，還可以包括其他的測試項目。其中，對于每一測試項目的具體測試可以采用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，在此不作贅述。
[0118]如圖2所示，一種電子設(shè)備性能測試方法，可以包括:
[0119]S201，接收開始測試指令；
[0120]當(dāng)需要測試電子設(shè)備的性能時，用戶可以通過人機(jī)交互界面向電子設(shè)備發(fā)出開始測試指令，而該電子設(shè)備可以接收到該開始測試指令，進(jìn)而進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0121]S202，檢測該電子設(shè)備的運(yùn)行模式；
[0122]由于當(dāng)電子設(shè)備處于省電模式時，系統(tǒng)會自動降低CPU和GPU頻率，并且，如果CPU多核的，還可能減少運(yùn)行核心數(shù)，這樣會導(dǎo)致對電子設(shè)備的性能測試比正常運(yùn)行(即在非省電模式下運(yùn)行)時得分較低。因此，在接收到開始測試指令后，并不立即對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試，而是檢測該電子設(shè)備的運(yùn)行模式，并根據(jù)所檢測到的運(yùn)行模式進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0123]S203，判斷所檢測的該電子設(shè)備的運(yùn)行模式是否為非省電模式，如果是，執(zhí)行步驟S205 ;否則，執(zhí)行步驟S204 ；
[0124]當(dāng)檢測到電子設(shè)備的運(yùn)行模式后，可以判斷所檢測的該電子設(shè)備的運(yùn)行模式是否為非省電模式，并根據(jù)不同的判斷結(jié)果執(zhí)行不同的操作。其中，當(dāng)檢測到電子設(shè)備的運(yùn)行模式為非省電模式時，表明不存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，可以執(zhí)行步驟S205，從而直接響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試；而當(dāng)檢測到電子設(shè)備的運(yùn)行模式為省電模式時，表明存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，需要執(zhí)行步驟S204。
[0125]S204,自動將該電子設(shè)備的運(yùn)行模式切換為非省電模式，進(jìn)而執(zhí)行步驟S205 ；
[0126]因此，當(dāng)檢測到電子設(shè)備的運(yùn)行模式為省電模式時，表明存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素；而為了消除影響，可以自動將該電子設(shè)備的運(yùn)行模式切換為非省電模式，進(jìn)而執(zhí)行步驟S205。
[0127]當(dāng)然，在實(shí)際應(yīng)用中，還可以向用戶展示提示信息，以提示用戶是否對運(yùn)行模式進(jìn)行切換，并在接收到用戶發(fā)出的運(yùn)行模式切換指令后，將該電子設(shè)備的運(yùn)行模式切換為非省電模式。
[0128]S205，響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試。
[0129]需要說明的是，響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試的具體方式可以采用現(xiàn)有方式，在此不作贅述。
[0130]可見，本方案中，對電子設(shè)備的性能測試之前，當(dāng)檢測到電子設(shè)備處于省電模式時，自動將該電子設(shè)備的運(yùn)行模式切換為非省電模式，避免了省電模式對電子設(shè)備性能測試所帶來的影響，最終提高了電子設(shè)備性能測試的準(zhǔn)確性。
[0131]下面以該設(shè)備狀態(tài)包括第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)為例，對本發(fā)明實(shí)施例所提供的方案進(jìn)行介紹。當(dāng)然，該設(shè)備狀態(tài)還可以包括運(yùn)行模式、運(yùn)行狀態(tài)、第一應(yīng)用程序的狀態(tài)中的至少一種，并且，各個設(shè)備狀態(tài)的檢測及判斷互不影響。
[0132]其中，需要說明的是，本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種電子設(shè)備性能測試方法適用于電子設(shè)備中，其中，在實(shí)際應(yīng)用中，該電子設(shè)備可以為:手機(jī)、筆記本、平板電腦等設(shè)備；并且，對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試所涉及到的測試項目可以包括:虛擬機(jī)性能、多任務(wù)性能、CPU整數(shù)性能、CPU浮點(diǎn)性能、RAM速度性能、RAM運(yùn)算性能、GPU的2D繪圖性能、GPU的3D繪圖性能、數(shù)據(jù)庫I/O性能、存儲器I/O性能中的至少一種，當(dāng)然并不局限于此，還可以包括其他的測試項目。其中，對于每一測試項目的具體測試可以采用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，在此不作贅述。
[0133]如圖3所示，一種電子設(shè)備性能測試方法，可以包括:
[0134]S301，接收開始測試指令；
[0135]當(dāng)需要測試電子設(shè)備的性能時，用戶可以通過人機(jī)交互界面向電子設(shè)備發(fā)出開始測試指令，而該電子設(shè)備可以接收到該開始測試指令，進(jìn)而進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0136]S302，檢測該電子設(shè)備的第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)；
[0137]由于系統(tǒng)設(shè)置中的第一系統(tǒng)設(shè)置如果處于開啟狀態(tài)，會過多使用系統(tǒng)資源，此時將影響測試結(jié)果。因此，在接收到開始測試指令后，并不立即對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試，而是檢測該電子設(shè)備的第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)，并根據(jù)所檢測到的第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0138]其中，該第一系統(tǒng)設(shè)置可以包括:GPU抗鋸齒、USB調(diào)試、GPS (Global Posit1ningSystem,全球定位系統(tǒng))的至少一種，當(dāng)然，并不局限于此。
[0139]S303，判斷所檢測的該電子設(shè)備的每一第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)是否均為關(guān)閉狀態(tài)，如果是，執(zhí)行步驟S305 ;否則，執(zhí)行步驟S304 ；
