本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)測(cè)試領(lǐng)域，具體的說是一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法和裝置。

背景技術(shù)：

目前對(duì)計(jì)算機(jī)性能和穩(wěn)定性的要求不斷提高，而內(nèi)存是計(jì)算機(jī)中重要的部件之一，內(nèi)存的運(yùn)行也決定了計(jì)算機(jī)的穩(wěn)定運(yùn)行，是計(jì)算機(jī)產(chǎn)品性能一個(gè)重要衡量標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)內(nèi)存應(yīng)用的不斷增加，內(nèi)存衍生品的市場(chǎng)需求也不斷增加，比如為了便于產(chǎn)品開發(fā)設(shè)計(jì)而出現(xiàn)的內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡。

在計(jì)算機(jī)產(chǎn)品出廠之前，會(huì)進(jìn)行各種部件功能測(cè)試，以確保產(chǎn)品性能的穩(wěn)定性和優(yōu)良率。在內(nèi)存使用中增加內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡后，勢(shì)必會(huì)對(duì)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡傳輸信息的穩(wěn)定性和完整性、有效性等進(jìn)行測(cè)試。通常對(duì)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡進(jìn)行測(cè)試采用的方法是，在計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)下進(jìn)行測(cè)試，這種方式需要在操作系統(tǒng)中安裝測(cè)試工具和相應(yīng)驅(qū)動(dòng)，并且啟動(dòng)操作系統(tǒng)耗時(shí)較長。當(dāng)大批量計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡需要測(cè)試時(shí)，逐個(gè)進(jìn)行測(cè)試，勢(shì)必會(huì)浪費(fèi)大量人力和時(shí)間，測(cè)試效率很低。

因此，開發(fā)一種簡(jiǎn)單快捷的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法，基于uefi進(jìn)行計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試。uefi（unifiedextensiblefirmwareinterface，統(tǒng)一的可擴(kuò)展固件接口）是intel為pc固件的體系結(jié)構(gòu)、接口和服務(wù)提出的建議標(biāo)準(zhǔn)，用于操作系統(tǒng)自動(dòng)從預(yù)啟動(dòng)的操作環(huán)境，加載到一種操作系統(tǒng)上，提供一組在操作系統(tǒng)加載之前（啟動(dòng)前），在所有平臺(tái)上一致的、正確指定的啟動(dòng)服務(wù)。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明針對(duì)目前技術(shù)發(fā)展的需求和不足之處，提供一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法和裝置。

本發(fā)明所述一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法和裝置，解決上述技術(shù)問題采用的技術(shù)方案如下：所述基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法，通過一測(cè)試u盤來測(cè)試一計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡，將內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在所述計(jì)算機(jī)中，內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡連接內(nèi)存，同時(shí)將測(cè)試u盤插接在所述計(jì)算機(jī)上，所述測(cè)試u盤中含有內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試程序和所述計(jì)算機(jī)的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息；所述計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法主要實(shí)現(xiàn)步驟如下：

1）計(jì)算機(jī)上電；

2）進(jìn)入biossetup，設(shè)置第一啟動(dòng)項(xiàng)為bootfrombuild-inefishell；

3）接入測(cè)試u盤，通過uefi啟動(dòng)startup.nsh腳本引導(dǎo)進(jìn)入測(cè)試u盤；

4）通過測(cè)試u盤中測(cè)試程序收集所述計(jì)算機(jī)的內(nèi)存相關(guān)信息；

5）對(duì)獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計(jì)算，與測(cè)試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成所述計(jì)算機(jī)中內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡的測(cè)試操作。

優(yōu)選的，所述測(cè)試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，有所述計(jì)算機(jī)硬件平臺(tái)支持rank_num，以及與所述計(jì)算機(jī)硬盤平臺(tái)兼容的相應(yīng)內(nèi)存類型對(duì)應(yīng)的spd信息，以及計(jì)算writeleveling所需的延時(shí)數(shù)據(jù)。

優(yōu)選的，對(duì)獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計(jì)算，然后將獲取的內(nèi)存信息、writeleveling延時(shí)計(jì)算值與測(cè)試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計(jì)算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試通過；否則此內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡內(nèi)存設(shè)備測(cè)試不通過。

一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試裝置，其結(jié)構(gòu)主要包括一計(jì)算機(jī)、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡和測(cè)試u盤，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在所述計(jì)算機(jī)中，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡上插接有內(nèi)存，所述測(cè)試u盤同樣連接在所述計(jì)算機(jī)上；

對(duì)所述計(jì)算機(jī)設(shè)置biossetup啟動(dòng)順序，設(shè)置第一啟動(dòng)項(xiàng)為：bootfrombuild-inefishell；所述測(cè)試u盤中含有內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試程序，通過該測(cè)試程序所述測(cè)試u盤能夠收集所述計(jì)算機(jī)的內(nèi)存相關(guān)信息；同時(shí)所述測(cè)試u盤中包含所述計(jì)算機(jī)的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，將測(cè)試u盤收集到的內(nèi)存信息與測(cè)試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試。

