本發(fā)明涉及晶體硅太陽(yáng)能電池質(zhì)量檢測(cè)領(lǐng)域，具體公開(kāi)一種檢測(cè)探針排異常的電池片及其用于檢測(cè)的操作方法。

背景技術(shù)：

一個(gè)具有市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的晶體硅太陽(yáng)能電池企業(yè)不僅具備高效率、低成本的特點(diǎn)，而且必須能夠提供穩(wěn)定性的產(chǎn)品。而穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量首先需要用穩(wěn)定、準(zhǔn)確的電性能測(cè)試系統(tǒng)作為保證,在一個(gè)電性能測(cè)試系統(tǒng)中，探針排作為儀器測(cè)試電池效率的直接接觸部件，它的穩(wěn)定性以及與電池電極的接觸是否良好直接決定了生產(chǎn)線(xiàn)電池測(cè)試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

由于測(cè)試儀器中的探針排是機(jī)械運(yùn)動(dòng)部件，在長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試中很容易出現(xiàn)探針脫落，探針與正面主柵、背面電極接觸不良，以及探針架或者接頭松動(dòng)等情況。而目前晶體硅太陽(yáng)能電池生產(chǎn)企業(yè)對(duì)測(cè)試儀器探針排的監(jiān)控主要依靠日常目測(cè)點(diǎn)檢，這種監(jiān)控?zé)o法監(jiān)測(cè)到探針是否接觸良好以及探針?biāo)蓜?dòng)等微小變化，具有很大的檢測(cè)盲區(qū)，很容易得出錯(cuò)誤的結(jié)論；而且目測(cè)監(jiān)控具有極大的隨意性和主觀性，對(duì)于測(cè)試設(shè)備探針排是否出現(xiàn)異常，不能通過(guò)量化判斷給出準(zhǔn)確的結(jié)論。

這樣情況下很容易造成測(cè)試錯(cuò)誤或者測(cè)試不穩(wěn)定，一方面會(huì)誤導(dǎo)產(chǎn)線(xiàn)工程師的判斷，給工程師的工作造成極大的困擾同時(shí)也造成了精力的浪費(fèi)；另一方面測(cè)試錯(cuò)誤或者不穩(wěn)定會(huì)造成電池片效率混檔，客戶(hù)在制作組件時(shí)出現(xiàn)組件異常，給晶體硅太陽(yáng)能電池制造企業(yè)和組件廠家造成了很大的困擾和經(jīng)濟(jì)損失。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本發(fā)明的目的在于：為解決以上問(wèn)題提供一種更容易監(jiān)控晶體硅太陽(yáng)能電池電性能測(cè)試儀探針排異常狀態(tài)，可及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題解決問(wèn)題，避免產(chǎn)生測(cè)試錯(cuò)誤或者測(cè)試不穩(wěn)定的電池片及其用于檢測(cè)的操作方法。

本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是這樣的：

一種檢測(cè)探針排異常的電池片，包括電池片，

在所述電池片正面正對(duì)上探針排的位置設(shè)置有若干主柵線(xiàn)，且每條主柵線(xiàn)均勻斷開(kāi)成若干段；與所述主柵線(xiàn)垂直方向上均勻間隔分布有若干細(xì)柵線(xiàn)，且每條細(xì)柵線(xiàn)均勻斷開(kāi)成若干段；斷開(kāi)的主柵線(xiàn)和細(xì)柵線(xiàn)分布呈若干相同區(qū)域；

在所述電池片的背面均勻分割成若干互不連接的方形區(qū)域，每個(gè)方形區(qū)域?qū)?yīng)所述電池片正面各個(gè)區(qū)域。

進(jìn)一步地，所述主柵線(xiàn)的數(shù)量和所述細(xì)柵線(xiàn)斷開(kāi)段數(shù)與探針排的排數(shù)一致。

進(jìn)一步地，所述主柵線(xiàn)斷開(kāi)的段數(shù)與探針排每排上的探針組數(shù)一致。

進(jìn)一步地，所述電池片正面或背面劃分的區(qū)域數(shù)與探針排所有探針組數(shù)一致。

本發(fā)明的另一個(gè)技術(shù)方案是這樣的：

一種檢測(cè)探針排異常的電池片用于檢測(cè)的操作方法，包括如下步驟：

（1）標(biāo)片的制作；首先在一臺(tái)確認(rèn)無(wú)異常的探針排上對(duì)所述電池片進(jìn)行電性能數(shù)據(jù)標(biāo)定，作為標(biāo)片；

（2）跑片測(cè)試；用步驟（1）中制作的標(biāo)片置于待檢測(cè)的探針排上跑片，獲得相應(yīng)的電性能數(shù)據(jù)；

（3）對(duì)比電性能數(shù)據(jù)；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)與步驟（1）中標(biāo)片一致，則判定該探針排無(wú)異常；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)相對(duì)步驟（1）中標(biāo)片數(shù)據(jù)降低n倍的1/方形區(qū)域數(shù)*100%，則有n組探針排有異常；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)相對(duì)步驟（1）中標(biāo)片數(shù)據(jù)降低接近1/方形區(qū)域數(shù)*100%，需要通過(guò)定時(shí)跑片，監(jiān)控電池效率降低幅度的趨勢(shì)來(lái)判定探針排是否出現(xiàn)異常。

