本發(fā)明涉及鏡面檢測領(lǐng)域，尤其涉及一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置和方法。

背景技術(shù)：

鏡面檢測是對鏡面的平滑度、完整度、是否存在缺陷等的檢測。對于鍍膜后的弧面反光鏡片，現(xiàn)有的檢測方法是通過人工在普通日照燈下通過擺動鏡片實現(xiàn)外觀缺陷檢測，然而這種人工檢測方法受檢測人經(jīng)驗、責任心等主觀因素影響，無法保證正確以及產(chǎn)品質(zhì)量長期穩(wěn)定。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置和方法，用于通過線掃相機獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片表面反射的發(fā)射光圖像檢測弧面反光鏡片表面缺陷，解決了現(xiàn)有的人工檢測方法存在的受檢測人經(jīng)驗、責任心等主觀因素影響、無法保證正確以及產(chǎn)品質(zhì)量長期穩(wěn)定的技術(shù)問題。

本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置，包括：對稱分布的兩排光源、對稱設(shè)置在所述光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜、設(shè)置在所述光源后面的線掃相機；

兩排所述光源之間設(shè)置有第一間隔；

兩排所述光源膜之間設(shè)置有第二間隔，且所述第二間隔的寬度與所述光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

所述第二間隔和所述第一間隔之間的連線與所述光源膜所在的平面垂直；

兩塊所述光源膜的組合長度和寬度分別大于待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

所述線掃相機的鏡頭設(shè)置在所述第一間隔和所述第二間隔之間連線的延長線上，用于獲取經(jīng)所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過所述第二間隔和所述第一間隔的反射光。

優(yōu)選地，

所述檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置還包括可移動的主體；

兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機均固定設(shè)置在可移動的所述主體上；

所述主體用于移動兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機，使得所述線掃相機依次掃過整個所述待測弧面反光鏡片表面并獲取經(jīng)所述待測弧面反光鏡片反射的反射光形成的明暗相間的完整圖像。

優(yōu)選地，

所述光源為led光源。

本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法，包括：

通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排所述光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，其中兩塊所述光源膜的組合長度和寬度分別大于所述待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

通過設(shè)置在所述光源后面的線掃相機獲取經(jīng)所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像，所述第一間隔為兩排所述光源之間的間隙，所述第二間隔為兩排所述光源膜之間的間隙，所述線掃相機的鏡頭設(shè)置在所述第一間隔和所述第二間隔之間連線的延長線上，所述第二間隔和所述第一間隔之間的連線與所述光源膜所在的平面垂直，所述第二間隔的寬度與所述光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

通過分析所述反射光圖像上明暗相間的光帶分析所述待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

優(yōu)選地，

通過設(shè)置在所述光源后面的線掃相機獲取經(jīng)所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像具體包括：

統(tǒng)一移動兩排所述光源、兩排所述光源膜、所述線掃相機，同時通過所述線掃相機獲取每個位置的經(jīng)所述待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光來獲取完整的反射光圖像。

從以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實施例具有以下優(yōu)點：

本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置和方法，用于先通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排所述光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，然后通過線掃相機獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片表面反射的發(fā)射光圖像，將弧面反光鏡片表面缺陷轉(zhuǎn)化到反射光圖像中，然后通過分析反射光圖像來分析弧面反光鏡片表面缺陷，整個檢測過程可以通過自動化完成，解決了現(xiàn)有的人工檢測方法存在的受檢測人經(jīng)驗、責任心等主觀因素影響、無法保證正確以及產(chǎn)品質(zhì)量長期穩(wěn)定的技術(shù)問題。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例提供的一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置的一個實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例提供的一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法的第一實施例的流程示意圖；

圖3為本發(fā)明實施例提供的一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法的第二實施例的流程示意圖；

圖4為通過本發(fā)明實施例提供的一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置獲取到的發(fā)射光圖像的一個實施例的示意圖。

具體實施方式

本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置和方法，用于通過線掃相機獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片表面反射的發(fā)射光圖像檢測弧面反光鏡片表面缺陷，解決了現(xiàn)有的人工檢測方法存在的受檢測人經(jīng)驗、責任心等主觀因素影響、無法保證正確以及產(chǎn)品質(zhì)量長期穩(wěn)定的技術(shù)問題。

為使得本發(fā)明的發(fā)明目的、特征、優(yōu)點能夠更加的明顯和易懂，下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，下面所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而非全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

請參閱圖1和圖4，本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的裝置的一個實施例，包括：對稱分布的兩排光源1、對稱設(shè)置在光源1前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜2、設(shè)置在光源1后面的線掃相機5、可移動的主體，其中，光源1可以為led光源1，可以理解的是，通過在光源1前面設(shè)置黑白條紋相間的兩塊光源膜2，使得光源1發(fā)射的光只通過光源膜2上白條紋發(fā)射到待測弧面反光鏡片表面，需要說明的是，本發(fā)明實施例中提及的前面是指向光側(cè)，即可以接受光源1照射一側(cè)，后面是指背向光源1一側(cè)，即接收不到光源1照射一側(cè)；

兩排光源1之間設(shè)置有第一間隔3；

兩排光源膜2之間設(shè)置有第二間隔4，且第二間隔4的寬度與光源膜2上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

