在操作S850中，包括測試產生器的SoC 510獲取由于操作S820、S835或S845的指令饋送導致的參考模型的改變后的狀態(tài)。包括測試產生器的SoC 510應用所獲得的參考模型的改變后的狀態(tài)來產生下一個指令。
[0181]在操作S855中，包括測試產生器的SoC 510確定測試模板是否包括接下來將要讀取的指令語句。當測試模板不包括接下來將要讀取的指令語句時，包括測試產生器的SoC510使測試程序結束。當測試模板包括接下來將要讀取的指令語句時，SoC 510前進至操作S805，其中包括測試產生器的SoC 510讀取下一個指令語句。
[0182]根據(jù)該測試程序產生方法，包括在主機SoC 510中的處理器借由參考模型產生應用了多種測試環(huán)境的測試程序。
[0183]可根據(jù)多種不同封裝技術中的任一種封裝根據(jù)本發(fā)明構思的存儲器芯片和系統(tǒng)芯片。所述封裝技術的示例可包括以下技術:層疊封裝(PoP)、球柵陣列(BGA)、芯片尺寸封裝(CSP)、塑料引線芯片載體(PLCC)、塑料雙列直插式封裝(TOIP)、華夫組件芯片、華夫形式芯片、板上芯片(COB)、陶瓷雙列直插式封裝(CERDIP)、塑料公制四方扁平封裝(MQFP)、小外形IC(SOIC)、收縮型小外形封裝(SSOP)、薄型小外形封裝(TSOP)、薄型四方扁平封裝(TQFP)、系統(tǒng)級封裝(SIP)、多芯片封裝(MCP)、晶圓級制造封裝(WFP)和晶圓級堆疊封裝(WSP)。
[0184]雖然已經參照示例性實施例描述了本發(fā)明構思，但是本領域技術人員應該清楚，在不脫離本發(fā)明構思的精神和范圍的情況下，可作出各種改變和修改。因此，應該理解，以上示例實施例是非限制性的，相反，以上示例實施例是說明性的。
【主權項】
1.一種系統(tǒng)芯片的驗證方法，包括步驟: 通過包括在系統(tǒng)芯片中的處理器接收測試產生器和異常處理程序； 基于測試模板，通過包括所述測試產生器的處理器來產生包括異常引發(fā)指令的測試程序; 在執(zhí)行上述測試程序時，通過處理器在第一操作狀態(tài)下執(zhí)行第一指令； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器使所述測試程序的執(zhí)行停止； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器執(zhí)行包括在所述異常處理程序中的固定指令序列；以及 在執(zhí)行所述固定指令序列之后設置的第二操作狀態(tài)下從第二指令恢復執(zhí)行所述測試程序，所述第二指令的地址位于緊挨著所述異常引發(fā)指令的地址之后。2.根據(jù)權利要求1所述的驗證方法，其中所述恢復執(zhí)行測試程序的步驟包括: 在從所述第一操作狀態(tài)改變?yōu)樗龅诙僮鳡顟B(tài)時，(i)在與執(zhí)行所述第一指令的處理器不同的另一處理器上執(zhí)行所述第二指令，或者(ii)利用與所述第一指令的權限等級不同的一個權限等級和與所述第一指令的指令集不同的一個指令集二者當中的至少一個來執(zhí)行所述第二指令。3.根據(jù)權利要求1所述的驗證方法，其中，產生所述測試程序的步驟包括: 讀取包括在所述測試模板中的第一指令語句； 產生對應于所述第一指令語句的第一指令，從而在所述第一操作狀態(tài)下執(zhí)行所述第一指令； 讀取包括在所述測試模板中的狀態(tài)變更指令語句； 產生所述異常引發(fā)指令，所述異常引發(fā)指令包括關于操作狀態(tài)的切換意圖，所述關于操作狀態(tài)的切換意圖指示了改變系統(tǒng)芯片的操作狀態(tài)，所述關于操作狀態(tài)的切換意圖對應于所述狀態(tài)變更指令語句； 讀取在所述狀態(tài)變更指令語句之后緊挨著的第二指令語句；以及產生對應于所述第二指令語句的第二指令，從而在與所述異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址處在所述第二操作狀態(tài)下執(zhí)行所述第二指令。4.根據(jù)權利要求3所述的驗證方法，其中，利用所述測試產生器的第一子組件檢測所述關于操作狀態(tài)的切換意圖。5.