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      神經(jīng)元突觸電路及神經(jīng)元電路的制作方法

      文檔序號(hào):11761127閱讀:562來(lái)源:國(guó)知局
      神經(jīng)元突觸電路及神經(jīng)元電路的制作方法與工藝

      本實(shí)用新型涉及人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及神經(jīng)元突觸電路及神經(jīng)元電路。



      背景技術(shù):

      人體大腦有數(shù)億神經(jīng)元,而突觸數(shù)目更加龐大。因此功耗和集成度是類腦神經(jīng)芯片最為關(guān)注的兩個(gè)因素。類腦神經(jīng)芯片無(wú)論是從計(jì)算速度,學(xué)習(xí)機(jī)制還是功耗,被科學(xué)家認(rèn)為是下一代最有前景技術(shù)。由于數(shù)字存儲(chǔ)技術(shù)已經(jīng)非常成熟,其存儲(chǔ)的權(quán)值精度高,數(shù)據(jù)可靠,技術(shù)成熟,設(shè)計(jì)規(guī)范,因此在很多方案中突觸及神經(jīng)元電路都是用數(shù)字方法實(shí)現(xiàn)的。然而,隨著人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的研究深入,傳統(tǒng)的采用數(shù)字電路實(shí)現(xiàn)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法的缺點(diǎn)越來(lái)越明顯?,F(xiàn)階段,用以實(shí)現(xiàn)所需的乘法和加法運(yùn)算和非線性變換所需的神經(jīng)元突觸電路規(guī)模龐大,功耗和體積巨大,而且在模擬神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)中需要將突觸權(quán)值在數(shù)字和模擬之間不斷地轉(zhuǎn)換,需要大量的D/A和A/D轉(zhuǎn)換器,更是極大地增加了電路的功耗,難以適應(yīng)發(fā)展的需要。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種神經(jīng)元突觸電路,用以減少神經(jīng)元突觸電路的功耗,并提高集成度,該神經(jīng)元突觸電路包括:

      充電電路,放電電路,以及分別與所述充電電路和所述放電電路連接的MOS電容;

      所述充電電路和所述放電電路均由多個(gè)MOS器件構(gòu)成,且接入突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列和突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列;

      所述充電電路被構(gòu)造為在突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列先到達(dá)時(shí),通過(guò)對(duì)所述MOS電容進(jìn)行充電輸出使突觸權(quán)值增加的模擬電壓;

      所述放電電路被構(gòu)造為在突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列后到達(dá)時(shí),通過(guò)對(duì)所述MOS電容進(jìn)行放電輸出使突觸權(quán)值減小的模擬電壓。

      本實(shí)用新型實(shí)施例還提供一種神經(jīng)元電路,用以減少神經(jīng)元電路的功耗,并提高集成度,該神經(jīng)元電路包括:

      突觸前神經(jīng)元,突觸后神經(jīng)元,上述的神經(jīng)元突觸電路,電壓電流轉(zhuǎn)換電路;

      所述突觸前神經(jīng)元輸出端與所述神經(jīng)元突觸電路第一輸入端和所述電壓電流轉(zhuǎn)換電路第一輸入端連接;所述突觸后神經(jīng)元輸出端與所述神經(jīng)元突觸電路第二輸入端連接;所述神經(jīng)元突觸電路輸出端與所述電壓電流轉(zhuǎn)換電路第二輸入端連接;所述電壓電流轉(zhuǎn)換電路輸出端與所述突觸后神經(jīng)元輸入端連接;

      所述電壓電流轉(zhuǎn)換電路用于將所述神經(jīng)元突觸電路輸出的模擬電壓轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電流刺激注入到所述突觸后神經(jīng)元。

      本實(shí)用新型實(shí)施例采用模擬電路實(shí)現(xiàn)神經(jīng)元突觸電路,相對(duì)于現(xiàn)有數(shù)字電路方式而言,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低、運(yùn)算速度快,能顯著提高神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的運(yùn)算效率;本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路可以將突觸前神經(jīng)元的脈沖與突觸后神經(jīng)元的脈沖進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)基于脈沖時(shí)間依賴可塑性(Spike-Timing-Dependent Plasticity,STDP)的神經(jīng)傳導(dǎo)學(xué)習(xí)機(jī)制。本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元電路,也因采用上述神經(jīng)元突觸電路,減少了電路功耗,提高了集成度。

      附圖說(shuō)明

      為了更清楚地說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對(duì)實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹,顯而易見(jiàn)地,下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例,對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。在附圖中:

      圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例中神經(jīng)元突觸電路的具體實(shí)例圖;

      圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中神經(jīng)元電路的結(jié)構(gòu)示意圖。