第二間隔4和第一間隔3之間的連線與光源膜2所在的平面垂直；

兩塊光源膜2的組合長度和寬度分別大于待測弧面反光鏡片的長度和寬度，為的是使經(jīng)過光源膜2的光線可以覆蓋待測弧面反光鏡片的所有區(qū)域；

線掃相機5的鏡頭6設(shè)置在第一間隔3和第二間隔4之間連線的延長線上，用于獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔4和第一間隔3的反射光；

兩排光源1、兩排光源膜2、線掃相機5均固定設(shè)置在可移動的主體上；

主體用于移動兩排光源1、兩排光源膜2、線掃相機5，使得線掃相機5依次掃過整個待測弧面反光鏡片表面并獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔4和第一間隔3的反射光形成的明暗相間的完整圖像。

在本發(fā)明實施例中，光源1發(fā)射的光首先通過光源膜2上白條紋發(fā)射到待測弧面反光鏡片表面，經(jīng)待測弧面反光鏡片表面反射且依次穿過第二間隔4和第一間隔3被線掃相機5的鏡頭6獲取，此時線掃相機5獲取的是經(jīng)待測弧面反光鏡片表面的一個位置反射的發(fā)生光，通過移動主體，帶動兩排光源1、兩排光源膜2、線掃相機5一起運動，從而獲得經(jīng)整個測弧面反光鏡片表面反射形成的完整發(fā)射光圖像，如圖4所示，最后通過完整反射光圖像上明暗相間的光帶分析待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

請參閱圖2和圖4，本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法的第一實施例，包括：

201，通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，其中兩塊光源膜的組合長度和寬度分別大于待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

202，通過設(shè)置在光源后面的線掃相機獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像，第一間隔為兩排光源之間的間隙，第二間隔為兩排光源膜之間的間隙，線掃相機的鏡頭設(shè)置在第一間隔和第二間隔之間連線的延長線上，第二間隔和第一間隔之間的連線與光源膜所在的平面垂直，第二間隔的寬度與光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

203，通過分析反射光圖像上明暗相間的光帶分析待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

在本發(fā)明實施例中，首先需要通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，然后需要通過設(shè)置在光源后面的線掃相機獲取經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光圖像，最后通過分析反射光圖像上明暗相間的光帶分析待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

請參閱圖3和圖4，本發(fā)明實施例提供了一種檢測弧面反光鏡片表面缺陷的方法的第二實施例，包括：

301，通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，其中兩塊光源膜的組合長度和寬度分別大于待測弧面反光鏡片的長度和寬度；

302，統(tǒng)一移動兩排光源、兩排光源膜、線掃相機，同時通過線掃相機獲取每個位置的經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光來獲取完整的反射光圖像，第一間隔為兩排光源之間的間隙，第二間隔為兩排光源膜之間的間隙，線掃相機的鏡頭設(shè)置在第一間隔和第二間隔之間連線的延長線上，第二間隔和第一間隔之間的連線與光源膜所在的平面垂直，第二間隔的寬度與光源膜上的黑條紋及白條紋的寬度相等；

303，通過分析反射光圖像上明暗相間的光帶分析待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

在本發(fā)明實施例中，首先需要通過對稱分布的兩排光源和對稱設(shè)置在兩排光源前面的黑白條紋相間的兩塊光源膜產(chǎn)生入射光并照射在待測弧面反光鏡片表面，然后統(tǒng)一移動兩排光源、兩排光源膜、線掃相機，同時通過線掃相機獲取每個位置的經(jīng)待測弧面反光鏡片反射且依次穿過第二間隔和第一間隔的反射光來獲取完整的反射光圖像，最后通過分析反射光圖像上明暗相間的光帶分析待測弧面反光鏡片的表面缺陷。

所屬領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統(tǒng)，裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。

在本申請所提供的幾個實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的系統(tǒng)，裝置和方法，可以通過其它的方式實現(xiàn)。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現(xiàn)時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結(jié)合或者可以集成到另一個系統(tǒng)，或一些特征可以忽略，或不執(zhí)行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。

所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網(wǎng)絡(luò)單元上?？梢愿鶕?jù)實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現(xiàn)本實施例方案的目的。

另外，在本發(fā)明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現(xiàn)，也可以采用軟件功能單元的形式實現(xiàn)。

所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現(xiàn)并作為獨立的產(chǎn)品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質(zhì)中?；谶@樣的理解，本發(fā)明的技術(shù)方案本質(zhì)上或者說對現(xiàn)有技術(shù)做出貢獻的部分或者該技術(shù)方案的全部或部分可以以軟件產(chǎn)品的形式體現(xiàn)出來，該計算機軟件產(chǎn)品存儲在一個存儲介質(zhì)中，包括若干指令用以使得一臺計算機設(shè)備(可以是個人計算機，服務(wù)器，或者網(wǎng)絡(luò)設(shè)備等)執(zhí)行本發(fā)明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質(zhì)包括：u盤、移動硬盤、只讀存儲器(rom，read-onlymemory)、隨機存取存儲器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質(zhì)。

以上所述，以上實施例僅用以說明本發(fā)明的技術(shù)方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發(fā)明進行了詳細的說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當理解：其依然可以對前述各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。