—種系統(tǒng)芯片的驗證方法，所述系統(tǒng)芯片包括處理器并支持至少兩個指令集，所述驗證方法包括步驟: 通過處理器接收測試產生器和異常處理程序； 基于測試模板，通過包括所述測試產生器的處理器來產生包括異常引發(fā)指令的測試程序; 在執(zhí)行所述測試程序時，通過處理器執(zhí)行第一指令，所述第一指令是基于所述至少兩個指令集中的第一指令集產生的； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器使所述測試程序的執(zhí)行停止； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器執(zhí)行包括在所述異常處理程序中的固定指令序列；以及 在執(zhí)行所述固定指令序列之后，從第二指令恢復執(zhí)行所述測試程序，所述第二指令對應于與所述異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址，并且根據(jù)所述至少兩個指令集中的第二指令集產生所述第二指令。6.根據(jù)權利要求5所述的驗證方法，其中，產生所述測試程序的步驟包括: 讀取包括在所述測試模板中的第一指令語句； 基于所述第一指令集產生對應于所述第一指令語句的第一指令； 讀取包括在所述測試模板中的狀態(tài)變更指令語句； 產生所述異常引發(fā)指令，所述異常引發(fā)指令包括關于指令集的切換意圖，所述關于指令集的切換意圖指示了改變待處理的指令集的狀態(tài)，所述關于指令集的切換意圖對應于所述狀態(tài)變更指令語句； 讀取在所述狀態(tài)變更指令語句之后緊挨著的第二指令語句；以及在與所述異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址處，基于所述第二指令集產生對應于所述第二指令語句的第二指令。7.根據(jù)權利要求6所述的驗證方法，其中，所述狀態(tài)變更指令語句包括所述關于指令集的切換意圖。8.根據(jù)權利要求7所述的驗證方法，其中，利用所述測試產生器的第一子組件檢測所述關于指令集的切換意圖。9.根據(jù)權利要求8所述的驗證方法，其中，通過所述測試產生器的第二子組件檢測所述第一指令的內容和所述第二指令的內容。10.根據(jù)權利要求6所述的驗證方法，其中，利用包括在所述異常引發(fā)指令中的變元檢測所述關于指令集的切換意圖。11.根據(jù)權利要求6所述的驗證方法，還包括步驟: 通過將所述第一指令、第二指令和異常引發(fā)指令中的至少一個饋送至參考模型以獲得模型化結果，并且 所述模型化結果包括當執(zhí)行所述第一指令、第二指令和異常引發(fā)指令中的所述至少一個時關于驗證目標處理器的狀態(tài)改變的信息。12.根據(jù)權利要求11所述的驗證方法，其中，獲得所述模型化結果的步驟包括: 當所述驗證目標處理器包括至少兩個處理器核時，對包括在所述異常引發(fā)指令中的關于處理器的切換意圖進行檢測；以及 當檢測到所述關于處理器的切換意圖時，將無操作指令饋送至所述參考模型而不饋送所述異常引發(fā)指令，并且 所述無操作指令用于在所述參考模型的狀態(tài)不改變的情況下設置將要產生的下一個指令的位置。13.根據(jù)權利要求11所述的驗證方法，其中， 在不包括所述驗證目標處理器的主機系統(tǒng)芯片上形成產生的所述測試程序，并且在包括所述驗證目標處理器的系統(tǒng)芯片上完成執(zhí)行所述第一指令的步驟、執(zhí)行所述固定指令序列的步驟和恢復執(zhí)行所述測試程序的步驟。14.一種系統(tǒng)芯片的驗證方法，所述系統(tǒng)芯片包括處理器并支持至少兩個權限等級，所述驗證方法包括步驟: 通過處理器接收測試產生器和異常處理程序； 基于測試模板，通過包括所述測試產生器的處理器來產生包括異常引發(fā)指令的測試程序; 在執(zhí)行所述測試程序時，通過處理器以所述至少兩個權限等級的第一權限等級執(zhí)行第一指令； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器使所述測試程序的執(zhí)行停止； 當在所述測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了所述異常引發(fā)指令時，通過處理器執(zhí)行包括在所述異常處理程序中的固定指令序列；以及 在執(zhí)行所述固定指令序列之后，從第二指令恢復執(zhí)行所述測試程序，所述第二指令對應于與所述異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址，并且以所述至少兩個權限等級的第二權限等級執(zhí)行所述第二指令。