1.一種用于芯片驗(yàn)證的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，基于用于所述待測對象模塊的接口獲取調(diào)度器，包括：
3.如權(quán)利要求1所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，
4.如權(quán)利要求1所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，觸發(fā)所述調(diào)度器的線程，向所述待測對象模塊的多個(gè)路由目的地發(fā)送數(shù)據(jù)包，包括：
5.如權(quán)利要求4所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，在將所述調(diào)度器對應(yīng)的線程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)包通過所述接口發(fā)送至所述待測對象模塊的對應(yīng)的路由目的地之前，所述方法還包括：
6.如權(quán)利要求2所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，觸發(fā)所述調(diào)度器的線程，向所述待測對象模塊的路由目的地發(fā)送數(shù)據(jù)包，包括：
7.如權(quán)利要求4所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，基于用于所述待測對象模塊的接口獲取調(diào)度器，包括：
8.如權(quán)利要求7所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，基于所述激勵(lì)驅(qū)動(dòng)適配組件，將所述調(diào)度器對應(yīng)的線程產(chǎn)生的數(shù)據(jù)包通過所述接口發(fā)送至所述待測對象模塊的對應(yīng)的路由目的地，包括：
9.如權(quán)利要求4所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法，其中，所述調(diào)度器還包括覆蓋率監(jiān)測組件，所述方法還包括：
10.一種用于芯片驗(yàn)證的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，包括：
11.如權(quán)利要求10所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，
12.如權(quán)利要求10所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，
13.如權(quán)利要求11所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，
14.如權(quán)利要求11所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，
15.如權(quán)利要求13所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，所述n個(gè)調(diào)度器包括：
16.如權(quán)利要求13所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，所述調(diào)度器還包括覆蓋率監(jiān)測組件，所述覆蓋率監(jiān)測組件配置為獲取所述激勵(lì)驅(qū)動(dòng)適配組件發(fā)送的所述調(diào)度器對應(yīng)的線程的數(shù)據(jù)包，用以收集功能覆蓋率。
17.如權(quán)利要求13所述的隨機(jī)激勵(lì)生成裝置，其中，所述調(diào)度器還包括線程監(jiān)測組件，所述線程監(jiān)測組件配置為監(jiān)控線程的執(zhí)行和線程的狀態(tài)。
18.一種電子設(shè)備，包括：
19.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，所述存儲(chǔ)介質(zhì)內(nèi)存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至9中任一項(xiàng)所述的隨機(jī)激勵(lì)生成方法。