本發(fā)明涉及存儲器技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種存儲器及通過測試機臺對存儲器進行測試的方法。

背景技術(shù)：
隨著半導體工藝尺寸的不斷縮小，嵌入式存儲器可能存在的缺陷數(shù)量及缺陷類型越來越多。嵌入式存儲器的測試技術(shù)包括：直接測試、用嵌入式處理器進行測試和內(nèi)建自測試技術(shù)(MemoryBuiltInSelf-Test，MBIST)。與其它兩種技術(shù)相比，存儲器的內(nèi)建自測試技術(shù)具體很多優(yōu)勢，例如，可以實現(xiàn)可測性設(shè)計的自動化、自動實現(xiàn)通用存儲器測試算法、可利用系統(tǒng)時鐘進行“全速”測試以及可針對每一個存儲單元提供自診斷和自修復功能等。從高測試質(zhì)量、低測試成本的角度考慮，MBIST成為目前嵌入式存儲器測試的主流技術(shù)。圖1示出了現(xiàn)有的一種存儲器的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，測試開始時，機臺通過復位引腳RST向被測試芯片10發(fā)送復位信號，將邏輯控制電路11復位至初始狀態(tài)。電源引腳Vcc與電源節(jié)點a相連，測試引腳VPP與檢測節(jié)點b相連；測試時，機臺通過所述電源引腳Vcc向所述被測試芯片10提供電源電壓、通過時鐘引腳TCK向被測試芯片10發(fā)送時鐘信號。并且，機臺按照時鐘信號的頻率發(fā)送輸入數(shù)據(jù)，所述輸入數(shù)據(jù)通過數(shù)據(jù)引腳I/O輸入后由所述邏輯控制電路11解碼，并對閃存12等存儲電路進行測試。測試完成后，測試結(jié)果在所述邏輯控制電路11的控制下由所述數(shù)據(jù)引腳I/O返回機臺。在某些具體測試項目中，機臺還需要通過測試引腳VPP測量閃存12的電壓、電流等數(shù)據(jù)以判斷所述閃存12的性能是否良好。對于KALOSI測試機臺來說，一個機臺通常包括16個模組(module)，每個模組包括4個電源端和48個通道(channel)。那么，這種機臺共包括16×48＝768個通道。對于存儲器來說，與機臺通道相連的引腳的數(shù)目決定著并行測試(ParallelTest)的芯片數(shù)量。圖1所示的存儲器在KALOSI測試機臺上進行測試時需要占用五個通道，即電源引腳Vcc、復位引腳RST、時鐘引腳TCK、數(shù)據(jù)引腳I/O和測試引腳VPP等5個引腳分別占用一個通道。另外，KALOSI測試機臺的電源端通常對應(yīng)連接兩個通道以給兩個存儲器提供電源電壓。這樣，KALOSI測試機臺的每個模組可同時測試的存儲器的數(shù)量為8個，那么機臺上16個模組可同時測試的存儲器的數(shù)量為8×16＝128個?，F(xiàn)有技術(shù)中，并行測試的存儲器的數(shù)量少，測試效率不高。

技術(shù)實現(xiàn)要素：
本發(fā)明解決的是現(xiàn)有技術(shù)中對存儲器進行并行測試時效率不高的問題。為解決上述問題，本發(fā)明提供一種存儲器，包括：電源引腳、測試引腳、適于接收控制數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)引腳、適于提供電源電壓的電源節(jié)點和適于檢測存儲器的性能參數(shù)的檢測節(jié)點，還包括：識別單元，適于根據(jù)所述數(shù)據(jù)引腳接收的控制數(shù)據(jù)識別要執(zhí)行的測試項目；切換單元，適于在所述識別單元的識別結(jié)果為執(zhí)行第一測試項目時，將所述電源引腳與所述電源節(jié)點連接、將所述測試引腳與所述檢測節(jié)點連接；在所述識別單元的識別結(jié)果為執(zhí)行第二測試項目時，將所述測試引腳與所述電源節(jié)點連接；所述第一測試項目為讀測試項目、寫測試項目或者擦除測試項目，所述第二測試項目為功耗測試項目；在第一測試項目的執(zhí)行過程中，所述電源引腳適于輸入電源電壓，所述測試引腳適于檢測存儲器的性能參數(shù)；在第二測試項目的執(zhí)行過程中，所述測試引腳適于輸入電源電壓?？