱，通過調節(jié)支撐柱的高度便能相應改變IC卡相對于刷卡機的感應區(qū)的距離。如此，本實用新型能實現(xiàn)IC卡相對于刷卡機不同距離下的刷卡測試，且在對不同的刷卡機產品進行刷卡測試時，不需要因為刷卡機產品外在形狀的問題而對自動刷卡測試裝置的結構進行改動。

附圖說明

圖1為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置結構示意圖一；

圖2為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置結構示意圖二；

圖3為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置結構示意圖三；

圖4為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置結構示意圖四；

圖5為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置結構示意圖五；

圖6為本實用新型實施例所述自動刷卡測試裝置工作狀態(tài)示意圖。

附圖標記說明：

10、IC卡，11、芯片，12、線圈，20、開關模塊，30、控制模塊，40、第一顯示模塊，41、第一數(shù)碼管，50、開鎖電壓獲取模塊，60、第二顯示模塊，61、第二數(shù)碼管，70、按鍵模塊，80、主控電路板，81、支撐柱，82、第一按鍵，83、第二按鍵，84、第三按鍵，90、刷卡機，91、感應區(qū)。

具體實施方式

下面對本實用新型的實施例進行詳細說明：

如圖1所示，本實用新型所述的自動刷卡測試裝置，包括IC卡10、開關模塊20及控制模塊30。所述IC卡10包括芯片11與線圈12，所述芯片11與所述線圈12之間電性連接。當IC卡10靠近刷卡機90(如圖6所示)后，刷卡機90的射頻讀寫器向IC卡10發(fā)射一組固定頻率的電磁波。線圈12感應到該固定頻率的電磁波后便產生電壓，以驅動芯片11向刷卡機90發(fā)送開鎖信號。刷卡機90接收到該開鎖信號后，便會產生開鎖電壓實現(xiàn)開鎖動作。該IC卡10的工作原理為現(xiàn)有技術，在此不再贅述。

所述開關模塊20設置在所述IC卡10中，所述開關模塊20用于控制所述芯片11與所述線圈12之間斷開或者連通。所述控制模塊30與所述開關模塊20電性連接，所述控制模塊30用于控制所述開關模塊20斷開或導通、并用于記錄所述開關模塊20通斷次數(shù)。

上述的自動刷卡測試裝置，通過在IC卡10的芯片11與線圈12之間設置有開關模塊20，并通過控制模塊30控制開關模塊20通斷，當控制模塊30控制開關模塊20導通時，線圈12與芯片11之間相應連通，刷卡機90便能夠將感應范圍內的IC卡10識別，實現(xiàn)刷卡機90的一次測試；而當控制模塊30控制開關模塊20斷開后，線圈12與芯片11之間相應斷開，刷卡機90便不能識別感應范圍內的IC卡10，并在下一次開關模塊20導通時識別IC卡10以進行下一次刷卡測試。另外，控制模塊30能夠將開關模塊20的通斷次數(shù)進行記錄，開關模塊20的通斷次數(shù)為刷卡機90的刷卡次數(shù)，如此無需人為記錄刷卡測試次數(shù)?？梢姡緦嵱眯滦?，相對于現(xiàn)有技術中的自動刷卡測試裝置，省去了電機等復雜的機械結構，結構極其簡單，大小幾乎和普通的IC卡10大小一樣，近似于純電子電路，并具有對刷卡機90老化測試的相同功能，可實現(xiàn)持續(xù)長時刷卡測試，能提高測試裝置的穩(wěn)定性，且成本較為低廉。

請參閱圖2，所述的自動刷卡測試裝置還包括第一顯示模塊40。所述第一顯示模塊40與所述控制模塊30相連，所述第一顯示模塊40用于將所述控制模塊30記錄的所述開關模塊20通斷次數(shù)進行顯示。通過第一顯示模塊40將開關模塊20通斷次數(shù)進行顯示，這樣無需人為讀取控制模塊30中記錄的開關模塊20通斷次數(shù)，測試人員便于快速得知刷卡機90的刷卡次數(shù)。其中，所述控制模塊30包括第一驅動電路。所述第一顯示模塊40為第一數(shù)碼管41(如圖4所示)。所述第一驅動電路與所述第一數(shù)碼管41相連，所述第一驅動電路用于控制所述第一數(shù)碼管41將所述開關模塊20通斷次數(shù)進行顯示。當開關模塊20通斷一次，刷卡機90的刷卡次數(shù)相應增加一次，第一驅動電路相應驅動第一數(shù)碼管41中的數(shù)字個位加“1”。

