面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及軟件測(cè)試領(lǐng)域，具體地，涉及一種面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例 選擇與排序方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 在開(kāi)發(fā)階段，為了修復(fù)軟件存在的缺陷、完善軟件功能或者改善軟件的運(yùn)行性能 等，需要修改程序代碼?；貧w測(cè)試作為軟件測(cè)試的一種重要方法，貫穿整個(gè)軟件周期，用于 檢驗(yàn)軟件功能的正確性與完整性，可以有效地保證程序代碼的修改沒(méi)有對(duì)受影響部分和潛 在受影響部分產(chǎn)生副作用。但是，據(jù)相關(guān)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)表明，回歸測(cè)試開(kāi)銷一般占軟件系統(tǒng)測(cè)試 預(yù)算的80%以上。為了降低回歸測(cè)試的成本，回歸測(cè)試用例選擇技術(shù)和回歸測(cè)試用例排序 技術(shù)得到越來(lái)越多的應(yīng)用。
[0003] 回歸測(cè)試用例選擇技術(shù)首先通過(guò)靜態(tài)分析找出程序代碼中發(fā)生變化的部分，然后 選擇出覆蓋所有程序變化部分的測(cè)試用例。回歸測(cè)試用例排序技術(shù)按照特定的排序準(zhǔn)則 對(duì)回歸測(cè)試用例進(jìn)行排序，在滿足約束的前提下，回歸測(cè)試用例按照權(quán)重由高到低依次執(zhí) 行。
[0004] 但是，在進(jìn)行回歸測(cè)試時(shí)，測(cè)試人員最希望的是僅對(duì)軟件程序代碼修改的部分、受 影響的部分和潛在受影響的部分進(jìn)行測(cè)試。因此，為了減少測(cè)試用例個(gè)數(shù)、降低回歸測(cè)試工 作量，本發(fā)明提出了一種新的面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方法及系統(tǒng)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 本發(fā)明的目的是提供一種面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方法及 系統(tǒng)，用于解決回歸測(cè)試過(guò)程中，因?yàn)椴粩嘈迯?fù)軟件中存在的缺陷所造成的測(cè)試工作量大、 測(cè)試效率低等問(wèn)題。
[0006] 本發(fā)明的技術(shù)方案包括：一種面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方 法，包括：查找被修改函數(shù)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，獲得被修改函數(shù)與關(guān)聯(lián)函數(shù)所在的函數(shù)調(diào)用路徑， 并根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用路徑，選擇與所述被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用例， 組成回歸測(cè)試用例集；對(duì)回歸測(cè)試用例集中的測(cè)試用例進(jìn)行優(yōu)先級(jí)取值并排序，并對(duì)排序 結(jié)果進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整；以及從動(dòng)態(tài)調(diào)整后的回歸測(cè)試用例集中選擇測(cè)試用例，確定最終的回 歸測(cè)試用例集。
[0007] 優(yōu)選地，所述查找被修改函數(shù)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，獲得被修改函數(shù)與關(guān)聯(lián)函數(shù)所在的函 數(shù)調(diào)用路徑具體包括：根據(jù)被測(cè)函數(shù)的函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，查找與被修改函數(shù)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，刪 除函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖中的不可達(dá)路徑，獲得被修改函數(shù)與關(guān)聯(lián)函數(shù)所在的函數(shù)調(diào)用路徑。
[0008] 優(yōu)選地，根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用路徑，選擇與所述被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān) 系的測(cè)試用例，具體包括：根據(jù)測(cè)試用例與被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)對(duì)應(yīng)的函數(shù)調(diào)用路徑之 間的映射關(guān)系，找出與函數(shù)調(diào)用路徑存在映射關(guān)系的測(cè)試用例，建立被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函 數(shù)與測(cè)試用例之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以選擇與所述被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試 用例。
[0009] 優(yōu)選地，所述對(duì)回歸測(cè)試用例集中的測(cè)試用例進(jìn)行優(yōu)先級(jí)取值并排序具體包括： 根據(jù)測(cè)試用例的絕對(duì)貢獻(xiàn)度、缺陷檢測(cè)能力和缺陷影響度，計(jì)算回歸測(cè)試用例集中的各測(cè) 試用例的優(yōu)先級(jí)取值，再根據(jù)優(yōu)先級(jí)取值進(jìn)行優(yōu)先級(jí)排序。
