本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及到一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法及測(cè)試治具系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

ocp全稱opencomputeproject，是facebook主導(dǎo)的開源項(xiàng)目，它重新設(shè)計(jì)硬件，使其更高效、靈活和可擴(kuò)展。pcie作為ocp設(shè)計(jì)中重要的io接口，其信號(hào)完整性測(cè)試必不可少。在ocp設(shè)計(jì)中，pcie接口進(jìn)行了重新定義，封裝比傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)pcie更小，對(duì)信號(hào)完整性測(cè)試的挑戰(zhàn)更大，用探頭直接在接口上點(diǎn)測(cè)非常難以實(shí)現(xiàn)，且測(cè)試精度無(wú)法得到保障。

因此，在本領(lǐng)域亟需解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提出一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法及測(cè)試治具系統(tǒng)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于現(xiàn)有技術(shù)的上述問(wèn)題，本發(fā)明提出了一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法及測(cè)試治具系統(tǒng)，其主要思想是：測(cè)試治具上包含ocppcie接口，方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接，在測(cè)試治具上將pcie及clock信號(hào)以smp接口的方式引出，方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接。

本發(fā)明提供如下技術(shù)方案：

一方面，本發(fā)明提供一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法，包括：

測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備連接，所述測(cè)試治具將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，所述測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接，開始測(cè)試。

其中，所述測(cè)試治具包括pcietx信號(hào)接口。

其中，所述測(cè)試治具包括ocppcie接口，測(cè)試治具通過(guò)所述ocppcie接口與被測(cè)設(shè)備連接。

其中，將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，在信號(hào)傳輸路徑上僅包括連接器。

其中，所述測(cè)試治具與示波器連接緊密牢固。

另外，本發(fā)明還提供一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試治具系統(tǒng)，所述測(cè)試治具系統(tǒng)包括：

測(cè)試治具，被測(cè)設(shè)備以及示波器；測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備連接，所述測(cè)試治具將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，所述測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接。

其中，所述測(cè)試治具包括pcietx信號(hào)接口。

其中，所述測(cè)試治具包括ocppcie接口，測(cè)試治具通過(guò)所述ocppcie接口與被測(cè)設(shè)備連接。

其中，將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，在信號(hào)傳輸路徑上僅包括連接器。

其中，所述測(cè)試治具與示波器連接緊密牢固。

本發(fā)明提出一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法及測(cè)試治具系統(tǒng)，測(cè)試治具上包含ocppcie接口，方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接，在測(cè)試治具上將pcie及clock信號(hào)以smp接口的方式引出，方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接，操作簡(jiǎn)便；測(cè)試治具與示波器連接緊密、牢固，測(cè)試精度高。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明的測(cè)試治具俯視圖；

圖2是本發(fā)明的測(cè)試治具仰視圖；

具體實(shí)施方式

為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

一方面，本發(fā)明提供一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法，測(cè)試治具俯視圖和仰視圖分別如附圖1、2所示，包括：

測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備連接，所述測(cè)試治具將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，所述測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接，開始測(cè)試。

附圖1為測(cè)試治具俯視圖，包括一對(duì)clk信號(hào)接口，8對(duì)pcietx信號(hào)接口，圖中的圓形表示smp接口，這些接口的目的是方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接。附圖2為測(cè)試治具的仰視圖，包含一個(gè)ocppcie接口，此接口的目的是方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接。

根據(jù)圖1所示，設(shè)計(jì)測(cè)試治具的原理圖，本發(fā)明的原理是將ocp接口的pcie及clock信號(hào)以smp接口的形式引出來(lái)，在信號(hào)傳輸路徑上除了連接器不需要加其他任何器件，以保證引出信號(hào)的真實(shí)性；測(cè)試治具與示波器連接緊密、牢固，測(cè)試精度高。

