本發(fā)明涉及暴力熱插拔安全技術(shù)領(lǐng)域，更具體的說，涉及一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

pcie(peripheralcomponentinterconnectexpress，一種高速串行計算機(jī)擴(kuò)展總線標(biāo)準(zhǔn))設(shè)備是一種支持暴力熱插拔功能的設(shè)備，比如現(xiàn)有技術(shù)中的pcie固態(tài)硬盤(solidstatedrives，ssd)，其暴力熱插拔功能主要通過pcieswitch芯片實(shí)現(xiàn)。pcieswitch芯片根據(jù)檢測到的pcie設(shè)備暴力熱插拔時的信號變化，對pcie設(shè)備的暴力熱插拔動作進(jìn)行判定并進(jìn)行相應(yīng)的處理，以避免連接pcie設(shè)備的系統(tǒng)出現(xiàn)宕機(jī)等問題。為保證pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的可靠性，通常需要對pcieswitch芯片暴力熱插拔功能進(jìn)行測試。

傳統(tǒng)測試方案中，一般將待測試pcieswitch芯片與nvme(non-volatilememoryexpress，一種接口協(xié)議)ssd連接，然后通過人工手動插拔nvmessd來檢測pcieswitch芯片的暴力熱插拔功能是否正常，實(shí)現(xiàn)對pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的測試。

然而，由于人工每次手動插拔nvmessd的過程都相對繁瑣和費(fèi)力，因此，手動插拔到一定次數(shù)后，手臂都會有酸痛的感覺，所以如何提供一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以解放人力是本領(lǐng)域技術(shù)人員亟需解決的技術(shù)問題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

有鑒于此，本發(fā)明公開一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)人力解放，節(jié)約人力成本。

一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：復(fù)雜可編程邏輯器件cpld、以及分別與所述cpld連接的pcie設(shè)備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數(shù)器和寄存器；

所述cpld用于將所述pcie設(shè)備被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和所述pcie設(shè)備被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在所述寄存器內(nèi)交替更換，對所述pcie設(shè)備的暴力熱插拔場景進(jìn)行模擬；

所述pcieswitch芯片用于從所述寄存器讀取設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息對應(yīng)的設(shè)備動作，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的處理，其中，所述設(shè)備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

優(yōu)選的，還包括：與所述pcieswitch芯片連接的中央處理器cpu；

所述cpu，用于在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據(jù)所述中斷信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，停止對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已斷開連接；

所述cpu，還用于在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據(jù)所述連接信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已連接。

一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法，所述方法由系統(tǒng)執(zhí)行，所述系統(tǒng)包括：復(fù)雜可編程邏輯器件cpld、以及分別與所述cpld連接的pcie設(shè)備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數(shù)器和寄存器；

所述方法包括：

所述cpld將所述pcie設(shè)備被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和所述pcie設(shè)備被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在所述寄存器內(nèi)交替更換，對所述pcie設(shè)備的暴力熱插拔場景進(jìn)行模擬；

所述pcieswitch芯片從所述寄存器讀取設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息對應(yīng)的設(shè)備動作，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的處理，其中，所述設(shè)備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

優(yōu)選的，當(dāng)所述系統(tǒng)還包括中央處理器cpu時，所述方法還包括：

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據(jù)所述中斷信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，停止對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已斷開連接；

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據(jù)所述連接信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已連接。

從上述的技術(shù)方案可知，本發(fā)明公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：cpld、以及分別與cpld連接的pcie設(shè)備和pcieswitch芯片，cpld將pcie設(shè)備被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和pcie設(shè)備被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在寄存器內(nèi)交替更換，對pcie設(shè)備的暴力熱插拔場景進(jìn)行模擬，pcieswitch芯片從寄存器讀取設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息對應(yīng)的設(shè)備動作，對pcie設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的處理。本發(fā)明通過cpld模擬pcie設(shè)備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設(shè)備的過程，從而不僅實(shí)現(xiàn)了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數(shù)，增加測試的可靠性。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)公開的附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例公開的另一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法及系統(tǒng)，以實(shí)現(xiàn)人力解放，節(jié)約人力成本。

參見圖1，本發(fā)明一實(shí)施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，該系統(tǒng)包括：cpld(omplexprogrammablelogicdevice，復(fù)雜可編程邏輯器件)11、以及分別與cpld11連接的pcie設(shè)備12和pcieswitch芯片13，其中，cpld11包括計數(shù)器和寄存器；

