本實用新型涉及通信電子領域,特別是用于Android系統(tǒng)ADB調(diào)試的硬件系統(tǒng),具體為一種ADB調(diào)試系統(tǒng)。
背景技術(shù):
現(xiàn)在越來越多的產(chǎn)品配置了嵌入式系統(tǒng),特別是工業(yè)領域所使用的智能化產(chǎn)品。而且產(chǎn)品開發(fā)周期越來越短,對產(chǎn)品的穩(wěn)定性的影響也越來越大。而由于接口,外觀,成本等方面的限制,在出廠時很難將未來可能需要維護時使用的調(diào)試接口外置。在出現(xiàn)故障時,由于產(chǎn)品實際裝配以及現(xiàn)場環(huán)境限制,無法進行實地維護。對故障產(chǎn)品的更換又會增加成本。
即使可以維護,也需要拆機,通過內(nèi)部的調(diào)試接口進行。這對于特定的現(xiàn)場既有安全上的隱患,又不符合市場對于安全、高效、低成本的要求。
解決以上問題的方案之一是在產(chǎn)品的隱性位置暗置調(diào)試接口,比如銘牌下面。但是這又會帶來產(chǎn)品的安全性,成本等問題。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
本實用新型的目的是:提供一種ADB調(diào)試系統(tǒng),解決了現(xiàn)有技術(shù)中一種或以上的技術(shù)缺陷。
實現(xiàn)上述目的的技術(shù)方案是:一種ADB調(diào)試系統(tǒng),裝配于嵌入式系統(tǒng),所述ADB調(diào)試系統(tǒng)包括一ADB調(diào)試器接口及一處理器單元。所述ADB調(diào)試器接口裝配于該嵌入式系統(tǒng)上,所述ADB調(diào)試器接口用于連接外部的調(diào)試設備;所述處理器單元連接于所述ADB調(diào)試器接口;其中,所述ADB調(diào)試器接口包括一保護單元及一RJ45接口單元,所述保護單元連接于所述處理器單元;所述RJ45接口單元連接于所述保護單元;所述RJ45接口單元用于連接所述調(diào)試設備,所述調(diào)試設備裝配有ADB調(diào)試器;當調(diào)試時,所述處理器單元用于接收和驗證所述ADB調(diào)試器發(fā)送的解鎖碼;當所述解鎖碼驗證通過,所述處理器單元用于控制所述保護單元,通過所述保護單元連通所述ADB調(diào)試器與ADB調(diào)試系統(tǒng)。
在本實用新型一實施例中,所述保護單元包括一通信單元及一ADB開關(guān)單元,所述通信單元用于所述ADB調(diào)試器與所述處理器單元之間的通信;所述處理器單元通過所述ADB開關(guān)單元控制所述通信單元;
在本實用新型一實施例中,所述RJ45接口單元包括一基礎百兆網(wǎng)接口單元、一通信接口單元以及一ADB接口單元。
在本實用新型一實施例中,所述ADB調(diào)試器包括一USB-百兆網(wǎng)線接口和UART-TX接口。
在本實用新型一實施例中,所述處理器單元包括一處理器主控單元、一處理器存儲單元、一處理器內(nèi)存單元及一處理器電源單元。所述處理器主控單元用于處理各種數(shù)據(jù),包括用于接收和驗證所述ADB調(diào)試器發(fā)送的解鎖碼以及控制所述保護單元;所述處理器存儲單元用于存儲各種非易失性數(shù)據(jù);所述處理器內(nèi)存單元用于存儲所述處理器主控單元所調(diào)用的數(shù)據(jù);所述處理器電源單元用于為所述處理器單元提供電源;所述處理器存儲單元、處理器內(nèi)存單元、處理器電源單元均連接于所述處理器主控單元。
本實用新型的優(yōu)點是:本實用新型的ADB調(diào)試系統(tǒng),配置了具有便捷性、低成本,高可靠性的可進行方便快捷現(xiàn)場調(diào)試的ADB調(diào)試接口,此基于含百兆有線網(wǎng)絡產(chǎn)品的ADB調(diào)試器接口,使得在不額外增加外圍電路以及外接接口的情況下,利用現(xiàn)有的板上資源就可以很簡單的構(gòu)建一套后期用于維護調(diào)試的環(huán)境,為產(chǎn)品的維護帶來了極大的方便,同時可以提升產(chǎn)品的安全性能,增加調(diào)試的安全性,又降低了成本,而且沒有專門外置調(diào)試口,產(chǎn)品美觀;維護時不需要拆機,操作簡潔;沒有裸露調(diào)試接口,是產(chǎn)品具有高可靠性的特點。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型作進一步解釋。
圖1為本實用新型實施例的ADB調(diào)試系統(tǒng)模塊示意圖;
圖2為本實用新型實施例的處理器單元模塊示意圖;
圖3為本實用新型實施例的保護單元模塊示意圖;
圖4為本實用新型實施例的RJ45接口單元模塊示意圖;
圖5為本實用新型實施例的RJ45接口單元結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6為本實用新型實施例的ADB調(diào)試器模塊示意圖;
圖7為本實用新型實施例的調(diào)試流程圖;
圖8為本實用新型實施例的ADB接口單元中各個模塊單元與其他單元的連接結(jié)構(gòu)示意圖。
其中:
100、ADB調(diào)試器接口; 200、處理器單元;
210、處理器主控單元; 220、處理器存儲單元;
230、處理器內(nèi)存單元; 240、處理器電源單元;