      具體實(shí)施方式

      為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。在此,本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本實(shí)用新型,但并不作為對(duì)本實(shí)用新型的限定。

      發(fā)明人考慮到,如果采用模擬電路實(shí)現(xiàn)神經(jīng)元突觸電路,則相對(duì)于現(xiàn)有數(shù)字電路方式,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低、運(yùn)算速度快,能顯著提高神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的運(yùn)算效率。因此,在本實(shí)用新型實(shí)施例中將模擬突觸電路作為模擬神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的基本單元之一。在本實(shí)用新型實(shí)施例中,同一個(gè)突觸連接的兩個(gè)神經(jīng)元分別稱為突觸前神經(jīng)元(Presynaptic Neuron)和突觸后神經(jīng)元(Postsynaptic Neuron)。神經(jīng)元突觸電路決定著突觸前神經(jīng)元和突觸后神經(jīng)元之間的信號(hào)傳遞機(jī)制,本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路利用模擬電路實(shí)現(xiàn)突觸前神經(jīng)元和突觸后神經(jīng)元之間的STDP傳導(dǎo)機(jī)制。STDP傳導(dǎo)機(jī)制是指:如果神經(jīng)元在接收到其它神經(jīng)元傳遞的信息之后自身產(chǎn)生活動(dòng),則兩神經(jīng)元之間的聯(lián)系會(huì)加強(qiáng),即突觸權(quán)值會(huì)增加;如果神經(jīng)元在接收到其它神經(jīng)元傳遞信息之前自身已經(jīng)產(chǎn)生活動(dòng),則兩神經(jīng)元的連接會(huì)減弱,即突觸權(quán)值會(huì)減小。

      本實(shí)用新型實(shí)施例中的神經(jīng)元突觸電路可以包括:充電電路,放電電路,以及分別與充電電路和放電電路連接的MOS電容;充電電路和放電電路均由多個(gè)MOS器件構(gòu)成,且接入突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列和突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列;充電電路被構(gòu)造為在突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列先到達(dá)時(shí),通過(guò)對(duì)MOS電容進(jìn)行充電輸出使突觸權(quán)值增加的模擬電壓;放電電路被構(gòu)造為在突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列后到達(dá)時(shí),通過(guò)對(duì)MOS電容進(jìn)行放電輸出使突觸權(quán)值減小的模擬電壓。

      由上述實(shí)施例可知,本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路可以在神經(jīng)元類腦芯片中用于實(shí)現(xiàn)權(quán)值存儲(chǔ)。該神經(jīng)元突觸電路可以將突觸前神經(jīng)元的脈沖序列與突觸后神經(jīng)元的脈沖序列進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)基于STDP的神經(jīng)傳導(dǎo)學(xué)習(xí)機(jī)制。該神經(jīng)元突觸電路采用模擬MOS(Metal Oxide Semiconductor,金屬氧化物半導(dǎo)體)器件實(shí)現(xiàn)。

      在具體的實(shí)例中,上述多個(gè)MOS器件均工作在亞閾值區(qū)域,這樣可以降低導(dǎo)通電流和工作電壓,進(jìn)一步減小功耗。在功耗方面,當(dāng)晶體管工作在亞閾值區(qū)域,工作在該區(qū)域的晶體管工作電流小,工作電壓也小,例如可以使神經(jīng)元突觸電路的工作電壓低到0.6V,極大地減小功耗。

      在具體的實(shí)例中,上述MOS電容可以是由NMOS器件漏極與源極短接而形成。當(dāng)然,本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解,也可以根據(jù)實(shí)際需求采用其它方式形成上述MOS電容。

      在具體的實(shí)例中,充電電路可以包括至少一對(duì)由兩個(gè)MOS器件構(gòu)成的電流鏡,用于控制為MOS電容充電的電流大?。缓?或,放電電路可以包括至少一對(duì)由兩個(gè)MOS器件構(gòu)成的電流鏡,用于控制為MOS電容放電的電流大小。

      下面結(jié)合圖1的示例說(shuō)明本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路的具體實(shí)施。當(dāng)然,本領(lǐng)域技術(shù)人員容易理解,圖1所示的具體電路結(jié)構(gòu)僅為實(shí)現(xiàn)本實(shí)用新型實(shí)施例神經(jīng)元突觸電路的一個(gè)具體實(shí)例,在具體實(shí)施時(shí)完全可以將電路中的部分或全部結(jié)構(gòu)單元進(jìn)行變形,例如可以通過(guò)增加或增少晶體管來(lái)實(shí)現(xiàn)相同的功能,進(jìn)一步的,比如對(duì)于充電電路或放電電路中的電流鏡、或MOS電容進(jìn)行結(jié)構(gòu)上的重新設(shè)計(jì),而保持電路的實(shí)現(xiàn)原理相同。

