本技術(shù)涉及芯片前端設(shè)計(jì)驗(yàn)證，尤其涉及一種芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品。

背景技術(shù)：

1、隨著集成電路制造工藝的進(jìn)步，芯片集成度和復(fù)雜度越來(lái)越高，一個(gè)系統(tǒng)級(jí)芯片(system?on?chip，soc)可集成億級(jí)電晶體管。為確保功能正確，滿(mǎn)足性能指標(biāo)，芯片設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)需要對(duì)設(shè)計(jì)代碼、功能驗(yàn)證方案、時(shí)序約束、物理布局等方面進(jìn)行全面和準(zhǔn)確的質(zhì)量檢查。傳統(tǒng)的檢查方式效率低下，無(wú)法滿(mǎn)足高質(zhì)量和快速上市的需求。

2、針對(duì)上述現(xiàn)狀急需建立自動(dòng)化、規(guī)范化的質(zhì)量檢查流程，能夠快速識(shí)別代碼和實(shí)現(xiàn)方面的問(wèn)題，降低修復(fù)成本。檢查流程需要能夠統(tǒng)一集成不同設(shè)計(jì)層級(jí)(網(wǎng)表、布局)的質(zhì)量檢查內(nèi)容，形成系統(tǒng)化、層級(jí)化的檢查體系，實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)高效協(xié)作。而目前針對(duì)芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的質(zhì)量檢查是割裂、分散進(jìn)行的。不同設(shè)計(jì)層級(jí)和不同局部的設(shè)計(jì)采用獨(dú)立的檢查機(jī)制，存在重復(fù)檢查和漏檢查問(wèn)題。檢查人員需要對(duì)不同的檢查內(nèi)容和配置進(jìn)行大量手動(dòng)整合，自動(dòng)化程度較低。

3、因此如何將分散在不同設(shè)計(jì)層級(jí)的前端設(shè)計(jì)質(zhì)量檢查有機(jī)集成，形成一個(gè)統(tǒng)一的、自動(dòng)化的檢查體系，是目前亟需解決的一個(gè)問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本技術(shù)的主要目的在于提供一種芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，旨在解決如何將分散在不同設(shè)計(jì)層級(jí)的前端設(shè)計(jì)質(zhì)量檢查有機(jī)集成，形成一個(gè)統(tǒng)一的、自動(dòng)化的檢查體系的技術(shù)問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)提出一種芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法，所述芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法包括：

3、根據(jù)芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)為每個(gè)層次的子項(xiàng)目文件添加對(duì)應(yīng)的環(huán)境變量；

4、在每個(gè)所述環(huán)境變量所表示的層次路徑下添加對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)的質(zhì)量檢查文件夾；

5、根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)；

6、根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量檢查文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行檢查。

7、在一實(shí)施例中，所述根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)步驟，具體包括：

8、收集所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的所有所述質(zhì)量檢查文件夾；

9、將不同的所述質(zhì)量文件夾作為檢查樹(shù)各分支節(jié)點(diǎn)，根據(jù)不同的所述質(zhì)量文件夾構(gòu)建檢查樹(shù)，所述檢查樹(shù)中包括所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)對(duì)應(yīng)的層次架構(gòu)。

10、在一實(shí)施例中所述將不同的所述質(zhì)量文件夾作為檢查樹(shù)各分支節(jié)點(diǎn)，根據(jù)不同的所述質(zhì)量文件夾構(gòu)建檢查樹(shù)，所述檢查樹(shù)中包括所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)對(duì)應(yīng)的層次架步驟，包括：

11、在所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的項(xiàng)目管理倉(cāng)庫(kù)中，添加通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾以及，在所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的流程管理倉(cāng)庫(kù)中，添加自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾；

12、根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾、通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾、自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)。

13、在一實(shí)施例中，所述根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾、通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾、自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)的步驟之后，還包括：

14、通過(guò)所述檢查樹(shù)中的通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾對(duì)所述項(xiàng)目管理倉(cāng)庫(kù)中的通用檢查項(xiàng)目進(jìn)行檢查；

15、通過(guò)所述檢查樹(shù)中的自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的自研設(shè)計(jì)工具進(jìn)行檢查。

16、在一實(shí)施例中，所述質(zhì)量檢查文件夾具體包括：檢查項(xiàng)目文件、配置文件和命令行參數(shù)文件；

17、所述檢查項(xiàng)目文件為包含不同檢查項(xiàng)的文件；

18、所述根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量檢查文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行檢查，包括：

19、通過(guò)所述命令行參數(shù)文件根據(jù)接收到的命令行參數(shù)，劃定所述檢查項(xiàng)目文件需要從命令行中獲取的檢查參數(shù)信息；

