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      一種指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法與流程

      文檔序號(hào):39345187發(fā)布日期:2024-09-10 12:08閱讀:27來源:國知局
      一種指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法與流程

      本發(fā)明涉及一種指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法,屬于計(jì)算機(jī)視覺和電力系統(tǒng)監(jiān)測(cè)領(lǐng)域。


      背景技術(shù):

      1、傳統(tǒng)變電站內(nèi)的指針式儀表讀數(shù)通常需要依賴人工操作,這種方式存在著讀數(shù)不準(zhǔn)確、效率低下等問題。此外,由于變電站環(huán)境復(fù)雜,常常面臨光照不均、視角復(fù)雜等挑戰(zhàn),傳統(tǒng)的人工讀數(shù)方法往往無法滿足實(shí)際需求。為了解決這些問題,人們開始研究使用計(jì)算機(jī)視覺和機(jī)器學(xué)習(xí)技術(shù)來實(shí)現(xiàn)指針式儀表讀數(shù)的智能識(shí)別。

      2、計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)的發(fā)展使得高清晰度攝像頭成為了實(shí)現(xiàn)智能識(shí)別的關(guān)鍵工具之一。攝像頭可以捕獲變電站內(nèi)儀表的圖像,并將其輸入到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)中進(jìn)行分析和處理。然而,由于變電站環(huán)境的特殊性,圖像可能會(huì)受到光照、角度等因素的影響,例如對(duì)光照和角度的敏感性以及前景和背景類別不平衡,導(dǎo)致指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的魯棒性和準(zhǔn)確性較低,


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、本公開的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)中的不足,提供一種提升指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的魯棒性和準(zhǔn)確性的指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法。

      2、為達(dá)到上述目的,本公開是采用下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:

      3、第一方面,本公開提供一種指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法,

      4、獲取包含指針式儀表設(shè)備的圖像;

      5、采用目標(biāo)檢測(cè)模型確定所述圖像中指針式儀表設(shè)備的位置,根據(jù)確定的位置從所述圖像中提取僅包含指針式儀表設(shè)備的特征圖;

      6、將所述特征圖輸入卷積網(wǎng)絡(luò)模型,在特征圖中分別對(duì)表盤和指針進(jìn)行特征提??;

      7、對(duì)提取出的表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,獲得擬合矯正后的特征圖;

      8、從擬合矯正后的特征圖中分割出指針的擬合輪廓,獲取指針的角度讀數(shù)。

      9、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述采用目標(biāo)檢測(cè)模型確定所述圖像中指針式儀表設(shè)備的位置,根據(jù)確定的位置從所述圖像中提取僅包含指針式儀表設(shè)備的特征圖,包括,

      10、所述目標(biāo)檢測(cè)模型為改進(jìn)的yolov5s目標(biāo)檢測(cè)模型,所述yolov5s目標(biāo)檢測(cè)模型的改進(jìn)方法如下:

      11、采用焦點(diǎn)損失focal?loss損失函數(shù)替換掉yolov5s目標(biāo)檢測(cè)模型中的交叉熵?fù)p失函數(shù),所述focal?loss損失函數(shù)的公式如下:

      12、fl(pt)=-αt(1-pt)γlog(pt);

      13、式中,pt為yolov5s目標(biāo)檢測(cè)模型針對(duì)每個(gè)類型的指針式儀表設(shè)備的預(yù)測(cè)概率,αt為權(quán)重因子,γ為調(diào)整參數(shù),fl為focal?loss損失函數(shù)的輸出。

      14、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述對(duì)提取出的表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,包括,

      15、采用隨機(jī)抽樣一致ransac迭代算法區(qū)分提取后的特征圖中的表盤輪廓獲取多組橢圓內(nèi)點(diǎn)的橢圓內(nèi)點(diǎn)數(shù)量,還獲取每組組橢圓內(nèi)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的橢圓幾何參數(shù);

      16、篩選出橢圓內(nèi)點(diǎn)數(shù)量最多的一組橢圓內(nèi)點(diǎn),橢圓內(nèi)點(diǎn)數(shù)量最多的一組橢圓內(nèi)點(diǎn)進(jìn)行最小二乘法求解,獲得最終的橢圓幾何參數(shù),根據(jù)最終的橢圓幾何參數(shù)擬合表盤的輪廓;

