本公開一般涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種壓感顯示裝置。
背景技術(shù):
觸控顯示裝置可以通過觸控電極來檢測手指在觸控顯示裝置的顯示屏平面內(nèi)的坐標(biāo)位置,并根據(jù)該坐標(biāo)位置來進(jìn)行相應(yīng)的顯示。
然而,顯示技術(shù)的發(fā)展以及人機(jī)交互界面交互操作的多樣性對觸控顯示裝置提出了更高的要求。例如,在檢測手指在顯示屏平面的坐標(biāo)位置之外,還需要對手指垂直按壓顯示屏的壓力大小進(jìn)行檢測,從而根據(jù)壓力大小的不同來進(jìn)行相應(yīng)的顯示。
現(xiàn)有的具備壓力檢測的顯示裝置中,通常通過設(shè)置在不同導(dǎo)電膜層的壓力檢測電極和壓力感應(yīng)電極之間形成的感應(yīng)電容來實(shí)現(xiàn)對壓力的檢測。當(dāng)顯示裝置受到外界壓力作用時(shí),壓力檢測電極所在的導(dǎo)電層和壓力感應(yīng)電極所在的導(dǎo)電層之間的間距將發(fā)生改變,進(jìn)而導(dǎo)致壓力檢測電極和壓力感應(yīng)電極之間形成的感應(yīng)電容發(fā)生變化,集成電路可通過采集感應(yīng)電容的變化量來確定外界壓力值的大小。
進(jìn)一步地,為了實(shí)現(xiàn)壓力檢測,現(xiàn)有技術(shù)中,集成電路與壓力檢測電極直接電連接,從而向壓力檢測電極提供相應(yīng)的壓力檢測信號,同時(shí),壓力感應(yīng)電極可以感應(yīng)外界對顯示裝置的壓力,并將表征壓力大小的電信號傳輸至集成電路以使集成電路確定出外界壓力值的大小。
然而,采用上述方案來將集成電路與壓力檢測電極直接電連接后,在進(jìn)行靜電防護(hù)測試時(shí),靜電容易自壓力檢測電極直接傳遞至集成電路,造成集成電路的損壞。此外,由于集成電路的驅(qū)動能力有限,通過集成電路直接驅(qū)動壓力檢測電極,增加了集成電路的負(fù)擔(dān),有可能引起集成電路過熱等問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:
鑒于現(xiàn)有技術(shù)中的上述缺陷或不足,期望提供一種壓感顯示裝置,以期解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題。
第一方面,本申請實(shí)施例提供了一種壓感顯示裝置,包括顯示區(qū)與圍繞顯示區(qū)的非顯示區(qū),壓感顯示裝置包括:集成電路,位于非顯示區(qū);壓力感應(yīng)電極陣列,包括陣列排布的多個(gè)壓力感應(yīng)電極;至少一個(gè)壓力檢測電極,壓力檢測電極向壓力感應(yīng)電極陣列的正投影與各壓力感應(yīng)電極至少部分地重疊;以及驅(qū)動電路,位于非顯示區(qū),連接在集成電路和壓力檢測電極之間,驅(qū)動電路基于集成電路輸出的驅(qū)動控制信號生成用于驅(qū)動壓力檢測電極的檢測信號,其中,驅(qū)動控制信號與檢測信號具有相同的相位。
按照本申請實(shí)施例的方案,通過在集成電路和壓力檢測電極之間設(shè)置驅(qū)動電路,通過集成電路輸出的驅(qū)動控制信號來控制驅(qū)動電路向壓力檢測電極提供用于驅(qū)動壓力檢測電極的檢測信號,降低了集成電路的負(fù)擔(dān),同時(shí)可避免來自壓力檢測電極的靜電直接傳導(dǎo)至集成電路進(jìn)而引發(fā)集成電路損壞。
附圖說明
通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本申請的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會變得更明顯:
圖1示出了本申請的壓感顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖;
圖2為本申請的壓感顯示裝置中,驅(qū)動電路的示意性結(jié)構(gòu)圖;
圖3示出了本申請一個(gè)實(shí)施例的驅(qū)動電路的示意性電路圖;
