極驅(qū)動(dòng)器16對(duì)參與顯示操作和觸摸檢測(cè)操作的驅(qū)動(dòng)電極COML施加交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC。具體地說(shuō)，驅(qū)動(dòng)信號(hào)生成部分15使交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC的電壓從高電平變更到低電平(圖11的(A))，并且驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器16對(duì)參與顯示操作的驅(qū)動(dòng)電極COML施加交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC作為顯示驅(qū)動(dòng)信號(hào)Vcomd，并因此開(kāi)始下一水平時(shí)段。同時(shí)，驅(qū)動(dòng)電極驅(qū)動(dòng)器16對(duì)參與觸摸檢測(cè)操作的多個(gè)驅(qū)動(dòng)電極COML施加交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC作為觸摸檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)Vcomt。觸摸檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)Vcomt通過(guò)驅(qū)動(dòng)電極COML與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的電容傳送到觸摸檢測(cè)電極TDL，并因此觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet改變，且然后收斂到OV (圖11的⑶)。
[0111]在定時(shí)tll，檢測(cè)定時(shí)控制部分46使復(fù)位信號(hào)Vir從高電平變更到低電平(圖11的(F))。因此，在觸摸檢測(cè)部分40的積分部分42內(nèi)，積分電路50的復(fù)位開(kāi)關(guān)SWR轉(zhuǎn)換到斷開(kāi)狀態(tài)。即，積分電路50轉(zhuǎn)換到積分操作狀態(tài)，并因此開(kāi)始觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt。
[0112]圖12B示出積分電路50的積分操作狀態(tài)。如圖12B所示，在積分操作狀態(tài)下，運(yùn)算放大器OPA連接到觸摸檢測(cè)電極TDL，并且電容元件Ci的兩端互相斷開(kāi)。隨后，積分電路50對(duì)觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet進(jìn)行積分。
[0113]在從定時(shí)tll到定時(shí)tl2的時(shí)段期間(觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt)，源極驅(qū)動(dòng)器13和選擇開(kāi)關(guān)部分14工作以保持像素信號(hào)線SGL的各個(gè)電壓(像素信號(hào)Vsig和Vpix)。在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt期間，積分電路50對(duì)觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet進(jìn)行積分。A/D轉(zhuǎn)換部分43對(duì)這樣積分的結(jié)果執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換。因此，在對(duì)應(yīng)于施加了觸摸檢測(cè)驅(qū)動(dòng)信號(hào)Vcomt的驅(qū)動(dòng)電極COML的區(qū)域內(nèi)執(zhí)行觸摸檢測(cè)。
[0114]此后，重復(fù)上述操作，因此，具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元通過(guò)掃描整個(gè)顯示表面來(lái)執(zhí)行顯示操作，并且通過(guò)掃描整個(gè)觸摸檢測(cè)表面來(lái)執(zhí)行觸摸檢測(cè)操作。
[0115](像素信號(hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的耦合)
[0116]在顯示時(shí)段Pd內(nèi)，因?yàn)橄袼匦盘?hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的耦合，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中呈現(xiàn)噪聲，如圖11的(H)所示。下面將詳細(xì)描述該耦合。
[0117]圖13A和圖13B示意性地示出像素信號(hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的耦合，其中圖13A示出間接耦合，而圖13B示出直接耦合。
[0118]如圖13A所示，像素信號(hào)線SGL在像素信號(hào)線SGL與驅(qū)動(dòng)電極COML之間具有寄生電容Cpdl，并且驅(qū)動(dòng)電極COML在驅(qū)動(dòng)電極COML與觸摸檢測(cè)電極TDL之間具有寄生電容Cpd2。S卩，像素信號(hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL經(jīng)由驅(qū)動(dòng)電極COML互相間接耦合。
