硬盤健康狀況處理方法及裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，具體而言，涉及一種硬盤健康狀況處理方法及裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]硬盤是通訊及IT領(lǐng)域中一種常見(jiàn)，并被廣泛使用的一種存儲(chǔ)介質(zhì)，硬盤在其生產(chǎn)環(huán)境中，高性能磁盤陣列是不可或缺的存儲(chǔ)組件。由于有其具體的物理結(jié)構(gòu)，因而在硬盤出廠并被使用之后，對(duì)硬盤使用會(huì)導(dǎo)致硬盤的損耗，硬盤的性能會(huì)受到較大影響。為了安全有效地使用硬盤，需要時(shí)常對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)。下面對(duì)相關(guān)技術(shù)中所采用的一些硬盤檢測(cè)方法進(jìn)行說(shuō)明。
[0003]在相關(guān)技術(shù)中，提出了一種硬盤硬件故障的檢測(cè)方法，該方法通過(guò)向硬盤寄存器寫入?yún)?shù)，讀取返回值，與指標(biāo)參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較，判斷是否符合標(biāo)準(zhǔn)。采用該方法測(cè)試的硬盤參數(shù)較為單一，并不能對(duì)不同類型的硬盤或是不同廠商的硬盤進(jìn)行測(cè)試。另外，在相關(guān)技術(shù)中，還提出了一種較為相近的檢測(cè)硬盤好壞的裝置，該裝置包括電腦硬盤或外接電腦硬盤連接起來(lái)的SMART屬性檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)處理器來(lái)實(shí)現(xiàn)不通過(guò)電腦檢測(cè)出硬盤的好壞。雖然該方法可以粗略地檢測(cè)出硬盤的好壞，但是該方法需要依托外連的SMART屬性檢測(cè)模塊和數(shù)據(jù)處理器，并不能方便地實(shí)現(xiàn)對(duì)硬盤的檢測(cè)。
[0004]因此，在相關(guān)技術(shù)中對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法存在檢測(cè)硬盤參數(shù)單一，檢測(cè)硬盤的針對(duì)性不強(qiáng)，以及檢測(cè)裝置不簡(jiǎn)便，檢測(cè)結(jié)果不細(xì)化的問(wèn)題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供了一種硬盤健康狀況處理方法及裝置，以至少解決在相關(guān)技術(shù)中對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法存在檢測(cè)硬盤參數(shù)單一，檢測(cè)硬盤的針對(duì)性不強(qiáng)，以及檢測(cè)裝置不簡(jiǎn)便，檢測(cè)結(jié)果不細(xì)化的問(wèn)題。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面，提供了一種硬盤健康狀況處理方法，包括:從待測(cè)硬盤中獲取用于標(biāo)識(shí)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息；依據(jù)驅(qū)動(dòng)程序接口，對(duì)所述標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)；依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及所述硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況。
[0007]優(yōu)選地，依據(jù)檢測(cè)獲得的所述檢測(cè)值以及所述硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)值，確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況包括:計(jì)算所述檢測(cè)值和所述標(biāo)準(zhǔn)值的偏差值；依據(jù)所述偏差值確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況。
[0008]優(yōu)選地，在依據(jù)檢測(cè)獲得的所述檢測(cè)值以及所述硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的所述標(biāo)準(zhǔn)值，確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況之后，還包括:對(duì)所述待測(cè)硬盤的健康狀況進(jìn)行顯示。
[0009]優(yōu)選地，對(duì)所述待測(cè)硬盤的健康狀況進(jìn)行顯示包括:以列表的形式顯示所述待測(cè)硬盤的以下至少之一:參數(shù)名稱、參數(shù)測(cè)試值、參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值、參數(shù)偏差值。
[0010]優(yōu)選地，在從所述待測(cè)硬盤中獲取用于標(biāo)識(shí)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息之前，還包括:存儲(chǔ)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息、所述待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)以及所述硬盤參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值。
[0011]優(yōu)選地，所述標(biāo)識(shí)信息包括以下至少之一:所述硬盤的接口類型、所述硬盤的廠商。
[0012]根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了一種硬盤健康狀況處理裝置，包括:獲取模塊，用于從待測(cè)硬盤中獲取用于標(biāo)識(shí)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息；檢測(cè)模塊，用于依據(jù)驅(qū)動(dòng)程序接口，對(duì)所述標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)；確定模塊，用于依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及所述硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況。
[0013]優(yōu)選地，所述確定模塊包括:計(jì)算單元，用于計(jì)算所述檢測(cè)值和所述標(biāo)準(zhǔn)值的偏差值；確定單元，用于依據(jù)所述偏差值確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況。
[0014]優(yōu)選地，該裝置還包括:顯示模塊，用于對(duì)所述待測(cè)硬盤的健康狀況進(jìn)行顯示。
[0015]優(yōu)選地，該裝置還包括:存儲(chǔ)模塊，用于存儲(chǔ)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息、所述待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)以及所述硬盤參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)值。
