一種并行總線自檢方法及系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種并行總線自檢方法及系統(tǒng)，屬于嵌入式自動控制技術(shù)領(lǐng)域。
【背景技術(shù)】
[0002]并行總線在嵌入式控制系統(tǒng)中應(yīng)用廣泛，目前應(yīng)用中提到了總線擴展技術(shù)、時序控制技術(shù)甚至還有熱插拔技術(shù)；這些都推動了并行總線的應(yīng)用；繼電保護測控裝置也較多的使用了并行總線技術(shù)實現(xiàn)狀態(tài)量的開入、開出以及人機鍵盤操作和液晶顯示。并行總線應(yīng)用中包含一個主控元件和多個受控元件，受控元件的接口芯片通過主控元件控制分時占用并行總線或者進入高阻狀態(tài)，但在物理連接上，它們的接口芯片全部掛在一條總線上。隨著總線技術(shù)的發(fā)展，總線上掛接的受控元件也越來越多，如果某一個受控元件的接口芯片故障(對電源或者對地短路)，會導(dǎo)致并行總線用于其它受控元件時得到錯誤數(shù)據(jù)，從而導(dǎo)致系統(tǒng)數(shù)據(jù)錯誤，重要時可能導(dǎo)致裝置誤動作，但是沒有針對總線故障時自檢的方法，導(dǎo)致總線使用中裝置誤動。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種并行總線自檢方法及系統(tǒng)，以解決目前并行總線使用過程中由于總線故障導(dǎo)致裝置誤動的問題。
[0004]本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題提供了一種并行總線自檢方法，該總線自檢方法包括以下步驟:
[0005]1)將待測并行總線上連接一數(shù)據(jù)鎖存元件，并將與待檢測并行總線連接的其它受控元件進行釋放，使待檢測并行總線的接口芯片處于高阻狀態(tài)；
[0006]2)通過待檢測并行總線的主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件寫固定數(shù)據(jù)，并通過主控元件讀取待檢測并行總線上的數(shù)據(jù)；
[0007]3)判斷主控元件所讀出的數(shù)據(jù)是否與主控元件所寫入的數(shù)據(jù)一致，若一致，則說明該并行總線正常，若不一致，則說明該并行總線故障。
[0008]為提高檢測的準確性，當(dāng)步驟3)中所判斷為一致時，主控元件向數(shù)字鎖存元件寫入另一屬性固定數(shù)據(jù)，并判斷主控元件所讀出的數(shù)據(jù)與該次寫入的數(shù)據(jù)是否一致，若一致，則說明該并行總線正常。
[0009]所述當(dāng)步驟3)中所判斷為不一致時，則延時后向數(shù)據(jù)鎖存元件寫入該固定數(shù)據(jù)，重新進行判斷，且當(dāng)判斷出不一致的次數(shù)至少為3次，則判定該并行總線故障。
[0010]所述主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件中寫入的固定數(shù)據(jù)為55和aa。
[0011]本發(fā)明還提供了一種并行總線自檢系統(tǒng)，該總線自檢系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)鎖存元件和鎖存數(shù)據(jù)輸出元件，所述數(shù)據(jù)鎖存元件的輸出端與鎖存數(shù)據(jù)輸出元件的輸入端連接，數(shù)據(jù)鎖存元件的輸入端和鎖存數(shù)據(jù)輸出元件的輸出端用于掛接在待檢測并行總線上，由待檢測并行總線的主控元件實現(xiàn)對數(shù)據(jù)鎖存元件的寫操作和鎖存數(shù)據(jù)輸出元件的讀操作，將待檢測并行總線上其他受控元件進行釋放，主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件寫固定數(shù)據(jù)，并通過主控元件讀取所寫入的固定數(shù)據(jù)，并根據(jù)主控元件所讀出的數(shù)據(jù)與主控元件所寫入的數(shù)據(jù)是否一致來判斷待檢測并行總線是否故障。
[0012]為提高檢測的準確性，當(dāng)主控元件判斷所讀取的數(shù)據(jù)和寫入數(shù)據(jù)為一致時，主控元件向數(shù)字鎖存元件寫入另一屬性固定數(shù)據(jù)，并判斷主控元件所讀出的數(shù)據(jù)與該次寫入的數(shù)據(jù)是否一致，若一致，則說明該并行總線正常。
[0013]所述當(dāng)判斷為不一致時，則延時后向數(shù)據(jù)鎖存元件寫入該固定數(shù)據(jù)，重新進行判斷，且當(dāng)判斷出不一致的次數(shù)至少為3次，則判定該并行總線故障。
[0014]所述主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件中寫入的固定數(shù)據(jù)為55和aa。
[0015]本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明首先將待測并行總線上連接一數(shù)據(jù)鎖存元件，并將與待檢測并行總線連接的其它受控元件進行釋放，使待檢測并行總線的所有接口芯片處于高阻狀態(tài)；通過待檢測并行總線的主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件寫固定數(shù)據(jù)，并通過主控元件讀取并行總線上數(shù)據(jù)；再判斷主控元件所讀出的數(shù)據(jù)是否與主控元件所寫入的數(shù)據(jù)一致，若一致，說明該并行總線正常，否則說明該并行總線故障。本發(fā)明通過在總線工作空閑時，利用數(shù)據(jù)鎖存技術(shù)實現(xiàn)待測并行總線的讀寫操作，并根據(jù)讀寫結(jié)果來判斷總線是否故障，從而實現(xiàn)對總線的自檢。本發(fā)明簡單易行，通過很少的電路就可實現(xiàn)對并行總線的自檢，避免了有并行總線故障導(dǎo)致系統(tǒng)數(shù)據(jù)錯誤。
【附圖說明】
[0016]圖1是本發(fā)明并行總線自檢原理示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】做進一步的說明。
[0018]本發(fā)明的一種并行總線自檢方法的實施例
[0019]本發(fā)明中待檢測的并行總線包括總線接口、主控元件101、雙向數(shù)據(jù)接口的受控元件103、只讀類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件104和只寫類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件105，其中103、104、105可以有多個。主控元件101、雙向數(shù)據(jù)接口的受控元件103、只讀類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件104和只寫類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件105均連接在總線接口 301上，受控元件工作受主控元件控制，受控元件遵循分時占用總線的原則，本發(fā)明為實現(xiàn)對待測并行總線進行自檢，首先在總線接口 301上掛接一數(shù)據(jù)鎖存元件201和鎖存數(shù)據(jù)輸出元件202，數(shù)據(jù)鎖存元件201和鎖存數(shù)據(jù)輸出元件202工作受主控元件控制，如圖1所示，該自檢方法的具體步驟如下:
[0020]1.將待測并行總線上的其它受控元件釋放并行總線，使接口芯片處于高阻狀態(tài)，本實施例中其他受控元件包括雙向數(shù)據(jù)接口的受控元件103、只讀類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件104和只寫類型的單向數(shù)據(jù)接口的受控元件105。
[0021]2.通過待檢測并行總線的主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件寫固定數(shù)據(jù)，并通過主控元件讀取所寫入的固定數(shù)據(jù)，為提高檢測的準確性，本實施例中主控元件向數(shù)據(jù)鎖存元件201寫的固定數(shù)據(jù)為55，數(shù)據(jù)鎖存元件201將被寫入的固定數(shù)據(jù)輸出到鎖存數(shù)據(jù)輸出元