圖4A為圖3中,第一驅(qū)動電位生成模塊的示意性電路圖;
圖4B為圖3中,第二驅(qū)動電位生成模塊的示意性電路圖;
圖5為集成電路輸出的控制信號的示意性波形圖;
圖6示出了本申請另一個(gè)實(shí)施例的驅(qū)動電路的示意性電路圖;
圖7為本申請的壓感顯示裝置中,像素陣列和薄膜晶體管陣列的相對位置關(guān)系示意圖;
圖8為驅(qū)動電路設(shè)置在柔性電路板中時(shí),本申請的壓感顯示裝置的示意性結(jié)構(gòu)圖;
圖9為本申請的壓感顯示裝置的背光單元、陣列基板和彩膜基板的相對位置關(guān)系示意圖。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對本申請作進(jìn)一步的詳細(xì)說明??梢岳斫獾氖?,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用于解釋相關(guān)發(fā)明,而非對該發(fā)明的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與發(fā)明相關(guān)的部分。
需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來詳細(xì)說明本申請。
參見圖1所示,為本申請的壓感顯示裝置的一個(gè)實(shí)施例的示意性結(jié)構(gòu)圖。
本實(shí)施例的壓感顯示裝置包括包括顯示區(qū)10與圍繞所述顯示區(qū)10的非顯示區(qū)。
本實(shí)施例的壓感顯示裝置還包括集成電路(Integrated Circuit,IC)110、壓力感應(yīng)電極陣列、至少一個(gè)壓力檢測電極120以及驅(qū)動電路130。其中,集成電路110和驅(qū)動電路130位于非顯示區(qū)。
壓力感應(yīng)電極陣列包括陣列排布的多個(gè)壓力感應(yīng)電極140,且壓力檢測電極120向壓力感應(yīng)電極陣列的正投影與各壓力感應(yīng)電極140至少部分地重疊。這樣一來,壓力檢測電極120可以與各壓力感應(yīng)電極140之間形成感應(yīng)電容,當(dāng)受到外界壓力作用時(shí),壓力檢測電極120與各壓力感應(yīng)電極140之間的間距發(fā)生改變,進(jìn)而使得感應(yīng)電容發(fā)生相應(yīng)的改變。
驅(qū)動電路130電連接在集成電路110和壓力檢測電極120之間,用于基于集成電路110輸出的驅(qū)動控制信號生成用于驅(qū)動壓力檢測電極120的檢測信號。其中,驅(qū)動控制信號與檢測信號具有相同的相位。
本實(shí)施例的壓感顯示裝置,通過在集成電路110和壓力檢測電極120之間設(shè)置驅(qū)動電路130,通過集成電路110輸出的驅(qū)動控制信號來控制驅(qū)動電路130向壓力檢測電極120提供用于驅(qū)動壓力檢測電極120的檢測信號,降低了集成電路110的負(fù)擔(dān),同時(shí)可避免來自壓力檢測電極120的靜電直接傳導(dǎo)至集成電路110進(jìn)而引發(fā)集成電路110損壞。
參見圖2所示,為圖1所示的壓感顯示裝置中,驅(qū)動電路130的一個(gè)實(shí)施例的示意性結(jié)構(gòu)圖。
如圖2所示,本實(shí)施例的驅(qū)動電路130包括相互并聯(lián)的第一驅(qū)動電位生成模塊210和第二驅(qū)動電位生成模塊220。
其中,第一驅(qū)動電位生成模塊210的輸入端以及第二驅(qū)動電位生成模塊220的輸入端連接驅(qū)動電路130的輸入端IN并與集成電路的輸出端電連接以接收集成電路輸出的Select信號,第一驅(qū)動電位生成模塊210的輸出端以及第二驅(qū)動電位生成模塊220的輸出端連接至驅(qū)動電路130的輸出端OUT,且驅(qū)動電路130的輸出端OUT與壓力檢測電極電連接。
在一些應(yīng)用場景中,集成電路輸出的信號Select可以使得第一驅(qū)動電位生成模塊210和第二驅(qū)動電位生成模塊220同時(shí)工作,從而共同向壓力檢測電極輸出檢測信號Txreg。