請參閱圖3，所述的自動刷卡測試裝置還包括開鎖電壓獲取模塊50。所述開鎖電壓獲取模塊50與刷卡機90的開鎖電壓輸出端、及所述控制模塊30相連。所述開鎖電壓獲取模塊50用于獲取所述刷卡機90的開鎖信號、并將所述開鎖信號發(fā)送給所述控制模塊30。所述控制模塊30用于根據(jù)所述開鎖信號記錄所述刷卡機90的開鎖次數(shù)。當刷卡機90感應到IC卡10后，刷卡機90的開鎖電壓輸出端將產生開鎖電壓。開鎖電壓獲取模塊50獲取到刷卡機90的開鎖電壓輸出端所輸出的開鎖電壓信號后，便能夠得知刷卡機90是否刷卡成功?？刂颇K30根據(jù)開鎖信號記錄刷卡機90的開鎖次數(shù)便是刷卡機90成功刷卡的次數(shù)。如此，將控制模塊30記錄的開關模塊20通斷次數(shù)與刷卡機90的開鎖次數(shù)進行比對，便可以得知刷卡機90是否有漏刷或者刷卡機90因為多次刷卡后系統(tǒng)死機的狀況。

所述的自動刷卡測試裝置還包括第二顯示模塊60。所述第二顯示模塊60與所述控制模塊30相連，所述第二顯示模塊60用于將所述控制模塊30記錄的所述刷卡機90的開鎖次數(shù)進行顯示。通過第二顯示模塊60將刷卡機90的開鎖次數(shù)進行顯示，這樣無需人為讀取控制模塊30中記錄的刷卡機90的開鎖次數(shù)，測試人員便于快速得知刷卡機90的開鎖次數(shù)。其中，所述控制模塊30包括第二驅動電路。所述第二顯示模塊60為第二數(shù)碼管61(如圖4所示)。所述第二驅動電路與所述第二數(shù)碼管61相連，所述第二驅動電路用于控制所述第二數(shù)碼管61將所述刷卡機90開鎖次數(shù)進行顯示。當刷卡機90成功刷卡一次，刷卡機90均會相應輸出開鎖電壓次數(shù)相應增加一次，第二驅動電路相應驅動第二數(shù)碼管61中的數(shù)字個位加“1”。請參閱圖4，第一數(shù)碼管41與第二數(shù)碼管61并列設置，這樣便于人為對刷卡機90的刷卡次數(shù)與刷卡機90的開鎖次數(shù)進行比對。

其中，所述開關模塊20為繼電器。所述芯片11通過所述繼電器與所述線圈12相連。繼電器與控制模塊30相連，控制模塊30用于獲取繼電器的通斷次數(shù)。

請參閱圖4-6，所述的自動刷卡測試裝置還包括主控電路板80。所述主控電路板80設有所述控制模塊30與所述IC卡10，所述主控電路板80連接有支撐柱81。所述支撐柱81的長度可調節(jié)。主控電路板80設有可調節(jié)高度的支撐柱81，通過調節(jié)支撐柱81的高度便能相應改變IC卡10相對于刷卡機90的感應區(qū)91的距離。如此，本實用新型能實現(xiàn)IC卡10相對于刷卡機90不同距離下的刷卡測試，且在對不同的刷卡機90產品進行刷卡測試時，不需要因為刷卡機90產品外在形狀的問題而對自動刷卡測試裝置的結構進行改動。

所述主控電路板80設有三個按鍵模塊70，所述按鍵模塊70與所述控制模塊30相連。三個按鍵模塊70分別相應連接有第一按鍵82、第二按鍵83與第三按鍵84。第一按鍵82、第二按鍵83與第三按鍵84設置在主控電路板80上，第一按鍵82、第二按鍵83與第三按鍵84分別用于控制控制模塊30開始刷卡測試工作、暫停刷卡測試工作以及將記錄的開關模塊20的通斷次數(shù)與刷卡機90的開鎖次數(shù)進行清零操作。

本實用新型所述的自動刷卡測試方法，包括如下步驟：

步驟一、將IC卡10放置在刷卡機90的感應區(qū)91中；

步驟二、控制模塊30控制開關模塊20保持閉合第一預設時間，控制模塊30再控制開關模塊20保持斷開第二預設時間；其中，第一預設時間為5S,第二預設時間為10S，開關模塊20閉合第一預設時間后，刷卡機90便可以感應到芯片11，便進行了一次刷卡測試；開關模塊20斷開第二預設時間后，將使得芯片11與線圈12斷開，這樣刷卡機90便無法感應到芯片11，從而以備IC卡10對刷卡機90進行下一次刷卡測試。

步驟三、重復操作上述步驟二n次。

上述的自動刷卡測試方法，通過控制模塊30控制IC卡10內的開關模塊20的通斷，實現(xiàn)在刷卡機90感應區(qū)91范圍內的IC卡10對刷卡機90的重復刷卡測試，且控制模塊30能夠將開關模塊20的通斷次數(shù)進行記錄，開關模塊20的通斷次數(shù)為刷卡機90的刷卡次數(shù)，如此無需人為記錄刷卡測試次數(shù)。本實用新型可實現(xiàn)持續(xù)長時刷卡測試，無需人工值守，測試效率較高。

以上所述實施例的各技術特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特征的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的范圍。

以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。