[0010] 優(yōu)選地，所述對(duì)排序結(jié)果進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整具體包括：根據(jù)優(yōu)先級(jí)取值對(duì)回歸測(cè)試用 例集中的測(cè)試用例排序，執(zhí)行回歸測(cè)試用例集中的未執(zhí)行測(cè)試用例集中排序第一的測(cè)試用 例，并刪除該排序第一的測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的覆蓋函數(shù)集中函數(shù)，若所述覆蓋函數(shù)集非空，則調(diào) 整未執(zhí)行測(cè)試用例集中所有測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)取值，若所述覆蓋函數(shù)集為空，則按優(yōu)先級(jí) 取值依次執(zhí)行剩下的測(cè)試用例。
[0011] 優(yōu)選地，所述確定最終的回歸測(cè)試用例集包括：根據(jù)優(yōu)先級(jí)取值，從第一個(gè)測(cè)試用 例開(kāi)始，分析每個(gè)測(cè)試用例存在映射關(guān)系的函數(shù)調(diào)用路徑，根據(jù)函數(shù)調(diào)用路徑對(duì)應(yīng)函數(shù)集 的包含關(guān)系判斷函數(shù)路徑之間是否存在包含關(guān)系，去除被包含的函數(shù)調(diào)用路徑，形成最終 的回歸測(cè)試用例集。
[0012] 優(yōu)選地，所述確定最終的回歸測(cè)試用例集包括：根據(jù)優(yōu)先級(jí)取值，從第一個(gè)測(cè)試用 例開(kāi)始，直到執(zhí)行完所有關(guān)聯(lián)函數(shù)的測(cè)試用例為止，刪除之后的測(cè)試用例，形成最終的回歸 測(cè)試用例集。
[0013] 本發(fā)明的技術(shù)方案還包括一種面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序系 統(tǒng)，包括：回歸測(cè)試用例選擇模塊，用于查找被修改函數(shù)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，獲得被修改函數(shù)與關(guān) 聯(lián)函數(shù)所在的函數(shù)調(diào)用路徑，并根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用路徑，選擇與所述被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函 數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用例，組成回歸測(cè)試用例集；回歸測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)排序模塊，用于對(duì) 回歸測(cè)試用例集中的測(cè)試用例進(jìn)行優(yōu)先級(jí)取值并排序，并對(duì)排序結(jié)果進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整；以及 回歸測(cè)試用例確定模塊，用于從動(dòng)態(tài)調(diào)整后的回歸測(cè)試用例集中選擇測(cè)試用例，確定最終 的回歸測(cè)試用例集。
[0014] 優(yōu)選地，所述回歸測(cè)試用例選擇模塊，用于根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用路徑，選擇與所述被 修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用例，具體包括：根據(jù)測(cè)試用例與被修改函數(shù)及 關(guān)聯(lián)函數(shù)對(duì)應(yīng)的函數(shù)調(diào)用路徑之間的映射關(guān)系，找出與函數(shù)調(diào)用路徑存在映射關(guān)系的測(cè)試 用例，建立被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)與測(cè)試用例之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系，以選擇與所述被修改函數(shù) 及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用例。
[0015] 優(yōu)選地，所述回歸測(cè)試用例優(yōu)先級(jí)排序模塊，用于對(duì)排序結(jié)果進(jìn)行動(dòng)態(tài)調(diào)整具體 包括：根據(jù)優(yōu)先級(jí)取值對(duì)回歸測(cè)試用例集中的測(cè)試用例排序，執(zhí)行回歸測(cè)試用例集中的未 執(zhí)行測(cè)試用例集中排序第一的測(cè)試用例，并刪除該排序第一的測(cè)試用例對(duì)應(yīng)的覆蓋函數(shù)集 中函數(shù)，若所述覆蓋函數(shù)集非空，則調(diào)整未執(zhí)行測(cè)試用例集中所有測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)取值， 若所述覆蓋函數(shù)集為空，則按優(yōu)先級(jí)取值依次執(zhí)行剩下的測(cè)試用例。
[0016] 本發(fā)明的有益效果是：
[0017] 1、本發(fā)明只選擇與被修改函數(shù)、受影響函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用例，可以明顯 減少回歸測(cè)試用例集中測(cè)試用例的個(gè)數(shù)。