蛇x的，所述切換單元包括：二選一多路選擇器，包括適于接收所述識別結(jié)果的第一控制端，分別與電源引腳、測試引腳連接的第一輸入端和第二輸入端，以及與電源節(jié)點連接的第一輸出端；開關(guān)元件，包括適于接收所述識別結(jié)果的第二控制端，與測試引腳連接的第三輸入端，以及與檢測節(jié)點連接的第二輸出端。可選的，所述數(shù)據(jù)引腳還適于接收測試數(shù)據(jù)和發(fā)送測試結(jié)果?？蛇x的，所述存儲器還包括：適于接收時鐘信號的時鐘引腳、適于接收復位信號的復位引腳和接地引腳。為解決上述問題，本發(fā)明還提供一種通過測試機臺對存儲器進行測試的方法，所述存儲器為上述存儲器，所述測試機臺包括電源端和若干測試通道，所述電源端適于為預定數(shù)量的存儲器提供電源電壓，所述方法包括：在執(zhí)行測試項目前，通過與所述存儲器的數(shù)據(jù)引腳連接的測試通道發(fā)送控制數(shù)據(jù)；在第一測試項目的執(zhí)行過程中，由所述電源端向與所述存儲器的電源引腳連接的測試通道提供電源電壓，通過與所述存儲器的測試引腳連接的測試通道輸出檢測到的存儲器的性能參數(shù)；在第二測試項目的執(zhí)行過程中，通過與所述存儲器的測試引腳連接的測試通道向所述存儲器的測試引腳輸入電源電壓?？蛇x的，所述通過測試機臺對存儲器進行測試的方法還包括：在測試項目的執(zhí)行過程中，通過與所述存儲器的數(shù)據(jù)引腳連接的測試通道發(fā)送測試數(shù)據(jù)?？蛇x的，所述通過測試機臺對存儲器進行測試的方法還包括：在執(zhí)行完測試項目后，通過與所述存儲器的數(shù)據(jù)引腳連接的測試通道接收所述存儲器的數(shù)據(jù)引腳發(fā)送的測試結(jié)果。可選的，所述存儲器還包括復位引腳；所述通過測試機臺對存儲器進行測試的方法還包括：在執(zhí)行測試項目前，通過與所述存儲器的復位引腳連接的測試通道發(fā)送復位信號以執(zhí)行對所述存儲器的測試初始化。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的技術(shù)方案具有以下優(yōu)點：本發(fā)明技術(shù)方案的存儲器中包括切換單元，所述切換單元在執(zhí)行第二測試項目時將測試引腳與電源節(jié)點相連，由所述測試引腳輸入電源電壓。換句話說，在第二測試項目的執(zhí)行過程中，由所述檢測引腳替代電源引腳來輸入電源電壓，這樣在第二測試項目的執(zhí)行過程中，可以節(jié)省與測試引腳相連的測試通道，從而擴大了并行測試時存儲器的數(shù)量，進而提高了并行測試的效率。另外，本發(fā)明技術(shù)方案只需要增加所述切換單元即可實現(xiàn)測試引腳與電源節(jié)點的連接，并且所述切換單元的實現(xiàn)方式簡單，因此，本發(fā)明存儲器的結(jié)構(gòu)簡單，提高了存儲器的集成性。附圖說明圖1是現(xiàn)有的一種存儲器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明存儲器的一實施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是圖2中切換單元的一種實現(xiàn)方式的結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是本發(fā)明通過測試機臺對存儲器進行測試的方法的實施例一的流程示意圖；圖5是本發(fā)明通過測試機臺對存儲器進行測試的方法的實施例二的流程示意圖。具體實施方式正如背景技術(shù)中所述的，現(xiàn)有技術(shù)中通過KALOSI測試機臺對圖1所示存儲器進行測試時，能夠并行測試的數(shù)量通常為128片，這導致了測試時的效率不高。