具體的：

cpld11用于將所述pcie設(shè)備12被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和所述pcie設(shè)備12被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在所述寄存器內(nèi)交替更換，對所述pcie設(shè)備12的暴力熱插拔場景進(jìn)行模擬。

在實(shí)際中，cpld11與pcie設(shè)備12可以通過gpio(generalpurposeinputoutput，通用輸入/輸出)接口連接，當(dāng)cpld11與pcie設(shè)備12連接后，cpld11首先會通過gpio接口讀取pcie設(shè)備12被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息，以及pcie設(shè)備12被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息，并進(jìn)行存儲；然后啟動計數(shù)器開始計時，將pcie設(shè)備12被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，通常為0，和pcie設(shè)備12被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，通過為1，按照預(yù)設(shè)周期在寄存器內(nèi)交替更換，即，周期性的模擬pcie設(shè)備12的暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

pcieswitch芯片13用于從所述寄存器讀取設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息對應(yīng)的設(shè)備動作，對所述pcie設(shè)備12進(jìn)行相應(yīng)的處理，其中，所述設(shè)備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

在實(shí)際中，pcieswitch芯片13通過與cpld11的連接總線，從寄存器讀取寄存器的值，從而得到與寄存器的值相對應(yīng)的設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息確定pcie設(shè)備12的設(shè)備動作，從而對pcie設(shè)備12進(jìn)行相應(yīng)的處理。

需要說明的是，pcie設(shè)備12的作用是：當(dāng)pcieswitch芯片13獲得設(shè)備在位信息后，與pcie設(shè)備12建立重新連接。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設(shè)備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設(shè)備的過程，從而不僅實(shí)現(xiàn)了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數(shù)，增加測試的可靠性。

為進(jìn)一步優(yōu)化上述實(shí)施例，參見圖2，本發(fā)明另一實(shí)施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖，在圖1所示實(shí)施例的基礎(chǔ)上，還包括：cpu(centralprocessingunit，中央處理器)14；

cpu14與pcieswitch芯片13連接，用于在pcieswitch芯片13確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片13生成并輸出的中斷信息，并根據(jù)所述中斷信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，停止對所述pcie設(shè)備12進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片13與所述pcie設(shè)備12已斷開連接；

可選地，作為本發(fā)明的一個實(shí)施例，當(dāng)cpu14接收pcieswitch芯片13發(fā)送的中斷信息時，cpu14仍保留pcie設(shè)備12的pcie資源，其中，pcie資源包括pcie設(shè)備12對應(yīng)的廠商的身份標(biāo)識符id、pcie設(shè)備的id、pcie設(shè)備所需的總線的id、pcie設(shè)備所具有的功能的id和pcie設(shè)備的內(nèi)存空間的地址資源。

所述cpu14，還用于在所述pcieswitch芯片13確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片13生成并輸出的連接信息，并根據(jù)所述連接信息中攜帶的所述pcie設(shè)備12的標(biāo)識，對所述pcie設(shè)備12進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片13與所述pcie設(shè)備12已連接。

本發(fā)明實(shí)施例中對cpld11的數(shù)量不做限定，可以為一個、兩個或多個。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設(shè)備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設(shè)備的過程，從而不僅實(shí)現(xiàn)了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數(shù)，增加測試的可靠性。

與上述系統(tǒng)實(shí)施例相對應(yīng)，本發(fā)明還公開了一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法。

參見圖3，本發(fā)明一實(shí)施例公開的一種測試pcieswitch芯片暴力熱插拔功能的方法流程圖，該方法由系統(tǒng)執(zhí)行，所述系統(tǒng)包括：cpld(omplexprogrammablelogicdevice，復(fù)雜可編程邏輯器件)、以及分別與所述cpld連接的pcie設(shè)備和pcieswitch芯片，其中，所述cpld包括計數(shù)器和寄存器；

所述方法包括：

步驟s101、所述cpld將所述pcie設(shè)備被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和所述pcie設(shè)備被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在所述寄存器內(nèi)交替更換，對所述pcie設(shè)備的暴力熱插拔場景進(jìn)行模擬；

