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      一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路和寫入方法

      文檔序號(hào):9922719閱讀:650來源:國知局
      一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路和寫入方法
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及相變存儲(chǔ)器相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域,特別是一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路和寫入方法。
      【背景技術(shù)】
      [0002]相變存儲(chǔ)器,具體為相變電阻(PCM)具有存儲(chǔ)單元尺寸小,非揮發(fā)性,循環(huán)壽命長,穩(wěn)定性好,功耗低和可嵌入功能強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),特別是在器件特征尺寸的微縮方面的優(yōu)勢尤為突出,業(yè)界認(rèn)為在不久的將來會(huì)有越來越大的技術(shù)優(yōu)勢。因此它被認(rèn)為是下一代非揮發(fā)存儲(chǔ)技術(shù)的最佳解決方案之一,在低壓,低功耗,高速,高密度和嵌入式存儲(chǔ)方面有廣闊的前景。
      [0003]相變存儲(chǔ)器主要是通過施加不同大小的特殊脈沖,導(dǎo)致相變材料局部區(qū)域因不同溫度而產(chǎn)生非晶態(tài)(amorphous state)與晶態(tài)(crystalline state)變化。非晶態(tài)表示邏輯“I”,晶態(tài)表示邏輯“O”。
      [0004]一般情況,將材料從非晶體到多晶體的轉(zhuǎn)化過程稱作置位(Set),從多晶體到非晶體的轉(zhuǎn)化過程稱作重置(Reset)。對于重置操作,只需要將溫度提升到熔化溫度以上然后迅速的冷卻便能夠達(dá)到非晶體的狀態(tài),相對來說比較容易。然而對于置位操作,則需要將溫度提升到結(jié)晶溫度以上,熔化溫度以下,然后緩慢的冷卻結(jié)晶。
      [0005]目前的相變存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)寫入方法主要是:采用寫入結(jié)構(gòu)在相變材料上加一個(gè)電流或者電壓脈沖。其中,電流脈沖的示意圖如圖1a和Ib所示,橫坐標(biāo)為時(shí)間,縱坐標(biāo)為電流。圖1a表示寫入電路產(chǎn)生的重置(Reset)電流,作重置(Reset)操作時(shí)被加入到相變材料,使其發(fā)生晶態(tài)到非晶態(tài)的轉(zhuǎn)變。圖1b表示置位(Set)電流,作置位(Set)操作時(shí)被加入到相變材料,使其發(fā)生非晶態(tài)到晶態(tài)的轉(zhuǎn)變。如果相變過程正確完成,則電流脈沖結(jié)束后,相變材料維持對應(yīng)的狀態(tài)直到下一次寫入操作。
      [0006]由于置位(Set)操作需要溫度能夠緩慢的下降以便于相變材料能夠達(dá)到結(jié)晶的狀態(tài)達(dá)到低電阻的電學(xué)特性,因此對于溫度的下降時(shí)間有一定的要求。
      [0007]由于相變存儲(chǔ)工藝偏差和不成熟,相變材料在高阻狀態(tài)和低阻狀態(tài)時(shí)的具體值是未知的,每次數(shù)據(jù)寫入做置位(Set)或重置(Reset)操作時(shí),相變存儲(chǔ)器呈現(xiàn)出來的阻值都不同,給寫入數(shù)據(jù)和讀取數(shù)據(jù)帶來不確定性。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0008]基于此,有必要針對現(xiàn)有技術(shù)相變存儲(chǔ)器寫入數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確的技術(shù)問題,提供一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路和寫入方法。
      [0009]—種相變存儲(chǔ)器的寫入電路,包括:操作單元、邏輯控制單元和電壓調(diào)整反饋單元;
      [0010]所述操作單元,用于根據(jù)所接收的寫入操作信號(hào)向包括所述相變存儲(chǔ)器的相變存儲(chǔ)器陣列基本單元執(zhí)行相應(yīng)的寫入操作;
      [0011]所述電壓調(diào)整反饋單元,用于獲取所述寫入操作信號(hào)和所述相變存儲(chǔ)器的端電壓,選擇所述寫入操作信號(hào)相應(yīng)的閾值電壓與所述端電壓進(jìn)行比較,當(dāng)所述端電壓大于所述閾值電壓時(shí),向所述邏輯控制單元輸出斷開開關(guān)控制信號(hào);
      [0012]所述邏輯控制單元,用于在接收到所述斷開開關(guān)控制信號(hào)后,控制所述操作單元與所述相變存儲(chǔ)器陣列基本單元斷開。
      [0013]一種相變存儲(chǔ)器的寫入方法,包括:
      [0014]操作單元輸出步驟,包括:根據(jù)所接收的寫入操作信號(hào)向包括所述相變存儲(chǔ)器的相變存儲(chǔ)器陣列基本單元執(zhí)行相應(yīng)的寫入操作;
      [0015]電壓反饋步驟,包括:獲取寫入操作信號(hào)和所述相變存儲(chǔ)器的端電壓,選擇所述寫入操作信號(hào)相應(yīng)的閾值電壓與所述端電壓進(jìn)行比較,且:
      [0016]當(dāng)所述端電壓大于所述閾值電壓時(shí),控制所述操作單元與所述相變存儲(chǔ)器陣列基本單元斷開。