具體地，通過KALOSI測試機臺對存儲器進行測試的測試項目包括讀測試項目、寫測試項目、擦除測試項目以及功耗測試項目等。發(fā)明人對這些測試項目進行了仔細研究和分析后發(fā)現(xiàn)：在功耗測試項目中，存儲器的測試引腳VPP處于空閑狀態(tài)，不需要測量存儲器件如閃存的電壓、電流等性能參數(shù)。但是現(xiàn)有技術(shù)中，該測試引腳VPP還是需要占用一個測試機臺上的測試通道，從而限制了并行測試時的數(shù)量，使得測試的效率較低?；谏鲜鲅芯?，為解決現(xiàn)有技術(shù)中測試效率不高的問題，本發(fā)明提供了一種存儲器，包括切換單元和識別單元，所述切換單元在識別單元的識別結(jié)果為執(zhí)行第二測試項目時將測試引腳連接至電源節(jié)點，由所述測試引腳替代電源引腳提供電源電壓。這樣，在執(zhí)行第二測試項目時就可以節(jié)省出一個測試通道，因此可以擴大并行測試的存儲器的數(shù)量，從而提高測試效率。為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更為明顯易懂，下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的具體實施例做詳細的說明。圖2示出了本發(fā)明存儲器的一種實施例的結(jié)構(gòu)示意圖。參考圖2，所述存儲器100可以包括：電源引腳Vcc、測試引腳VPP、適于接收控制數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)引腳I/O、適于提供電源電壓的電源節(jié)點a和適于檢測存儲器的性能參數(shù)的檢測節(jié)點b、邏輯控制電路130和閃存140。所述存儲器100還包括：識別單元110，適于根據(jù)所述數(shù)據(jù)引腳I/O接收的控制數(shù)據(jù)識別要執(zhí)行的測試項目；切換單元120，適于在所述識別單元110的識別結(jié)果CTL為執(zhí)行第一測試項目時，將所述電源引腳Vcc與所述電源節(jié)點a連接、將所述測試引腳VPP與所述檢測節(jié)點b連接；在所述識別單元110的識別結(jié)果CTL為執(zhí)行第二測試項目時，將所述測試引腳VPP與所述電源節(jié)點a連接。所述第一測試項目為讀測試項目、寫測試項目或者擦除測試項目，所述第二測試項目為功耗測試項目。具體地，在第一測試項目的執(zhí)行過程中，所述電源引腳Vcc適于輸入電源電壓，所述測試引腳VPP適于檢測存儲器100的性能參數(shù)；所述存儲器100的性能參數(shù)包括：電壓、電流等參數(shù)。在第二測試項目的執(zhí)行過程中，所述測試引腳VPP適于輸入電源電壓。需要說明的是，在具體應(yīng)用中，所述數(shù)據(jù)引腳I/O還適于在執(zhí)行相應(yīng)的測試項目過程中接收測試數(shù)據(jù)，以及在執(zhí)行完相應(yīng)的測試項目后輸出測試結(jié)果。參考圖2，所述邏輯控制電路130還與所述數(shù)據(jù)引腳I/O相連，在執(zhí)行完相應(yīng)的測試項目后，測試結(jié)果在所述邏輯控制電路130的控制下由所述數(shù)據(jù)引腳I/O進行輸出。繼續(xù)參考圖2，所述存儲器100還包括：適于接收時鐘信號的時鐘引腳TCK、適于接收復位信號的復位引腳RST和接地引腳GND。所述時鐘引腳TCK、復位引腳RST和接地引腳GND與現(xiàn)有的存儲器的對應(yīng)引腳相類似，在此不再贅述。另外，所述識別單元110可以集成在所述邏輯控制電路130中，本發(fā)明對此不做限制。圖3為圖2中所述切換單元的一種實現(xiàn)方式的結(jié)構(gòu)示意圖。參考圖3，所述切換單元120可以包括：二選一多路選擇器121和開關(guān)元件122。