或者,在另一些應(yīng)用場景中,通過集成電路輸出的信號Select可以分時(shí)選通驅(qū)動電路中的第一驅(qū)動電位生成模塊210或者第二驅(qū)動電位生成模塊220,從而使得驅(qū)動電路的第一驅(qū)動電位生成模塊210或者第二驅(qū)動電位生成模塊220分時(shí)向壓力檢測電極輸出檢測信號Txreg。
參見圖3所示,為本申請的壓感顯示裝置中,驅(qū)動電路的一個(gè)實(shí)施例的示意性電路圖。
圖3中,第一驅(qū)動電位生成模塊310包括第一緩沖單元311和第一輸出單元312。類似地,第二驅(qū)動電位生成模塊320同樣可以包括第二緩沖單元321和第二輸出單元322。
參見圖4A所示,為圖3中的第一驅(qū)動電位生成模塊310的電路圖。第一緩沖單元311包括多個(gè)級聯(lián)的反相器,第一輸出單元312包括第一反相器312a和第一電平輸出模塊312b。第一緩沖單元311的多個(gè)級聯(lián)的反相器中,與驅(qū)動電路的輸入端電連接并接收集成電路輸出的SELECT信號的反相器為第二反相器311a。
第一反相器312a的輸入端與第二反相器311a的輸出端電連接,第一電平輸出模塊312b與第一反相器312a的輸出端以及第一緩沖單元311的輸出端電連接,并基于第一反相器312a的輸出端和第一緩沖單元311的輸出端的控制向壓力檢測電極輸出第一驅(qū)動電位TXH。
此外,如圖4A所示,第一電平輸出模塊312b包括兩個(gè)晶體管M1、M2。其中,晶體管M1可以是NMOS晶體管而晶體管M2可以是PMOS晶體管。晶體管M1的柵極與第一反相器312a的輸出端電連接,晶體管M2的柵極與第一緩沖單元311的輸出端電連接。此外,第一晶體管M1的第一極和第二晶體管M2的第一極相互電連接并連接至第一電平信號輸入端用于接收第一電平信號TXH,第一晶體管M1的第二極和第二晶體管M2的第二極相互電連接并連接至第一驅(qū)動電位生成模塊的輸出端。
參見圖4B所示,為圖3中的第二驅(qū)動電位生成模塊320的電路圖。與第一驅(qū)動電位生成模塊310類似,第二驅(qū)動電位生成模塊320可以包括第二緩沖單元321和第二輸出單元322。第二緩沖單元321可以與第一緩沖單元311具有相似的結(jié)構(gòu),第二輸出單元322也可以與第一輸出單元312具體相似的結(jié)構(gòu)。
具體而言,第二緩沖單元321包括多個(gè)級聯(lián)的反相器,第二輸出單元322包括第三反相器322a和第二電平輸出模塊322b。第二緩沖單元321的多個(gè)級聯(lián)的反相器中,與驅(qū)動電路的輸入端電連接并接收集成電路輸出的SELECT信號的反相器為第四反相器321a。
第三反相器322a的輸入端與第四反相器321a的輸出端電連接,第二電平輸出模塊322b與第三反相器322a的輸出端以及第二緩沖單元321的輸出端電連接,并基于第三反相器322a的輸出端和第二緩沖單元321的輸出端的控制向壓力檢測電極輸出第二驅(qū)動電位TXL。
本實(shí)施例中,如圖3所示,各反相器均包含一個(gè)NMOS晶體管和一個(gè)PMOS晶體管,且二者的柵極相互電連接作為反相器的輸入端、漏極相互電連接作為反相器的輸出端。這樣一來,當(dāng)提供至柵極的控制信號使得反相器中的一個(gè)晶體管導(dǎo)通時(shí),另一個(gè)晶體管截止,使得施加在導(dǎo)通的晶體管的源極的電壓可提供至反相器的輸出端。當(dāng)施加在兩個(gè)晶體管的源極上的電壓不同(例如,相反)時(shí),可以通過控制提供至反相器輸入端的電壓的大小使得反相器輸出不同的電壓。
需要說明的是,盡管本實(shí)施例的驅(qū)動電路采用了一個(gè)NMOS晶體管和一個(gè)PMOS晶體管的結(jié)構(gòu),但這僅僅是示意性的。本領(lǐng)域技術(shù)人員在獲知本申請公開的技術(shù)方案的基礎(chǔ)上可以采用任何電氣元件來實(shí)現(xiàn)反相器的功能而不需要付出創(chuàng)造性的勞動。因此,無論采用何種現(xiàn)有的反相器的結(jié)構(gòu)來實(shí)現(xiàn)本申請的驅(qū)動電路,均視為落入了本申請的保護(hù)范圍之內(nèi)。
