本發(fā)明屬于圖像處理,具體涉及一種太陽(yáng)暗條自動(dòng)檢測(cè)方法。
背景技術(shù):
1、太陽(yáng)活動(dòng)是太陽(yáng)大氣中一切活動(dòng)現(xiàn)象的總稱,例如太陽(yáng)黑子、耀斑、日餌等。其中,太陽(yáng)暗條是日珥在太陽(yáng)表面投影產(chǎn)生的暗黑色條帶,其一定程度上能夠反映出日珥區(qū)域的局部磁場(chǎng)機(jī)構(gòu)。當(dāng)前的太陽(yáng)暗條自動(dòng)檢測(cè)方法有基于canny邊緣檢測(cè)的連通域處理方法,基于樸素u-net的語(yǔ)義分割方法等。
2、其中,對(duì)于基于canny邊緣檢測(cè)的連通域處理方法,該技術(shù)需要多個(gè)人為設(shè)定的閾值,這些閾值對(duì)于圖像本身的特征敏感,因此對(duì)于不同臺(tái)站攝制的圖像,泛用性和可遷移性差,自動(dòng)化程度低,需要反復(fù)進(jìn)行人為調(diào)整;該技術(shù)方法的暗條識(shí)別能力差,只能識(shí)別相對(duì)明顯的暗條,對(duì)于活動(dòng)區(qū)較小的暗條,該方法很可能因連通域閾值的問(wèn)題將其視為噪聲。
3、對(duì)于語(yǔ)義分割方法,其中涉及的數(shù)據(jù)集需要完全人工標(biāo)注,比較耗時(shí),自動(dòng)化程度低,且數(shù)據(jù)集規(guī)模較小,模型指標(biāo)不理想;同時(shí),該方法只能處理相對(duì)低分辨率的數(shù)據(jù),對(duì)于高分辨率圖像沒(méi)有可靠的功能。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的上述不足,本發(fā)明提供的太陽(yáng)暗條檢測(cè)方法解決了現(xiàn)有相關(guān)方法自動(dòng)化程度低、檢測(cè)精度和準(zhǔn)確度一般、方法可擴(kuò)展性差的問(wèn)題,以及現(xiàn)存暗條檢測(cè)數(shù)據(jù)集數(shù)量少、質(zhì)量低、制作耗時(shí)的問(wèn)題。
2、為了達(dá)到上述發(fā)明目的,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種太陽(yáng)暗條自動(dòng)檢測(cè)方法,包括以下步驟:
3、s1、獲取全日面hα圖像,對(duì)其進(jìn)行預(yù)處理,構(gòu)建圖像訓(xùn)練數(shù)據(jù)集;
4、s2、構(gòu)建基于app改進(jìn)的u-net模型作為太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型,并利用圖像數(shù)據(jù)集對(duì)其訓(xùn)練;
5、s3、利用完成訓(xùn)練的太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型對(duì)有時(shí)間序列的預(yù)處理后的輸入圖像進(jìn)行處理,獲得太陽(yáng)暗條檢測(cè)結(jié)果;
6、s4、對(duì)暗條檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行sort跟蹤,獲得暗條跟蹤結(jié)果。
7、進(jìn)一步地,所述步驟s1具體為:
8、s11、獲取全日面hα圖像,將其轉(zhuǎn)換為單通道圖像,并校正其臨邊昏暗;
9、s12、在校正臨邊昏暗的基礎(chǔ)上,根據(jù)日面像素中心和半徑數(shù)據(jù)裁剪日面的外接矩形,獲得日面圖像;
10、s13、按像素的色彩深度對(duì)日面圖像進(jìn)行k-means聚類,根據(jù)聚類結(jié)果中暗條分類明顯度大于設(shè)定閾值的聚類結(jié)果構(gòu)建圖像訓(xùn)練數(shù)據(jù)集。
11、進(jìn)一步地,所述步驟s1中,所述預(yù)處理還包括:
12、對(duì)同一日面圖像對(duì)應(yīng)的不同聚類結(jié)果,對(duì)其進(jìn)行集成,并進(jìn)行多數(shù)選舉及groudtruth標(biāo)注;
13、對(duì)groudtruth標(biāo)注結(jié)果進(jìn)行再聚類,去除噪點(diǎn),并進(jìn)行人工修正。
14、進(jìn)一步地,所述步驟s2中,所述太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型包括改進(jìn)u-net模型架構(gòu)和app組件;
15、其中,所述改進(jìn)u-net模型架構(gòu)包括依次連接的doubleconv組件、第一~第n個(gè)downsample組件、第一~第n個(gè)upsample組件以及2d卷積層;所述2d卷積層的輸出端與app組件連接;
16、其中,所述doubleconv組件還與第n個(gè)upsample組件通過(guò)concatenate函數(shù)連接,第一~第n個(gè)downsample組件與第n-1~第一個(gè)upsample組件通過(guò)concatenate函數(shù)分別一一對(duì)應(yīng)連接;