[0119]每個(gè)驅(qū)動(dòng)電極COML具有在驅(qū)動(dòng)電極COML與多個(gè)像素信號(hào)線SGL之間的寄生電容Cpdl，如圖13A所示。因此，對(duì)多條像素信號(hào)線SGL施加的多個(gè)像素信號(hào)Vpix首先通過(guò)寄生電容Cpdl傳送到每個(gè)驅(qū)動(dòng)電極C0ML。在此，由于每個(gè)驅(qū)動(dòng)電極COML具有電阻部件，例如，即使施加直流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomDC，像素信號(hào)Vpix仍呈現(xiàn)為噪聲，例如，如圖11的(G)中的波形Wl所示。該噪聲通過(guò)寄生電容Cpd2傳送到觸摸檢測(cè)電極TDL。這樣，在觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet (圖11的⑶上的波形W2)中呈現(xiàn)因?yàn)?個(gè)像素信號(hào)Vpix導(dǎo)致的噪聲(圖11的⑶)。
[0120]此外，像素信號(hào)線SGL通過(guò)平行布置的驅(qū)動(dòng)電極COML之間的間隙具有在像素信號(hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的寄生電容Cpi，如圖13B所示。S卩，像素信號(hào)線SGL和觸摸檢測(cè)電極TDL不僅如上所述間接耦合，而且互相直接耦合。在這種直接耦合中，對(duì)像素信號(hào)線SGL施加的像素信號(hào)Vpix通過(guò)寄生電容Cpi傳送到觸摸檢測(cè)電極TDL。因此，例如，在顯示時(shí)段Pd中，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet以在黑色顯示(實(shí)線)與白色顯示(虛線)之間的不同方向移位，如圖11的(H)所示。
[0121]在具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元I中，控制讀取開(kāi)關(guān)SWS，以防止觸摸檢測(cè)操作由因?yàn)橄袼匦盘?hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間的這種耦合導(dǎo)致的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中呈現(xiàn)的噪聲影響。接著，將與比較示例進(jìn)行比較來(lái)描述實(shí)施例的功能。
[0122](比較示例)
[0123]下面描述根據(jù)比較示例具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR。利用沒(méi)有讀取開(kāi)關(guān)SWS的積分電路配置具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR。其他配置與實(shí)施例中的相同(圖4)。
[0124]圖14示出根據(jù)比較示例的積分電路50R的配置示例。除了讀取開(kāi)關(guān)SWS，根據(jù)比較示例的積分電路50R與根據(jù)實(shí)施例的積分電路50 (圖6)類似。因此，積分電路50R繼續(xù)連接到觸摸檢測(cè)電極TDL，并且提供有觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet。
[0125]下面將描述采用積分電路50R的具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR的操作。為了便于描述，分別描述像素信號(hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL之間僅間接耦合的情況和它們之間僅直接耦合的情況。
[0126]圖15示出在僅間接耦合的情況下，具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR的時(shí)序波形示例，其中㈧示出交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC的波形，⑶示出像素信號(hào)Vsig的波形，(C)示出像素信號(hào)Vpix的各個(gè)波形，(D)示出復(fù)位信號(hào)Vir的波形，(E)示出直流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomDC的波形，以及(F)示出觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的波形。
[0127]圖16A和圖16B示出積分電路50R的狀態(tài)，其中圖16A示出積分電路50R在顯示時(shí)段Pd中的狀態(tài)(復(fù)位操作狀態(tài))，而圖16B示出其在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt中的狀態(tài)(積分操作狀態(tài))。在顯示時(shí)段Pd內(nèi)，復(fù)位信號(hào)Vir處于高電平，如圖15的(D)所示，并且復(fù)位開(kāi)關(guān)SWR相應(yīng)地處于導(dǎo)通狀態(tài)(圖16A)，因此，積分電路50R處于復(fù)位操作狀態(tài)。在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt內(nèi)，復(fù)位信號(hào)Vir處于低電平，并且復(fù)位開(kāi)關(guān)SWR相應(yīng)地處于斷開(kāi)狀態(tài)(圖16B)，并因此積分電路50R處于積分操作狀態(tài)。