      如圖1所示,本例的神經(jīng)元突觸電路由MOS器件組成,其中的充電電路包括:第一MOS器件M1、第二MOS器件M2、第三MOS器件M3、第四MOS器件M4和第五MOS器件M5;放電電路包括:第六MOS器件M6、第七M(jìn)OS器件M7、第八MOS器件M8、第九MOS器件M9和第十MOS器件M10;這些MOS器件均工作在亞閾值區(qū)域,以降低導(dǎo)通電流和工作電壓。

      其中第一MOS器件M1、第四MOS器件M4、第五MOS器件M5、第八MOS器件M8和第九MOS器件M9為PMOS器件,在低電平時(shí)導(dǎo)通;第二MOS器件M2、第三MOS器件M3、第六MOS器件M6、第七M(jìn)OS器件M7和第十MOS器件M10為NMOS器件,在高電平時(shí)導(dǎo)通;

      第一MOS器件M1源極接入輸入電壓VDD,并分別連接第四MOS器件M4源極和第八MOS器件M8源極;第一MOS器件M1漏極連接第二MOS器件M2漏極,并與第一MOS器件M1柵極短接;第一MOS器件M1柵極還連接第四MOS器件M4柵極;在具體的實(shí)例中輸入電壓VDD可以采用超低壓直流供電,進(jìn)一步使神經(jīng)元突觸電路實(shí)現(xiàn)低功耗,高集成度等優(yōu)點(diǎn)。例如該神經(jīng)元突觸電路可以在超低壓(0.6V)供電的情況下,實(shí)現(xiàn)神經(jīng)元之間的STDP傳導(dǎo)機(jī)制。

      第二MOS器件M2源極連接第三MOS器件M3漏極;第二MOS器件M2柵極接入突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列Vpre,并連接第六MOS器件M6柵極;

      第三MOS器件M3柵極接入用于確定充電電路靜態(tài)工作電流的第一電壓Vd;第三MOS器件M3源極接地,并分別連接第七M(jìn)OS器件M7源極和第十MOS器件M10源極;

      第四MOS器件M4源極還連接第八MOS器件M8源極;第四MOS器件M4漏極連接第五MOS器件M5源極;

      第五MOS器件M5柵極接入突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列Vpost,并連接第九MOS器件M9柵極;第五MOS器件M5漏極輸出模擬電壓Vw,并分別連接第六MOS器件M6漏極和形成MOS電容的NMOS器件柵極;

      第六MOS器件M6源極連接第七M(jìn)OS器件M7漏極;

      第七M(jìn)OS器件M7漏極與第七M(jìn)OS器件M7柵極短接;第七M(jìn)OS器件M7柵極還連接第十MOS器件M10柵極;第七M(jìn)OS器件M7源極接地,并連接第十MOS器件M10源極;

      第八MOS器件M8源極接入輸入電壓VDD;第八MOS器件M8柵極接入用于確定放電電路靜態(tài)工作電流的第二電壓Vp;第八MOS器件M8漏極連接第九MOS器件M9源極;

      第九MOS器件M9漏極連接第十MOS器件M10漏極;

      形成MOS電容的NMOS器件源極與漏極短接,并接地。該MOS電容在圖1中被標(biāo)記為Mcw。

      進(jìn)一步的,在本例中,第五MOS器件M5柵極和第九MOS器件M9柵極還可以經(jīng)一反相器IN1接入突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列。該反相器IN1將脈沖序列的低電平變成高電平,高電平變?yōu)榈碗娖健?/p>

      模擬電壓Vw決定了突觸權(quán)值的強(qiáng)弱,Vw的大小由突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列和突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列的相對(duì)時(shí)間決定:當(dāng)突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列先到達(dá)時(shí)(說(shuō)明突觸后神經(jīng)元是在突觸前神經(jīng)元的刺激后產(chǎn)生的活動(dòng),二者的聯(lián)系應(yīng)加強(qiáng)),神經(jīng)元突觸電路中第一MOS器件M1、第二MOS器件M2、第三MOS器件M3、第四MOS器件M4和第五MOS器件M5工作,突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列經(jīng)第二MOS器件M2產(chǎn)生電流I1經(jīng)過(guò)第一MOS器件M1、第四MOS器件M4和第五MOS器件M5作用后,轉(zhuǎn)換為電流IA對(duì)MOS電容Mcw進(jìn)行充電,使Vw升高,即突觸權(quán)值增加;當(dāng)突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列比突觸前神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列先到達(dá)(說(shuō)明突觸后神經(jīng)元是在突觸前神經(jīng)元所傳遞的信息到達(dá)之前自身已經(jīng)產(chǎn)生活動(dòng),二者的聯(lián)系應(yīng)減弱),此時(shí)神經(jīng)元突觸電路中的第六MOS器件M6、第七M(jìn)OS器件M7、第八MOS器件M8、第九MOS器件M9和第十MOS器件M10工作,突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列經(jīng)過(guò)反相器IN1后經(jīng)第九MOS器件M9產(chǎn)生電流I2,經(jīng)過(guò)第六MOS器件M6、第七M(jìn)OS器件M7和第十MOS器件M10作用后,轉(zhuǎn)換為IB對(duì)MOS電容Mcw進(jìn)行放電,使Vw降低,即突觸權(quán)值減小。

