本發(fā)明涉及ar測(cè)量，尤其涉及一種基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

1、不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪是指對(duì)土地及其附著物的位置、邊界、面積、權(quán)屬等信息進(jìn)行確定和記錄的專(zhuān)業(yè)測(cè)繪活動(dòng)，主要工作包括地籍測(cè)繪和房產(chǎn)測(cè)繪等，通過(guò)對(duì)不動(dòng)產(chǎn)進(jìn)行測(cè)繪，可以獲得反映地面現(xiàn)狀的圖形和位置信息，便于工程建設(shè)和行政管理之用，隨著測(cè)繪管理工作的技術(shù)發(fā)展，不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪成果的精度要求逐步提高。

2、目前，基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪過(guò)程主要采用傳統(tǒng)地面測(cè)繪方法，該方法是使用全站儀測(cè)量和水準(zhǔn)測(cè)量，對(duì)不動(dòng)產(chǎn)進(jìn)行測(cè)繪和分析，通過(guò)對(duì)不動(dòng)產(chǎn)不同角度和位置的測(cè)量，確定不動(dòng)產(chǎn)的狀態(tài)信息，但該方法需要人工讀取和記錄數(shù)據(jù)，容易產(chǎn)生錯(cuò)誤或返工，如操作不當(dāng)或數(shù)據(jù)記錄錯(cuò)誤，可能影響測(cè)量精度和效率，導(dǎo)致不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪結(jié)果失真。因此，亟待一種解決方案可以實(shí)時(shí)查看不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪數(shù)據(jù)，提高測(cè)繪效率和精度。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪方法及系統(tǒng)，可以實(shí)時(shí)查看不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪數(shù)據(jù)，提高測(cè)繪效率和精度。

2、第一方面，本發(fā)明提供了一種基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪方法，包括：

3、探測(cè)待測(cè)繪區(qū)域的現(xiàn)場(chǎng)條件，基于所述現(xiàn)場(chǎng)條件，設(shè)定待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪控制點(diǎn)，并測(cè)量所述測(cè)繪控制點(diǎn)的坐標(biāo)參數(shù)，設(shè)置所述測(cè)繪控制點(diǎn)的標(biāo)識(shí)物；

4、利用預(yù)設(shè)ar設(shè)備識(shí)別所述標(biāo)識(shí)物的形態(tài)結(jié)構(gòu)，根據(jù)所述形態(tài)結(jié)構(gòu)，對(duì)所述標(biāo)識(shí)物進(jìn)行空間定位，得到標(biāo)識(shí)物位置，識(shí)別所述標(biāo)識(shí)物位置在三維空間的空間坐標(biāo)，根據(jù)所述坐標(biāo)參數(shù)，對(duì)所述空間坐標(biāo)進(jìn)行位置較準(zhǔn)，得到目標(biāo)位置；

5、根據(jù)所述目標(biāo)位置，采集所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的多角度圖像，識(shí)別所述多角度圖像中所述待測(cè)不動(dòng)產(chǎn)的特征參數(shù)；

6、設(shè)置所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的初始測(cè)繪點(diǎn)，根據(jù)所述特征參數(shù)，從所述初始測(cè)繪點(diǎn)出發(fā)，實(shí)時(shí)跟蹤所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪軌跡；

7、采集所述測(cè)繪軌跡下的測(cè)量數(shù)據(jù)，對(duì)所述測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行平差處理，得到平差數(shù)據(jù)，根據(jù)所述平差數(shù)據(jù)，構(gòu)建所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的宗地圖；

8、結(jié)合所述目標(biāo)位置和所述宗地圖，對(duì)所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)進(jìn)行測(cè)繪處理，得到測(cè)繪結(jié)果。

9、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述現(xiàn)場(chǎng)條件，設(shè)定待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪控制點(diǎn)，包括：

10、根據(jù)所述現(xiàn)場(chǎng)條件，分析所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的控制點(diǎn)類(lèi)型；

11、設(shè)定所述控制點(diǎn)類(lèi)型對(duì)應(yīng)的控制點(diǎn)布局；

12、識(shí)別所述控制點(diǎn)類(lèi)型對(duì)應(yīng)的控制點(diǎn)數(shù)量；

13、基于所述控制點(diǎn)布局和所述控制點(diǎn)數(shù)量，設(shè)定所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪控制點(diǎn)。

14、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述設(shè)置所述測(cè)繪控制點(diǎn)的標(biāo)識(shí)物，包括：

15、查詢(xún)所述測(cè)繪控制點(diǎn)所處的環(huán)境因子；

16、根據(jù)所述環(huán)境因子，設(shè)定所述測(cè)繪控制點(diǎn)所需的標(biāo)識(shí)物類(lèi)型；

17、識(shí)別出所述標(biāo)識(shí)物類(lèi)型對(duì)應(yīng)的放置點(diǎn)；

18、根據(jù)所述標(biāo)識(shí)物類(lèi)型和所述放置點(diǎn)，設(shè)置所述測(cè)繪控制點(diǎn)的標(biāo)識(shí)物。