所述二選一多路選擇器121包括：第一控制端CTL1、第一輸入端IN1、第二輸入端IN2和第一輸出端OUT1。所述第一控制端CTL1連接所述識別單元，適于接收所述識別結(jié)果CTL；所述第一輸入端IN1連接所述電源引腳Vcc；所述第二輸入端IN2連接所述測試引腳VPP；所述第一輸出端OUT1連接所述電源節(jié)點a。所述開關(guān)元件122包括：第二控制端CTL2、第三輸入端IN3和第二輸出端OUT2。所述第二控制端CTL2連接所述識別單元，適于接收所述識別結(jié)果CTL；所述第三輸入端IN3連接所述測試引腳VPP；所述第二輸出端OUT2連接所述檢測節(jié)點b。需要說明的是，所述二選一多路選擇器121可以采用現(xiàn)有的多路選擇器來實現(xiàn)；并且，所述開關(guān)元件122可以為MOS管、三極管或者其他開關(guān)器件，本發(fā)明對此不做限制。具體地，當所述二選一多路選擇器121通過第一控制端CTL1接收到所述識別單元110發(fā)送的識別結(jié)果為執(zhí)行第一測試項目時，所述二選一多路選擇器121將第一輸入端IN1與所述第一輸出端OUT1相連，從而實現(xiàn)了所述電源引腳Vcc與所述電源節(jié)點a的連接。相應(yīng)的，當所述識別單元110的識別結(jié)果為執(zhí)行第一測試項目時，所述開關(guān)元件122的第二控制端CTL2接收所述識別結(jié)果并將所述第三輸入端IN3與所述第二輸出端OUT2相連，從而實現(xiàn)了所述測試引腳VPP與所述檢測節(jié)點b之間的連接。也就是說，在所述第一測試項目的執(zhí)行過程中，所述電源引腳Vcc作為電源電壓進行輸入，所述測試引腳用于檢測存儲器100的性能參數(shù)，如電壓或電流等。當所述識別單元110發(fā)送的識別結(jié)果為執(zhí)行第二測試項目時：所述二選一多路選擇器121將所述第二輸入端IN2與所述第一輸出端OUT1相連，即所述測試引腳VPP與所述電源節(jié)點a的連接；所述開關(guān)元件122斷開所述第三輸入端IN3與所述第二輸出端OUT2的連接，即斷開了所述測試引腳VPP與所述檢測節(jié)點b的連接。換句話說，在第二測試項目的執(zhí)行過程中，由所述測試引腳VPP提供電源電壓。由上述分析可知：在執(zhí)行第二測試項目時，由所述測試引腳VPP替代了電源引腳Vcc來提供電源電壓，這樣在第二測試項目的執(zhí)行過程中，就節(jié)省一個引腳的連接，具體到測試機臺上，即節(jié)省了一個測試通道，從而增加了并行測試的數(shù)量，縮短了執(zhí)行第二測試項目的時間，因此提高了測試的效率。進一步地，由于執(zhí)行第二測試項目時，需要對外連接的存儲器的引腳有所減少，因此也減少了由于操作不當而導致的存儲器的損壞機率，進而提高了存儲器的可靠性。另外，本發(fā)明存儲器中的切換單元，其結(jié)構(gòu)簡單，易于實現(xiàn)，從而降低了存儲器的成本，同時也提高了其集成性。相應(yīng)地，本發(fā)明還提供了一種通過測試機臺對存儲器進行測試的方法。所述存儲器為圖2所示的存儲器，所述測試機臺包括電源端和若干測試通道，所述電源端適于為預定數(shù)量的存儲器提供電源電壓。圖4示出了本發(fā)明通過測試機臺對存儲器進行測試的方法的實施例一的流程示意圖。參考圖2和圖4，所述方法包括：首先，在執(zhí)行測試項目前，通過與所述存儲器100的數(shù)據(jù)引腳I/O連接的測試通道執(zhí)行步驟S1：發(fā)送控制數(shù)據(jù)；然后，所述識別單元110對所述控制數(shù)據(jù)進行判定，即執(zhí)行步驟S2：判定測試項目。具體地，當所述識別單元110的識別結(jié)果為執(zhí)行第一測試項目時，執(zhí)行步驟S3：由所述電源端向與所述存儲器100的電源引腳Vcc連接的測試通道提供電源電壓，通過與所述存儲器100的測試引腳VPP連接的測試通道輸出檢測到的存儲器100的性能參數(shù)；當所述識別單元110的識別結(jié)果為執(zhí)行第二測試項目時，執(zhí)行步驟S4：通過與所述存儲器100的測試引腳VPP連接的測試通道向所述存儲器100的測試引腳VPP輸入電源電壓。