17、其中,n為upsample組件及downsample組件的可調(diào)節(jié)數(shù)量。
18、進(jìn)一步地,當(dāng)doubleconv組件的輸出通道數(shù)為base_channels時(shí),第i個(gè)downsample組件的輸入、輸出通道數(shù)分別為2i-1*base_channels和2i*base_channels,第i個(gè)upsample組件的輸入、輸出通道數(shù)分別為2n-i+1-f*base_channels和2n-i-f*base_channels,2d卷積層的輸入、輸出通道數(shù)分別為base_channels;
19、其中,i為downsample組件或upsample組件的索引,其中,若bi_linear為真,則f為1,否則f為0,bi_linear為upsample組件的傳參。
20、進(jìn)一步地,所述doubleconv組件包括依次連接的第一3×3卷積層、第一批標(biāo)準(zhǔn)化層bn、第一leakyrelu激活函數(shù)、第二3×3卷積層、第二批標(biāo)準(zhǔn)化層bn、第二leakyrelu激活函數(shù)以及隨機(jī)失活層。
21、進(jìn)一步地,所述app組件包括并列的結(jié)構(gòu)相同的depth個(gè)自適應(yīng)池化層,每個(gè)所述自適應(yīng)池化層的輸出端均通過(guò)concatenate函數(shù)依次與1×1卷積層、dropout層以及sigmoid激活層連接;
22、每個(gè)所述自適應(yīng)池化層包括依次連接的自適應(yīng)池化策略、1×1卷積層以及上采樣層;所述自適應(yīng)池化策略為最大池化或平均池化;
23、所述第m個(gè)自適應(yīng)池化層的輸出的目標(biāo)大小為out_image_size為所述app組件的輸出大小,depth為所述app組件的深度,即自適應(yīng)池化層的數(shù)量。
24、進(jìn)一步地,所述downsample組件包括依次連接的app組件和doubleconv組件;
25、對(duì)于所述upsample組件,當(dāng)bi_linear為真時(shí),所述upsample組件包括mode為bi_linear的upsample層和doubleconv組件;所述upsample層的處理結(jié)果與對(duì)應(yīng)的downsample組件的處理結(jié)果中心裁剪后合并,并通過(guò)concatenate函數(shù)與doubleconv組件連接;
26、當(dāng)bi_linear為假時(shí),upsample組件包括2×2轉(zhuǎn)置卷積層和doubleconv組件;所述2×2轉(zhuǎn)置卷積層的處理結(jié)果與對(duì)應(yīng)的downsample組件的處理結(jié)果中心裁剪后合并,并通過(guò)concatenate函數(shù)與doubleconv組件連接;
27、當(dāng)upsample組件的輸入尺寸為hin×win×cin時(shí),其輸出尺寸為2hin×2win×cout。
28、進(jìn)一步地,根據(jù)檢測(cè)圖像的復(fù)雜程度,使用改進(jìn)u-net模型架構(gòu)和app組件進(jìn)行自由連接以擴(kuò)展太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型的結(jié)構(gòu)。
29、進(jìn)一步地,所述步驟s3具體地:
30、s31、使用完成訓(xùn)練的太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型對(duì)輸入圖像進(jìn)行推理,輸出檢測(cè)暗條標(biāo)注結(jié)果;
31、s32、對(duì)輸出結(jié)果進(jìn)行dbscan聚類,獲得獨(dú)立暗條的分類結(jié)果;
32、s33、記錄每個(gè)獨(dú)立暗條的像素坐標(biāo)和所在圖像編號(hào),獲得太陽(yáng)暗條檢測(cè)結(jié)果。
33、本發(fā)明的有益效果為:
34、1.本發(fā)明中模型的訓(xùn)練數(shù)據(jù)生成可以基本自動(dòng)化,kmeans聚類速度快,除了人工篩選外可以不需要任何人力參與,因此能夠快速生成大量訓(xùn)練數(shù)據(jù);
35、2.本發(fā)明中的將改進(jìn)u-ne模型結(jié)構(gòu)作為太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型,其深度支持人為調(diào)節(jié),便于支持不同分辨率的訓(xùn)練數(shù)據(jù)以及硬件需求;
36、3.基于本發(fā)明中的太陽(yáng)暗條檢測(cè)模型獲得的目標(biāo)檢測(cè)的結(jié)果指標(biāo)較好。
37、4.本發(fā)明提供了長(zhǎng)周期暗條跟蹤的方案,可以處理帶時(shí)間序列的圖像組,而非單張圖像;
38、5.本發(fā)明方法總體的自動(dòng)化程度高、可遷移性和可伸縮性好。