操作，則第一電極2011以電極群201為單位確定觸摸位置，第二電極202其自身確定觸摸位置。
[0109]本實(shí)施例中，第一電極2011和第二電極202的面積不同，會(huì)導(dǎo)致第一電極2011和第二電極202的觸摸接收信號(hào)差異。因此，本實(shí)施例中，第一電極2011電連接到第一增益放大器(未示出)，第二電極202電連接到第二增益放大器(未示出)。第一增益放大器的增益倍數(shù)大于第二增益放大器的增益倍數(shù)。其中，第一增益放大器和第二增益放大器均為可編程增益放大器。
[0110]具體的，第一增益放大器的增益倍數(shù)可以在2dB?1dB浮動(dòng)，例如具體為5dB，第二增益放大器的增益倍數(shù)可以在IdB?2dB浮動(dòng)，例如具體為1.5dB。同時(shí)，第一增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍小于所述第二增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍。即第一增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍較窄，第二增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍較寬。通過(guò)對(duì)增益倍數(shù)和動(dòng)態(tài)范圍的調(diào)整，能夠使第一電極2011和第二電極202的檢測(cè)信號(hào)強(qiáng)度達(dá)到比較接近的水平，從而可以拓展相應(yīng)的觸摸模式。
[0111]需要說(shuō)明的是，在其它實(shí)施例中，所述第二增益放大器的增益倍數(shù)與所述第一增益放大器的增益倍數(shù)的比值為第一比值，所述第一電極的面積與所述第二電極的面積的比值為第二比值，可使所述第一比值等于所述第二比值。
[0112]請(qǐng)結(jié)合參考圖7和圖8，圖8為圖7所示觸控檢測(cè)方法中信號(hào)處理流程示意圖。具體的，首先，執(zhí)行步驟801，對(duì)觸控信號(hào)進(jìn)行信號(hào)接收；執(zhí)行步驟802，即對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波操作，以消除雜訊干擾；執(zhí)行步驟803，將濾波后的信號(hào)進(jìn)行信號(hào)峰值檢波操作，以采樣得到電壓值，并將電壓值反饋給主芯片；執(zhí)行步驟804，主芯片根據(jù)接收到的反饋電壓值，發(fā)出控制信號(hào)，以對(duì)增益放大器實(shí)現(xiàn)精確控制，即通過(guò)主芯片保證輸出信號(hào)穩(wěn)定在設(shè)定的值；執(zhí)行步驟805，利用增益放大器對(duì)相應(yīng)的信號(hào)進(jìn)行放大；執(zhí)行步驟806，輸出相應(yīng)的觸控信號(hào)。
[0113]本實(shí)施例所提供的觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法中，通過(guò)將第一電極2011和第二電極202與相應(yīng)的觸控檢測(cè)方法配合使用，能夠使觸控分辨率和觸控靈敏度均保持較高水平。
[0114]雖然本發(fā)明披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動(dòng)與修改，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種陣列基板，其特征在于，包括: 自電容觸控電極層，所述自電容觸控電極層又作為公共電極層； 所述自電容觸控電極層包括第一電極和第二電極，所述第一電極的面積小于所述第二電極的面積； 多個(gè)所述第一電極組成一個(gè)電極群，所述電極群的外圍形狀與所述第二電極的外圍形狀相同。
2.如權(quán)利要求1所述的陣列基板，其特征在于，所述電極群包括呈M行N列排布的MXN個(gè)所述第一電極，所述M和N均為大于I的整數(shù)。
3.如權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述電極群和所述第二電極呈行列矩陣排布，同一行和同一列中，連續(xù)排布的所述電極群少于三個(gè)，連續(xù)排布的所述第二電極少于三個(gè)。
4.如權(quán)利要求3所述的陣列基板，其特征在于，同一行或同一列中，相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
5.如權(quán)利要求3所述的陣列基板，其特征在于，同一行和同一列中，相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
6.如權(quán)利要求2所述的陣列基板，其特征在于，所述電極群和所述第二電極呈行列矩陣排布，同一行或同一列中，相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
7.如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，所述第一電極電連接到第一增益放大器，所述第二電極電連接到第二增益放大器，所述第一增益放大器的增益倍數(shù)大于所述第二增益放大器的增益倍數(shù)，所述第一增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍小于所述第二增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍。
8.如權(quán)利要求7所述的陣列基板，其特征在于，所述第二增益放大器的增益倍數(shù)與所述第一增益放大器的增益倍數(shù)的比值為第一比值，所述第一電極的面積與所述第二電極的面積的比值為第二比值，所述第一比值等于所述第二比值。
