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      位置傳感器的制造方法

      文檔序號:9650568閱讀:733來源:國知局
      位置傳感器的制造方法
      【專利說明】位置傳感器
      [0001]技術區(qū)域
      [0002]本發(fā)明涉及一種以光學方式檢測位置的位置傳感器。
      【背景技術】
      [0003]以往,提出了一種以光學方式探測按壓位置的位置傳感器(例如參照專利文獻1)。關于該位置傳感器,沿縱橫方向配置作為光路的多個芯,通過用包層覆蓋這些芯的周緣部來形成片狀的光波導,使來自發(fā)光元件的光射入到上述各芯的一個端面,并利用受光元件在各芯的另一個端面感測在各芯內傳播的光。而且,當用手指等按壓該片狀的位置傳感器的表面的一部分時,該按壓部分的芯被擠壓(按壓方向的芯的截面積變小),在該按壓部分的芯中,光傳播量減少,上述受光元件處的光感測量降低,因此能夠探測上述按壓位置。
      [0004]S卩,在以這種方式縱橫配置的芯內傳播光的狀態(tài)下,表示上述受光元件從上述各芯接收光的受光強度的曲線圖通常如圖6的(a)所示那樣,上述受光側的橫邊部的中央部和縱邊部的中央部變強。在此,各芯按其排列順序與受光元件的受光部的各像素連接。
      [0005]在該狀態(tài)下,例如如果在上述位置傳感器的中央部分用筆、手指等輸入文字等,則位置傳感器的表面的一部分被該筆尖、指尖等按壓,在該按壓部分,上述受光元件處的受光強度變弱,上述曲線圖也如圖6的(b)所示那樣,與上述按壓部分對應的部分下降。
      [0006]而且,為了探測進行了輸入的上述筆尖、指尖等的位置(坐標),需要識別上述受光強度變弱的部分(按壓部分)。因此,如圖6的(c)所示,設定上述受光強度的閾值,通過使受光強度比該閾值弱來探測上述筆尖、指尖等的位置(坐標)。
      [0007]專利文獻1:日本特開平8-234895號公報

