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      一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件及其制備方法與流程

      文檔序號(hào):11251482閱讀:1341來源:國(guó)知局
      一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件及其制備方法與流程

      本發(fā)明屬于生命科學(xué)與半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,涉及一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件及其制備技術(shù)。



      背景技術(shù):

      2000年,諾貝爾生理學(xué)或醫(yī)學(xué)獎(jiǎng)得主geraldm.edelman說,腦科學(xué)的知識(shí)將奠定即將到來新時(shí)代之基礎(chǔ)。當(dāng)前,人腦科學(xué)研究越來越受到全世界的重視,各國(guó)政府都提出自己的“腦計(jì)劃”:2013年歐盟啟動(dòng)了“人類大腦計(jì)劃(thehumanbrainproject)”,重點(diǎn)研究醫(yī)學(xué)、神經(jīng)科學(xué)和計(jì)算機(jī)技術(shù);同年,美國(guó)開啟了“大腦基金計(jì)劃(braininitiative)”,開發(fā)探索大腦來獲得腦科學(xué)新發(fā)現(xiàn);在我國(guó),中科院于2014年提出了“中國(guó)大腦計(jì)劃”,基于以探索腦奧秘、攻克腦疾病為主的腦科學(xué)研究和以研發(fā)人工智能技術(shù)為主的類腦研究。

      隨著各國(guó)“腦計(jì)劃”的推進(jìn),全球涌現(xiàn)出大量的類腦器件,其技術(shù)路線主要分為兩種:一是基于傳統(tǒng)的cmos技術(shù),其優(yōu)點(diǎn)是工藝技術(shù)成熟,短時(shí)間內(nèi)可以獲得應(yīng)用;二是憶阻器模擬神經(jīng)突觸,其優(yōu)點(diǎn)是可以實(shí)現(xiàn)權(quán)重連續(xù)改變和斷電記憶保持。這兩種人工突觸技術(shù)都是采用電信號(hào)傳遞刺激,與人腦相比功耗大,運(yùn)算速度低,結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,功能局限,不能很好的適應(yīng)快速發(fā)展的市場(chǎng)。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      技術(shù)問題:本發(fā)明提供一種首次實(shí)現(xiàn)了以光子取代電子或者質(zhì)子作為信息載體來模擬神經(jīng)遞質(zhì)的傳輸,成功模擬出人腦的空間累積和時(shí)空累積及識(shí)別效應(yīng)的記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,同時(shí)提供了一種該器件的制備方法。

      技術(shù)方案:本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,以si襯底gan基晶圓為載體,包括硅襯底層、設(shè)置在所述硅襯底層上的外延緩沖層、設(shè)置在所述外延緩沖層上的n-gan層,設(shè)置在所述n-gan層上的發(fā)射極和集電極,在所述n-gan層上表面有刻蝕出的階梯狀臺(tái)面,所述階梯狀臺(tái)面包括下臺(tái)面和位于所述下臺(tái)面上的多個(gè)上臺(tái)面,所述下臺(tái)面上有向下刻蝕出的凹槽,并凸顯形成波導(dǎo),所述的發(fā)射極和集電極結(jié)構(gòu)相同,均包括一個(gè)上臺(tái)面和從下至上依次連接設(shè)置在上臺(tái)面上的n-gan層、ingan/gan量子阱、p-gan層和p-電極,所述發(fā)射極分別通過波導(dǎo)與集電極連接,所述下臺(tái)面上設(shè)置有n-電極,所述n-電極構(gòu)成基極,所述發(fā)射極、集電極和基極構(gòu)成光致突觸晶體管;在所述n-gan層下方設(shè)置有與波導(dǎo)、p-電極與波導(dǎo)連接一端、n-電極與波導(dǎo)連接一端的位置正對(duì)且貫穿硅襯底層、外延緩沖層到n-gan層的空腔,使所述光致突觸晶體管和波導(dǎo)懸空。

      進(jìn)一步的,本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述光致突觸晶體管和波導(dǎo)均在si襯底gan基晶圓的氮化物層上實(shí)現(xiàn),其中波導(dǎo)只在n-gan層上,且與周邊懸空薄膜完全隔離,形成發(fā)射極和集電極之間只通過波導(dǎo)相連的結(jié)構(gòu)。

      進(jìn)一步的,本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述發(fā)射極、集電極、基極和波導(dǎo)均為多個(gè),通過波導(dǎo)可連接更多的光致突觸晶體管,實(shí)現(xiàn)更為復(fù)雜的神經(jīng)元模擬。

      進(jìn)一步的,本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述發(fā)射極和波導(dǎo)均為兩個(gè),所述集電極和基極均為一個(gè)。

      本發(fā)明的制備上述一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件的方法,包括以下步驟:

      步驟(1)清洗si襯底gan基晶圓,用氮?dú)獯蹈珊髮?duì)其背后硅襯底層進(jìn)行減薄拋光處理;

      步驟(2)使用光刻涂膠機(jī)在si襯底gan基晶圓上表面均勻地旋涂一層光刻膠i然后烘干,再將上臺(tái)面區(qū)域的圖形轉(zhuǎn)移到涂好的光刻膠i上,之后去除臺(tái)階區(qū)域外的光刻膠i;

      步驟(3)沿著被去除光刻膠的地方向下刻蝕si襯底gan基晶圓,直至刻蝕到n-gan層中,去除殘留在臺(tái)階區(qū)域上的光刻膠i,得到上臺(tái)階結(jié)構(gòu);

      步驟(4)在si襯底gan基晶圓上表面均勻涂上一層光刻膠i,將p-電極圖形區(qū)域和n-電極圖形區(qū)域轉(zhuǎn)移到已涂好的光刻膠上,通過反轉(zhuǎn)工藝,去除p-電極圖形區(qū)域和n-電極圖形區(qū)域內(nèi)的光刻膠i;

      步驟(5)在所述p-電極圖形區(qū)域和n-電極圖形區(qū)域分別蒸鍍ni/au,采用剝離工藝和溫度控制在500±5℃的氮?dú)馔嘶鸺夹g(shù),形成歐姆接觸,去除殘留光刻膠后得到p-電極與n-電極;

      步驟(6)在si襯底gan基晶圓上表面均勻涂上一層光刻膠i,將凹槽區(qū)域圖形轉(zhuǎn)移到涂好的光刻膠i上,再去除凹槽區(qū)域內(nèi)的光刻膠i;

      步驟(7)沿著被去除光刻膠i的地方向下刻蝕si襯底gan基晶圓,形成凹槽,去除殘留光刻膠i后得到波導(dǎo)結(jié)構(gòu);

      步驟(8)分別在si襯底gan基晶圓頂層涂光刻膠i和背后涂光刻膠ii保護(hù),,然后烘干,之后定義出一個(gè)對(duì)準(zhǔn)并覆蓋波導(dǎo)、p-電極與波導(dǎo)連接的一端、n-電極與波導(dǎo)連接的一端的背后刻蝕窗口;

      步驟(9)沿著背后刻蝕窗口,利用背后深硅刻蝕技術(shù)將硅襯底層貫穿刻蝕至外延緩沖層的下表面,形成一個(gè)空腔;

      步驟(10)再沿著背后刻蝕窗口從下往上對(duì)si襯底gan基晶圓的外延緩沖層和n-gan層進(jìn)行氮化物減薄刻蝕處理,直至把凹槽刻穿,完成背后減薄處理;

      步驟(11)去除殘留光刻膠ii,即得到一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件。

      進(jìn)一步的,本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述步驟(3)、步驟(7)和步驟(10)中刻蝕si襯底gan基晶圓,所用刻蝕氣體均為cl2和bcl3混合離子氣體,流速分別為10sccm和25sccm。

      進(jìn)一步的,本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述步驟(9)中的背后深硅刻蝕過程中先進(jìn)行快速刻蝕,之后改為慢速刻蝕,避免快速刻蝕時(shí)強(qiáng)沖擊力造成的si襯底gan基晶圓損傷。

      本發(fā)明通過正反刻蝕,先從上而下刻出波導(dǎo)使波導(dǎo)兩邊形成凹槽,再從下而上先后采用背后深硅刻蝕和氮化物減薄直至把凹槽刻穿,形成波導(dǎo)懸空并與周邊薄膜完全隔開的結(jié)構(gòu),使發(fā)射極只通過波導(dǎo)與集電極相連的結(jié)構(gòu)。

      本發(fā)明中,利用兩個(gè)單脈沖分別驅(qū)動(dòng)兩個(gè)發(fā)射極,產(chǎn)生兩個(gè)單刺激傳入波導(dǎo),被集電極感知,實(shí)現(xiàn)空間疊加效應(yīng),若兩個(gè)單脈沖相同,則出現(xiàn)簡(jiǎn)單的疊加,增強(qiáng)記憶效果;若兩個(gè)脈沖不同,除了疊加之后還可根據(jù)斷層來識(shí)別脈沖,如圖4(a)、4(b)。同理,圖4(c)、4(d)中,利用連續(xù)脈沖替代單脈沖時(shí),實(shí)現(xiàn)了時(shí)空疊加效應(yīng),若兩個(gè)連續(xù)脈沖相同,則出現(xiàn)連續(xù)的疊加直到達(dá)到飽和,大大增強(qiáng)記憶效果;當(dāng)兩個(gè)連續(xù)脈沖不相同時(shí),除了疊加之外,每個(gè)刺激都會(huì)有斷層現(xiàn)象,根據(jù)斷層來識(shí)別脈沖。