[0140]當(dāng)檢測到電子設(shè)備的第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)后，可以判斷所檢測的該電子設(shè)備的每一第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)是否均為關(guān)閉狀態(tài)，并根據(jù)不同的判斷結(jié)果執(zhí)行不同的操作。其中，當(dāng)判斷出所檢測的該電子設(shè)備的每一第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)均為關(guān)閉狀態(tài)時，表明不存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，可以執(zhí)行步驟S305，從而直接響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試；而當(dāng)判斷出存在未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置時，表明存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，需要執(zhí)行步驟S304。
[0141]S304,自動關(guān)閉未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置，進(jìn)而執(zhí)行步驟S305 ；
[0142]因此，當(dāng)判斷出存在未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置時，表明存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素；而為了消除影響，可以自動關(guān)閉未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置，進(jìn)而執(zhí)行步驟S305。
[0143]當(dāng)然，在實(shí)際應(yīng)用中，還可以向用戶展示提示信息，以提示用戶是否關(guān)閉未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置，并在接收到用戶發(fā)出的關(guān)閉指令后，關(guān)閉未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置。
[0144]S305,響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試。
[0145]需要說明的是，響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試的具體方式可以采用現(xiàn)有方式，在此不作贅述。
[0146]可見，本方案中，對電子設(shè)備的性能測試之前，當(dāng)檢測到未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置時，自動關(guān)閉未處于關(guān)閉狀態(tài)的第一系統(tǒng)設(shè)置，避免了第一系統(tǒng)設(shè)置處于開啟狀態(tài)而對電子設(shè)備性能測試所帶來的影響，最終提高了電子設(shè)備性能測試的準(zhǔn)確性。
[0147]下面以該設(shè)備狀態(tài)包括運(yùn)行狀態(tài)為例，對本發(fā)明實(shí)施例所提供的方案進(jìn)行介紹。當(dāng)然，該設(shè)備狀態(tài)還可以包括運(yùn)行模式、第一系統(tǒng)設(shè)置的狀態(tài)、第一應(yīng)用程序的狀態(tài)中的至少一種，并且，各個設(shè)備狀態(tài)的檢測及判斷互不影響。
[0148]其中，需要說明的是，本發(fā)明實(shí)施例所提供的一種電子設(shè)備性能測試方法適用于電子設(shè)備中，其中，在實(shí)際應(yīng)用中，該電子設(shè)備可以為:手機(jī)、筆記本、平板電腦等設(shè)備；并且，對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試所涉及到的測試項目可以包括:虛擬機(jī)性能、多任務(wù)性能、CPU整數(shù)性能、CPU浮點(diǎn)性能、RAM速度性能、RAM運(yùn)算性能、GPU的2D繪圖性能、GPU的3D繪圖性能、數(shù)據(jù)庫I/O性能、存儲器I/O性能中的至少一種，當(dāng)然并不局限于此，還可以包括其他的測試項目。其中，對于每一測試項目的具體測試可以采用現(xiàn)有技術(shù)實(shí)現(xiàn)，在此不作贅述。
[0149]如圖4所示，一種電子設(shè)備性能測試方法，可以包括:
[0150]S401，接收開始測試指令；
[0151]當(dāng)需要測試電子設(shè)備的性能時，用戶可以通過人機(jī)交互界面向電子設(shè)備發(fā)出開始測試指令，而該電子設(shè)備可以接收到該開始測試指令，進(jìn)而進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0152]S402，檢測該電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)；
[0153]由于如果當(dāng)前電量過低或者當(dāng)前溫度過高，系統(tǒng)就會自動降低系統(tǒng)頻率，此時將導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確；如果當(dāng)前剩余內(nèi)存太低，因?yàn)槿魏螒?yīng)用程序都會使用到內(nèi)存，內(nèi)存對電子設(shè)備整個性能的影響是非常大的，因此，也將導(dǎo)致測試得分偏低。因此，在接收到開始測試指令后，并不立即對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試，而是檢測該電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)，并根據(jù)所檢測到的運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)行后續(xù)的處理。
[0154]其中，運(yùn)行狀態(tài)可以包括:
[0155]當(dāng)前溫度、當(dāng)前電量和當(dāng)前剩余內(nèi)存大小中的至少一種。
[0156]S403，判斷所檢測的該電子設(shè)備的每一種運(yùn)行狀態(tài)是否均符合所對應(yīng)的第一條件，如果是，執(zhí)行步驟S405 ;否則，執(zhí)行步驟S404 ；
[0157]當(dāng)檢測到電子設(shè)備的運(yùn)行狀態(tài)后，可以判斷所檢測的該電子設(shè)備的每一種運(yùn)行狀態(tài)是否均符合所對應(yīng)的第一條件，并根據(jù)不同的判斷結(jié)果執(zhí)行不同的操作。其中，當(dāng)判斷出所檢測的該電子設(shè)備的每一種運(yùn)行狀態(tài)均符合所對應(yīng)的第一條件，表明不存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，可以執(zhí)行步驟S405，從而直接響應(yīng)該開始測試指令，對該電子設(shè)備進(jìn)行性能測試；而當(dāng)判斷出存在不符合所對應(yīng)第一條件的運(yùn)行狀態(tài)時，表明存在影響性能測試準(zhǔn)確性的因素，因此，可以執(zhí)行步驟S404。
[0158]其中，當(dāng)運(yùn)行狀態(tài)包括當(dāng)前溫度時，運(yùn)行狀態(tài)所對應(yīng)的第一條件可以包括:
[0159]該當(dāng)前溫度不高于第一溫度閾值；
[0160]當(dāng)運(yùn)行狀態(tài)包括當(dāng)前電量時，運(yùn)行狀態(tài)所對應(yīng)的第一條件可以包括:
[0161]該當(dāng)前電量不低于第一電量閾值；
[0162]當(dāng)運(yùn)行狀態(tài)包括當(dāng)前剩余內(nèi)存大小時，