信號處理方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種信號處理方法，尤其涉及觸控裝置的信號處理方法。
【背景技術(shù)】
[0002] 隨著技術(shù)的發(fā)展，智能手機(jī)變得越來越普及。觸控裝置（例如：觸控屏幕）常被 使用在智能手機(jī)上作為輸入界面。電容式觸控裝置是常見的一種觸控裝置，會W電容值的 變化判斷是否有對象（例如手指或觸控筆）接觸。電容式觸控裝置可分為自容式（self capacitance)W及互容式（mu化alcapacitance)兩種。自容式觸控裝置和互容式觸控裝 置計算電容方式有所不同，該兩種裝置的詳細(xì)內(nèi)容為本領(lǐng)域技術(shù)人員所知悉，例如美國專 利公開案US2012/0105353中即公開了該些內(nèi)容。故在此不再費(fèi)述。
[0003] 圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的電容式觸控裝置100。如圖1所示，電容式觸控裝置100包 含了感應(yīng)電極矩陣101、電容檢測電路103W及ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）105。感應(yīng)電極矩陣 101通常包含多個感應(yīng)電極，該多個感應(yīng)電極可W是不同方向的感測線，不同方向的感測線 /驅(qū)動線，或者多個獨(dú)立電極，電容檢測電路103會不斷地檢測感應(yīng)電極矩陣101W獲得所 有感應(yīng)電極的電容值。該些電容值被傳送到ADC105轉(zhuǎn)換成多個接觸檢測值dv。也就是說， 該些接觸檢測值dv分別對應(yīng)電容矩陣101上不同的位置。
[0004] 當(dāng)有對象接觸電容式觸控裝置100時，接觸位置的電容值會有較大的變化，相對 應(yīng)的接觸檢測值dv也會產(chǎn)生較大的變化。根據(jù)接觸檢測值dv的變化，可W判斷對象接觸 的位置。
[0005] 然而，噪聲或其他干擾可能影響感應(yīng)電極矩陣101的檢測結(jié)果。噪聲的來源可能 包括感應(yīng)電極矩陣101下方的液晶顯示模塊，或是對象接觸電容式觸控裝置100時形成的 鬼影現(xiàn)象，均會影響到檢測結(jié)果。因此，通常會運(yùn)用一些信號處理方法來消除該些噪聲所帶 來的影響。
[0006] 圖2a、圖化W及圖2c示出了現(xiàn)有技術(shù)中消除噪聲的信號處理方法。如圖2a所 示，電容式觸控裝置100包含低通濾波器201W及加法器203,用來消除噪聲。低通濾波器 201會W濾波值LPF濾掉接觸檢測值dv的一部分。小于濾波值LPF的接觸檢測值dv(即對 應(yīng)非接觸位置的接觸檢測值dv)會被消除，由此去除噪聲。此外，接觸檢測值dv亦可通過 加法器203再減去一臨界值TH。此臨界值TH與電容式觸控裝置100中的特性有關(guān)。舉例 來說，若電容式觸控裝置100因?yàn)槠鋬?nèi)部組件的特性會讓接觸檢測值dv具有偏移，則可通 過減去臨界值TH的方式來讓接觸檢測值dv較為精確。
[0007] 請參考圖化，其代表了一條感測線多個接觸檢測值dv的分布狀況，而ckT表示對 應(yīng)對象接觸位置的多個接觸檢測值，將所有接觸檢測值dv減去通過低通濾波器201的濾波 值LPF，會僅留下對應(yīng)對象接觸位置的接觸檢測值dvT。該樣可讓對象接觸位置的判斷更為 精確。然而，在一些情況下，接觸檢測值dv的分布情況可能不是像圖化所示那么平整，因 此不適合使用固定的濾波值LPF。
[0008] 舉例來說，圖2c中除了ckT的其他部分并不平整，若W固定的濾波值LPF來處理， 不論是將濾波值LPF提高或降低，都沒辦法很理想地僅留下dvT的信號。該將影響到對象 接觸位置的判斷。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0009]因此本發(fā)明的目的在于提供一種可動態(tài)調(diào)整濾波值來使接觸檢測較精確的信號 處理方法。
[0010] 本發(fā)明實(shí)施例掲露了一種信號處理方法，用于電容式觸控裝置，該電容式觸控裝 置產(chǎn)生多個接觸檢測值分別對應(yīng)該電容式觸控裝置的不同位置，該方法包括：(a)判斷該 多個接觸檢測值其中之一與一濾波值的差異是否小于第一臨界值；化）若該（a)步驟的結(jié) 果為是，根據(jù)該接觸檢測值，決定一更新后濾波值；（C)輸出一預(yù)設(shè)值；W及（d)將該更新后 濾波值應(yīng)用于該（a)步驟，W處理下一個該接觸檢測值。