      17、其中,每一組橢圓內(nèi)點(diǎn)數(shù)量及其橢圓幾何參數(shù)的獲取方法:

      18、建立平面直角坐標(biāo)系,從表盤輪廓中選取至少五個(gè)輪廓點(diǎn)(x1,y1)、(x2,y2)、...、(xn,yn);

      19、根據(jù)被選取的輪廓點(diǎn)構(gòu)建橢圓方程,所述橢圓方程如下:

      20、

      21、式中,a、b、c、d和e均為橢圓幾何參數(shù),x和y分別為輪廓點(diǎn)的x軸與y軸坐標(biāo),n為被選取的輪廓點(diǎn)的數(shù)量,n≥5;

      22、求取橢圓方程中橢圓幾何參數(shù);

      23、根據(jù)橢圓幾何參數(shù),計(jì)算表盤輪廓中每個(gè)輪廓點(diǎn)到橢圓的距離,距離獲取公式如下:

      24、di=|axi2+bxiyi+cyi2+dxi+eyi-1|,

      25、式中,d為數(shù)據(jù)點(diǎn)到橢圓的距離,i為表盤輪廓中每個(gè)輪廓點(diǎn)的序號(hào),di為第i個(gè)輪廓點(diǎn)到橢圓的距離,xi和yi分別為第i個(gè)輪廓點(diǎn)的x軸坐標(biāo)和y軸坐標(biāo);

      26、根據(jù)數(shù)據(jù)點(diǎn)到橢圓的距離判斷數(shù)據(jù)點(diǎn)是否為橢圓內(nèi)點(diǎn);

      27、統(tǒng)計(jì)橢圓內(nèi)點(diǎn)的數(shù)量。

      28、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述對(duì)提取出的表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,還包括,

      29、在表盤的擬合輪廓中選取長(zhǎng)軸兩端和短軸兩端的四個(gè)輪廓點(diǎn),在表盤的理論平面輪廓選取同樣位置的輪廓點(diǎn);

      30、建立空間直角坐標(biāo)系,根據(jù)擬合輪廓點(diǎn)和理論平面輪廓點(diǎn)在平面直角坐標(biāo)系的坐標(biāo),分別確定擬合輪廓點(diǎn)和理論平面輪廓點(diǎn)的在空間直角坐標(biāo)系上的齊次坐標(biāo);

      31、確定擬合輪廓點(diǎn)和理論平面輪廓點(diǎn)投影到空間直角坐標(biāo)系中的共同空間坐標(biāo),根據(jù)擬合輪廓點(diǎn)和理論平面輪廓點(diǎn)的齊次坐標(biāo),以及共同空間坐標(biāo),獲取透視變換矩陣,所述透視變換矩陣的獲取公式如下:

      32、

      33、

      34、式中,t為透視變換矩陣,t11,t12,t21,t22,t31,t32分別為透視變換矩陣中的旋轉(zhuǎn)量,t13,t23,t33分別為透視變換矩陣中的平移量,a為共同空間坐標(biāo)的x軸坐標(biāo)值,b為共同空間坐標(biāo)的y軸坐標(biāo)值,c為共同空間坐標(biāo)的z軸坐標(biāo)值,u為擬合輪廓點(diǎn)的齊次坐標(biāo)的x軸坐標(biāo)值,v為擬合輪廓點(diǎn)的齊次坐標(biāo)的y軸坐標(biāo)值,u′為理論平面輪廓點(diǎn)的齊次坐標(biāo)的x軸坐標(biāo)值,v′為理論平面輪廓點(diǎn)的齊次坐標(biāo)的y軸坐標(biāo)值;

      35、根據(jù)透視變換矩陣將表盤的擬合輪廓矯正為理論平面輪廓。

      36、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述對(duì)提取出的表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,還包括,

