技術(shù)特征：

1.一種固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s1具體步驟為：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s14具體步驟為：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s2具體步驟為：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s3具體步驟為：

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s34的具體步驟為：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s4的具體步驟為：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s5的具體步驟為：

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，其特征在于，步驟s6的具體步驟為：

10.一種固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測系統(tǒng)，其特征在于，用于執(zhí)行如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法，包括：

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及固態(tài)硬盤性能監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種固態(tài)硬盤的實(shí)時(shí)性能檢測方法及系統(tǒng)。該方法包括以下步驟：對固態(tài)硬盤進(jìn)行空閑扇區(qū)識別，并進(jìn)行標(biāo)記塊常態(tài)化運(yùn)行植入處理，得到多個(gè)常態(tài)化運(yùn)行植入標(biāo)記塊；對多個(gè)常態(tài)化運(yùn)行植入標(biāo)記塊進(jìn)行順序數(shù)據(jù)訪問請求，并進(jìn)行硬盤磁頭尋道追蹤分析，構(gòu)建全局尋道追蹤軌跡；對全局尋道追蹤軌跡進(jìn)行標(biāo)記塊理論訪問速度計(jì)算，并進(jìn)行訪問延遲計(jì)算，從而得到硬盤常態(tài)化訪問延遲數(shù)據(jù)；對固態(tài)硬盤進(jìn)行校驗(yàn)塊遞進(jìn)植入分析，并進(jìn)行硬盤負(fù)載演化，從而生成每一個(gè)方案的硬盤負(fù)載數(shù)據(jù)。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)的固態(tài)硬盤性能檢測。

技術(shù)研發(fā)人員：林樂武,付萬福,黃宣證,陳旭
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市威科偉業(yè)電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/19