一種nor閃存器件的測試方法和測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲領(lǐng)域，具體涉及一種NOR閃存器件的測試方法和裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]NOR閃存器件在大規(guī)模生產(chǎn)時會在自動化測試機(jī)臺上進(jìn)行檢測，以保證出廠的產(chǎn)品都是合格的。
[0003]目前，在半導(dǎo)體行業(yè)，對NOR閃存器件進(jìn)行測試的自動化測試機(jī)臺成本高昂，折舊快，且有固定的測試通道。這就意味著，如果芯片在自動化測試機(jī)臺上占用的測試通道越多，則在同一時間內(nèi)可以測試的芯片就越少，考慮到測試時間和測試機(jī)臺折舊的因素，平均單顆芯片的測試成本就越高。對于在自動化測試機(jī)臺上進(jìn)行NOR閃存顆粒來說，地址信號和控制信號是芯片的輸入信號，可以被所有的待測芯片復(fù)用，因而不影響芯片的同測度。但是數(shù)據(jù)信號是雙向信號，輸入時低于各待測芯片是相同的，但是輸出時由于失效的芯片會表現(xiàn)出與正常芯片不同的結(jié)果，所以不能復(fù)用，因此就需要為每顆芯片的數(shù)據(jù)信號分配獨(dú)立的測試通道，這樣數(shù)據(jù)通道就成了影響占用測試通道數(shù)目的重要因素。
[0004]因此，有必要提出一種新的測試方案。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]為克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明提供一種NOR閃存器件的測試方法，其在對芯片進(jìn)行測試時壓縮了占用自動化測試機(jī)臺的測試通道數(shù)目，提高了同測度，節(jié)約了測試成本。
[0006]為了解決【背景技術(shù)】中的技術(shù)問題，本發(fā)明還提供一種NOR閃存器件的測試裝置，其測試NOR閃存器件的準(zhǔn)確率較高，測試效率高。
[0007]為達(dá)成上述目的之一，本發(fā)明一種NOR閃存器件的壓縮測試方法，將NOR閃存器件放置于自動化測試機(jī)上，在NOR閃存器件上進(jìn)行芯片執(zhí)行寫操作和讀操作測試，測試結(jié)果反饋給自動化測試機(jī)進(jìn)行判斷，其具體包括如下步驟:
[0008]S1、通過NOR閃存器件的管腳向芯片輸入地址信號，通過芯片上的數(shù)據(jù)輸入寄存器將數(shù)據(jù)寫入NOR閃存器件中；
[0009]S2、通過NOR閃存器件的管腳向芯片輸入地址信號，數(shù)據(jù)讀出送給芯片上的數(shù)據(jù)讀出寄存器；
[0010]S3、數(shù)據(jù)讀出寄存器的值和數(shù)據(jù)輸入寄存器的值通過結(jié)果比較器進(jìn)行比較，若數(shù)據(jù)讀出寄存器的值和數(shù)據(jù)輸入寄存器的值一致，則所述結(jié)果比較器輸出的比對結(jié)果輸出信號為高電平，若數(shù)據(jù)讀出寄存器的值和數(shù)據(jù)輸入寄存器的值不一致，則所述結(jié)果比較器輸出的比對結(jié)果輸出信號為低電平。
[0011]進(jìn)一步的，所述步驟SI之前還包括通過芯片外部管腳輸入使能信號控制芯片進(jìn)入測試模式。
[0012]進(jìn)一步的，步驟SI中所述數(shù)據(jù)輸入寄存器寫入NOR閃存器件中的數(shù)據(jù)是由數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器在拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生信號的作用下產(chǎn)生的十六進(jìn)制數(shù)據(jù)。
[0013]進(jìn)一步的，所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生控制信號通過芯片的一個管腳傳送給所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器，所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器產(chǎn)生的數(shù)據(jù)通過芯片的一個管腳傳送給所述數(shù)據(jù)輸入寄存器。
[0014]進(jìn)一步的，將所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生控制信號傳輸給所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器所使用的管腳和所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器傳輸數(shù)據(jù)給所述數(shù)據(jù)輸入寄存器所使用的管腳是同一個管腳。
[0015]進(jìn)一步的，所述步驟S3中，所述比對結(jié)果輸出信號通過芯片的一個數(shù)據(jù)管腳反饋給自動化測試機(jī)，若所述自動化測試機(jī)判斷該數(shù)據(jù)管腳上的電平是高電平，則芯片讀寫正常，若所述自動化測試機(jī)判斷該數(shù)據(jù)管腳上的電平是低電平，則芯片讀寫錯誤。
[0016]本發(fā)明還提供一種NOR閃存器件測試裝置，其包括自動化測試機(jī)及放置于所述自動化測試機(jī)測試通道上的NOR閃存器件，
[0017]所述NOR閃存器件包括芯片及連接芯片的多個管腳，所述芯片上設(shè)置有數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器、數(shù)據(jù)輸入寄存器、數(shù)據(jù)讀出寄存器和結(jié)果比較器，
[0018]所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器用于產(chǎn)生數(shù)據(jù)給所述數(shù)據(jù)輸入寄存器，所述數(shù)據(jù)輸入寄存器接收數(shù)據(jù)并將數(shù)據(jù)寫入NOR閃存器件，所述數(shù)據(jù)讀出寄存器用于讀取所述NOR閃存器件中的數(shù)據(jù)，所述結(jié)果比較器對所述數(shù)據(jù)輸入寄存器和數(shù)據(jù)讀出寄存器的值進(jìn)行比較，所述結(jié)果比較器將比對結(jié)果輸出信號輸出給自動化測試機(jī)。