      【發(fā)明內容】

      _8] 發(fā)明要解決的問題
      [0009]然而,在上述情況下,受光強度比閾值弱的部分并非僅僅是上述按壓部分,在圖6的(c)所示的4處粗箭頭部分D也存在受光強度比閾值弱的部分。因此,無法正確地探測上述筆尖、指尖的位置。
      [0010]因此,本發(fā)明人在開始使用時進行一次如圖7的(a)所示那樣將圖6的(a)所示的具有強弱的受光強度設為基準(100%)的處理(參照值獲取),相對于該使用開始時的參照值獲取重新設定閾值(例如,相對于上述受光強度的基準為50%的值)。通過這樣,如圖7的(b)所示,只有被上述筆尖、指尖等按壓的按壓部分比上述新閾值小,能夠正確地探測上述筆尖、指尖等的位置。
      [0011]然而,即使是這樣的位置傳感器,根據情況也存在上述筆尖、指尖的探測不正確的情形。因此,本發(fā)明人研究其原因,結果得知其原因是:在輸入時,如果拿著上述筆等的手放在上述片狀的位置傳感器上等,則上述光波導變形,進行了上述參照值獲取的受光強度雜亂,盡管沒有用上述筆尖、指尖等進行輸入也出現低于上述新閾值的部分。得知上述位置傳感器在該點上有改善的余地。
      [0012]本發(fā)明是鑒于這種情況而完成的,其目的在于提供一種即使受光元件處的受光強度雜亂也能夠維持筆尖、指尖等的按壓位置的探測正確性的位置傳感器。
      _3] 用于解決問題的方案
      [0014]為了實現上述目的,本發(fā)明的位置傳感器采用以下結構:具備下述片狀的光波導(A)、與該光波導的芯的一個端面相連接的發(fā)光元件、與上述芯的另一端面相連接的受光元件,由上述發(fā)光元件發(fā)出的光經由上述光波導的芯而被上述受光元件接收,將與上述光波導的格子狀的芯部分對應的上包層的表面部分作為輸入區(qū)域,根據由向該輸入區(qū)域的任意部位的按壓導致的上述芯的光傳播量的變化來確定該按壓的部位,該位置傳感器的特征在于,具備:基準化單元,其從該位置傳感器的使用開始時起以規(guī)定的時間間隔間歇性地將上述受光元件從上述芯接收光的受光強度設定為固定基準值;以及基準化中止單元,其在上述受光元件感測到由上述按壓導致的上述芯的光傳播量的變化時,中止由上述基準化單元進行的基準值設定。
      [0015]片狀的光波導(A)是在片狀的下包層的表面將多個線狀的芯配置形成為格子狀,并將上包層以覆蓋這些芯的狀態(tài)形成為片狀而得到的。
      _6] 發(fā)明的效果
      [0017]本發(fā)明的位置傳感器具備從該位置傳感器的使用開始時起以規(guī)定的時間間隔間歇性地將受光元件從芯接收光的受光強度設定為固定基準值的基準化單元,因此,對于本發(fā)明的位置傳感器,即使例如將手放在位置傳感器上等而導致光波導變形、受光元件處的受光強度雜亂,也會在規(guī)定時間內再次將受光強度設定為固定基準值。以規(guī)定的時間間隔反復進行該設定。由此,即使如上所述那樣受光元件處的受光強度雜亂,也會在規(guī)定時間內再次將受光強度設定為固定基準值,在用筆、手指等進行輸入時,只有被其前端(筆尖、指尖等)按壓的按壓部分的受光強度變小,能夠正確地探測其按壓位置。而且,本發(fā)明的位置傳感器具備基準化中止單元,因此,當如上所述那樣探測到筆尖、指尖等的按壓位置時,中止將上述受光強度設定為固定基準值的設定。由此,能夠防止由于將上述受光強度設定為固定基準值而消除所探測到的上述按壓位置的位置數據。
      [0018]特別是,在利用上述基準化單元將受光強度設定為固定基準值的規(guī)定的時間間隔在50ms?5000ms的范圍內的情況下,能夠在通常使用本發(fā)明的位置傳感器時適當地進行輸入。
      【附圖說明】
      [0019]圖1示意地表示本發(fā)明的位置傳感器的一個實施方式,(a)是其俯視圖,(b)是其主要部位的放大截面圖。
      [0020]圖2的(a)是表示通常狀態(tài)下的上述位置傳感器的受光元件處的受光強度的曲線圖,(b)是表示對(a)進行基準化處理后的光的強度比的曲線圖,(c)是表示在(b)中探測到按壓位置的狀態(tài)的曲線圖。
      [0021]圖3是表示上述位置傳感器的CPU中的程序的流程圖的一例的說明圖。
      [0022]圖4的(a)?(f)是示意地表示上述位置傳感器中的格子狀的芯的交叉方式的放大俯視圖。
      [0023]圖5的(a)、(b)是示意地表示上述格子狀的芯的交叉部處的光的行進路徑的放大俯視圖。
      [0024]圖6的(a)是表示通常狀態(tài)下的以往的位置傳感器的受光元件處的受光強度的曲線圖,(b)是表示在(a)中探測到按壓位置的狀態(tài)的曲線圖,(c)是表示在(b)中設定了閾值的狀態(tài)的曲線圖。
      [0025]圖7的(a)是表示對上述圖6的(a)進行基準化處理后的光的強度比的曲線圖,(b)是表示在(a)中探測到按壓位置的狀態(tài)的曲線圖。
      【具體實施方式】
      [0026]接著,基于附圖來詳細地說明本發(fā)明的實施方式。
      [0027]圖1的(a)是表示本發(fā)明的位置傳感器的一個實施方式的俯視圖,圖1的(b)是將其中央部的截面放大后的圖。該實施方式的位置傳感器具備:四邊形片狀的光波導W,其是用四邊形片狀的下包層1和上包層3夾持格子狀的芯2而得到的;發(fā)光元件4,其與構成上述格子狀的芯2的線狀的芯2的一個端面相連接;以及受光元件5,其與上述線狀的芯2的另一個端面相連接。而且,從上述發(fā)光元件4發(fā)出的光在上述芯2中經過并被上述受光元件5接收。而且,與格子狀的芯2的部分對應的上包層3的表面部分成為輸入區(qū)域。此夕卜,在圖1的(a)中,用虛線表示芯2,虛線的粗細表示芯2的粗細。另外,在圖1的(a)中,省略芯2的數量地進行圖示。而且,圖1的(a)的箭頭表示光的行進方向。
      [0028]而且,該實施方式的位置傳感器不僅在使用開始時進行在上述以往的位置傳感器中進行的、將受光元件5從各芯2接收光的受光強度設定為固定基準值的基準化處理(參照值獲取)(參照圖7),還從使用開始時起以規(guī)定的時間間隔間歇性地進行上述基準化處理。而且,當在用筆、手指等輸入時受光元件5感測到由其筆尖、指尖等的按壓造成的上述芯2的光傳
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