在本實施例中，所述第二測試項目為功耗測試；所述第一測試項目為與功耗測試無關(guān)的測試，如對存儲器100的讀測試項目、寫測試項目或擦除測試項目。圖4所示的測試方法中，在執(zhí)行第二測試項目過程中，通過與所述存儲器100的測試引腳VPP連接的測試通道向所述存儲器100的測試引腳VPP輸入電源電壓。也就是說，在執(zhí)行第二測試項目時，由所述測試引腳VPP替代所述電源引腳Vcc提供電源電壓。這樣，在第二測試項目執(zhí)行過程中，可節(jié)省一個測試通道。以KALOSI測試機臺為例，這種類型的機臺上共包含768個測試通道，在圖4所示的測試方法中，在執(zhí)行第二測試項目過程中，每個存儲器只需要占用四個測試通道(測試引腳VPP、復位引腳RST、數(shù)據(jù)引腳I/O以及時鐘引腳TCK各占用一個測試通道)。這樣，一個測試機臺可并行測試的存儲器的數(shù)量為768/4＝192個，比現(xiàn)有技術(shù)中的128個多了64個，從而提高了測試的效率。圖5示出了本發(fā)明通過測試機臺對存儲器進行測試的方法的實施例二的流程示意圖。參考圖5，與實施例一所示的方法的區(qū)別在于：所述方法還可以包括：在第一測試項目或者第二測試項目的執(zhí)行過程中，通過與所述存儲器100的數(shù)據(jù)引腳I/O連接的測試通道執(zhí)行步驟S5：發(fā)送測試數(shù)據(jù)。在執(zhí)行完第一測試項目或第二測試項目后，通過與所述存儲器100的數(shù)據(jù)引腳I/O連接的測試通道執(zhí)行步驟S6：接收所述存儲器100的數(shù)據(jù)引腳I/O發(fā)送的測試結(jié)果。需要說明的是，在其他實施例中，所述存儲器100還包括復位引腳RST；所述通過測試機臺對存儲器進行測試的方法還可以包括：在執(zhí)行測試項目前，通過與所述存儲器100的復位引腳RST連接的測試通道發(fā)送復位信號以執(zhí)行對所述存儲器100的測試初始化。具體到實際應(yīng)用中，對存儲器進行各種測試的過程可分別獨立進行，例如可以首先執(zhí)行讀測試項目的測試。具體地，將存儲器的各個引腳均對應(yīng)連接測試機臺上的一個測試通道，然后執(zhí)行讀測試項目，待讀測試項目執(zhí)行完成后，接收讀測試項目的測試結(jié)果；對該測試結(jié)果進行分析后確定未通過讀測試的存儲器。其次，可以不改變存儲器與測試機臺的連接關(guān)系，接著執(zhí)行寫測試項目，待所述寫測試項目執(zhí)行完畢后接收對應(yīng)于寫測試項目的測試結(jié)果。同樣地，需要對該測試結(jié)果進行分析以確定未通過寫測試的存儲器。然后，可以緊接著執(zhí)行擦除測試項目，此測試過程與讀測試項目、寫測試項目過程相類似，在此不再贅述。最后，將存儲器的測試引腳、復位引腳、時鐘引腳以及數(shù)據(jù)引腳分別與測試機臺上的一個測試通道對應(yīng)連接，所述存儲器的電源引腳懸空不與測試通道進行連接；連接完成后，執(zhí)行功耗測試項目，后續(xù)測試過程與前述的讀測試項目、寫測試項目以及擦除測試項目相類似，在此不再贅述。需要說明的是，上述關(guān)于各種測試項目的執(zhí)行順序僅為舉例說明，本發(fā)明對此不做限制。由于在功耗測試項目過程中，存儲器的電源引腳不再占用測試通道，因此一臺測試機臺上可以進行并行測試的存儲器的數(shù)量有了很大提高，從而縮短了功耗測試項目的測試時間，因而也縮短了整體測試項目的周期。雖然本發(fā)明披露如上，但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，均可作各種更動與修改，因此本發(fā)明的保護范圍應(yīng)當以權(quán)利要求所限定的范圍為準。