綜上所述，由于采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是：

1、本發(fā)明僅僅修改電池片表面圖形設(shè)計(jì)，簡(jiǎn)單方便，且不增加額外成本與費(fèi)用；

2、本發(fā)明中的檢測(cè)方法能夠通過(guò)測(cè)試的數(shù)據(jù)變化準(zhǔn)確給出測(cè)試儀器是否出現(xiàn)異常，有多少組探針排出現(xiàn)問(wèn)題；

3、檢測(cè)時(shí)耗時(shí)短，通過(guò)一次跑片就可以判定探針排是否出現(xiàn)問(wèn)題，極大地降低了監(jiān)控探針排對(duì)生產(chǎn)產(chǎn)能的影響；

4、方法簡(jiǎn)單，生產(chǎn)操作人員即可，無(wú)需額外安排專(zhuān)人進(jìn)行監(jiān)控，節(jié)約了人工成本；

5、保證了產(chǎn)品的穩(wěn)定性，降低產(chǎn)品不良率，降低生產(chǎn)成本。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明電池片正面結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本發(fā)明電池片背面結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。

如圖1~2所示，一種檢測(cè)探針排異常的電池片，包括電池片，在所述電池片正面正對(duì)上探針排的位置設(shè)置有4條主柵線(xiàn)1，且每條主柵線(xiàn)1均勻斷開(kāi)成8段；與所述主柵線(xiàn)1垂直方向上均勻間隔分布有若干細(xì)柵線(xiàn)2，且每條細(xì)柵線(xiàn)2均勻斷開(kāi)成4段；斷開(kāi)的主柵線(xiàn)1和細(xì)柵線(xiàn)2分布呈32個(gè)相同區(qū)域；

在所述電池片的背面均勻分割成32個(gè)互不連接的方形區(qū)域，每個(gè)方形區(qū)域?qū)?yīng)所述電池片正面各個(gè)區(qū)域。

正面主柵線(xiàn)1的設(shè)計(jì)需要與探針排設(shè)計(jì)一致，并進(jìn)行斷開(kāi)，防止正面電極的連通，而且細(xì)柵線(xiàn)2也進(jìn)行區(qū)域性斷開(kāi)設(shè)計(jì)，正面電池的圖形被劃分為32個(gè)區(qū)域（如圖1所示），對(duì)應(yīng)的電池背面也設(shè)計(jì)為32個(gè)區(qū)域（如圖2所示），這樣的設(shè)計(jì)相當(dāng)于將電池制作成32個(gè)小電池。由于背電場(chǎng)鋁漿也可以通過(guò)探針進(jìn)行導(dǎo)電，這里背面圖形可以不再設(shè)計(jì)背電極圖案。

所述主柵線(xiàn)1的數(shù)量和所述細(xì)柵線(xiàn)2斷開(kāi)段數(shù)與探針排的排數(shù)一致；所述主柵線(xiàn)1斷開(kāi)的段數(shù)與探針排每排上的探針組數(shù)一致；所述電池片正面或背面劃分的區(qū)域數(shù)與探針排所有探針組數(shù)一致；主柵線(xiàn)1、細(xì)柵線(xiàn)2、方形區(qū)域的分布與探針排的排數(shù)、分布、每排探針排上探針組數(shù)有關(guān)，根據(jù)實(shí)際情況設(shè)計(jì)電池片印刷網(wǎng)版表面圖形，進(jìn)一步形成電池片表面圖形。

上述檢測(cè)探針排異常的電池片用于檢測(cè)的操作方法，包括如下步驟：

（1）標(biāo)片的制作；首先在一臺(tái)確認(rèn)無(wú)異常的探針排上對(duì)所述電池片進(jìn)行電性能數(shù)據(jù)標(biāo)定，作為標(biāo)片；

（2）跑片測(cè)試；用步驟（1）中制作的標(biāo)片置于待檢測(cè)的探針排上跑片，獲得相應(yīng)的電性能數(shù)據(jù)；

（3）對(duì)比電性能數(shù)據(jù)；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)與步驟（1）中標(biāo)片一致，則判定該探針排無(wú)異常；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)相對(duì)步驟（1）中標(biāo)片數(shù)據(jù)降低n倍的3.125%（1/32*100%），則有n組探針排有異常；

若步驟（2）中獲得的電性能數(shù)據(jù)相對(duì)步驟（1）中標(biāo)片數(shù)據(jù)降低接近3.125%（1/32*100%），需要通過(guò)定時(shí)跑片，監(jiān)控電池效率降低幅度的趨勢(shì)來(lái)判定探針排是否出現(xiàn)異常；這種異常情況很可能是探針排某排上某組探針有缺失導(dǎo)致。

這種檢測(cè)方法可以方便快捷的判斷測(cè)試設(shè)備探針排是否出現(xiàn)異常，從而可以及時(shí)的發(fā)現(xiàn)問(wèn)題解決問(wèn)題，避免產(chǎn)生測(cè)試錯(cuò)誤或者測(cè)試不穩(wěn)定。同時(shí)這樣檢測(cè)方法可以得出量化的數(shù)據(jù)，工程師可以根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)的變化判斷探針排異常的組數(shù)，消除了人為點(diǎn)檢時(shí)的檢測(cè)盲區(qū)和主觀性問(wèn)題，保證了產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。