下面,將結(jié)合圖3所示的電路圖來說明本實(shí)施例的驅(qū)動電路的工作原理。
假設(shè)集成電路輸出的SELECT信號為如圖5所示的方波,且第一緩沖單元311、第二緩沖單元321均包含奇數(shù)個(gè)反相器。
當(dāng)SELECT信號為高電平時(shí),第一緩沖單元311和第二緩沖單元321均輸出低電平。第一輸出單元312的第一反相器以及第二輸出單元312的第三反相器輸出高電平。第一輸出單元312的第一電平輸出模塊中的NMOS晶體管的柵極與第一反相器的輸出端電連接,因此該NMOS晶體管導(dǎo)通,并向驅(qū)動電路的輸出端提供第一電平TXH。同時(shí),第一輸出單元312的第一電平輸出模塊中的PMOS晶體管的柵極與第一緩沖單元311的的輸出端電連接,而此時(shí)第一緩沖單元311的的輸出端輸出低電平,因此該P(yáng)MOS晶體管導(dǎo)通,并向驅(qū)動電路的輸出端提供第一電平TXH。
另一方面,第二輸出單元322的第一電平輸出模塊中的PMOS晶體管的柵極與第一反相器的輸出端電連接,因此該P(yáng)MOS晶體管截止。同時(shí),第二輸出單元322的第二電平輸出模塊中的NMOS晶體管的柵極與第二緩沖單元321的的輸出端電連接,而此時(shí)第二緩沖單元321的的輸出端輸出低電平,因此該NMOS晶體管截止。
當(dāng)SELECT信號為低電平時(shí),第一緩沖單元311和第二緩沖單元321均輸出高電平。第一輸出單元312的第一反相器以及第二輸出單元312的第三反相器輸出低電平。第一輸出單元312的第一電平輸出模塊中的NMOS晶體管的柵極與第一反相器的輸出端電連接,因此該NMOS晶體管截止。同時(shí),第一輸出單元312的第一電平輸出模塊中的PMOS晶體管的柵極與第一緩沖單元311的的輸出端電連接,而此時(shí)第一緩沖單元311的的輸出端輸出高電平,因此該P(yáng)MOS晶體管截止。
另一方面,第二輸出單元322的第一電平輸出模塊中的PMOS晶體管的柵極與第一反相器的輸出端電連接,因此該P(yáng)MOS晶體管導(dǎo)通,并將第二電平TXL提供至驅(qū)動電路的輸出端。同時(shí),第二輸出單元322的第二電平輸出模塊中的NMOS晶體管的柵極與第二緩沖單元321的的輸出端電連接,而此時(shí)第二緩沖單元321的的輸出端輸出高電平,因此該NMOS晶體管導(dǎo)通,并將第二電平TXL提供至驅(qū)動電路的輸出端。
由此可見,當(dāng)SELECT信號為高電平時(shí),第一驅(qū)動電位生成模塊310工作,驅(qū)動電路向壓力檢測電極輸出的檢測信號Txreg的電位為TXH;當(dāng)SELECT信號為低電平時(shí),第二驅(qū)動電位生成模塊320工作,驅(qū)動電路向壓力檢測電極輸出的檢測信號Txreg的電位為TXL。
這樣一來,集成電路僅需輸出用于控制驅(qū)動電路的控制信號SELECT,而無需輸出用于驅(qū)動壓力檢測電極的驅(qū)動信號,大大減輕了集成電路的負(fù)擔(dān)。此外,當(dāng)壓力檢測電極上形成有靜電荷時(shí),靜電荷可以通過驅(qū)動電路導(dǎo)出,避免靜電荷導(dǎo)出至集成電路而對集成電路造成損壞。
此外,驅(qū)動電路的第一驅(qū)動電位生成模塊310和第二驅(qū)動電位生成模塊320通過采用多個(gè)級聯(lián)的反相器,可以實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定電壓的功能。具體而言,當(dāng)集成電路輸出的控制信號SELECT為圖5所示的方波信號時(shí),通過本實(shí)施例的驅(qū)動電路中的第一驅(qū)動電位生成模塊310和第二驅(qū)動電位生成模塊320中級聯(lián)的反相器,可以使第一緩沖單元311和第二緩沖單元321輸出的高電平固定為VGH而低電平固定為VGL,避免了控制信號SELECT由于高、低電平切換時(shí)的電壓不穩(wěn)定導(dǎo)致用于控制第一電平輸出模塊的信號以及用于控制第二電平輸出模塊的信號不穩(wěn)定。
