變頻器及其用戶密碼加密方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及變頻器技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種變頻器及其用戶密碼加密方法。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著節(jié)能減排的大力推廣，變頻器在冶金、石油、化工、紡織、電力、建材、煤炭等行業(yè)得到了廣泛的應(yīng)用。通常來說，變頻器都有用來設(shè)置功能參數(shù)的操作界面，其中一項(xiàng)功能是用戶密碼設(shè)定，用戶輸入的密碼只有與變頻器內(nèi)部存儲(chǔ)的密碼相等時(shí)，才能對(duì)變頻器進(jìn)行功能參數(shù)設(shè)置等操作。傳統(tǒng)的變頻器，一般采用外設(shè)EEPROM進(jìn)行密碼參數(shù)、功能參數(shù)的存儲(chǔ)，出廠時(shí)，外設(shè)EEPROM的存儲(chǔ)內(nèi)容為空，使用時(shí)，變頻器會(huì)判斷特定地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)內(nèi)容是否為空，如果存儲(chǔ)內(nèi)容為空，那么變頻器會(huì)對(duì)外設(shè)EEPROM初始化，即，將內(nèi)部存儲(chǔ)空間中初始的密碼參數(shù)、功能參數(shù)寫入到外設(shè)EEPROM中。用戶對(duì)某個(gè)功能參數(shù)進(jìn)行修改后，修改值會(huì)保存到外設(shè)EEPROM中，變頻器掉電又重新上電后，如果判斷外設(shè)EEPROM中特定地址對(duì)應(yīng)的存儲(chǔ)內(nèi)容不為空，則將外設(shè)EEPROM中功能參數(shù)讀出來作為所有功能參數(shù)的初始值。
[0003]然而，如果按照傳統(tǒng)的變頻器中功能參數(shù)的存儲(chǔ)方式，將一個(gè)新的外設(shè)EEPROM來替換原來的外設(shè)EEPR0M，新的外設(shè)EEPROM會(huì)被重新初始化，用戶密碼參數(shù)會(huì)被還原初始值，原來的用戶密碼參數(shù)不再起任何保護(hù)作用，保密性差。
[0004]另外，將原來的外設(shè)EERPOM拆掉，通過外部裝置很容易讀取原來的外設(shè)EERPOM中存儲(chǔ)的用戶密碼參數(shù)，進(jìn)而被破解，安全性差。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]基于此，有必要提供一種保密性和安全性較佳的變頻器及其用戶密碼加密方法。
[0006]一種變頻器，包括:第一存儲(chǔ)單元、第二存儲(chǔ)單元和控制單元；
[0007]所述控制單元用于判斷預(yù)存于所述第一存儲(chǔ)單元的第一校驗(yàn)參數(shù)和預(yù)存于所述第二存儲(chǔ)單元的第二校驗(yàn)參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，若滿足，則驗(yàn)證通過，若不滿足，則報(bào)錯(cuò)；
[0008]所述控制單元還用于響應(yīng)用戶輸入，將預(yù)存于所述第一存儲(chǔ)單元的初始密碼更新為當(dāng)前密碼。
[0009]其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一校驗(yàn)參數(shù)和所述第二校驗(yàn)參數(shù)的預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系為:所述第一校驗(yàn)參數(shù)與所述第二校驗(yàn)參數(shù)相等。
[0010]其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一校驗(yàn)參數(shù)和所述第二校驗(yàn)參數(shù)為生產(chǎn)序列號(hào)。
[0011]其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第二存儲(chǔ)單元還用于存儲(chǔ)所述變頻器的功能參數(shù)。
[0012]其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一存儲(chǔ)單元和所述第二存儲(chǔ)單元為EEPR0M。
[0013]一種變頻器的用戶密碼加密方法，包括如下步驟:
[0014]判斷預(yù)存于第一存儲(chǔ)單元的第一校驗(yàn)參數(shù)和預(yù)存于第二存儲(chǔ)單元的第二校驗(yàn)參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，若滿足，則驗(yàn)證通過，若不滿足，則報(bào)錯(cuò)；
[0015]響應(yīng)用戶輸入，將預(yù)存于所述第一存儲(chǔ)單元的初始密碼更新為當(dāng)前密碼。
[0016]其中一個(gè)實(shí)施例中，所述第一校驗(yàn)參數(shù)和所述第二校驗(yàn)參數(shù)的預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系為:所述第一校驗(yàn)參數(shù)與所述第二校驗(yàn)參數(shù)相等。