本發(fā)明中提到治具的用途是用來(lái)測(cè)試，那么首先要保證信號(hào)在治具上傳輸不會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響。為實(shí)現(xiàn)此目的，我們要從板材、走線寬度、走線距離、阻抗要求等方面進(jìn)行嚴(yán)格的仿真，從而制定出合理的布線規(guī)則；

layout布線設(shè)計(jì)：按照仿真給出的布線規(guī)則進(jìn)行布線設(shè)計(jì)；

打板：layout布線設(shè)計(jì)完成后進(jìn)行打板；

測(cè)試驗(yàn)證：打板完成后進(jìn)行阻抗、loss等測(cè)試，確保治具滿足設(shè)計(jì)要求；

實(shí)際應(yīng)用：將測(cè)試治具通過(guò)ocppcie接口與被測(cè)設(shè)備連接，通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接，連接完成后開展測(cè)試。

本發(fā)明提出一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試方法，測(cè)試治具上包含ocppcie接口，方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接，在測(cè)試治具上將pcie及clock信號(hào)以smp接口的方式引出，方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接，操作簡(jiǎn)便；測(cè)試治具與示波器連接緊密、牢固，測(cè)試精度高。

另外，本發(fā)明還提供一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試治具系統(tǒng)，測(cè)試治具俯視圖和仰視圖分別如附圖1、2所示，所述測(cè)試治具系統(tǒng)包括：

測(cè)試治具，被測(cè)設(shè)備以及示波器；測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備連接，所述測(cè)試治具將pcie信號(hào)及clock信號(hào)以smp接口方式引出，所述測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接。

附圖1為測(cè)試治具俯視圖，包括一對(duì)clk信號(hào)接口，8對(duì)pcietx信號(hào)接口，圖中的圓形表示smp接口，這些接口的目的是方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接。附圖2為測(cè)試治具的仰視圖，包含一個(gè)ocppcie接口，此接口的目的是方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接。

根據(jù)圖1所示，設(shè)計(jì)測(cè)試治具的原理圖，本發(fā)明的原理是將ocp接口的pcie及clock信號(hào)以smp接口的形式引出來(lái)，在信號(hào)傳輸路徑上除了連接器不需要加其他任何器件，以保證引出信號(hào)的真實(shí)性；測(cè)試治具與示波器連接緊密、牢固，測(cè)試精度高。

本發(fā)明中提到治具的用途是用來(lái)測(cè)試，那么首先要保證信號(hào)在治具上傳輸不會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響。為實(shí)現(xiàn)此目的，我們要從板材、走線寬度、走線距離、阻抗要求等方面進(jìn)行嚴(yán)格的仿真，從而制定出合理的布線規(guī)則；

layout布線設(shè)計(jì)：按照仿真給出的布線規(guī)則進(jìn)行布線設(shè)計(jì)；

打板：layout布線設(shè)計(jì)完成后進(jìn)行打板；

測(cè)試驗(yàn)證：打板完成后進(jìn)行阻抗、loss等測(cè)試，確保治具滿足設(shè)計(jì)要求；

實(shí)際應(yīng)用：將測(cè)試治具通過(guò)ocppcie接口與被測(cè)設(shè)備連接，通過(guò)sma-smp線纜與示波器連接，連接完成后開展測(cè)試。

本發(fā)明提出一種支持ocp接口的pcie信號(hào)測(cè)試治具系統(tǒng)，測(cè)試治具上包含ocppcie接口，方便測(cè)試治具與被測(cè)設(shè)備的連接，在測(cè)試治具上將pcie及clock信號(hào)以smp接口的方式引出，方便測(cè)試治具通過(guò)sma-smp線纜與示波器的連接，操作簡(jiǎn)便；測(cè)試治具與示波器連接緊密、牢固，測(cè)試精度高。

對(duì)所公開的實(shí)施例的上述說(shuō)明，使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對(duì)這些實(shí)施例的多種修改對(duì)本領(lǐng)域技術(shù)人員來(lái)說(shuō)將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其他實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會(huì)被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。