本發(fā)明涉及半導(dǎo)體，具體而言，涉及一種閃存顆粒分級方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、隨著閃存技術(shù)的不斷發(fā)展，閃存顆粒之間質(zhì)量不一致的現(xiàn)象也越來越嚴(yán)重，即便是同一批次的顆粒也會存在使用壽命末期時顆粒所表現(xiàn)的特征參數(shù)值相差較大的問題。

2、對于這種問題，目前普遍采用顆粒品質(zhì)分級的方式來區(qū)分各種質(zhì)量的閃存顆粒。然而，經(jīng)發(fā)明人研究發(fā)現(xiàn)，現(xiàn)有的閃存顆粒品質(zhì)分級方式往往不會考慮顆粒的應(yīng)用場景以及顆粒特征在壽命初期和末期的變化情況，因此不夠準(zhǔn)確。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的包括，例如，提供了一種閃存顆粒分級方法、裝置、電子設(shè)備及存儲介質(zhì)，其能夠至少部分解決上述技術(shù)問題。

2、本發(fā)明的實施例可以這樣實現(xiàn)：

3、第一方面，本發(fā)明實施例提供了一種閃存顆粒分級方法，包括：

4、獲取設(shè)定溫度下閃存顆粒的特征參數(shù)值集合；所述特征參數(shù)值集合為所述閃存顆粒在一次壽命測試后各個特征的參數(shù)值的集合；

5、將所述特征參數(shù)值集合輸入顆粒壽命預(yù)測模型中，得到所述閃存顆粒的預(yù)測壽命；

6、將所述閃存顆粒各個特征中的至少一個特征作為目標(biāo)特征，并將所述目標(biāo)特征對應(yīng)的特征參數(shù)值分別輸入對應(yīng)的特征參數(shù)預(yù)測模型，得到所述目標(biāo)特征在所述閃存顆粒在壽命末期的目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值；

7、基于第一評價策略，根據(jù)所述預(yù)測壽命，對所述閃存顆粒進行壽命評價分級，得到第一分級結(jié)果；基于第二評價策略，根據(jù)所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值，對所述閃存顆粒進行特征參數(shù)評價分級，得到第二分級結(jié)果；

8、結(jié)合所述第一分級結(jié)果以及所述第二分級結(jié)果，得到所述閃存顆粒的總分級結(jié)果。

9、可選地，所述基于第一評價策略，根據(jù)所述預(yù)測壽命，對所述閃存顆粒進行壽命評價分級，得到第一分級結(jié)果，包括：

10、基于預(yù)設(shè)壽命范圍，確定所述預(yù)測壽命在所述預(yù)設(shè)壽命范圍中所處的目標(biāo)預(yù)設(shè)壽命子范圍；

11、將所述目標(biāo)預(yù)設(shè)壽命子范圍對應(yīng)的壽命評價值作為所述第一分級結(jié)果。

12、可選地，所述基于第二評價策略，根據(jù)所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值，對所述閃存顆粒進行特征參數(shù)評價分級，得到第二分級結(jié)果，包括：

13、若所述目標(biāo)特征為一個，則判斷所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值在對應(yīng)的預(yù)設(shè)特征參數(shù)值范圍中所處的目標(biāo)預(yù)設(shè)特征參數(shù)值子范圍；

14、將所述目標(biāo)預(yù)設(shè)特征參數(shù)值子范圍對應(yīng)的特征評價值作為所述第二分級結(jié)果；

15、若所述目標(biāo)特征為兩個及以上，則分別判斷各所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值在對應(yīng)的預(yù)設(shè)特征參數(shù)值范圍中所處的目標(biāo)預(yù)設(shè)特征參數(shù)值子范圍；

16、確定出各所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值對應(yīng)的特征評價值；

17、基于各所述目標(biāo)特征對應(yīng)的權(quán)重以及各所述特征評價值，得到所述第二分級結(jié)果。

18、可選地，所述方法還包括建立得到所述顆粒壽命預(yù)測模型的步驟，所述步驟包括：

19、針對所述閃存顆粒的類型建立顆粒壽命預(yù)測初模型；

20、采集樣本特征數(shù)據(jù)集；所述樣本特征數(shù)據(jù)集包括多個所述特征參數(shù)值集合；

21、對所述樣本特征數(shù)據(jù)集進行預(yù)處理，得到可用樣本特征數(shù)據(jù)集；

22、將所述可用樣本特征數(shù)據(jù)集按照第一預(yù)設(shè)比例分為樣本特征訓(xùn)練集、樣本特征驗證集以及樣本特征測試集；

23、基于所述樣本特征訓(xùn)練集對所述顆粒壽命預(yù)測初模型進行訓(xùn)練；并在對所述顆粒壽命預(yù)測初模型進行訓(xùn)練的過程中，采用所述樣本特征驗證集對所述顆粒壽命預(yù)測初模型的第一模型參數(shù)和第一超參數(shù)進行調(diào)整；

24、基于所述樣本特征測試集對完成訓(xùn)練的所述顆粒壽命預(yù)測初模型進行第一泛化能力評估；

25、若完成訓(xùn)練的所述顆粒壽命預(yù)測初模型通過了所述第一泛化能力評估，則將完成訓(xùn)練的所述顆粒壽命預(yù)測初模型確定為所述顆粒壽命預(yù)測模型。