[0128]在具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR內(nèi)，如圖15的(F)所示，因?yàn)橄袼匦盘?hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL以與實(shí)施例中類似的方式間接耦合，所以在顯示時(shí)段Pd內(nèi)觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中呈現(xiàn)噪聲。S卩，首先，像素信號(hào)Vpix通過(guò)寄生電容Cpdl(圖13A)傳送到驅(qū)動(dòng)電極COML，并且例如表現(xiàn)為施加到驅(qū)動(dòng)電極COML的直流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomDC (圖15的(E)中的波形W3上)中的噪聲。該噪聲通過(guò)寄生電容Cpd2傳送到觸摸檢測(cè)電極TDL(圖13A)，并因此呈現(xiàn)為觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中的噪聲(圖15的(F)中的波形W4)。因此，間接耦合導(dǎo)致的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中的噪聲是因?yàn)槎鄠€(gè)像素信號(hào)Vpix中的每個(gè)的變化產(chǎn)生的，其在每個(gè)顯示時(shí)段 Pd 內(nèi)根據(jù)多個(gè)像素信號(hào) Vpix (VpixRl、VpixGl、VpixBl、VpixR2、VpixG2 和 VpixB2)中的每個(gè)的變化而發(fā)生。
[0129]在此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中呈現(xiàn)的噪聲(波形W4)與直流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomDC中的噪聲的波形(波形W3)類似。S卩，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中呈現(xiàn)的噪聲電壓基于像素信號(hào)Vpix的變化而變化，且然后逐漸變化。在此期間，在積分電路50R中，運(yùn)算放大器OPA操作以使得放大器的正輸入端和負(fù)輸入端互相虛擬地短路。即，運(yùn)算放大器OPA將電流IR提供到觸摸檢測(cè)電極TDL，以將與觸摸檢測(cè)電極TDL連接的運(yùn)算放大器OPA的負(fù)輸入端的電壓調(diào)節(jié)到0V(圖16A)。因此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet內(nèi)呈現(xiàn)的噪聲電壓基于像素信號(hào)Vpix的變化而變化，然后，由電流IR向著OV改變，并且在通過(guò)OV后極性反轉(zhuǎn)，如圖15的(F)中的波形W4所示。黑色顯示(實(shí)線)中的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的噪聲電壓與白色顯示中的觸摸檢測(cè)信號(hào)的極性互相相反。因此，例如，在顯示時(shí)段Pd結(jié)束時(shí)，黑色顯示(實(shí)線)中的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓電平與白色顯示(虛線)中的電壓電平不同。
[0130]當(dāng)顯示時(shí)段Pd結(jié)束時(shí)，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet基于交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC在定時(shí)t31時(shí)的轉(zhuǎn)換(transit1n)而發(fā)生變化。在此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的波形還根據(jù)顯示內(nèi)容發(fā)生變化，這是因?yàn)樵陲@示時(shí)段Pd結(jié)束時(shí)信號(hào)Vdet的電壓根據(jù)顯示內(nèi)容發(fā)生變化的事實(shí)。因此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt內(nèi)的積分結(jié)果也根據(jù)顯示內(nèi)容而變化。
[0131]圖17示出僅直接耦合的情況下具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR的時(shí)序波形示例，其中㈧示出交流驅(qū)動(dòng)信號(hào)VcomAC的波形，⑶示出像素信號(hào)Vsig的波形，(C)示出像素信號(hào)Vpix的波形，(D)示出復(fù)位信號(hào)Vir的波形，以及(E)示出觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的波形。該示例示出像素信號(hào)VpixRl因?yàn)橹苯玉詈隙尸F(xiàn)為觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中的噪聲的情況。
