一種磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)方法及裝置的制造方法
【專利說(shuō)明】
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)方法及裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]國(guó)內(nèi)外的互聯(lián)網(wǎng)供應(yīng)商都會(huì)關(guān)注自身服務(wù)集群整體的磁盤(pán)容量。通過(guò)對(duì)磁盤(pán)容量的關(guān)注，可以在合適的時(shí)間對(duì)磁盤(pán)容量進(jìn)行增加或者縮減，進(jìn)而可以節(jié)省大量成本，帶來(lái)巨大的經(jīng)濟(jì)效益。
[0003]現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)于集群的磁盤(pán)容量主要是先設(shè)置閾值，當(dāng)磁盤(pán)容量到達(dá)該閾值后，對(duì)增加的機(jī)器數(shù)量進(jìn)行人工預(yù)測(cè)，并進(jìn)行人工增加。然而，這種磁盤(pán)容量的擴(kuò)容方式中，由于需要人工預(yù)測(cè)并增加，耗費(fèi)了較多的人力成本。而且，人工預(yù)測(cè)的磁盤(pán)容量趨勢(shì)準(zhǔn)確性比較低，從而導(dǎo)致增加后磁盤(pán)容量無(wú)法滿足需求或者導(dǎo)致增加后磁盤(pán)容量冗余浪費(fèi)。
【
【發(fā)明內(nèi)容】
】
[0004]有鑒于此，本發(fā)明實(shí)施例提供了一種磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)方法及裝置，可以實(shí)現(xiàn)提高了磁盤(pán)容量趨勢(shì)預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性，減少了磁盤(pán)容量預(yù)測(cè)所需要的成本。
[0005]本發(fā)明實(shí)施例的一方面，提供一種磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)方法，包括:
[0006]根據(jù)磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)；
[0007]根據(jù)所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)；
[0008]根據(jù)所述目標(biāo)拐點(diǎn)之后的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得時(shí)間與磁盤(pán)容量之間的線性關(guān)系。
[0009]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述根據(jù)磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括:
[0010]對(duì)所述磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)平滑處理。
[0011]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述歷史容量數(shù)據(jù)包括至少一個(gè)采樣時(shí)刻以及每個(gè)采樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量；所述根據(jù)磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)，包括:
[0012]根據(jù)至少一個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量，獲得至少一個(gè)米樣時(shí)刻中每個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量速度，以作為所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)；或者，
[0013]根據(jù)至少一個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量，獲得至少一個(gè)米樣時(shí)刻中每個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量加速度，以作為所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)。
[0014]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述根據(jù)所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)，包括:
[0015]利用至少兩種檢測(cè)算法分別對(duì)所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)；
[0016]根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)。
[0017]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)，包括:
[0018]根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得第二候選拐點(diǎn)；
[0019]獲得采樣時(shí)刻最晚的第二候選拐點(diǎn)，以作為所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)。
[0020]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述根據(jù)所述目標(biāo)拐點(diǎn)之后的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得時(shí)間與磁盤(pán)容量之間的線性關(guān)系，包括:
[0021]對(duì)所述目標(biāo)拐點(diǎn)之后的歷史容量數(shù)據(jù)進(jìn)行線性擬合處理，以獲得時(shí)間與磁盤(pán)容量之間的線性關(guān)系。
[0022]本發(fā)明實(shí)施例的一方面，提供一種磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)裝置，包括:
[0023]數(shù)據(jù)處理單元，用于根據(jù)磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)；
[0024]拐點(diǎn)識(shí)別單元，用于根據(jù)所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)；
[0025]容量預(yù)測(cè)單元，用于根據(jù)所述目標(biāo)拐點(diǎn)之后的歷史容量數(shù)據(jù)，獲得時(shí)間與磁盤(pán)容量之間的線性關(guān)系。
[0026]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述裝置還包括:
[0027]數(shù)據(jù)平滑單元，用于對(duì)所述磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)據(jù)平滑處理。
[0028]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述歷史容量數(shù)據(jù)包括至少一個(gè)采樣時(shí)刻以及每個(gè)采樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量；所述數(shù)據(jù)處理單元，具體用于:
[0029]根據(jù)至少一個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量，獲得至少一個(gè)米樣時(shí)刻中每個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量速度，以作為所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)；或者，
[0030]根據(jù)至少一個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量，獲得至少一個(gè)米樣時(shí)刻中每個(gè)米樣時(shí)刻的磁盤(pán)容量加速度，以作為所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)。
[0031]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述拐點(diǎn)識(shí)別單元，具體用于:
[0032]利用至少兩種檢測(cè)算法分別對(duì)所述磁盤(pán)容量的變化數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，以獲得每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)；
[0033]根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)。
[0034]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述拐點(diǎn)識(shí)別單元根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)時(shí)，具體用于:
[0035]根據(jù)每種檢測(cè)算法檢測(cè)出的第一候選拐點(diǎn)，獲得第二候選拐點(diǎn)；
[0036]獲得采樣時(shí)刻最晚的第二候選拐點(diǎn)，以作為所述歷史容量數(shù)據(jù)中的目標(biāo)拐點(diǎn)。
[0037]如上所述的方面和任一可能的實(shí)現(xiàn)方式，進(jìn)一步提供一種實(shí)現(xiàn)方式，所述容量預(yù)測(cè)單元，具體用于:對(duì)所述目標(biāo)拐點(diǎn)之后的歷史容量數(shù)據(jù)進(jìn)行線性擬合處理，以獲得時(shí)間與磁盤(pán)容量之間的線性關(guān)系。
[0038]由以上技術(shù)方案可以看出，本發(fā)明實(shí)施例具有以下有益效果:
[0039]本發(fā)明實(shí)施例提供的技術(shù)方案能夠根據(jù)磁盤(pán)的歷史容量數(shù)據(jù)，自動(dòng)對(duì)磁盤(pán)容量的趨勢(shì)進(jìn)行預(yù)測(cè)，與現(xiàn)有技術(shù)中，人工預(yù)測(cè)磁盤(pán)容量趨勢(shì)的方式相比，本發(fā)明實(shí)施例所提供的技術(shù)方案，能夠?qū)崿F(xiàn)提高了磁盤(pán)容量趨勢(shì)預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性，從而避免了增加容量后磁盤(pán)容量無(wú)法滿足需求的問(wèn)題，或者增加容量后磁盤(pán)容量冗余浪費(fèi)的問(wèn)題，減少了磁盤(pán)容量預(yù)測(cè)所需要的人力成本。
【【附圖說(shuō)明】】
[0040]為了更清楚地說(shuō)明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它的附圖。
[0041]圖1是本發(fā)明實(shí)施例所提供的磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)方法的流程示意圖；
[0042]圖2是本發(fā)明實(shí)施例所提供的磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)裝置的實(shí)施例一的功能方塊圖；
[0043]圖3是本發(fā)明實(shí)施例所提供的磁盤(pán)容量的預(yù)測(cè)裝置的實(shí)施例二的功能方塊圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0044]為了更好的理解本發(fā)明的技術(shù)方案，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0045]應(yīng)當(dāng)明確，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒景l(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其它實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0046]在本發(fā)明實(shí)施例中使用的術(shù)語(yǔ)是僅僅出于描述特定實(shí)施例的目的，而非旨在限制本發(fā)明。在本發(fā)明實(shí)施例和所附權(quán)利要求書(shū)中所使用的單數(shù)形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數(shù)形式，除非上下文清楚地表示其他含義。
[0047]應(yīng)當(dāng)理解，本文中使用的術(shù)語(yǔ)“和/或”僅僅是一種描述關(guān)聯(lián)對(duì)象的關(guān)