26、可選地，所述對所述樣本特征數(shù)據(jù)集進行預(yù)處理，包括：

27、從所述樣本特征數(shù)據(jù)集中確定出包括異常特征參數(shù)值的特征參數(shù)值集合；

28、根據(jù)所述異常特征參數(shù)值的異常類型，從多個異常數(shù)據(jù)處理策略中確定目標(biāo)異常數(shù)據(jù)處理策略；

29、基于所述目標(biāo)異常數(shù)據(jù)處理策略對所述異常特征參數(shù)值進行處理；

30、對處理后的所述樣本特征數(shù)據(jù)集進行標(biāo)準(zhǔn)化，得到所述可用樣本特征數(shù)據(jù)集。

31、可選地，所述方法還包括建立得到所述特征參數(shù)預(yù)測模型的步驟，包括：

32、針對所述閃存顆粒的每個所述目標(biāo)特征分別建立一個特征參數(shù)預(yù)測初模型；

33、采集多個目標(biāo)特征數(shù)據(jù)集；每個所述目標(biāo)特征數(shù)據(jù)集包括多個該所述目標(biāo)特征對應(yīng)的特征參數(shù)值；

34、分別對各所述目標(biāo)特征數(shù)據(jù)集進行預(yù)處理，得到各可用目標(biāo)特征數(shù)據(jù)集；

35、將各所述可用目標(biāo)特征數(shù)據(jù)集按照第二預(yù)設(shè)比例分為目標(biāo)特征訓(xùn)練集、目標(biāo)特征驗證集以及目標(biāo)特征測試集；

36、針對每個所述特征參數(shù)預(yù)測初模型，基于與所述特征參數(shù)預(yù)測初模型對應(yīng)的目標(biāo)特征訓(xùn)練集對所述特征參數(shù)預(yù)測初模型進行訓(xùn)練；并在訓(xùn)練過程中，采用與所述特征參數(shù)預(yù)測初模型對應(yīng)的目標(biāo)特征驗證集對所述特征參數(shù)預(yù)測初模型的第二模型參數(shù)和第二超參數(shù)進行調(diào)整；

37、基于與所述特征參數(shù)預(yù)測初模型對應(yīng)的目標(biāo)特征測試集對完成訓(xùn)練的所述特征參數(shù)預(yù)測初模型進行第二泛化能力評估；

38、若完成訓(xùn)練的所述特征參數(shù)預(yù)測初模型通過了所述第二泛化能力評估，則將完成訓(xùn)練的所述特征參數(shù)預(yù)測初模型確定為所述特征參數(shù)預(yù)測模型。

39、可選地，所述閃存顆粒的特征包括編程時間、讀取時間、擦除時間、電流、顆粒功耗、顆粒溫度、錯誤比特數(shù)以及錯誤率。

40、第二方面，本發(fā)明實施例提供了一種閃存顆粒分級裝置，包括：

41、特征參數(shù)值集合獲取單元，用于獲取設(shè)定溫度下閃存顆粒的特征參數(shù)值集合；所述特征參數(shù)值集合為所述閃存顆粒在一次壽命測試后各個特征的參數(shù)值的集合；

42、閃存顆粒壽命預(yù)測單元，用于將所述特征參數(shù)值集合輸入顆粒壽命預(yù)測模型中，得到所述閃存顆粒的預(yù)測壽命；

43、目標(biāo)特征參數(shù)值預(yù)測單元，用于將所述閃存顆粒各個特征中的至少一個特征作為目標(biāo)特征，并將所述目標(biāo)特征對應(yīng)的特征參數(shù)值分別輸入對應(yīng)的特征參數(shù)預(yù)測模型，得到所述目標(biāo)特征在所述閃存顆粒在壽命末期的目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值；

44、評價分級單元，用于基于第一評價策略，根據(jù)所述預(yù)測壽命，對所述閃存顆粒進行壽命評價分級，得到第一分級結(jié)果；基于第二評價策略，根據(jù)所述目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值，對所述閃存顆粒進行特征參數(shù)評價分級，得到第二分級結(jié)果；

45、總分級結(jié)果計算單元，用于結(jié)合所述第一分級結(jié)果以及所述第二分級結(jié)果，得到所述閃存顆粒的總分級結(jié)果。

46、第三方面，本發(fā)明實施例提供了一種電子設(shè)備，包括：存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)上述任一項所述方法的步驟。

47、第四方面，本發(fā)明實施例提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述計算機可讀存儲介質(zhì)包括計算機程序，所述計算機程序運行時控制所述計算機可讀存儲介質(zhì)所在服務(wù)器實現(xiàn)上述任一項所述方法的步驟。

48、本發(fā)明實施例的有益效果包括，例如：

49、通過在設(shè)定的溫度下獲取某種類型閃存顆粒的特征參數(shù)值集合，將閃存顆粒中的至少一個特征作為目標(biāo)特征，分別通過對應(yīng)的預(yù)測模型得到閃存顆粒的預(yù)測壽命和目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值。進一步對預(yù)測壽命和目標(biāo)預(yù)測特征參數(shù)值進行評價分級，最終得到閃存顆粒的總分級結(jié)果。由于將閃存顆粒的壽命以及應(yīng)用場景考慮到分級的評價標(biāo)準(zhǔn)中，使得閃存顆粒的分級更加合理和準(zhǔn)確。