[0132]在具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR中，如圖17的(E)所示，在顯示時(shí)段Pd內(nèi)，因?yàn)橄袼匦盘?hào)線SGL與觸摸檢測(cè)電極TDL以與實(shí)施例中類似的方式直接耦合，噪聲呈現(xiàn)在觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet內(nèi)。S卩，在該示例中，像素信號(hào)VpixRl通過(guò)寄生電容Cpi (圖13)傳送到觸摸檢測(cè)電極TDL，因此呈現(xiàn)為觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中的噪聲(圖17的(E)中的波形W5)。即，在該示例中，因?yàn)橹苯玉詈系挠|摸檢測(cè)信號(hào)Vdet中的噪聲是由像素信號(hào)VpixRl在每個(gè)水平時(shí)段發(fā)生變化導(dǎo)致的，并且在每個(gè)顯示時(shí)段Pd內(nèi)，對(duì)應(yīng)于大約一個(gè)像素信號(hào)Vpix (該示例中的像素信號(hào)VpixRl)的變化而發(fā)生。
[0133]即使在這種情況下，例如，在顯示時(shí)段Pd結(jié)束時(shí)，黑色顯示中的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓電平(實(shí)線)也與白色顯示中的(虛線)不同。因此，顯示時(shí)段Pd之后的觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt內(nèi)的觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的積分結(jié)果根據(jù)顯示內(nèi)容而變化。
[0134]這樣，在根據(jù)比較示例具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR中，在考慮到像素信號(hào)線SGL和觸摸檢測(cè)電極TDL之間的直接耦合，或者考慮到它們之間的間接耦合的情況下，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓電平根據(jù)緊接在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt之前的顯示內(nèi)容而變化。因此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt內(nèi)的積分結(jié)果也根據(jù)顯示內(nèi)容發(fā)生變化。換句話說(shuō)，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的信噪比因?yàn)轱@示而惡化。因此，具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元IR的觸摸位置精度等惡化。
[0135]相反，在根據(jù)實(shí)施例的具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元I中，在考慮直接耦合或者考慮間接耦合的情況下，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓電平保持不變，而無(wú)論緊接在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt之前的顯示內(nèi)容如何。S卩，在具有觸摸檢測(cè)功能的顯示單元I中，緊接在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt之前讀取開(kāi)關(guān)SWS導(dǎo)通，從而使運(yùn)算放大器OPA的負(fù)輸入端的虛擬短路電壓(OV)施加到觸摸檢測(cè)電極TDL，因此，觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓是0V，而與顯示內(nèi)容無(wú)關(guān)(圖11的(H))。因此，在觸摸檢測(cè)時(shí)段Pt內(nèi)觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的積分結(jié)果不受顯示內(nèi)容的影響。
[0136][效果]
[0137]如上所述，在實(shí)施例中，防止像素信號(hào)線SGL的電壓在觸摸檢測(cè)時(shí)段內(nèi)變化，這使得可以抑制因?yàn)橄袼匦盘?hào)的變化引起的觸摸檢測(cè)信號(hào)的變化，因此，可以抑制顯示操作對(duì)觸摸檢測(cè)的影響。
[0138]在該實(shí)施例中，提供讀取開(kāi)關(guān)，并且該讀取開(kāi)關(guān)緊接在觸摸檢測(cè)時(shí)段之前導(dǎo)通，這使得可以將觸摸檢測(cè)信號(hào)Vdet的電壓設(shè)置為0V，而與顯示內(nèi)容無(wú)關(guān)，且因此可以抑制顯示操作對(duì)觸摸檢測(cè)的影響。
[0139][修改I]
[0140]盡管在實(shí)施例中，源極驅(qū)動(dòng)器13經(jīng)由選擇開(kāi)關(guān)部分14將像素信號(hào)Vpix施加到像素信號(hào)線SGL，但是并不局限于此。代替地，例如，源極驅(qū)動(dòng)器13可以在生成信號(hào)之后將像素信號(hào)Vpix直接施加到像素信號(hào)線SGL。換句話說(shuō)，盡管在該實(shí)施例中，在觸摸檢測(cè)時(shí)段期間，可以使每個(gè)像素信號(hào)線SGL處于浮置狀態(tài)以保持像素信號(hào)線SGL的電壓，但是并不局限于此。代替地，例如，