[0011] 本發(fā)明另一實(shí)施例掲露了一種信號處理方法，用于電容式觸控裝置，該電容式觸 控裝置產(chǎn)生多個接觸檢測值分別對應(yīng)該電容式觸控裝置的不同位置，該方法包含；(a)根 據(jù)該接觸檢測值其中之一和一濾波值，來更新該濾波值；(b)計算一更新后接觸檢測值，包 括W該接觸檢測值減去該更新后濾波值；W及（C)W該更新后濾波值回到步驟（a),處理下 一個該接觸檢測值。
[0012] 根據(jù)本發(fā)明，可W較為有效地去除掉噪聲，增進(jìn)接觸判斷的精確度；而且設(shè)計者可 依據(jù)不同的需求，來決定要使用哪些參數(shù)或步驟。
【附圖說明】
[0013] 圖1示出了現(xiàn)有技術(shù)的電容式觸控裝置。
[0014] 圖2a、圖化W及圖2c示出了現(xiàn)有技術(shù)中消除接觸檢測值的噪聲的信號處理方法。
[0015] 圖3、圖4 W及圖5示出了根據(jù)本發(fā)明不同實(shí)施例的信號處理方法。
[0016] 圖6a和圖化示出了根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的信號處理方法和現(xiàn)有技術(shù)的信號處理方 法的比較示意圖。
[0017] 主要部件附圖標(biāo)記：
[0018]100 電容式觸控裝置
[001引 101 感應(yīng)電極矩陣
[0020]103 電容檢測電路
[0021] 105 ADC
[0022] 201 低通濾波器
[0023] 301-319 步驟
[0024] dv 接觸檢測值
[00巧]dv' 更新后接觸檢測值
[0026] dvT 對應(yīng)對象接觸位置的接觸檢測值
[0027] dvn_l、dvn_2 對應(yīng)非對象接觸位置的接觸檢測值
[0028] LPF 濾波值
【具體實(shí)施方式】
[0029]W下實(shí)施例W電容式觸控面板為例作為說明，但其他形式例如電阻式、光學(xué)式等 的觸控面板也可能可W適用于本發(fā)明。
[0030] 首先W圖1為例說明本發(fā)明所要處理的接觸檢測信號，電容式觸控面板的感應(yīng)電 極矩陣101在X與y方向上分別包括了 7條感應(yīng)線，兩方向的感應(yīng)線的交會處相當(dāng)于形成 了 49個電容。W互容式感測技術(shù)對感應(yīng)電極矩陣101進(jìn)行檢測，每次對一條X方向感應(yīng)線 施加激勵信號并測量所有y方向感應(yīng)線，即獲得7個接觸檢測值dv分別對應(yīng)該條X方向感 應(yīng)在線的7個交會處。在本發(fā)明一實(shí)施例中，先處理第一條X方向感應(yīng)線對應(yīng)的7個接觸 檢測值dv，然后再依序處理第二條、第H條……到最后一條X方向感應(yīng)線所對應(yīng)的接觸檢 測值dv。每一條感應(yīng)線的7個接觸檢測值dv的處理順序，可W是根據(jù)接觸檢測值dv所對 應(yīng)的位置由左至右，或者由右至左。對于接觸檢測值dv的處理順序可W每一條X方向感應(yīng) 線都相同。最后獲得更新后的49個接觸檢測值dv'被用在對象接觸位置的計算，可W獲得 較為準(zhǔn)確的結(jié)果。
[0031]為了方便了解，W下的文字描述及附圖，W-條X方向感應(yīng)線所對應(yīng)的多個接觸 檢測值dv為例作為說明，如上所述，該多個接觸檢測值dv對應(yīng)不同的位置。
[0032] 圖3、圖4W及圖5示出了根據(jù)本發(fā)明不同實(shí)施例的信號處理方法。圖3所示的信 號處理方法包含了下列步驟：
[0033] 步驟301;根據(jù)所獲得的多個接觸檢測值dv或初始臨界值T冊決定第一臨界值 TH1。
[0034] 在一實(shí)施例中，第一臨界值TH1為初始臨界值T冊或是由公式（Max_ dV-〇ffset)Xratio計算而得。在其他實(shí)施例中，可W取初始臨界值T冊或是由公式（Max_ dV-offset)Xratio計算而得的值中的較大值作為第一臨界值TH1。
[OCK35] 其中Max_dV表示該些接觸檢測值中的最大值，offset為一預(yù)定值，