      第一MOS器件M1和第四MOS器件M4是一對(duì)電流鏡,控制為Mcw充電的電流IA大小(與I1呈一定比例);同理,第七M(jìn)OS器件M7和第十MOS器件M10也是一對(duì)電流鏡,控制為Mcw放電的電流IB大小(與I2呈一定比例)。第一電壓Vd和第二電壓Vp分別通過(guò)第三MOS器件M3和第八MOS器件M8確定所在電路靜態(tài)工作電流;突觸前神經(jīng)元和突觸后神經(jīng)元產(chǎn)生的脈沖序列打開(kāi)或關(guān)斷第五MOS器件M5和第六MOS器件M6,使得電流IA和IB可以流過(guò)MOS電容Mcw,增加或減小模擬電壓Vw的值。

      本實(shí)用新型實(shí)施例還提供一種神經(jīng)元電路,圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例中神經(jīng)元電路的結(jié)構(gòu)示意圖,如圖2所示,該神經(jīng)元電路可以包括:

      突觸前神經(jīng)元201,突觸后神經(jīng)元202,上述的神經(jīng)元突觸電路203,電壓電流轉(zhuǎn)換電路204;

      突觸前神經(jīng)元201輸出端與神經(jīng)元突觸電路203第一輸入端和電壓電流轉(zhuǎn)換電路204第一輸入端連接;突觸后神經(jīng)元202輸出端與神經(jīng)元突觸電路203第二輸入端連接;神經(jīng)元突觸電路203輸出端與電壓電流轉(zhuǎn)換電路204第二輸入端連接;電壓電流轉(zhuǎn)換電路204輸出端與突觸后神經(jīng)元203輸入端連接;

      電壓電流轉(zhuǎn)換電路204用于將神經(jīng)元突觸電路203輸出的模擬電壓轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的電流刺激注入到突觸后神經(jīng)元202。

      如圖2所示,突觸前神經(jīng)元201和突觸后神經(jīng)元202產(chǎn)生的脈沖序列Vpre和Vpost進(jìn)入本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路203。神經(jīng)元突觸電路203將兩個(gè)脈沖序列進(jìn)行比較,將比較后得到的突觸權(quán)值輸出。輸出的突觸權(quán)值經(jīng)過(guò)電壓電流轉(zhuǎn)換電路204后,轉(zhuǎn)變?yōu)橄鄳?yīng)的電流刺激注入到突觸后神經(jīng)元202,突觸權(quán)值越大,電流刺激越大,對(duì)突觸后神經(jīng)元203的影響越大,說(shuō)明兩神經(jīng)元的聯(lián)系越緊密;反之則越不緊密。

      綜上所述,本實(shí)用新型實(shí)施例采用模擬電路實(shí)現(xiàn)神經(jīng)元突觸電路,相對(duì)于現(xiàn)有數(shù)字電路方式而言,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,所用的晶體管數(shù)量少,同時(shí)用晶體管電容來(lái)存儲(chǔ)突觸權(quán)值,可以極大地減小電路所占用的芯片面積,提高集成度;且本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路功耗低,運(yùn)算速度快,能顯著提高神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的運(yùn)算效率;本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元突觸電路可以將突觸前神經(jīng)元的脈沖與突觸后神經(jīng)元的脈沖進(jìn)行比較,實(shí)現(xiàn)基于STDP的神經(jīng)傳導(dǎo)學(xué)習(xí)機(jī)制。本實(shí)用新型實(shí)施例的神經(jīng)元電路,也因采用上述神經(jīng)元突觸電路,減少了電路功耗,提高了集成度。

      以上所述的具體實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和有益效果進(jìn)行了進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明,所應(yīng)理解的是,以上所述僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施例而已,并不用于限定本實(shí)用新型的保護(hù)范圍,凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi),所做的任何修改、等同替換、改進(jìn)等,均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。

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