[0019]進(jìn)一步的，所述結(jié)果比較器通過芯片的一個數(shù)據(jù)管腳輸出比對結(jié)果輸出信號給自動化測試機(jī)。
[0020]進(jìn)一步的，將所述比對結(jié)果輸出信號傳輸給自動化測試機(jī)所使用的數(shù)據(jù)管腳和所述數(shù)據(jù)讀出寄存器將讀出的數(shù)據(jù)傳輸給結(jié)果比較器所使用的管腳是同一個數(shù)據(jù)管腳。
[0021]有益效果:本發(fā)明的NOR閃存器件的測試方法和測試裝置，其具有如下優(yōu)點(diǎn):
[0022](I)本發(fā)明在自動化測試機(jī)臺上進(jìn)行測試時將寫數(shù)據(jù)和讀出比對放在NOR閃存器件上進(jìn)行，比對結(jié)果通過芯片的一個數(shù)據(jù)管腳反饋給自動化測試機(jī)臺供自動化測試機(jī)臺判斷產(chǎn)品好壞，不需要為每顆芯片的數(shù)據(jù)信號分配獨(dú)立的測試通道，實(shí)現(xiàn)了占用較少的自動化測試機(jī)臺測試通道對芯片進(jìn)行測試的目的。
[0023](2)本發(fā)明的數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器的輸入控制信號可以和芯片的數(shù)據(jù)信號復(fù)用相同的管腳，但是控制信號個數(shù)少于芯片數(shù)據(jù)信號的個數(shù)，數(shù)據(jù)比對輸出只占用一個管腳，而且這個管腳仍然和芯片數(shù)據(jù)信號復(fù)用相同的管腳，所以測試時壓縮了占用自動化測試機(jī)臺的測試通道數(shù)目，提高了同測度，節(jié)約了測試成本，且芯片的數(shù)據(jù)位寬越多越明顯。
[0024](3)本發(fā)明測試NOR閃存器件的準(zhǔn)確率較高，測試效率高。
【附圖說明】
[0025]為了更清楚地說明本發(fā)明的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其它附圖。
[0026]圖1為本發(fā)明的測試方法的系統(tǒng)示意圖。
[0027]1-N0R閃存器件，2-輸入的地址信號，3_數(shù)據(jù)輸入寄存器，4_數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器，5_拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號，6-數(shù)據(jù)讀出寄存器，7-結(jié)果比較器，8-比對結(jié)果輸出信號。
【具體實(shí)施方式】
[0028]下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。
[0029]請參閱圖1，其為本發(fā)明的測試方法的系統(tǒng)示意圖。如圖1所示，本發(fā)明一種NOR閃存器件的測試方法，其將NOR閃存器件放置于自動化測試機(jī)上，在NOR閃存器件上進(jìn)行芯片執(zhí)行寫操作和讀操作測試，測試結(jié)果通過芯片的一個數(shù)據(jù)管腳反饋給自動化測試機(jī)進(jìn)行判斷。具體包括如下步驟:
[0030]步驟一、通過芯片外部管腳輸入使能信號控制芯片進(jìn)入測試模式。
[0031]步驟二、芯片執(zhí)行寫操作:通過NOR閃存器件I的管腳向芯片輸入地址信號2，通過芯片上的數(shù)據(jù)輸入寄存器3將數(shù)據(jù)寫入NOR閃存器件I中。該步驟中，寫入的數(shù)據(jù)由數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4產(chǎn)生，拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號5通過NOR閃存器件I的一個管腳輸送給數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4，所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4在拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生信號的作用下產(chǎn)生十六進(jìn)制的0x00，0xff，0x55，0xaa等數(shù)據(jù)給數(shù)據(jù)輸入寄存器3，數(shù)據(jù)輸入寄存器3在執(zhí)行寫操作時將這個數(shù)據(jù)寫入NOR閃存器件I。所述拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號是通過芯片的一個管腳傳傳輸給數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4，所述數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4產(chǎn)生的數(shù)據(jù)通過管腳傳給數(shù)據(jù)輸入寄存器3，數(shù)據(jù)輸入寄存器3將數(shù)據(jù)寫入NOR閃存器件I中。由此可知，拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號傳輸給數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4所使用的管腳和數(shù)據(jù)拓?fù)洚a(chǎn)生器4產(chǎn)生的數(shù)據(jù)傳輸給數(shù)據(jù)輸入寄存器3所述使用的管腳是同一個管腳，即所述拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號和芯片的數(shù)據(jù)信號復(fù)用相同的管腳。所述拓?fù)鋽?shù)據(jù)產(chǎn)生控制信號個數(shù)