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      存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng)及方法與流程

      文檔序號(hào):40385496發(fā)布日期:2024-12-20 12:08閱讀:14來源:國(guó)知局
      存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng)及方法與流程

      本發(fā)明屬于存儲(chǔ)模塊性能測(cè)試,涉及存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試技術(shù),具體為存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng)及方法。


      背景技術(shù):

      1、存儲(chǔ)模塊是用來存儲(chǔ)程序和各種數(shù)據(jù)信息的記憶部件,其是許多存儲(chǔ)單元的集合,各存儲(chǔ)單元按照順序排列,每個(gè)存儲(chǔ)單元由若干二進(jìn)制位構(gòu)成,以表示存儲(chǔ)單元中存放的數(shù)據(jù)。

      2、存儲(chǔ)模塊在生產(chǎn)完成后要對(duì)其進(jìn)行性能測(cè)試,以測(cè)試其是否存在生產(chǎn)不良。其中,高溫測(cè)試也是存儲(chǔ)模塊的性能測(cè)試中重要的測(cè)試項(xiàng)之一,其目的是為了確保存儲(chǔ)模塊在高溫環(huán)境中使用的可靠性。現(xiàn)有技術(shù)中,存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試過程為:將存儲(chǔ)模塊置于溫控設(shè)備中,采取人工手動(dòng)批量設(shè)備目標(biāo)溫度。在測(cè)試過程中,采取人工定時(shí)巡線的方式監(jiān)控測(cè)試狀態(tài),測(cè)試結(jié)束,人工手動(dòng)關(guān)閉高溫控制設(shè)備。因此,現(xiàn)有技術(shù)中無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試,存在測(cè)試效率低的技術(shù)問題。


      技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

      1、針對(duì)上述背景技術(shù)中所描述的,現(xiàn)有技術(shù)中進(jìn)行存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試時(shí),無法實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試,存在測(cè)試效率低的技術(shù)問題,針對(duì)該技術(shù)問題,本發(fā)明提出了存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng)及方法。

      2、本發(fā)明通過主控將區(qū)間目標(biāo)溫度發(fā)送給溫控裝置,主控用于獲取存儲(chǔ)模塊溫度,將存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,根據(jù)對(duì)比結(jié)果控制加熱層停止加熱或加熱層提高加熱能力。在進(jìn)行存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試時(shí),實(shí)現(xiàn)了存儲(chǔ)模塊溫度的自動(dòng)化控制,提高了測(cè)試效率。

      3、為了解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:

      4、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),包括:主控、溫控組件和溫控裝置,

      5、所述溫控組件包括:安裝腔室、加熱層以及導(dǎo)熱風(fēng)扇,安裝腔室用于為存儲(chǔ)模塊提供測(cè)試腔體,所述加熱層用于加熱所述測(cè)試腔體;所述導(dǎo)熱風(fēng)扇置于所述安裝腔室內(nèi)的加熱層上,用于擾動(dòng)測(cè)試腔體內(nèi)的溫度;

      6、所述主控,用于將區(qū)間目標(biāo)溫度發(fā)送給所述溫控裝置;

      7、所述溫控裝置分別與所述主控及所述溫控組件連接;所述溫控裝置用于獲取存儲(chǔ)模塊溫度,將存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,根據(jù)對(duì)比結(jié)果控制加熱層停止加熱或加熱層提高加熱能力。

      8、進(jìn)一步限定,所述溫控裝置還用于,確定所述存儲(chǔ)模塊溫度小于所述區(qū)間目標(biāo)溫度時(shí),控制所述加熱層提高加熱能力。

      9、進(jìn)一步限定,所述溫控組件還包括:散熱組件;

      10、所述溫控裝置還用于,確定所述存儲(chǔ)模塊溫度大于所述區(qū)間目標(biāo)溫度時(shí),控制散熱組件提高散熱能力,以對(duì)存儲(chǔ)模塊的測(cè)試腔體進(jìn)行降溫;

      11、或者,

      12、所述溫控裝置還用于,確定所述存儲(chǔ)模塊溫度處于區(qū)間目標(biāo)溫度內(nèi)時(shí),控制散熱組件和加熱層均不工作,進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