      本發(fā)明用光致晶體管類腦芯片模擬生物突觸,首次提出并實(shí)現(xiàn)用光信號(hào)替代傳統(tǒng)的電信號(hào)完成刺激傳輸,模擬出人腦的多種記憶效應(yīng),同時(shí)研究神經(jīng)刺激在腦中的存儲(chǔ)記憶時(shí)間,為建立神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)及發(fā)展擬人工智能奠定了基礎(chǔ)。

      本發(fā)明中,發(fā)射極作為神經(jīng)刺激的產(chǎn)生源以及所述集電極作為刺激的感知端均可類比于神經(jīng)元的細(xì)胞體,所述懸空波導(dǎo)比作神經(jīng)突觸,將單對(duì)發(fā)射極/集電極和懸空波導(dǎo)的集成可形成具有收發(fā)光信號(hào)刺激能力的單個(gè)記憶神經(jīng)元結(jié)構(gòu),而該類腦器件是由兩個(gè)共用刺激感知端的神經(jīng)元組成的。

      有益效果:本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn):

      本發(fā)明提出的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,相較于其他類腦器件,首次實(shí)現(xiàn)了以光子取代電子或質(zhì)子作為信息載體來模擬神經(jīng)遞質(zhì)的傳輸。

      本發(fā)明提出的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,相較于其他類腦器件,實(shí)現(xiàn)了空間累積和時(shí)空混合累積及識(shí)別效應(yīng)的模擬,顯示出了單個(gè)或連續(xù)的刺激下多維記憶效應(yīng)的疊加、斷層現(xiàn)象。

      本發(fā)明提出的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,相較于其他光致晶體管集成,懸空波導(dǎo)作為一個(gè)橋梁將光致晶體管的發(fā)射極與集電極相連,且波導(dǎo)兩邊與懸空薄膜完全隔開,即發(fā)射極的光是通過波導(dǎo)耦合進(jìn)集電極的,不受懸空薄膜的影響。

      本發(fā)明提出的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,其懸空波導(dǎo)的制備是通過正反刻蝕而得到,使得懸空波導(dǎo)的厚度可控從而獲得超薄懸空波導(dǎo),制備工藝巧妙又精簡(jiǎn),充分限制光于波導(dǎo)內(nèi),并降低光在波導(dǎo)內(nèi)的損耗。

      本發(fā)明提出的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,通過懸空波導(dǎo)集成了兩個(gè)發(fā)射極,按照此思路,可利用波導(dǎo)集成多個(gè)發(fā)射極,大大降低集成難度。

      附圖說明

      圖1是本發(fā)明一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件前視示意圖。

      圖2是本發(fā)明一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件俯視示意圖。

      圖3是本發(fā)明一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件的制備流程圖。

      圖中有:1-硅襯底層;2-外延緩沖層;3-n-gan層;4-ingan/gan量子阱;5-p-gan層;6-p-電極;7-n-電極;8-波導(dǎo);9-上臺(tái)面;10-凹槽。

      圖4是本發(fā)明一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件的測(cè)試結(jié)果圖,其中圖4(a)為相同單脈沖刺激下的空間疊加,圖4(b)為不同脈寬的單脈沖刺激下的空間疊加與斷層識(shí)別,圖4(c)為相同連續(xù)脈沖刺激下的時(shí)空混合疊加,圖4(d)為不同脈寬的連續(xù)脈沖刺激下的時(shí)空混合疊加與斷層識(shí)別。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合實(shí)施例和說明書附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說明。

      圖1、圖2給出了本發(fā)明的硅襯底懸空led光波導(dǎo)集成光子器件的結(jié)構(gòu)示意圖,該器件以si襯底gan基晶圓為載體,包括硅襯底層1、設(shè)置在所述硅襯底層1上的外延緩沖層2、設(shè)置在所述外延緩沖層2上的n-gan層3,設(shè)置在所述n-gan層3上的發(fā)射極和集電極,在所述n-gan層3上表面有刻蝕出的階梯狀臺(tái)面,所述階梯狀臺(tái)面包括下臺(tái)面和位于所述下臺(tái)面上的多個(gè)上臺(tái)面9,所述下臺(tái)面上有向下刻蝕出的凹槽,并凸顯形成波導(dǎo)8,所述的發(fā)射極和集電極結(jié)構(gòu)相同,均包括一個(gè)上臺(tái)面9和從下至上依次連接設(shè)置在上臺(tái)面上的n-gan層3、ingan/gan量子阱4、p-gan層5和p-電極6,所述發(fā)射極分別通過波導(dǎo)8與集電極連接,所述下臺(tái)面上設(shè)置有n-電極7,所述n-電極7構(gòu)成基極,所述發(fā)射極、集電極和基極構(gòu)成光致突觸晶體管;