19、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述形態(tài)結(jié)構(gòu)，對(duì)所述標(biāo)識(shí)物進(jìn)行空間定位，得到標(biāo)識(shí)物位置，包括：

20、提取所述形態(tài)結(jié)構(gòu)的特征圖像；

21、對(duì)所述特征圖像與所述預(yù)設(shè)ar設(shè)備內(nèi)置的標(biāo)識(shí)物模板進(jìn)行特征匹配，得到特征匹配結(jié)果；

22、在所述特征匹配結(jié)果滿足預(yù)設(shè)結(jié)果時(shí)，計(jì)算所述標(biāo)識(shí)物的標(biāo)識(shí)位姿；

23、對(duì)所述標(biāo)識(shí)位姿進(jìn)行坐標(biāo)轉(zhuǎn)換，得到所述標(biāo)識(shí)物位置。

24、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，5、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述識(shí)別所述多角度圖像中所述待測(cè)不動(dòng)產(chǎn)的特征參數(shù)，包括：

25、提取所述多角度圖像中所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的特征點(diǎn)；

26、識(shí)別出所述多角度圖像中所述特征點(diǎn)的相同特征點(diǎn)；

27、評(píng)測(cè)所述多角度圖像中所述相同特征點(diǎn)在空間中的三維坐標(biāo)；

28、根據(jù)所述相同特征點(diǎn)和所述三維坐標(biāo)，識(shí)別所述多角度圖像中所述待測(cè)不動(dòng)產(chǎn)的特征參數(shù)。

29、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述評(píng)測(cè)所述多角度圖像中所述相同特征點(diǎn)在空間中的三維坐標(biāo)，包括：

30、獲取所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)在所述多角度圖像下的圖像幀集，并在所述圖像幀集中提取出所述相同特征點(diǎn)；

31、采集所述相同特征點(diǎn)在所述圖像幀集中對(duì)應(yīng)的相機(jī)位姿；

32、基于所述相機(jī)位姿和所述相同特征點(diǎn)，對(duì)所述多角度圖像中所述相同特征點(diǎn)進(jìn)行三角化處理，得到特征點(diǎn)三角化結(jié)果；

33、根據(jù)所述特征點(diǎn)三角化結(jié)果，評(píng)測(cè)所述多角度圖像中所述相同特征點(diǎn)在空間中的三維坐標(biāo)。

34、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述特征參數(shù)，從所述初始測(cè)繪點(diǎn)出發(fā)，實(shí)時(shí)跟蹤所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪軌跡，包括：

35、將所述初始測(cè)繪點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)導(dǎo)入至預(yù)設(shè)ar設(shè)備之后，從所述初始測(cè)繪點(diǎn)開(kāi)始，利用所述預(yù)設(shè)ar設(shè)備對(duì)所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)邊緣進(jìn)行環(huán)境掃描，得到環(huán)境掃描數(shù)據(jù)；

36、設(shè)置所述環(huán)境掃描數(shù)據(jù)的位置標(biāo)記；

37、基于所述初始測(cè)繪點(diǎn)的位置數(shù)據(jù)與所述環(huán)境掃描數(shù)據(jù)的位置標(biāo)記，實(shí)時(shí)跟蹤所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪軌跡。

38、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述對(duì)所述測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行平差處理，得到平差數(shù)據(jù)，包括：

39、對(duì)所述測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行清洗處理，得到目標(biāo)數(shù)據(jù)；

40、識(shí)別所述目標(biāo)數(shù)據(jù)的測(cè)量屬性，并構(gòu)建所述測(cè)量屬性對(duì)應(yīng)的觀測(cè)方程；

41、計(jì)算所述觀測(cè)方程的觀測(cè)數(shù)值的精度系數(shù)；

42、根據(jù)所述觀測(cè)方程和所述精度系數(shù)，對(duì)所述測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行平差處理，得到平差數(shù)據(jù)。

43、在第一方面的一種可能實(shí)現(xiàn)方式中，所述根據(jù)所述平差數(shù)據(jù)，構(gòu)建所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的宗地圖，包括：

44、獲取所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，并提取所述統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)中的邊界點(diǎn)坐標(biāo)；

45、根據(jù)所述邊界點(diǎn)坐標(biāo)，構(gòu)建所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的界址線；

46、采集所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的權(quán)屬信息；

47、識(shí)別出所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)在所述統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)中的關(guān)鍵標(biāo)釋數(shù)據(jù)；

48、根據(jù)所述界址線、所述權(quán)屬信息和所述關(guān)鍵標(biāo)釋數(shù)據(jù)，構(gòu)建所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的宗地圖。