      13、進(jìn)一步限定,所述存儲(chǔ)模塊溫度包括:第一溫度和/或第二溫度,

      14、所述溫控裝置還用于,通過主控獲取所述存儲(chǔ)模塊的所述第一溫度;

      15、所述溫控裝置還用于,通過測(cè)試腔體內(nèi)的溫度傳感器獲取第二溫度;

      16、所述溫控裝置還用于,確定是否獲取到所述第一溫度,若是,則將所述第一溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,以控制加熱層停止加熱或提高加熱層加熱能力;若否,則將所述第二溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,以控制加熱層停止加熱或提高加熱層加熱能力。

      17、進(jìn)一步限定,還包括:服務(wù)器;

      18、所述服務(wù)器用于,通過所述主控監(jiān)控所述溫控裝置,以確定所述溫控裝置的測(cè)試狀態(tài)是否正常;

      19、所述服務(wù)器用于,獲取區(qū)間目標(biāo)溫度,并將所述區(qū)間目標(biāo)溫度發(fā)送給主控;

      20、所述服務(wù)器還用于,確定所述測(cè)試狀態(tài)正常時(shí),向終端發(fā)送測(cè)試結(jié)果;否則,向終端發(fā)送測(cè)試異常信息,并向所述主控發(fā)送停止加熱層工作的指令和停止散熱組件工作的指令。

      21、進(jìn)一步限定,所述服務(wù)器還用于,獲取過溫溫度閾值和低溫溫度閾值,并將所述過溫溫度閾值和低溫溫度閾值發(fā)送給主控;

      22、所述主控用于,將存儲(chǔ)模塊溫度分別與過溫溫度閾值和低溫溫度閾值對(duì)比,根據(jù)對(duì)比結(jié)果生成測(cè)試狀態(tài),并將所述測(cè)試狀態(tài)發(fā)送給服務(wù)器。

      23、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制方法,應(yīng)用于上述的存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),包括:

      24、獲取區(qū)間目標(biāo)溫度;

      25、采集存儲(chǔ)模塊溫度;

      26、控制所述導(dǎo)熱風(fēng)扇工作,擾動(dòng)測(cè)試腔體內(nèi)的溫度;

      27、將存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,

      28、若所述存儲(chǔ)模塊溫度小于所述區(qū)間目標(biāo)溫度,控住加熱層提高加熱能力,以升高所述測(cè)試腔體內(nèi)的溫度;

      29、若所述存儲(chǔ)模塊溫度大于所述區(qū)間目標(biāo)溫度,控制散熱組件提高散熱能力,以降低所述測(cè)試腔體內(nèi)的溫度;

      30、若所述存儲(chǔ)模塊溫度處于所述區(qū)間目標(biāo)溫度內(nèi),控制所述散熱組件和所述加熱層均不工作,進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

      31、進(jìn)一步限定,所述控制散熱組件提高散熱能力,包括:

      32、若存儲(chǔ)模塊溫度大于區(qū)間目標(biāo)溫度,且小于等于第一設(shè)定溫度時(shí),溫控裝置控制散熱組件以最大負(fù)荷的40%進(jìn)行工作;

      33、若存儲(chǔ)模塊溫度大于第一設(shè)定溫度,且小于等于第二設(shè)定溫度時(shí),溫控裝置控制散熱組件以最大負(fù)荷的60%進(jìn)行工作;

      34、若存儲(chǔ)模塊溫度大于第二設(shè)定溫度時(shí),溫控裝置控制散熱組件以滿負(fù)荷進(jìn)行工作。

      35、進(jìn)一步限定,所述采集存儲(chǔ)模塊溫度,包括:

      36、判斷是否獲取到第一溫度,若獲取到第一溫度,將第一溫度作為存儲(chǔ)模塊溫度;否則,獲取第二溫度,將第二溫度作為存儲(chǔ)模塊溫度;

      37、其中,所述第一溫度是指主控獲取的存儲(chǔ)模塊的溫度;所述第二溫度是指溫度傳感器獲取的測(cè)試腔體內(nèi)的溫度。

      38、進(jìn)一步限定,還包括:

      39、獲取過溫溫度閾值和低溫溫度閾值;