在實(shí)際中，cpld11與pcie設(shè)備12可以通過gpio(generalpurposeinputoutput，通用輸入/輸出)接口連接，當(dāng)cpld11與pcie設(shè)備12連接后，cpld11首先會通過gpio接口獲取pcie設(shè)備12被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息，以及pcie設(shè)備12被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息，并進(jìn)行存儲；然后啟動計數(shù)器開始計時，將pcie設(shè)備12被暴力熱拔出時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，和pcie設(shè)備12被暴力熱插入時的設(shè)備在位信息對應(yīng)的寄存器的值，按照預(yù)設(shè)周期在寄存器內(nèi)交替更換，即，周期性的模擬pcie設(shè)備12的暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

步驟s102、所述pcieswitch芯片從所述寄存器讀取設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息對應(yīng)的設(shè)備動作，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的處理，其中，所述設(shè)備動作包括：暴力熱拔動作和暴力熱插動作。

在實(shí)際中，pcieswitch芯片13通過與cpld11的連接總線，從寄存器讀取寄存器的值，從而得到與寄存器的值相對應(yīng)的設(shè)備在位信息，并根據(jù)讀取的設(shè)備在位信息確定pcie設(shè)備12的設(shè)備動作，從而對pcie設(shè)備12進(jìn)行相應(yīng)的處理。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設(shè)備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設(shè)備的過程，從而不僅實(shí)現(xiàn)了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數(shù)，增加測試的可靠性。

為進(jìn)一步優(yōu)化上述實(shí)施例，當(dāng)系統(tǒng)還包括中央處理器cpu時，所述方法還包括：

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱拔動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的中斷信息，并根據(jù)所述中斷信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，停止對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述中斷信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已斷開連接；

所述cpu在所述pcieswitch芯片確定讀取的設(shè)備在位信息為暴力熱插動作時，接收所述pcieswitch芯片生成并輸出的連接信息，并根據(jù)所述連接信息中攜帶的所述pcie設(shè)備的標(biāo)識，對所述pcie設(shè)備進(jìn)行讀/寫操作；其中，所述連接信息用于指示所述pcieswitch芯片與所述pcie設(shè)備已連接。

可選地，作為本發(fā)明的一個實(shí)施例，當(dāng)cpu接收pcieswitch芯片發(fā)送的中斷信息時，cpu仍保留pcie設(shè)備的pcie資源，其中，pcie資源包括pcie設(shè)備對應(yīng)的廠商的身份標(biāo)識符id、pcie設(shè)備的id、pcie設(shè)備所需的總線的id、pcie設(shè)備所具有的功能的id和pcie設(shè)備的內(nèi)存空間的地址資源。

綜上可知，本發(fā)明通過cpld11模擬pcie設(shè)備暴力熱插拔的場景，代替了傳統(tǒng)人工插拔pcie設(shè)備的過程，從而不僅實(shí)現(xiàn)了人力的解放，節(jié)約了人力成本，而且還可以增加測試時長和次數(shù)，增加測試的可靠性。

最后，還需要說明的是，在本文中，諸如第一和第二等之類的關(guān)系術(shù)語僅僅用來將一個實(shí)體或者操作與另一個實(shí)體或操作區(qū)分開來，而不一定要求或者暗示這些實(shí)體或操作之間存在任何這種實(shí)際的關(guān)系或者順序。而且，術(shù)語“包括”、“包含”或者其任何其他變體意在涵蓋非排他性的包含，從而使得包括一系列要素的過程、方法、物品或者設(shè)備不僅包括那些要素，而且還包括沒有明確列出的其他要素，或者是還包括為這種過程、方法、物品或者設(shè)備所固有的要素。在沒有更多限制的情況下，由語句“包括一個……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的過程、方法、物品或者設(shè)備中還存在另外的相同要素。

本說明書中各個實(shí)施例采用遞進(jìn)的方式描述，每個實(shí)施例重點(diǎn)說明的都是與其他實(shí)施例的不同之處，各個實(shí)施例之間相同相似部分互相參見即可。

對所公開的實(shí)施例的上述說明，使本領(lǐng)域?qū)I(yè)技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)或使用本發(fā)明。對這些實(shí)施例的多種修改對本領(lǐng)域的專業(yè)技術(shù)人員來說將是顯而易見的，本文中所定義的一般原理可以在不脫離本發(fā)明的精神或范圍的情況下，在其它實(shí)施例中實(shí)現(xiàn)。因此，本發(fā)明將不會被限制于本文所示的這些實(shí)施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點(diǎn)相一致的最寬的范圍。