20、將所述獲取的信息添加至檢查項(xiàng)目文件；

21、通過(guò)所述配置文件將添加所述檢查參數(shù)信息后的檢查項(xiàng)目文件中的檢查項(xiàng)劃分為不同的分組；

22、根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量檢查文件夾對(duì)不同分組檢查項(xiàng)目文件進(jìn)行檢查。

23、在一實(shí)施例中，所述根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾、通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾、自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)步驟，還包括：

24、向所述項(xiàng)目倉(cāng)庫(kù)中的子項(xiàng)目的所述質(zhì)量文件夾、所述通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾和所述自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾中添加對(duì)應(yīng)的yaml文件；

25、根據(jù)添加yaml文件后的所述質(zhì)量檢查文件夾、通用設(shè)計(jì)質(zhì)量文件夾、自研設(shè)計(jì)工具質(zhì)量文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)；

26、相應(yīng)的，所述根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量檢查文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行檢查，包括：

27、通過(guò)所述yaml文件將對(duì)應(yīng)的所述配置文件中不同的組別劃分不同的嚴(yán)重等級(jí)；

28、若所述組別的嚴(yán)重等級(jí)高于預(yù)設(shè)嚴(yán)重等級(jí)，則對(duì)該組別中的檢查項(xiàng)進(jìn)行檢查，所述預(yù)設(shè)嚴(yán)重等級(jí)根據(jù)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目的不同設(shè)計(jì)階段動(dòng)態(tài)變化。

29、在一實(shí)施例中，所將不同的所述質(zhì)量文件夾作為檢查樹(shù)各分支節(jié)點(diǎn)，根據(jù)不同的所述質(zhì)量文件夾構(gòu)建檢查樹(shù)，所述檢查樹(shù)中包括所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)對(duì)應(yīng)的層次架步驟之后，還包括：

30、向所述檢查樹(shù)每一層級(jí)添加違規(guī)管理器；

31、通過(guò)所述違規(guī)管理器將違反項(xiàng)目規(guī)則的所述子項(xiàng)目文件標(biāo)記為違規(guī)文件，在檢查完成時(shí)將所述違規(guī)文件存儲(chǔ)至預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)庫(kù)。

32、在一實(shí)施例中，所述根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行檢查步驟，之后包括：

33、將基于所述檢查樹(shù)所得到的檢查結(jié)果轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)表格；

34、將所述數(shù)據(jù)表格輸出給用戶(hù)進(jìn)行復(fù)審。

35、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)還提出一種存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)為計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，所述存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文所述的芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法的步驟。

36、此外，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)還提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，所述計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上文所述的芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法的步驟。

37、本技術(shù)提供了一種芯片前端設(shè)計(jì)的檢查方法，本技術(shù)首先根據(jù)芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)為每個(gè)層次的子項(xiàng)目文件添加對(duì)應(yīng)的環(huán)境變量，然后在每個(gè)所述環(huán)境變量所表示的層次路徑下添加對(duì)應(yīng)的預(yù)設(shè)的質(zhì)量檢查文件夾，并根據(jù)所述質(zhì)量檢查文件夾和所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目層次架構(gòu)構(gòu)建檢查樹(shù)，最后根據(jù)所述檢查樹(shù)中各層級(jí)的所述質(zhì)量檢查文件夾對(duì)所述芯片前端設(shè)計(jì)項(xiàng)目進(jìn)行檢查。本技術(shù)中環(huán)境變量明確定義了設(shè)計(jì)層級(jí)之間的關(guān)系，檢查文件夾包含了針對(duì)該層級(jí)設(shè)計(jì)的檢查內(nèi)容。檢查樹(shù)以樹(shù)節(jié)點(diǎn)的形式集成表示了不同的設(shè)計(jì)層級(jí)，子節(jié)點(diǎn)包含對(duì)應(yīng)的檢查文件夾。根據(jù)樹(shù)結(jié)構(gòu)可以遞歸地遍歷每個(gè)設(shè)計(jì)層級(jí)節(jié)點(diǎn)，自動(dòng)執(zhí)行檢查文件夾中的檢查內(nèi)容。不同層級(jí)的檢查通過(guò)檢查樹(shù)集成起來(lái)，形成了統(tǒng)一的檢查體系。取代了人工整合不同層級(jí)檢查的重復(fù)工作，實(shí)現(xiàn)了檢查流程的自動(dòng)化，解決了如何將分散在不同設(shè)計(jì)層級(jí)的前端設(shè)計(jì)質(zhì)量檢查有機(jī)集成，形成一個(gè)統(tǒng)一的、自動(dòng)化的檢查體系的問(wèn)題。