      40、將存儲(chǔ)模塊溫度分別與過溫溫度閾值和低溫溫度閾值對(duì)比,

      41、若存儲(chǔ)模塊溫度大于過溫溫度閾值,則測(cè)試狀態(tài)為過溫狀態(tài);

      42、若存儲(chǔ)模塊溫度小于低溫溫度閾值,則測(cè)試狀態(tài)為低溫狀態(tài);

      43、若存儲(chǔ)模塊溫度處于過溫溫度閾值和低溫溫度閾值之間,則測(cè)試狀態(tài)為正常狀態(tài)。

      44、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明的有益效果在于:

      45、1、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),其通過主控將區(qū)間目標(biāo)溫度發(fā)送給溫控裝置,溫控裝置用于將存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度進(jìn)行對(duì)比,根據(jù)對(duì)比結(jié)果控制加熱層停止加熱或加熱層提高加熱能力。本發(fā)明在進(jìn)行存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試時(shí),實(shí)現(xiàn)了存儲(chǔ)模塊溫度的自動(dòng)化控制,提高了測(cè)試效率。

      46、2、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),其溫控組件包括導(dǎo)熱風(fēng)扇,導(dǎo)熱風(fēng)扇能夠加速測(cè)試腔體內(nèi)的空氣循環(huán),以便于將測(cè)試腔體內(nèi)的溫度擾動(dòng)均勻,降低測(cè)試腔體內(nèi)的溫度與存儲(chǔ)模塊的溫度之間存在差異,使得測(cè)試腔體內(nèi)的溫度更接近于存儲(chǔ)模塊的溫度,當(dāng)將該測(cè)試腔體內(nèi)的溫度用于存儲(chǔ)模塊的高溫測(cè)試時(shí),能夠使得高溫測(cè)試的測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確。

      47、3、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),其還包括散熱組件,溫控裝置還能夠根據(jù)存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度的對(duì)比結(jié)果,控制散熱組件提高散熱能力,以更好的控制測(cè)試腔體內(nèi)的溫度。溫控裝置還能夠根據(jù)存儲(chǔ)模塊溫度與區(qū)間目標(biāo)溫度的對(duì)比結(jié)果,控制散熱組件和加熱層均不工作,進(jìn)入恒溫狀態(tài),以節(jié)約能源,降低測(cè)試成本。

      48、4、本發(fā)明的存儲(chǔ)模塊溫度包括:第一溫度和/或第二溫度,當(dāng)能獲取到第一溫度時(shí),將第一溫度作為存儲(chǔ)模塊溫度進(jìn)行對(duì)比,第一溫度是主控直接獲取的存儲(chǔ)模塊的溫度,使得測(cè)試結(jié)果更準(zhǔn)確;當(dāng)未能獲取到第一溫度時(shí),將第二溫度作為存儲(chǔ)模塊溫度進(jìn)行對(duì)比,第二溫度是溫度傳感器獲取的測(cè)試腔體內(nèi)的溫度,通過導(dǎo)熱風(fēng)扇的擾動(dòng)作用,使得第二溫度更接近于第一溫度,提高了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。本發(fā)明通過自動(dòng)選取第一溫度和/或第二溫度,提高了存儲(chǔ)模塊高溫測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和溫度選取的靈活性。

      49、5、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制系統(tǒng),其主控還用于將存儲(chǔ)模塊溫度分別與過溫溫度閾值和低溫溫度閾值對(duì)比,根據(jù)對(duì)比結(jié)果生成測(cè)試狀態(tài)。一方面實(shí)現(xiàn)測(cè)試狀態(tài)地自動(dòng)化監(jiān)控。提高了異常狀態(tài)反饋的及時(shí)性;另一方面,當(dāng)監(jiān)測(cè)到測(cè)試狀態(tài)存在異常時(shí),通過溫控裝置像加熱層發(fā)送停止加熱層工作的指令,向散熱組件發(fā)送停止散熱組件工作的指令,以節(jié)約能源,降低測(cè)試成本。

      50、6、本發(fā)明存儲(chǔ)模塊溫度控制方法,其控制散熱組件提高散熱能力,根據(jù)不同的區(qū)間溫度控制散熱組件的工作負(fù)荷,以節(jié)約能源,降低成本。

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