一種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的系統(tǒng)及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及嵌入式存儲器最大工作頻率的測量技術(shù)，具體而言，涉及一種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的系統(tǒng)及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]存儲器的最大時(shí)鐘工作頻率就是存儲器開始失效工作的頻率值。參見圖1、圖2所示，傳統(tǒng)的測量嵌入式存儲器最大工作頻率的方法為:測試機(jī)臺預(yù)先設(shè)定輸入時(shí)鐘頻率變化步長，逐步由高到低(或者由低到高)調(diào)節(jié)嵌入式存儲器的工作時(shí)鐘頻率，然后對嵌入式存儲器進(jìn)行寫數(shù)據(jù)與讀數(shù)據(jù)操作，測試機(jī)臺端從嵌入式存儲器讀取數(shù)據(jù)并與測試機(jī)臺設(shè)定的參考數(shù)據(jù)作比較，判定存儲器在該時(shí)鐘頻率下是否正常工作。如果讀出的數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)一致，則該時(shí)鐘頻率下存儲器能夠在正常工作，如果讀取的數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)不一致，則說明在此種時(shí)鐘頻率，存儲器工作失效。
[0003]傳統(tǒng)的采用測試機(jī)臺測量嵌入式存儲器輸入時(shí)鐘頻率的方法，雖然直觀，但是由于每次調(diào)節(jié)輸入時(shí)鐘頻率后都要通過芯片1輸送至內(nèi)嵌的存儲器，受限于大部分芯片1的最大工作頻率只有10MHz以下，而內(nèi)部嵌入式存儲器的最大工作頻率達(dá)到了 1000MHz以上，因此利用外部機(jī)臺直接輸入時(shí)鐘到嵌入式存儲器來測量其最大工作頻率的方法顯然是不可行的。因此目前急需找到一種快速有效測量嵌入式存儲器最大工作頻率的方法。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的系統(tǒng)及方法，旨在解決通過外部輸入時(shí)鐘測試嵌入式存儲器最大工作頻率所遇到的瓶頸，提高測試效率，減少芯片成本。
[0005]為實(shí)現(xiàn)上述技術(shù)目的，達(dá)到上述技術(shù)效果，本發(fā)明通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的系統(tǒng)，包括一個(gè)外設(shè)的測試機(jī)臺和若干個(gè)置于芯片上的嵌入式存儲器，還包括同樣位于所述芯片上的鎖相環(huán)、加法器、狀態(tài)機(jī)、參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器和數(shù)據(jù)比較器5個(gè)模塊;所述測試機(jī)臺分別與所述狀態(tài)機(jī)和所述鎖相環(huán)連接，所述狀態(tài)機(jī)分別連接所述加法器、所述數(shù)據(jù)比較器和所述參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器，所述狀態(tài)機(jī)還通過輸入總線分別與每個(gè)所述嵌入式存儲器連接，所述加法器分別與所述狀態(tài)機(jī)和所述鎖相環(huán)連接，所述鎖相環(huán)與所述狀態(tài)機(jī)連接，且還與每個(gè)所述嵌入式存儲器連接，每個(gè)所述嵌入式存儲器均通過輸出總線與所述數(shù)據(jù)比較器連接，所述參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器與所述數(shù)據(jù)比較器連接，所述數(shù)據(jù)比較器與所述測試機(jī)臺連接。
[0006]進(jìn)一步的，所述加法器可替換為減法器。
[0007]—種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的方法，包括以下步驟:
步驟I)所述測試機(jī)臺向所述狀態(tài)機(jī)發(fā)送開始信號和時(shí)鐘信號，并同時(shí)向所述鎖相環(huán)發(fā)送參考時(shí)鐘信號；
步驟2)所述狀態(tài)機(jī)產(chǎn)生進(jìn)位使能信號，并發(fā)送給所述加法器或減法器，控制所述加法器或減法器產(chǎn)生可選擇位；
步驟3)所述加法器或減法器將產(chǎn)生的可選擇位發(fā)送給所述鎖相環(huán)，進(jìn)而調(diào)節(jié)所述鎖相環(huán)的輸出時(shí)鐘頻率；
步驟4)所述鎖相環(huán)將設(shè)定好的輸出時(shí)鐘頻率同時(shí)發(fā)送到所述狀態(tài)機(jī)和每個(gè)所述嵌入式存儲器；
步驟5)所述狀態(tài)機(jī)產(chǎn)生存儲器數(shù)據(jù)輸入與控制信號，并發(fā)送給每個(gè)所述嵌入式存儲器，對所述嵌入式存儲器進(jìn)行寫操作和讀操作；同時(shí)所述狀態(tài)機(jī)產(chǎn)生參考數(shù)據(jù)使能信號，并發(fā)送給所述參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器，使所述參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器產(chǎn)生參考數(shù)據(jù)；
步驟6)每個(gè)所述嵌入式存儲器讀出的存儲陣列數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器；同時(shí)，所述參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器將產(chǎn)生的參考數(shù)據(jù)發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器；