15.根據(jù)權利要求14所述的驗證方法，其中，產生所述測試程序的步驟包括: 讀取包括在所述測試模板中的第一指令語句； 產生所述第一指令，所述第一指令對應于所述第一指令語句，從而以所述第一權限等級執(zhí)行所述第一指令； 讀取包括在所述測試模板中的狀態(tài)變更指令語句； 產生所述異常引發(fā)指令，所述異常引發(fā)指令包括關于權限等級的切換意圖，所述關于權限等級的切換意圖指示了從所述第一權限等級切換至所述第二權限等級，所述關于權限等級的切換意圖對應于所述狀態(tài)變更指令語句； 在所述測試模板中讀取在所述狀態(tài)變更指令語句之后緊挨著的第二指令語句；以及產生所述第二指令，所述第二指令對應于所述第二指令語句，從而在與所述異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址處，以所述第二權限等級執(zhí)行所述第二指令。16.根據(jù)權利要求14所述的驗證方法，其中，執(zhí)行所述固定指令序列的步驟包括: 當所述系統(tǒng)芯片以所述第一權限等級操作時，存儲所述系統(tǒng)芯片的第一狀態(tài)信息；以及 當在所述固定指令序列的執(zhí)行過程中所述系統(tǒng)芯片以所述第二權限等級操作時，恢復所述系統(tǒng)芯片的第二狀態(tài)信息。17.根據(jù)權利要求16所述的驗證方法，其中，所述第一狀態(tài)信息和所述第二狀態(tài)信息存儲在連接至所述系統(tǒng)芯片的存儲器器件的第一區(qū)域，將所述第一區(qū)域分配為以所述第一權限等級存儲所述第一狀態(tài)信息和所述第二狀態(tài)信息。18.根據(jù)權利要求17所述的驗證方法，其中，所述第一狀態(tài)信息和所述第二狀態(tài)信息存儲在連接至所述系統(tǒng)芯片的存儲器器件的第二區(qū)域，將所述第二區(qū)域分配為以所述第二權限等級存儲所述第一狀態(tài)信息和所述第二狀態(tài)信息。19.一種計算系統(tǒng)，包括: 存儲器器件，其構造為存儲用于產生測試程序的第一數(shù)據(jù)、測試產生器和異常處理程序；以及 至少兩個處理器，所述至少兩個處理器中的每一個構造為利用所述第一數(shù)據(jù)和所述測試產生器產生所述測試程序； 當產生所述測試程序時，所述測試產生器構造為當從所述第一數(shù)據(jù)中檢測到關于處理器的切換意圖時由所述測試產生器產生第二數(shù)據(jù)，并且 當通過所述至少兩個處理器的第一處理器執(zhí)行所述測試程序時，所述第一處理器構造為: 根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)停止執(zhí)行所述測試程序，并且 使用所述異常處理程序根據(jù)所述第二數(shù)據(jù)執(zhí)行固定指令序列，從而在所述至少兩個處理器中的第一處理器和第二處理器之間進行切換之后恢復執(zhí)行所述測試程序。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種系統(tǒng)芯片及其驗證方法。所述驗證方法包括步驟：接收測試產生器和異常處理程序；基于測試模板，通過測試產生器來產生測試程序，所述測試程序包括異常引發(fā)指令；在執(zhí)行測試程序時，在第一操作狀態(tài)下執(zhí)行第一指令；當在測試程序的執(zhí)行過程中執(zhí)行了異常引發(fā)指令時，使測試程序的執(zhí)行停止并且執(zhí)行包括在異常處理程序中的固定指令序列；以及在執(zhí)行固定指令序列之后設置的第二操作狀態(tài)下從第二指令恢復執(zhí)行測試程序，該第二指令對應于與異常引發(fā)指令的地址鄰近的地址。
【IPC分類】G06F11/26
【公開號】CN104978249
【申請?zhí)枴緾N201510167012
【發(fā)明人】樸城范, 樸鎮(zhèn)成, 曹娥羅
【申請人】三星電子株式會社
【公開日】2015年10月14日
【申請日】2015年4月9日
【公告號】US20150293835