1.一種缺陷數(shù)據(jù)庫的構(gòu)建方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述外接矩形框標(biāo)注的尺寸信息包括外接矩形框的長度信息和寬度信息；所述方法還包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述外接矩形框的目標(biāo)尺寸信息及第一參考系數(shù)，確定針對缺陷樣本圖像的目標(biāo)區(qū)域，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的方法，其特征在于，所述缺陷樣本圖像中包括的缺陷的數(shù)量為多個(gè)；所述第一參考系數(shù)的獲取，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述目標(biāo)區(qū)域，得到針對缺陷樣本圖像的缺陷數(shù)據(jù)庫信息，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述灰度檢測區(qū)域，得到針對缺陷樣本圖像的缺陷數(shù)據(jù)庫信息，包括：
8.一種缺陷數(shù)據(jù)庫的構(gòu)建裝置，其特征在于，所述裝置包括：
9.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：
10.一種存儲有計(jì)算機(jī)指令的非瞬時(shí)計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)指令用于使計(jì)算機(jī)執(zhí)行根據(jù)權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的方法。