與層之間組合的膜。這排除了鑄膜(歸因于厚度)并且嚴格地限制了偽造者能夠使用的BOPP膜的選擇。
[0066]2.雙折射:將由拉幅法制備的BOPP膜更多地以橫向取向而不是以縱向取向，并因此有比由雙發(fā)泡方法制成的BOPP膜更多的雙折射。能夠使用雙發(fā)泡方法精確地控制雙折射并由此能夠提供能夠排除更多膜的獨特識別標志。
[0067]根據(jù)厚度、取向或共擠限度，兩種測試的組合還可以排除非PP膜。
[0068]設計方案，其中為方法設定安全性變化的等級(等級I為最低安全；等級6為最高安全)，所述方法為確定材料是否包含由折疊的氣泡制成的大約X微米厚度的膜，每一半氣泡大約為X/2微米厚并且包含作為芯層的BOPP和作為表層的三元共聚物(隨后兩內(nèi)表層產(chǎn)生層壓層)。
[0069]等級1:基于厚度差區(qū)分真的產(chǎn)品和假的產(chǎn)品。
[0070]等級2:區(qū)分雙折射膜和非雙折射膜(即拉幅的或未拉幅的)。
[0071]等級3:區(qū)分膜結構(即該膜是由x/2微米厚的兩個一半層壓制成或不是由此制成)
[0072]等級4:區(qū)分由χ/2 μm的兩個一半層壓制成的非雙折射非泡膜與氣泡膜。
[0073]等級5:區(qū)分已經(jīng)進行折疊氣泡層壓的泡膜和在層壓后分開處理的泡膜-在厚度和雙折射上存在差異)。
[0074]等級6:區(qū)分由一特殊發(fā)泡方法制成的X微米折疊的泡膜和由不同發(fā)泡方法制成的X微米折疊的泡膜。
[0075]對任何等級的檢測表明成功-等級I排除99%市售的膜；等級2的檢測除去類似于發(fā)泡制備的BOPP的最常見的膜。等級4被認為是成功可接受的等級；然而，目前檢測器在等級5操作并由此被認為是除了不切實際的確定的嘗試(即建立雙發(fā)泡方法-盡管這樣，其可能不會欺騙檢測器)以外為安全的。
[0076]以上范圍未表明不能偽造膜-存在不標準的以及仍然未知的實現(xiàn)類似結構的膜的方法。然而，就偽造者而言，偽造膜將需要大量的專業(yè)知識。
[0077]實際上偽造的膜更可能被買到而不是被偽造者制成。存在能夠被分為三種主要類型的數(shù)個來源:
[0078]1.鑄膜或吹膜-通過從模具中將聚合物擠出于冷輥上來制備鑄膜。通過從環(huán)狀膜擠出聚合物并以半熔融狀態(tài)使氣泡膨脹來制備吹膜。鑄膜和吹膜通常為無或輕微地取向并因此具有較差的尺寸穩(wěn)定性(即它們能夠被容易地拉伸)，較弱光學和厚度控制。
[0079]2.單取向膜-通過從模具擠出并在縱向拉伸來制備單取向膜。單取向膜為高度取向的，它們具有較弱光學和弱橫向尺寸穩(wěn)定性。
[0080]3.雙軸取向膜-雙軸取向膜從Innovia Films Limited處和大量其它廠商處商購。來自許多廠商的市售級別的BOPP通常由拉幅法制成，其中將PP通過沖模擠出在冷卻輥上，在加熱輥的縱向上拉伸并在張布架框架的橫向上拉伸。這些膜自身為各向異性而不像由雙發(fā)泡方法制成的Β0ΡΡ，所述BOPP均勻地在所有方向上拉伸取向。可能最大的偽造威脅在于將薄膜層壓在一起以模仿較厚膜，這就是為什么選擇接下來的實施例以證明本發(fā)明的方法能夠區(qū)分這些情況。
實施例
[0081]5層(真實)膜
[0082]使用所謂的雙發(fā)泡方法制備五層膜。將來自三擠出機的(一大核心擠出機和兩較小皮擠出機)的熔融的聚合物從環(huán)形膜中擠出以制備Imm至2_厚的聚丙烯管。隨后將該管再次加熱并通過將在縱向上拉膜和將其吹入氣泡以在橫向上拉伸結合來同時在橫向和縱向上拉伸。已經(jīng)將所得的膜8X8拉伸以制備厚度為20 μ m至50 μ m的膜。能夠?qū)⒃撆萸袛嗖⒗瓰閮蓚€一半(以制備三層膜)或能夠使其折疊并層壓在一起以制備厚度為50 μπι至100 μπι的五層膜。在本實施例中，制備5層膜，并隨后將膜經(jīng)由再次加熱退火并卷起為卷軸。五層由兩外表層(〈0.5 μm)、兩主要核心區(qū)(20μηι-55μηι)和保持兩芯層在一起的單獨的層壓層(〈I μπι)組成。從該樣品的總厚度獲得每一層的厚度和雙折射。在圖4中顯示所得膜結構(設定為“真實”)的干涉圖。
[0083]5層(偽造)膜