參見圖6所示,為本申請的壓感顯示裝置中,驅(qū)動電路的另一個(gè)實(shí)施例的示意性電路圖。
與圖3所示的實(shí)施例類似,本實(shí)施例的驅(qū)動電路同樣包括第一驅(qū)動電位生成模塊610和第二驅(qū)動電位生成模塊620。
其中,第一驅(qū)動電位生成模塊610包括第一晶體管T1、第二晶體管T2和第一電阻R1。
第一晶體管T1的柵極與集成電路的輸出端電連接,第一晶體管T1的第一極與第二晶體管T2的柵極電連接,第一晶體管T1的第二極接地。第二晶體管T2的第一極連接至第一驅(qū)動電位輸入端并接收第一驅(qū)動電位TXH,第二晶體管T2的第二極與壓力檢測電極電連接。第一電阻R1的兩端分別與第一晶體管T1的第一極以及第二晶體管T2的第一極電連接。
類似地,本實(shí)施例中,第二驅(qū)動電位生成模塊620包括第三晶體管T3、第四晶體管T4和第二電阻R2。
第三晶體管T3的柵極與集成電路的輸出端電連接,第三晶體管T3的第一極與第四晶體管T4的柵極電連接,第三晶體管T3的第二極接地。第四晶體管T4的第一極與第二驅(qū)動電位輸入端電連接并接收第二驅(qū)動電位TXL,第四晶體管T4的第二極與壓力檢測電極電連接。第二電阻R2的兩端分別與第三晶體管T3的第一極以及第四晶體管T4的第一極電連接。
下面,同樣以集成電路輸出的SELECT信號為如圖5所示的方波來說明本實(shí)施例的驅(qū)動電路的工作原理。
當(dāng)SELECT信號為高電平時(shí),第一驅(qū)動電位生成模塊610中的第一晶體管T1導(dǎo)通,而第二驅(qū)動電位生成模塊620中的第三晶體管T3截止。第二晶體管T2的柵極電位為第一驅(qū)動電位TXH經(jīng)第一電阻R1分壓后的電位,也即是說,當(dāng)?shù)谝或?qū)動電位TXH為高電平時(shí),第二晶體管T2的柵極也為高電平,此時(shí),第二晶體管T2導(dǎo)通,并將第一驅(qū)動電位TXH提供至驅(qū)動電路的輸出端。
另一方面,當(dāng)SELECT信號為低電平時(shí),第一驅(qū)動電位生成模塊610中的第一晶體管T1截止而第二驅(qū)動電位生成模塊620的第三晶體管T3導(dǎo)通。第四晶體管T4的柵極電位為第二驅(qū)動電位TXL經(jīng)第二電阻R2分壓后的電位,也即是說,當(dāng)?shù)诙?qū)動電位TXL為低電平時(shí),第四晶體管T4的柵極也為低電平,此時(shí),第四晶體管T4導(dǎo)通,并將第二驅(qū)動電位TXL提供至驅(qū)動電路的輸出端。
由此可見,當(dāng)SELECT信號為高電平時(shí),第一驅(qū)動電位生成模塊610工作,驅(qū)動電路向壓力檢測電極輸出的檢測信號Txreg的電位為TXH;當(dāng)SELECT信號為低電平時(shí),第二驅(qū)動電位生成模塊620工作,驅(qū)動電路向壓力檢測電極輸出的檢測信號Txreg的電位為TXL。
這樣一來,集成電路僅需輸出用于控制驅(qū)動電路的控制信號SELECT,而無需輸出用于驅(qū)動壓力檢測電極的驅(qū)動信號,大大減輕了集成電路的負(fù)擔(dān)。此外,當(dāng)壓力檢測電極上形成有靜電荷時(shí),靜電荷可以通過驅(qū)動電路導(dǎo)出,避免靜電荷導(dǎo)出至集成電路而對集成電路造成損壞。
此外,需要說明的是,本申請的驅(qū)動電路中,第一驅(qū)動電位生成模塊可以采用圖3所示實(shí)施例中的電路結(jié)構(gòu)或者圖6所示實(shí)施例中的電路結(jié)構(gòu);類似地,第二驅(qū)動電位生成模塊也可以采用圖3所示實(shí)施例中的電路結(jié)構(gòu)或者圖6所示實(shí)施例中的電路結(jié)構(gòu)。也即是說,驅(qū)動電路可以具有圖3所示的電路結(jié)構(gòu),或者具有圖6所示的電路結(jié)構(gòu),或者第一驅(qū)動電位生成模塊具有圖3中的第一驅(qū)動電位生成模塊310的電路結(jié)構(gòu)而第二驅(qū)動電位生成模塊具有圖6中的第二驅(qū)動電位生成模塊620的結(jié)構(gòu),或者第一驅(qū)動電位生成模塊具有圖6中的第一驅(qū)動電位生成模塊610的電路結(jié)構(gòu)而第二驅(qū)動電位生成模塊具有圖3中的第二驅(qū)動電位生成模塊320的結(jié)構(gòu)。