49、第二方面，本發(fā)明提供了一種基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括：

50、控制點(diǎn)設(shè)置模塊，用于探測(cè)待測(cè)繪區(qū)域的現(xiàn)場(chǎng)條件，基于所述現(xiàn)場(chǎng)條件，設(shè)定待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪控制點(diǎn)，并測(cè)量所述測(cè)繪控制點(diǎn)的坐標(biāo)參數(shù)，設(shè)置所述測(cè)繪控制點(diǎn)的標(biāo)識(shí)物；

51、目標(biāo)位置識(shí)別模塊，用于利用預(yù)設(shè)ar設(shè)備識(shí)別所述標(biāo)識(shí)物的形態(tài)結(jié)構(gòu)，根據(jù)所述形態(tài)結(jié)構(gòu)，對(duì)所述標(biāo)識(shí)物進(jìn)行空間定位，得到標(biāo)識(shí)物位置，識(shí)別所述標(biāo)識(shí)物位置在三維空間的空間坐標(biāo)，根據(jù)所述坐標(biāo)參數(shù)，對(duì)所述空間坐標(biāo)進(jìn)行位置較準(zhǔn)，得到目標(biāo)位置；

52、特征提取模塊，用于根據(jù)所述目標(biāo)位置，采集所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的多角度圖像，識(shí)別所述多角度圖像中所述待測(cè)不動(dòng)產(chǎn)的特征參數(shù)；

53、測(cè)繪軌跡跟蹤模塊，用于設(shè)置所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的初始測(cè)繪點(diǎn)，根據(jù)所述特征參數(shù)，從所述初始測(cè)繪點(diǎn)出發(fā)，實(shí)時(shí)跟蹤所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪軌跡；

54、地圖繪制模塊，用于采集所述測(cè)繪軌跡下的測(cè)量數(shù)據(jù)，對(duì)所述測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行平差處理，得到平差數(shù)據(jù)，根據(jù)所述平差數(shù)據(jù)，構(gòu)建所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的宗地圖。

55、測(cè)繪結(jié)果輸出模塊，用于結(jié)合所述目標(biāo)位置和所述宗地圖，對(duì)所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)進(jìn)行測(cè)繪處理，得到測(cè)繪結(jié)果。

56、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本方案的技術(shù)原理及有益效果在于：

57、本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)基于所述現(xiàn)場(chǎng)條件，設(shè)定待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪控制點(diǎn)，可以提供整個(gè)測(cè)繪工作的測(cè)量基準(zhǔn)，幫助提高整個(gè)測(cè)繪區(qū)域的測(cè)量精度，進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)利用預(yù)設(shè)ar設(shè)備識(shí)別所述標(biāo)識(shí)物的形態(tài)結(jié)構(gòu)，可以將標(biāo)識(shí)物的信息實(shí)時(shí)疊加在現(xiàn)實(shí)世界中，使得技術(shù)人員能夠直觀地看到標(biāo)識(shí)物的位置和信息，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)根據(jù)所述形態(tài)結(jié)構(gòu)，對(duì)所述標(biāo)識(shí)物進(jìn)行空間定位，得到標(biāo)識(shí)物位置，可以實(shí)時(shí)跟蹤測(cè)繪人員的移動(dòng)軌跡，獲得精確的目標(biāo)定位，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)根據(jù)所述目標(biāo)位置，采集所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的多角度圖像，可以快速了解不動(dòng)產(chǎn)的外觀、布局和周邊環(huán)境，為后續(xù)的測(cè)繪工作提供初步信息，進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)識(shí)別所述多角度圖像中所述待測(cè)不動(dòng)產(chǎn)的特征參數(shù)，可以準(zhǔn)確地界定不動(dòng)產(chǎn)的邊界，作為后續(xù)不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪的基礎(chǔ)，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)根據(jù)所述特征參數(shù)，從所述初始測(cè)繪點(diǎn)出發(fā)，實(shí)時(shí)跟蹤所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)的測(cè)繪軌跡，可以確保從初始測(cè)繪點(diǎn)開(kāi)始的所有后續(xù)測(cè)量都處于統(tǒng)一的坐標(biāo)系統(tǒng)中，從而保證了測(cè)繪數(shù)據(jù)的一致性和連貫性，進(jìn)一步地，本發(fā)明實(shí)施例通過(guò)結(jié)合所述目標(biāo)位置和所述宗地圖，對(duì)所述待測(cè)繪不動(dòng)產(chǎn)進(jìn)行測(cè)繪處理，得到測(cè)繪結(jié)果，可以通過(guò)ar界面直接在現(xiàn)實(shí)世界中進(jìn)行測(cè)量，避免人為誤差，提高了測(cè)繪工作的直觀性和效率，從而確保測(cè)繪數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。因此，本發(fā)明實(shí)施例提出的一種基于ar的不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪方法及系統(tǒng)，實(shí)時(shí)查看不動(dòng)產(chǎn)測(cè)繪數(shù)據(jù)，提高測(cè)繪效率和精度。