[0016]通過(guò)本發(fā)明，采用從待測(cè)硬盤中獲取用于標(biāo)識(shí)所述待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息；依據(jù)驅(qū)動(dòng)程序接口，對(duì)所述標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)；依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及所述硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定所述待測(cè)硬盤的健康狀況，解決了在相關(guān)技術(shù)中對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法存在檢測(cè)硬盤參數(shù)單一，檢測(cè)硬盤的針對(duì)性不強(qiáng)，以及檢測(cè)裝置不簡(jiǎn)便，檢測(cè)結(jié)果不細(xì)化的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了能夠?qū)€(gè)性化硬盤進(jìn)行檢測(cè)，使得對(duì)硬盤的檢測(cè)操作方便和提高硬盤檢測(cè)擴(kuò)展性的效果。
【附圖說(shuō)明】
[0017]此處所說(shuō)明的附圖用來(lái)提供對(duì)本發(fā)明的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請(qǐng)的一部分，本發(fā)明的示意性實(shí)施例及其說(shuō)明用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明的不當(dāng)限定。在附圖中:
[0018]圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理方法的流程圖；
[0019]圖2是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0020]圖3是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理裝置中確定模塊26的優(yōu)選結(jié)構(gòu)框圖；
[0021]圖4是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)框圖一；
[0022]圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理裝置的優(yōu)選結(jié)構(gòu)框圖二 ；
[0023]圖6是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式的硬盤檢測(cè)裝置的結(jié)構(gòu)框圖；
[0024]圖7是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式的硬盤檢測(cè)處理方法的流程圖；
[0025]圖8是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式的硬盤發(fā)現(xiàn)及適配單元的處理流程圖；
[0026]圖9是根據(jù)本發(fā)明優(yōu)選實(shí)施方式的硬盤檢測(cè)裝置中硬盤驅(qū)動(dòng)升級(jí)處理的流程圖。
【具體實(shí)施方式】
[0027]下文中將參考附圖并結(jié)合實(shí)施例來(lái)詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明。需要說(shuō)明的是，在不沖突的情況下，本申請(qǐng)中的實(shí)施例及實(shí)施例中的特征可以相互組合。
[0028]在本實(shí)施例中提供了一種硬盤健康狀況處理方法，圖1是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硬盤健康狀況處理方法的流程圖，如圖1所示，該流程包括如下步驟:
[0029]步驟S102，從待測(cè)硬盤中獲取用于標(biāo)識(shí)待測(cè)硬盤的標(biāo)識(shí)信息，例如，該標(biāo)識(shí)信息可以多種，例如，可以包括以下至少之一:硬盤的接口類型、硬盤的廠商；
[0030]步驟S104，依據(jù)驅(qū)動(dòng)程序接口，對(duì)標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的待測(cè)硬盤的硬盤參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)；
[0031]步驟S106，依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定待測(cè)硬盤的健康狀況。
[0032]通過(guò)上述步驟，依據(jù)標(biāo)識(shí)信息對(duì)硬盤進(jìn)行標(biāo)識(shí)，并且依據(jù)標(biāo)識(shí)信息對(duì)應(yīng)的待測(cè)硬盤地硬盤參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，相對(duì)于相關(guān)技術(shù)中的硬盤檢測(cè)裝置只能對(duì)硬盤的單一參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，并不能依據(jù)硬盤的個(gè)性化參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，通過(guò)該方法，不僅有效地解決了在相關(guān)技術(shù)中對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法存在檢測(cè)硬盤參數(shù)單一，檢測(cè)硬盤的針對(duì)性不強(qiáng)，以及檢測(cè)裝置不簡(jiǎn)便，檢測(cè)結(jié)果不細(xì)化的問(wèn)題，進(jìn)而達(dá)到了能夠?qū)€(gè)性化硬盤進(jìn)行檢測(cè)，使得對(duì)硬盤的檢測(cè)操作方便和提高硬盤檢測(cè)擴(kuò)展性的效果。
[0033]優(yōu)選地，依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定待測(cè)硬盤的健康狀況可以采用多種方式，例如，可以直接擺出檢測(cè)出的檢測(cè)值，以及該檢測(cè)值對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值。另外，為了更為方便明顯地區(qū)別兩者的區(qū)別，可以先計(jì)算檢測(cè)值和標(biāo)準(zhǔn)值的偏差值；依據(jù)偏差值確定待測(cè)硬盤的健康狀況。需要說(shuō)明的是，待測(cè)硬盤的健康狀況可以是依據(jù)單個(gè)檢測(cè)參數(shù)的值來(lái)確定(例如，可以是某個(gè)用于標(biāo)識(shí)硬盤關(guān)鍵性性能的參數(shù))，當(dāng)然也可以是各個(gè)參數(shù)綜合考慮的結(jié)果。
[0034]在依據(jù)檢測(cè)獲得的檢測(cè)值以及硬盤參數(shù)對(duì)應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)值，確定待測(cè)硬盤的健