[0018] 2、本發(fā)明對(duì)已經(jīng)優(yōu)先級(jí)排序的測(cè)試用例進(jìn)行再次確定，使函數(shù)對(duì)被執(zhí)行的次數(shù)達(dá) 到最小，能夠明顯的減少測(cè)試用例的個(gè)數(shù)。
[0019] 3、本發(fā)明采用的選擇、排序再確定優(yōu)化方法的回歸測(cè)試用例集的度量標(biāo)準(zhǔn)值高于 先選擇再優(yōu)先級(jí)排序的度量標(biāo)準(zhǔn)值。
[0020] 綜上所述，本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比，減少了回歸測(cè)試用例的數(shù)量，大大縮減了測(cè)試 人員的工作量，并且降低了測(cè)試成本。
【附圖說(shuō)明】
[0021] 圖1是本發(fā)明所述面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方法的流程示 意圖；
[0022] 圖2是本發(fā)明的實(shí)施方式中面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排序方法 的架構(gòu)示意圖；
[0023] 圖3是本發(fā)明的實(shí)施方式中用于舉例的函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖；
[0024] 圖4是針對(duì)圖3的函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖，獲得的函數(shù)與測(cè)試用例之間的關(guān)系示意圖；
[0025] 圖5是本發(fā)明的應(yīng)用實(shí)例中的函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖。
【具體實(shí)施方式】
[0026] 以下結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解的是，此處所描 述的【具體實(shí)施方式】?jī)H用于說(shuō)明和解釋本發(fā)明，并不用于限制本發(fā)明。
[0027] 為對(duì)本發(fā)明的原理和特征進(jìn)行清楚描述，現(xiàn)給出下述【具體實(shí)施方式】中出現(xiàn)的部分 術(shù)語(yǔ)的定義。這些術(shù)語(yǔ)的定義僅用于解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0028] 1、函數(shù)調(diào)用路徑：函數(shù)調(diào)用路徑是根據(jù)函數(shù)調(diào)用關(guān)系圖得到的，是一個(gè)由程序入 口點(diǎn)到出口點(diǎn)的函數(shù)名序列，表示為pathi= {f i(l，fn，fi2......fin}。其中，t表示函數(shù)名， fij與f ij+i之間的相鄰關(guān)系表不f ij調(diào)用了 f ij+i或f ij與f ij+i順序執(zhí)行。
[0029] 2、測(cè)試用例和函數(shù)調(diào)用路徑之間的映射關(guān)系：在軟件測(cè)試中，測(cè)試用例和函數(shù)調(diào) 用路徑之間的映射關(guān)系定義成一個(gè)二元關(guān)系，即給定一個(gè)程序P和P中一條路徑path，t是 一個(gè)測(cè)試用例，若P運(yùn)行時(shí)輸入t，程序運(yùn)行后的路徑轉(zhuǎn)化為path，則映射關(guān)系（t，path)成 立。
[0030] 3、測(cè)試用例執(zhí)行函數(shù)集：測(cè)試用例集T = {tp t2, t3......tn}，函數(shù)集FS = {f\，f2， f3……fj，測(cè)試用例心匕￡1')的執(zhí)行函數(shù)集EFUiMEFai) EFS)是一個(gè)函數(shù)集合，其中 包含執(zhí)行測(cè)試用例&時(shí)所執(zhí)行的函數(shù)調(diào)用路徑path 的所有函數(shù)。
[0031] 4、關(guān)聯(lián)函數(shù)：與修改函數(shù)具有關(guān)聯(lián)關(guān)系的函數(shù)，即修改函數(shù)直接調(diào)用的函數(shù)和直 接調(diào)用修改函數(shù)的函數(shù)。
[0032] 5、函數(shù)對(duì)：被修改函數(shù)與其關(guān)聯(lián)函數(shù)組成的函數(shù)個(gè)數(shù)為2的函數(shù)集合。
[0033] 6、絕對(duì)貢獻(xiàn)度：在測(cè)試過(guò)程中，被測(cè)試用例t執(zhí)行的函數(shù)個(gè)數(shù)。
[0034] 7、相對(duì)貢獻(xiàn)度：被測(cè)試用例t執(zhí)行的，并且沒(méi)有被其他任何已經(jīng)執(zhí)行的測(cè)試用例 執(zhí)行的函數(shù)個(gè)數(shù)。
[0035] 8、選擇-相對(duì)貢獻(xiàn)度：被測(cè)試用例t執(zhí)行的，并且沒(méi)有被其他任何已經(jīng)執(zhí)行的測(cè)試 用例執(zhí)行的函數(shù)對(duì)個(gè)數(shù)。
[0036] 9、未執(zhí)行函數(shù)集EF_UE:在回歸測(cè)試過(guò)程中，沒(méi)有被任何測(cè)試用例執(zhí)行過(guò)的函數(shù) 集合。
[0037] 10、執(zhí)行函數(shù)集EF_E:在回歸測(cè)試過(guò)程中，至少被一個(gè)測(cè)試用例執(zhí)行過(guò)的函數(shù)集 合。
[0038] 如圖1所示，本實(shí)施方式給出了一種面向函數(shù)調(diào)用路徑的回歸測(cè)試用例選擇與排 序方法，包括：查找被修改函數(shù)的關(guān)聯(lián)函數(shù)，獲得被修改函數(shù)與關(guān)聯(lián)函數(shù)所在的函數(shù)調(diào)用路 徑，并根據(jù)所述函數(shù)調(diào)用路徑，選擇與所述被修改函數(shù)及關(guān)聯(lián)函數(shù)存在關(guān)聯(lián)關(guān)系的測(cè)試用 例，組