9.一種陣列基板的形成方法，其特征在于，包括: 形成自電容觸控電極層，所述自電容觸控電極層又作為公共電極層； 設(shè)置所述自電容觸控電極層包括第一電極和第二電極，并設(shè)置所述第一電極的面積小于所述第二電極的面積； 設(shè)置多個(gè)所述第一電極組成一個(gè)電極群，所述電極群的外圍形狀與所述第二電極的外圍形狀相同。
10.如權(quán)利要求9所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置所述電極群包括呈M行N列排布的MXN個(gè)所述第一電極，所述M和N均為大于I的整數(shù)。
11.如權(quán)利要求10所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置所述電極群和所述第二電極呈行列矩陣排布，設(shè)置同一行和同一列中，連續(xù)排布的所述電極群少于三個(gè)，連續(xù)排布的所述第二電極少于三個(gè)。
12.如權(quán)利要求11所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置同一行或同一列中，相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
13.如權(quán)利要求11所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置同一行和同一列中，相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
14.如權(quán)利要求10所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置所述電極群和所述第二電極呈行列矩陣排布，同一行或同一列中，設(shè)置相鄰兩個(gè)所述電極群之間具有一個(gè)所述第二電極，設(shè)置相鄰兩個(gè)所述第二電極之間具有一個(gè)所述電極群。
15.如權(quán)利要求9至14任一項(xiàng)所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，設(shè)置所述第一電極電連接到第一增益放大器，設(shè)置所述第二電極電連接到第一增益放大器，設(shè)置所述第一增益放大器的增益倍數(shù)大于所述第二增益放大器的增益倍數(shù)，設(shè)置所述第一增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍小于所述第二增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍。
16.如權(quán)利要求15所述的陣列基板的形成方法，其特征在于，所述第二增益放大器的增益倍數(shù)與所述第一增益放大器的增益倍數(shù)的比值為第一比值，所述第一電極的面積與所述第二電極的面積的比值為第二比值，設(shè)置所述第一比值等于所述第二比值。
17.一種觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法，所述觸控顯示設(shè)備包括如權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的陣列基板，其特征在于，包括: 當(dāng)觸摸物體的觸摸面積小于或等于所述第一電極的面積時(shí)，如果進(jìn)行滑動(dòng)觸摸操作，所述滑動(dòng)觸摸操作連續(xù)地觸摸多個(gè)所述第一電極和多個(gè)所述第二電極，則每個(gè)所述第二電極根據(jù)其前后的所述第一電極確定觸摸軌跡，所述第一電極根據(jù)其自身確定觸摸軌跡； 當(dāng)觸摸物體的觸摸面積大于或等于所述第二電極的面積時(shí)，如果進(jìn)行觸摸操作，則所述第一電極以所述電極群為單位確定觸摸位置，所述第二電極根據(jù)其自身確定觸摸位置。
18.如權(quán)利要求17所述的觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)觸摸物體的觸摸面積大于所述第一電極的面積，且所述觸摸物體的觸摸面積小于所述第二電極的面積時(shí)，如果進(jìn)行觸摸操作，則所述第一電極以所述電極群為單位確定觸摸位置，所述第二電極根據(jù)其自身確定觸摸位置。
19.如權(quán)利要求17或18所述的觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，所述陣列基板中，所述第一電極電連接到第一增益放大器，所述第二電極電連接到第二增益放大器，所述第一增益放大器的增益倍數(shù)大于所述第二增益放大器的增益倍數(shù)，所述第一增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍小于所述第二增益放大器的動(dòng)態(tài)范圍。
20.如權(quán)利要求19所述的觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法，其特征在于，所述第二增益放大器的增益倍數(shù)與所述第一增益放大器的增益倍數(shù)的比值為第一比值，所述第一電極的面積與所述第二電極的面積的比值為第二比值，所述第一比值等于所述第二比值。
【專利摘要】一種陣列基板及其形成方法、觸控顯示設(shè)備的觸控檢測(cè)方法。所述陣列基板包括：自電容觸控電極層，所述自電容觸控電極層又作為公共電極層；所述自電容觸控電極層包括第一電極和第二電極，所述第一電極的面積小于所述第二電極的面積；多個(gè)所述第一電極組成一個(gè)電極群，所述電極群的外圍形狀與所述第二電極的外圍形狀相同。所述陣列基板的觸控靈敏度和觸控分辨率均能夠達(dá)到較高水平。
【IPC分類】G06F3-044
【公開號(hào)】CN104699346
【申請(qǐng)?zhí)枴緾N201510152680
【發(fā)明人】金慧俊, 黃忠守, 葉松
【申請(qǐng)人】上海中航光電子有限公司, 天馬微電子股份有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請(qǐng)日】2015年4月1日