      37、根據(jù)統(tǒng)一度數(shù)的刻度弧端點(diǎn)在理論平面輪廓和擬合輪廓中投射點(diǎn)位置獲取刻度線的矯正角度,所述矯正角度的獲取公式如下:

      38、

      39、式中,θscalelines為矯正角度,o為表盤的原點(diǎn),m為刻度弧端點(diǎn)在擬合輪廓中投射點(diǎn)位置,n為刻度弧端點(diǎn)理論平面輪廓中投射點(diǎn)位置;

      40、根據(jù)矯正角度構(gòu)建仿射旋轉(zhuǎn)矩陣,將表盤的刻度線矯正為理論平面刻度線,仿射旋轉(zhuǎn)矩陣如下:

      41、

      42、式中,u′scalelines為矯正后表盤的刻度線在x軸的坐標(biāo)值,v′scalelines為矯正后表盤的刻度線在y軸的坐標(biāo)值,uscalelines為矯正前表盤的刻度線在x軸的坐標(biāo)值,vscalelines為矯正前表盤的刻度線在y軸的坐標(biāo)值。

      43、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述對(duì)提取出的表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,包括,

      44、將分割后的特征圖中指針輪廓點(diǎn)整理為原始輪廓點(diǎn)集;

      45、對(duì)原始輪廓點(diǎn)集進(jìn)行多邊形逼近,獲取擬合輪廓點(diǎn)集,多邊形逼近公式如下:

      46、papprox=approxpolydp(pcontour,∈,closed),

      47、式中,approxpolydp為多邊擬合函數(shù),pcontour為原始輪廓點(diǎn)集,∈為逼近精度,closed為指示多邊形是否封閉的布爾值,papprox為擬合輪廓點(diǎn)集;

      48、根據(jù)擬合輪廓點(diǎn)集擬合指針的輪廓。

      49、在第一方面的一些實(shí)施例中,所述從擬合矯正后的特征圖中分割出指針的擬合輪廓,獲取指針的角度讀數(shù),還包括,

      50、獲取擬合矯正后的特征圖;

      51、將所述擬合矯正后的特征圖輸入卷積網(wǎng)絡(luò)模型,在特征圖中分別對(duì)表盤和指針進(jìn)行特征提??;

      52、在擬合矯正后的特征圖中建立平面直角坐標(biāo)系;

      53、根據(jù)指針的擬合輪廓獲取指針的角度讀數(shù);

      54、其中,角度讀數(shù)的獲取公式如下:

      55、

      56、式中,θpointer為指針的角度讀數(shù),xmax和xmin分別為擬合輪廓點(diǎn)集中最大x軸坐標(biāo)值和最小x軸坐標(biāo)值,ymax和ymin分別為擬合輪廓點(diǎn)集中最大y軸坐標(biāo)值和最小y軸坐標(biāo)值。

      57、第二方面,本公開還提供一種電子終端,包括處理器以及與所述處理器連接的存儲(chǔ)器,在所述存儲(chǔ)器內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí),執(zhí)行如第一方面任一項(xiàng)實(shí)施例所述指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法的步驟。

      58、第三方面,本公開還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,該程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)第一方面任一項(xiàng)實(shí)施例所述指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法的步驟。

      59、第四方面,本公開還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品,包括計(jì)算機(jī)程序/指令,其特征在于,該計(jì)算機(jī)程序/指令被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)第一方面任一項(xiàng)實(shí)施例所述指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法的步驟。

      60、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本公開所達(dá)到的有益效果:

      61、本公開提供的指針式儀表設(shè)備讀數(shù)的識(shí)別方法,采用目標(biāo)檢測(cè)模型提取僅包含指針式儀表設(shè)備的特征圖,降低了計(jì)算量和出錯(cuò)概率,提升了識(shí)別效率;通過對(duì)表盤的輪廓和刻度線分別擬合矯正,提高了讀數(shù)識(shí)別的準(zhǔn)確性和效率;由于使用了卷積網(wǎng)絡(luò)模型,該方法對(duì)不同類型的指針式儀表設(shè)備的識(shí)別具有泛化能力,適應(yīng)不同的儀表樣式和規(guī)格,具備較強(qiáng)的實(shí)用性。

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