      在所述n-gan層3下方設(shè)置有與波導(dǎo)8、p-電極6與波導(dǎo)8連接一端、n-電極7與波導(dǎo)8連接一端的位置正對(duì)且貫穿硅襯底層1、外延緩沖層2到n-gan層3的空腔,使所述光致突觸晶體管和波導(dǎo)8懸空。

      本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述光致突觸晶體管和波導(dǎo)8均在si襯底gan基晶圓的氮化物層上實(shí)現(xiàn),其中波導(dǎo)8只在n-gan層3上,且與周邊懸空薄膜完全隔離,形成發(fā)射極和集電極之間只通過波導(dǎo)8相連的結(jié)構(gòu)。

      本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述發(fā)射極、集電極、基極和波導(dǎo)8均為多個(gè),通過波導(dǎo)8可連接更多的光致突觸晶體管,實(shí)現(xiàn)更為復(fù)雜的神經(jīng)元模擬。

      本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述發(fā)射極和波導(dǎo)8均為兩個(gè),所述集電極和基極均為一個(gè)。本發(fā)明的制備一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件的方法,具體步驟如下:

      1)清洗si襯底gan基晶圓,用氮?dú)獯蹈珊髮?duì)其背后硅襯底層1進(jìn)行減薄拋光處理;

      2)使用光刻涂膠機(jī)在si襯底gan基晶圓上表面均勻地旋涂一層光刻膠i然后烘干,再將上臺(tái)面9區(qū)域的圖形轉(zhuǎn)移到涂好的光刻膠i上,之后去除臺(tái)階區(qū)域外的光刻膠i;

      3)沿著被去除光刻膠的地方向下刻蝕si襯底gan基晶圓,直至刻蝕到n-gan層3中,去除殘留在臺(tái)階區(qū)域上的光刻膠i,得到上臺(tái)面9結(jié)構(gòu);

      4)在si襯底gan基晶圓上表面均勻涂上一層光刻膠i,將p-電極6圖形區(qū)域和n-電極7圖形區(qū)域轉(zhuǎn)移到已涂好的光刻膠上,通過反轉(zhuǎn)工藝,去除p-電極6圖形區(qū)域和n-電極7圖形區(qū)域內(nèi)的光刻膠i;

      5)在所述p-電極6圖形區(qū)域和n-電極7圖形區(qū)域分別蒸鍍ni/au,采用剝離工藝和溫度控制在500±5℃的氮?dú)馔嘶鸺夹g(shù),形成歐姆接觸,去除殘留光刻膠后得到p-電極6與n-電極7;

      6)在si襯底gan基晶圓上表面均勻涂上一層光刻膠i,將凹槽10區(qū)域圖形轉(zhuǎn)移到涂好的光刻膠i上,再去除凹槽10區(qū)域內(nèi)的光刻膠i;

      7)沿著被去除光刻膠i的地方向下刻蝕si襯底gan基晶圓,形成凹槽10,去除殘留光刻膠i后得到波導(dǎo)8結(jié)構(gòu);

      8)分別在si襯底gan基晶圓頂層涂光刻膠i和背后涂光刻膠ii保護(hù),,然后烘干。之后定義出一個(gè)對(duì)準(zhǔn)并覆蓋波導(dǎo)8、p-電極6與波導(dǎo)8連接的一端、n-電極7與波導(dǎo)8連接的一端的背后刻蝕窗口;

      9)沿著背后刻蝕窗口,利用背后深硅刻蝕技術(shù)將硅襯底層1貫穿刻蝕至外延緩沖層2的下表面,形成一個(gè)空腔;

      10)再沿著背后刻蝕窗口從下往上對(duì)si襯底gan基晶圓的外延緩沖層2和n-gan層3進(jìn)行氮化物減薄刻蝕處理,直至把凹槽10刻穿,完成背后減薄處理;

      11)去除殘留光刻膠ii,即得到一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件;

      本發(fā)明的一種記憶增強(qiáng)及認(rèn)知識(shí)別神經(jīng)元的類腦器件,所述快速刻蝕與慢速刻蝕的時(shí)間可根據(jù)具體情況而定,一般的,快速刻蝕為37min或38min,慢速刻蝕為10min。

      上述實(shí)施例僅是本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式,應(yīng)當(dāng)指出:對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明原理的前提下,還可以做出若干改進(jìn)和等同替換,這些對(duì)本發(fā)明權(quán)利要求進(jìn)行改進(jìn)和等同替換后的技術(shù)方案,均落入本發(fā)明的保護(hù)范圍。

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