步驟7)所述狀態(tài)機(jī)產(chǎn)生數(shù)據(jù)比較使能信號，并發(fā)送給所述數(shù)據(jù)比較器，所述數(shù)據(jù)比較器將所述存儲陣列數(shù)據(jù)與所述參考數(shù)據(jù)作比較，并將數(shù)據(jù)比較結(jié)果同時(shí)發(fā)送給所述測試機(jī)臺和所述狀態(tài)機(jī)；
步驟8)若數(shù)據(jù)比較結(jié)果不一致，則測試立即結(jié)束;若數(shù)據(jù)比較結(jié)果一致，則返回步驟2，所述狀態(tài)機(jī)經(jīng)所述加法器或減法器控制所述鎖相環(huán)自動(dòng)下調(diào)或上調(diào)輸出時(shí)鐘頻率，繼續(xù)測試，周而復(fù)始，直至數(shù)據(jù)比較結(jié)果不一致。
[0008]進(jìn)一步的，步驟5中，所述的存儲器數(shù)據(jù)輸入與控制信號包括片選信號、時(shí)鐘信號、寫使能信號、讀使能信號、地址輸入總線和數(shù)據(jù)輸入總線。
[0009]本發(fā)明的各個(gè)模塊的功能及工作原理如下:
狀態(tài)機(jī):接收測試機(jī)臺送入的時(shí)鐘信號與開始信號以及比較結(jié)果信號；產(chǎn)生“進(jìn)位使能”信號控制加法器(或減法器)；產(chǎn)生“存儲器數(shù)據(jù)輸入與控制信號”如片選信號，時(shí)鐘信號，寫使能信號，讀使能信號，地址輸入總線，數(shù)據(jù)輸入總線，控制存儲器的寫與讀操作;產(chǎn)生參考數(shù)據(jù)使能信號，控制參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器。
[0010]鎖相環(huán):接收測試機(jī)臺送入的參考時(shí)鐘和加法器(或減法器)產(chǎn)生的頻率調(diào)節(jié)所需的可選擇位，調(diào)節(jié)“鎖相環(huán)時(shí)鐘輸出”(存儲器的工作時(shí)鐘)，同時(shí)該“鎖相環(huán)時(shí)鐘輸出”被送入到每個(gè)所述嵌入式存儲器與狀態(tài)機(jī)。
[0011]加法器(或減法器):產(chǎn)生鎖相環(huán)時(shí)鐘輸出頻率調(diào)節(jié)所需的可選擇位，控制鎖相環(huán)的輸出時(shí)鐘頻率。
[0012]參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器:接收狀態(tài)機(jī)送入的“參考數(shù)據(jù)使能”信號，產(chǎn)生用于比較器的參考數(shù)據(jù)。
[0013]數(shù)據(jù)比較器:接收狀態(tài)機(jī)送入的“數(shù)據(jù)比較使能”信號，接收參考數(shù)據(jù)比較器送入的參考數(shù)據(jù)，接收存儲器讀出的存儲陣列數(shù)據(jù)，將存儲陣列數(shù)據(jù)與參考數(shù)據(jù)作比較，送出“數(shù)據(jù)比較結(jié)果”信號到測試機(jī)臺與狀態(tài)機(jī)。
[0014]與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是:
1、本發(fā)明通過內(nèi)建自動(dòng)化測試系統(tǒng)，將嵌入式存儲器的工作時(shí)鐘頻率的的調(diào)節(jié)功能置于芯片內(nèi)部而不是通過測試機(jī)臺來完成，解決了通過外部測試機(jī)臺直接輸入時(shí)鐘去測試嵌入式存儲器所遇到的芯片1最大工作頻率瓶頸問題。由于內(nèi)建鎖相環(huán)輸出的時(shí)鐘穩(wěn)定且不受芯片1最大工作頻率的限制(一般頻率范圍能從幾十MHz到幾個(gè)GHz )，所以本發(fā)明可以真正測到嵌入式存儲器得最大工作頻率，因而可以在較短的時(shí)間里將芯片內(nèi)部某個(gè)或者某幾個(gè)嵌入式存儲器工作的最低電源電壓測量出來。
[0015]2、采用本發(fā)明的電路系統(tǒng)與外部測試機(jī)臺產(chǎn)生交互所需的管腳數(shù)量比傳統(tǒng)方法要少，大大節(jié)省了芯片封裝成本。
[0016]3、本發(fā)明在測試機(jī)臺發(fā)出“開始”測試信號后，測試人員只需要在測試機(jī)臺端檢查從芯片內(nèi)部送出的“數(shù)據(jù)比較結(jié)果”信號以及“可選擇位”，即可確定芯片內(nèi)部嵌入式存儲器的最大工作頻率，這大大減少了測量嵌入式存儲器最大的工作頻率的時(shí)間，提升了測試效率。
[0017]上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。本發(fā)明的【具體實(shí)施方式】由以下實(shí)施例及其附圖詳細(xì)給出。
【附圖說明】
[0018]此處所說明的附圖用來提供對本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
圖1為傳統(tǒng)的嵌入式存儲器最大工作頻率測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖；
圖2為傳統(tǒng)的嵌入式存儲器最大工作頻率測量方法的測試流程圖；
圖3為本發(fā)明的系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖；
圖4為本發(fā)明的測試流程圖。
[0019]圖中標(biāo)號說明:1、測試機(jī)臺；2、鎖相環(huán);3、加法器;4、狀態(tài)機(jī);5、參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器；
6、數(shù)據(jù)比較器;7、嵌入式存儲器。
【具體實(shí)施方式】
[0020]下面將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例，來詳細(xì)說明本發(fā)明。
[0021]參見圖3所示，一種自動(dòng)測量嵌入式存儲器最大工作頻率的系統(tǒng)，包括一個(gè)外設(shè)的測試機(jī)臺I和若干個(gè)置于芯片上的嵌入式存儲器7，還包括同樣位于所述芯片上的鎖相環(huán)2、加法器3、狀態(tài)機(jī)4、參考數(shù)據(jù)產(chǎn)生器5和數(shù)據(jù)比較器6;所述測試機(jī)臺I分別與所述