此外,參見圖7所示,本申請的壓感顯示裝置還包括顯示像素陣列和薄膜晶體管陣列。
顯示像素陣列包括多個(gè)由多條掃描線S1~Sm和與各掃描線絕緣相交的數(shù)據(jù)線D1~Dn限定出的顯示像素701。薄膜晶體管陣列包括多個(gè)薄膜晶體管702。各顯示像素中還形成有像素電極(圖中未示出),各薄膜晶體管702通過向各顯示像素701中的像素電極提供提供顯示信號從而使得顯示裝置顯示相應(yīng)的畫面。
在一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請的壓感顯示裝置中,驅(qū)動電路與薄膜晶體管陣列可以位于相同的導(dǎo)電層。例如,薄膜晶體管陣列中,各薄膜晶體管的柵極可以位于第一導(dǎo)電層,而各薄膜晶體管的源極和漏極可以位于與第一導(dǎo)電層絕緣的第二導(dǎo)電層。此時(shí),驅(qū)動電路可以形成在第一導(dǎo)電層;或者,驅(qū)動電路可以形成在第二導(dǎo)電層;或者,驅(qū)動電路的一部分元件可以形成在第一導(dǎo)電層而其余部分原件可以形成在第二導(dǎo)電層。
此外,在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,驅(qū)動電路可以形成在壓感顯示裝置的非顯示區(qū)的任意位置,例如,可以與集成電路一同形成在壓感顯示裝置的下邊框區(qū)域;或者,可以與用于生成掃描信號的移位寄存器一同形成在壓感顯示裝置左和/或右邊框區(qū)域。
在另一些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,參見圖8所示,本申請的壓感顯示裝置還可以包括連接在集成電路801和壓力檢測電極802之間的柔性電路板803。在這些可選的實(shí)現(xiàn)方式中,本申請各實(shí)施例的驅(qū)動電路804可以形成于柔性電路板803中。
此外,如圖9所示,本申請的壓感顯示裝置還包括背光單元910,壓力檢測電極可以形成于背光單元910中。壓力感應(yīng)電極陣列可以形成在陣列基板920上,或者,壓力感應(yīng)電極陣列還可以形成在彩膜基板930上。
進(jìn)一步參見圖9所示,背光單元910可以包括背光鐵框901、導(dǎo)光板902和多個(gè)疊置的光學(xué)膜片903。壓力檢測電極可以形成于背光鐵框901的上表面或者可以將背光鐵框901作為壓力檢測電極。
此外,本申請的壓感顯示裝置中,壓力感應(yīng)電極可以復(fù)用為公共電極。也即是說,在各幀周期的顯示期間,集成電路可以向壓力感應(yīng)電極陣列中的各壓力感應(yīng)電極提供公共電壓信號;在各幀周期的壓力檢測期間,集成電路可以通過驅(qū)動電路向壓力檢測電極提供檢測信號,同時(shí)壓力感應(yīng)電極可以采集外界壓力感應(yīng)信號,并將采集到的壓力感應(yīng)信號傳輸至集成電路。
此外,本申請的壓感顯示裝置中,壓力感應(yīng)電極還可以復(fù)用為觸摸感應(yīng)電極。此時(shí),幀周期除了包括顯示期間和壓力檢測期間之外,還可以包括觸摸檢測期間。在觸摸檢測期間,集成電路可以向壓力感應(yīng)電極陣列中的各壓力感應(yīng)電極提供觸摸檢測信號,同時(shí)接收壓力感應(yīng)電極采集的觸摸感應(yīng)信號,并將感應(yīng)到的觸摸檢測信號傳輸至集成電路。
本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,本申請中所涉及的發(fā)明范圍,并不限于上述技術(shù)特征的特定組合而成的技術(shù)方案,同時(shí)也應(yīng)涵蓋在不脫離所述發(fā)明構(gòu)思的情況下,由上述技術(shù)特征或其等同特征進(jìn)行任意組合而形成的其它技術(shù)方案。例如上述特征與本申請中公開的(但不限于)具有類似功能的技術(shù)特征進(jìn)行互相替換而形成的技術(shù)方案。