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      激光晶化方法及裝置與流程

      文檔序號:12369678閱讀:來源:國知局

      技術(shù)特征:

      1.一種激光晶化方法,用于晶化半導(dǎo)體薄膜,其特征在于,包括步驟:

      預(yù)晶化所述薄膜,第一激光束以預(yù)設(shè)的間歇順序掃描所述薄膜;

      再晶化所述薄膜,第二激光束連續(xù)掃描所述第一激光束掃描過的所述薄膜,其中所述第二激光束的掃描方向與所述第一激光束的掃描方向相同。

      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光晶化方法,其特征在于,所述第一激光束為周期性的脈沖激光束。

      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光晶化方法,其特征在于,所述第一激光束為連續(xù)激光束,所述第一激光束在照射到所述薄膜前以所述預(yù)設(shè)的間歇被吸收。

      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光晶化方法,其特征在于,所述第二激光束的強度大于所述第一激光束的強度。

      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的激光晶化方法,其特征在于,所述第一激光束的光源和所述第二激光束的光源為線光源,所述第一激光束的光源的長度和所述第二激光束的光源的長度相等。

      6.一種激光晶化裝置,用于晶化半導(dǎo)體薄膜,其特征在于,包括激光器、光學(xué)系統(tǒng)和吸光板;所述激光器用于發(fā)出初始激光束;所述光學(xué)系統(tǒng)設(shè)置于所述初始激光束的光路上,所述光學(xué)系統(tǒng)用于將所述初始激光束分為第一激光束和第二激光束,所述第一激光束順序掃描所述薄膜,所述第二激光束連續(xù)掃描所述第一激光束掃描過的所述薄膜,所述第二激光束的掃描方向與所述第一激光束的掃描方向相同;所述吸光板設(shè)置于所述第一激光束照射至所述薄膜的光路上,所述吸光板能夠以預(yù)設(shè)的間歇吸收所述第一激光束。

      7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的激光晶化裝置,其特征在于,所述光學(xué)系統(tǒng)包括分束鏡和反射鏡;

      所述分束鏡設(shè)置于所述初始激光束的光路上,所述初始激光束斜入射至所述分束鏡上,所述分束鏡能夠?qū)⑺龀跏技す馐譃橥干涔夂头瓷涔?,所述反射光是所述第一激光束,所述透射光是所述第二激光束?/p>

      所述反射鏡設(shè)置于所述第一激光束的光路上,所述第一激光束斜入射至所述反射鏡上,被所述反射鏡反射的所述第一激光束照射至所述薄膜上;

      所述吸光板設(shè)置于所述第一激光束被所述反射鏡反射的光路上。

      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的激光晶化裝置,其特征在于,所述分束鏡的透射率大于所述分束鏡的反射率。

      9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的激光晶化裝置,其特征在于,所述初始激光束的光源為線光源,所述分束鏡、反射鏡和吸光板的長度大于或等于所述線光源的長度,所述分束鏡、反射鏡和吸光板的長度方向與所述線光源的長度方向平行。

      10.根據(jù)權(quán)利要求7所述的激光晶化裝置,其特征在于,所述分束鏡與所述反射鏡平行。

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