[0017]其中一個(gè)實(shí)施例中，將所述變頻器的功能參數(shù)存儲(chǔ)在所述第二存儲(chǔ)單元。
[0018]本發(fā)明公開的變頻器及其用戶密碼加密方法，通過控制單元判斷預(yù)存于第一存儲(chǔ)單元的第一校驗(yàn)參數(shù)和預(yù)存于第二存儲(chǔ)單元的第二校驗(yàn)參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系以及將經(jīng)過更改操作更新后的密碼存儲(chǔ)于第一存儲(chǔ)單元，防止所述變頻器被非法的仿制，并提高所述變頻器工作時(shí)的安全性和可靠性，同時(shí)提高用戶密碼的保密性。
【附圖說明】
[0019]圖1為本發(fā)明一實(shí)施例的變頻器的功能模塊圖；
[0020]圖2為應(yīng)用在圖1中所示變頻器的用戶密碼加密方法的步驟流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0021]如圖1所示，本發(fā)明公開了一種變頻器。
[0022]所述變頻器包括:第一存儲(chǔ)單元110、第二存儲(chǔ)單元120和控制單元130。
[0023]控制單元130用于判斷預(yù)存于第一存儲(chǔ)單元110的第一校驗(yàn)參數(shù)和預(yù)存于第二存儲(chǔ)單元120的第二校驗(yàn)參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，若滿足，則驗(yàn)證通過，若不滿足，則報(bào)錯(cuò)O
[0024]為了提高保密性，增大被破解的難度，第一存儲(chǔ)單元110優(yōu)選為所述變頻器中加密性較好的MCU芯片內(nèi)部的EEPROM。由于MCU芯片內(nèi)部的EEPROM存儲(chǔ)空間較小，通常需要添加外設(shè)存儲(chǔ)單元來存儲(chǔ)所述變頻器的功能參數(shù)，本實(shí)施例中，第二存儲(chǔ)單元120為所述外設(shè)存儲(chǔ)單元，優(yōu)選為EEPROM。
[0025]本實(shí)施例中，第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)的預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系為:第一校驗(yàn)參數(shù)與第二校驗(yàn)參數(shù)相等。也就是說，控制單元130判斷預(yù)存于第一存儲(chǔ)單元110的第一校驗(yàn)參數(shù)和預(yù)存于第二存儲(chǔ)單元120的第二校驗(yàn)參數(shù)是否相等，若判斷結(jié)果為相等，則驗(yàn)證通過，若判斷結(jié)果為不相等，則報(bào)錯(cuò)。
[0026]在實(shí)際應(yīng)用中，第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)為所述變頻器的生產(chǎn)序列號(hào)，每臺(tái)所述變頻器的生產(chǎn)序列號(hào)均不相同。在所述變頻器出廠前，通過電腦等外部設(shè)備將生產(chǎn)序列號(hào)分別存儲(chǔ)至MCU芯片內(nèi)部的EEPROM和所述外設(shè)存儲(chǔ)單元，即，將生產(chǎn)序列號(hào)分別存儲(chǔ)至第一存儲(chǔ)單元110和第二存儲(chǔ)單元120。
[0027]由于第二存儲(chǔ)單元120保密性和安全性較差，因此，存儲(chǔ)在其中的第二校驗(yàn)參數(shù)容易被讀取，進(jìn)而得知與第二校驗(yàn)參數(shù)相等的第一校驗(yàn)參數(shù)，為了防止因讀取第二校驗(yàn)參數(shù)就輕易地得知第一校驗(yàn)參數(shù)，在其他實(shí)施例中，第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)的預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系為通過 DES、3DES、IDEA、AES、RSA/ECC、Diffie-hellman、SHA-l/SHA-256 等加密算法所形成的關(guān)系。
[0028]所述變頻器上電工作后，控制單元130分別從第一存儲(chǔ)單元110和第二存儲(chǔ)單元120中讀取第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)，并判斷第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)是否滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，如果第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，則驗(yàn)證通過。只有驗(yàn)證通過后，所述變頻器才允許用戶進(jìn)行密碼輸入、功能參數(shù)設(shè)置等一系列操作。如果第一校驗(yàn)參數(shù)和第二校驗(yàn)參數(shù)不滿足預(yù)設(shè)對(duì)應(yīng)關(guān)系，則報(bào)錯(cuò)，從而能夠得知所述變頻器出現(xiàn)了第二存儲(chǔ)單元120