1.一種用于灰分分析的裝置，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的裝置，
3.如權(quán)利要求2所述的裝置，其中，所述數(shù)據(jù)庫模塊還被配置成用于利用數(shù)據(jù)庫函數(shù)來進(jìn)行：
4.如權(quán)利要求2所述的裝置，其中，所計(jì)算的、所述待測樣本的熒光特征向量與所述標(biāo)準(zhǔn)樣本特征向量集合中的每個標(biāo)準(zhǔn)樣本特征向量之間的相似度是基于第一相似度算法計(jì)算的第一相似度，并且其中，所述數(shù)據(jù)庫模塊還被配置成用于利用數(shù)據(jù)庫函數(shù)來進(jìn)行：
5.如權(quán)利要求2所述的裝置，
6.如權(quán)利要求5所述的裝置，其中，所述裝置還包括數(shù)據(jù)庫更新模塊，所述數(shù)據(jù)庫更新模塊耦合至所述數(shù)據(jù)分析模塊，被配置成用于：
7.如權(quán)利要求1所述的裝置，其中，所述數(shù)據(jù)采集模塊被配置成用于基于所述待測樣本上的多個采樣點(diǎn)的熒光反應(yīng)數(shù)據(jù)來生成待測樣本的熒光特征向量。
8.一種用于灰分分析的方法，包括：
9.如權(quán)利要求8所述的方法，
10.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，利用數(shù)據(jù)庫函數(shù)來輸出待分析數(shù)據(jù)集包括：
11.如權(quán)利要求9所述的方法，其中，所計(jì)算的、所述待測樣本的熒光特征向量與所述標(biāo)準(zhǔn)樣本特征向量集合中的每個標(biāo)準(zhǔn)樣本特征向量之間的相似度是基于第一算法計(jì)算的第一相似度，并且其中，利用數(shù)據(jù)庫函數(shù)來輸出待分析數(shù)據(jù)集包括：
12.如權(quán)利要求9所述的方法，
13.如權(quán)利要求12所述的方法，其中，所述方法還包括：
14.一種在線熒光分析儀，包括：
15.一種機(jī)器可讀介質(zhì)，包括機(jī)器可讀指令，所述機(jī)器可讀指令在被執(zhí)行時使機(jī)器執(zhí)行如權(quán)利要求8-13中任一項(xiàng)所述的方法。
16.一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)指令，所述計(jì)算機(jī)指令在被執(zhí)行時使機(jī)器執(zhí)行如權(quán)利要求8-13中任一項(xiàng)所述的方法。