本發(fā)明所述一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法和裝置，與現(xiàn)有技術(shù)相比具有的有益效果是：本發(fā)明基于uefi進(jìn)行計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試，不需要計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)支持即可實(shí)現(xiàn)，克服了現(xiàn)有計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)下進(jìn)行內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試所有的缺陷，簡(jiǎn)單快捷，維護(hù)方便，極大提高了測(cè)試效率，節(jié)省了測(cè)試成本，提高了內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試準(zhǔn)確性。

附圖說明

附圖1為基于uefi進(jìn)行計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試的流程圖。

具體實(shí)施方式

為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合具體實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明所述一種基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法進(jìn)一步詳細(xì)說明。

實(shí)施例：

本實(shí)施例所述基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試裝置，主要包括一計(jì)算機(jī)、內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡和測(cè)試u盤，所述內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡插接在該計(jì)算機(jī)中，所述轉(zhuǎn)接卡上插接有內(nèi)存，所述測(cè)試u盤同樣連接在該計(jì)算機(jī)上；

對(duì)所述計(jì)算機(jī)設(shè)置biossetup啟動(dòng)順序，設(shè)置第一啟動(dòng)項(xiàng)：bootfrombuild-inefishell；所述測(cè)試u盤中含有相應(yīng)測(cè)試程序，通過該測(cè)試程序所述測(cè)試u盤能夠收集內(nèi)存設(shè)備的相關(guān)信息；同時(shí)所述測(cè)試u盤中包含該計(jì)算機(jī)的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，將測(cè)試u盤收集到的內(nèi)存設(shè)備信息與測(cè)試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，進(jìn)行計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試。

通過所述測(cè)試u盤收集內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息，并對(duì)獲取的內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息進(jìn)行計(jì)算，將獲取的內(nèi)存設(shè)備信息、計(jì)算結(jié)果與所述測(cè)試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計(jì)算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則表明該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試通過，否則表明該內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試不通過。

所述測(cè)試u盤中包含有所述計(jì)算機(jī)硬盤平臺(tái)支持的rank_num，以及與本平臺(tái)兼容的相應(yīng)內(nèi)存設(shè)備類型對(duì)應(yīng)的spd信息，如內(nèi)存容量等，以及計(jì)算writeleveling所需的延時(shí)數(shù)據(jù)。

內(nèi)存spd信息是內(nèi)存模組上面的一個(gè)可擦寫的rom，里面記錄了該內(nèi)存的許多重要信息，諸如內(nèi)存的芯片及模組廠商、工作頻率、工作電壓、速度、容量、電壓與行、列地址帶寬等參數(shù)。

采用本實(shí)施例所述基于uefi的計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試裝置，實(shí)現(xiàn)了一種計(jì)算機(jī)內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試方法，如附圖1所示，其具體實(shí)現(xiàn)步驟如下：

1）計(jì)算機(jī)上電；

2）進(jìn)入biossetup，設(shè)置第一啟動(dòng)項(xiàng)為bootfrombuild-inefishell；

3）接入測(cè)試u盤，uefi啟動(dòng)startup.nsh腳本引導(dǎo)進(jìn)入測(cè)試u盤；

4）通過測(cè)試u盤中測(cè)試程序收集該計(jì)算機(jī)的內(nèi)存設(shè)備相關(guān)信息；

5）對(duì)獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計(jì)算，與測(cè)試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，完成該計(jì)算機(jī)中內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡的測(cè)試操作。

步驟5）中，所述測(cè)試u盤中包含的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息，有所述計(jì)算機(jī)硬件平臺(tái)支持rank_num，以及與該平臺(tái)兼容的相應(yīng)內(nèi)存設(shè)備類型對(duì)應(yīng)的spd信息，以及計(jì)算writeleveling所需的延時(shí)數(shù)據(jù)。

步驟5）中，將獲取到的內(nèi)存信息進(jìn)行計(jì)算，然后將獲取的內(nèi)存信息、writeleveling延時(shí)計(jì)算值與測(cè)試u盤中的內(nèi)存數(shù)據(jù)信息進(jìn)行比較，若計(jì)算結(jié)果在內(nèi)存數(shù)據(jù)范圍內(nèi)則內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡測(cè)試通過；否則此內(nèi)存轉(zhuǎn)接卡內(nèi)存設(shè)備測(cè)試不通過。

具體實(shí)施方式僅是本發(fā)明的具體個(gè)案，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍包括但不限于上述具體實(shí)施方式，任何符合本發(fā)明的權(quán)利要求書的且任何所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員對(duì)其所做的適當(dāng)變化或替換，皆應(yīng)落入本發(fā)明的專利保護(hù)范圍。