300、保護單元; 310、通信單元;
320、ADB開關(guān)單元; 400、RJ45接口單元;
410、基礎百兆網(wǎng)接口單元; 420、通信接口單元;
430、ADB接口單元; 500、ADB調(diào)試器;
510、USB-百兆網(wǎng)線接口; 520、UART-TX接口;
600調(diào)試設備; 700 ADB調(diào)試系統(tǒng)。
具體實施方式
以下實施例的說明是參考附加的圖式,用以例示本實用新型可用以實施的特定實施例。本實用新型所提到的方向用語,例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「頂」、「底」等,僅是參考附加圖式的方向。因此,使用的方向用語是用以說明及理解本實用新型,而非用以限制本實用新型。
實施例,如圖1所示,一種ADB調(diào)試系統(tǒng),該ADB調(diào)試系統(tǒng)700裝配于嵌入式系統(tǒng),ADB調(diào)試系統(tǒng)700包括一ADB調(diào)試器接口100、一處理器單元200以及調(diào)試設備。
其中,ADB調(diào)試器接口100裝配于該嵌入式系統(tǒng)上,ADB調(diào)試器接口100用于連接外部的調(diào)試設備。具體的、ADB調(diào)試器接口100包括一保護單元300、一RJ45接口單元400。
如圖2所示,處理器單元200連接于所述ADB調(diào)試器接口100;其中,所述處理器單元200包括一處理器主控單元210、一處理器存儲單元220、一處理器內(nèi)存單元230以及一處理器電源單元240。處理器主控單元210用于處理各種數(shù)據(jù),包括用于接收和驗證所述ADB調(diào)試器500發(fā)送的解鎖碼以及控制所述保護單元300;處理器存儲單元220用于存儲各種非易失性數(shù)據(jù)等;處理器內(nèi)存單元230用于存儲所述處理器主控單元210所調(diào)用的數(shù)據(jù);處理器電源單元240用于為處理器單元200提供電源;處理器存儲單元220、處理器內(nèi)存單元230、處理器電源單元240均連接于所述處理器主控單元210。
如圖3所示,保護單元300連接于處理器單元200;RJ45接口單元400連接于保護單元300,RJ45接口單元400用于連接所述調(diào)試設備,調(diào)試設備裝配有ADB調(diào)試器500。
其中,保護單元300包括一所述通信單元310、一ADB開關(guān)單元320。通信單元310用于所述ADB調(diào)試器500與所述處理器單元200之間的通信。處理器單元通過所述ADB開關(guān)單元320控制通信單元310。
如圖4所示,RJ45接口單元400包括一基礎百兆網(wǎng)接口單元410、一通信接口單元420以及一ADB接口單元430。RJ45接口單元400中的各個接口單元用于連接對應的外部設備,如ADB接口單元430用于連接外部的調(diào)試設備,通信接口單元420用于連接外部的調(diào)試設備的通信電路,基礎百兆網(wǎng)接口單元410用于連接網(wǎng)絡。
如圖5所示,其中保護單元300是在ADB調(diào)試器500與處理器單元200之間建立的專有ADB開關(guān)單元320, ADB開關(guān)單元320受處理器單元200控制。RJ45接口單元400是利用RJ45在百兆網(wǎng)應用下NC的四個引腳進行設計的。
NC腳位包括NC1、NC2、NC3,NC腳位作為ADB調(diào)試器500與保護單元300之間的連接通道。其中保護單元300中的通信單元310是直接通過RJ45接口單元400連接處理器單元200與ADB調(diào)試器的。
如圖6所示,ADB調(diào)試器500包括一USB-百兆網(wǎng)線接口510和UART-TX接口520。
在實際應用時,如圖7、圖8所示,當調(diào)試時,所述處理器單元200用于接收和驗證所述ADB調(diào)試器500發(fā)送的解鎖碼;當所述解鎖碼驗證通過,所述處理器單元200用于控制所述保護單元300,通過所述保護單元300連通所述ADB調(diào)試器500與ADB調(diào)試系統(tǒng)。即:操作人員用ADB調(diào)試器500通過外部的調(diào)試設備600向連接的RJ45接口單元400發(fā)送自定義協(xié)議的解鎖碼,該解鎖碼通過保護單元300被送達到處理器單元200。
具體的,解鎖碼經(jīng)過處理器單元200的校驗核對,如果該解鎖碼正確,保護單元300中的ADB開關(guān)單元320將被打開,此時調(diào)試設備600即可與處理器單元200通過通信單元310連接,即可進行維護所需要的所有操作。
而ADB開關(guān)單元320則是通過有集成電路及開關(guān)完成連接,在ADB調(diào)試器500通過通信單元310完成與處理器單元200的通信,并且所發(fā)送的解鎖碼正確無誤,則處理器單元200將通過集成電路打開ADB開關(guān)單元320的開關(guān)。此時,整個ADB調(diào)試系統(tǒng)700完成搭建,后期的維護工作便可以進行了。
以上僅為本實用新型的較佳實施例而已,并不用以限制本實用新型,凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進等,均應包含在本實用新型的保護范圍之內(nèi)。