      [0017]本發(fā)明通過電壓調(diào)整反饋單元對相變存儲(chǔ)器的電壓與閾值電壓進(jìn)行比較,當(dāng)相變存儲(chǔ)器的電壓達(dá)到閾值電壓時(shí)斷開操作單元與相變存儲(chǔ)器陣列基本單元的連接,從而停止對相變存儲(chǔ)器陣列基本單元進(jìn)行寫入操作。由于直接檢測相變存儲(chǔ)器的電壓,因此在寫入數(shù)據(jù)時(shí),即使相變存儲(chǔ)器的阻值不確定,都可以得到相變存儲(chǔ)器在非晶態(tài)和晶態(tài)時(shí)的一個(gè)固定的電壓值,從而保持了寫入數(shù)據(jù)的一致性。
      【附圖說明】
      [0018]圖1a為重置操作時(shí)電流脈沖示意圖;
      [0019]圖1b為置位操作時(shí)電流脈沖示意圖;
      [0020]圖2為本發(fā)明一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路的電路原理圖;
      [0021 ]圖3為一個(gè)例子中電壓調(diào)整電路的示意圖;
      [0022]圖4為本發(fā)明一種相變存儲(chǔ)器的寫入方法的工作流程圖;
      [0023]圖5為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例中邏輯控制單元的電路原理圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0024]下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對本發(fā)明做進(jìn)一步詳細(xì)的說明。
      [0025]如圖2所示為本發(fā)明一種相變存儲(chǔ)器的寫入電路的電路原理圖,包括:操作單元1、邏輯控制單元2和和電壓調(diào)整反饋單元4;
      [0026]所述操作單元I,用于根據(jù)所接收的寫入操作信號(hào)向包括所述相變存儲(chǔ)器31的相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3執(zhí)行相應(yīng)的寫入操作;
      [0027]所述電壓調(diào)整反饋單元4,用于獲取所述寫入操作信號(hào)和所述相變存儲(chǔ)器的端電壓,選擇所述寫入操作信號(hào)相應(yīng)的閾值電壓與所述端電壓進(jìn)行比較,當(dāng)所述端電壓大于所述閾值電壓時(shí),向所述邏輯控制單元輸出斷開開關(guān)控制信號(hào);
      [0028]所述邏輯控制單元2,用于在接收到所述斷開開關(guān)控制信號(hào)后,控制所述操作單元2與所述相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3斷開。
      [0029]在對相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3執(zhí)行寫入操作時(shí),選通管32選通,操作單元I對相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3執(zhí)行寫入操作,操作單元I所執(zhí)行的寫入操作可以采用現(xiàn)有的各種寫入操作方式,例如【背景技術(shù)】中所介紹的在相變材料上加一個(gè)電流或者電壓脈沖的方法。即操作單元I執(zhí)行寫入操作可以是操作單元I輸出寫入電流,其中,電流脈沖的示意圖如圖1所示。在操作單元I對相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3執(zhí)行寫入操作時(shí),相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3的相變存儲(chǔ)器31的端電壓會(huì)上升,當(dāng)端電壓的電壓繼續(xù)上升超過與寫入操作相應(yīng)的閾值電壓時(shí),電壓調(diào)整反饋單元4輸出斷開開關(guān)控制信號(hào),從而停止對相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3進(jìn)行寫入操作。因此,使得相變存儲(chǔ)器31的端電壓能夠穩(wěn)定在與寫入操作相應(yīng)的閾值電壓,使得每次寫入數(shù)據(jù)時(shí),都可以在非晶態(tài)和晶態(tài)時(shí)得到一個(gè)固定的電壓值,從而保持了寫入數(shù)據(jù)的一致性。
      [0030]所述電壓調(diào)整反饋單元4包括:基準(zhǔn)電壓輸出電路42和比較器41,所述基準(zhǔn)電壓輸出電路42的輸出端與所述比較器41的第一輸入端連接,所述比較器41的第二輸入端與所述相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3連接,所述比較器41的輸出端與所述邏輯控制單元2連接,所述基準(zhǔn)電壓輸出電路輸出所述寫入操作相應(yīng)的閾值電壓。
      [0031]本實(shí)施例中,采用比較器41對基準(zhǔn)電壓輸出電路42所輸出的閾值電壓與相變存儲(chǔ)器陣列基本單元3的相變存儲(chǔ)器31的電壓進(jìn)行比較,保證測量準(zhǔn)確。
      [0032]作為一個(gè)例子,比較器41的第一輸入端為正輸入端,比較器41的第二輸入端為負(fù)輸入端,當(dāng)相變存儲(chǔ)器31的電壓高于或等于閾值電壓時(shí),比較器41的輸出端輸出高電平作為斷開開關(guān)控制信號(hào)。
      [0033]在其中一個(gè)實(shí)施例中:
      [0034]所述寫入操作包括置位操作和重置操作,所述閾值電壓包括與置位操作相應(yīng)的置位閾值電壓、與重置操作相應(yīng)的重置閾值電壓,所述寫入操作信號(hào)包括與置位操作相應(yīng)的置位操作信號(hào)、與重置操作相應(yīng)的重置操作信號(hào),所述置位閾值電壓低于所述重置閾值電壓;
      [0035]所述基準(zhǔn)電壓輸出電路42包括:電壓調(diào)整電路421、置位開關(guān)422和重置開關(guān)423,所述電壓調(diào)整電路421包括輸出置
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