[0084]通過將“真實”膜的兩網(wǎng)層壓在一起而從設定的真實膜制備假定的偽造膜。在圖5中顯示所得膜結構(設定為“偽造”)的干涉圖。
【主權項】
1.鑒別包含聚合物膜多層基質(zhì)的偽造物品的方法，所述方法包括通過白光干涉測量法測量所述多層基質(zhì)的層的厚度，將在所述測量步驟中獲得的厚度測量值與表示指定的真實膜的預先確定的厚度值相比較，以及基于所述比較，確定所述包含聚合物膜多層基質(zhì)的物品是否是偽造的。2.如權利要求1所述的方法，其中在所述膜的芯層上進行所述測量。3.鑒別包含聚合物膜多層基質(zhì)的偽造物品的方法，所述方法包括測量所述多層基質(zhì)的芯層的雙折射，將在所述測量步驟中獲得的雙折射值與表示指定的真實膜的預先確定的雙折射值相比較，以及基于所述比較，確定所述包含聚合物膜多層基質(zhì)的物品是否是偽造的。4.鑒別包含聚合物膜多層基質(zhì)的偽造物品的方法，所述方法包括通過白光干涉測量法測量所述多層基質(zhì)的層的厚度和/或測量所述多層基質(zhì)的芯層的雙折射，將在所述厚度測量步驟中獲得的厚度測量值與表示指定的真實膜的預先確定的厚度值相比較和/或?qū)⒃谒鲭p折射測量步驟中獲得的雙折射值與表示指定的真實膜的預先確定的雙折射值相比較，以及基于所述任一比較或基于所述兩種比較，確定所述包含聚合物膜多層基質(zhì)的物品是否是偽造的。5.如權利要求4所述的方法，其中在所述膜的芯層上進行厚度的測量。6.如前述任一權利要求所述的方法，其中在多于一層上進行測量。7.如前述任一權利要求所述的方法，其中使用脈沖光源進行測量。8.如前述任一權利要求所述的方法，其中使用失諧光源進行測量。9.如前述任一權利要求所述的方法，其中使用LED光源進行測量。10.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述膜包含至少一種澄清劑。11.如前述任一權利要求所述的方法，其中通過發(fā)泡方法來制備所述膜。12.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述膜包括雙軸取向聚丙烯(BOPP)層。13.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述膜為三層或更多聚合物層的單網(wǎng)。14.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述膜為五層或更多聚合物層的雙網(wǎng)。15.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述方法區(qū)分由發(fā)泡方法制成的膜和由不同方法制成的膜。16.如前述任一權利要求所述的方法，其中所述物品為: 紙幣； 政府文件； 非政府文件； 身份證件； 護照； 安全線； 光可變器件(OVD);或者 物品的包裝或附件。17.基于膜不符合規(guī)定的預先確定的厚度標準和/或雙折射標準來識別偽造膜的方法，其利用前述任一權利要求所述的方法。18.如權利要求17所述的方法，其為適于識別將來會制造的膜或物體的向前兼容的方法。19.如權利要求17所述的方法，其為用于識別已經(jīng)存在的膜或物體的向后兼容的方法。20.白光干涉測量法和/或雙折射測量在確定包括聚合物膜基質(zhì)的安全物品的真實性中的用途。
【專利摘要】鑒定聚合物膜的方法，其包括通過白光干涉測量法測量其中的層厚度和/或測量其中的層的雙折射?？梢詫⒃摲椒ê蛯嵤┰摲椒ǖ脑O備用于安全應用中，例如測試偽造的紙幣。
【IPC分類】G01N21/23, G07D7/16, G01B11/06, G01N21/45
【公開號】CN104899964
【申請?zhí)枴緾N201510103666
【發(fā)明人】羅伯特·萊爾德·斯圖爾特
【申請人】伊諾維亞薄膜有限公司
【公開日】2015年9月9日
【申請日】2009年4月28日
【公告號】CA2725407A1, CN102016493A, EP2274570A1, EP2388551A2, EP2388551A3, US20110043821, US20130335732, WO2009133390A1