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      一種TFT陣列基板及其制備方法與流程

      文檔序號:11955997閱讀:526來源:國知局
      一種TFT陣列基板及其制備方法與流程

      本發(fā)明涉及TFT顯示技術領域,具體涉及TFT陣列基板及其制備方法。



      背景技術:

      隨著互聯(lián)網技術的飛速發(fā)展,與之相對應的移動終端產品,如手機、平板電腦、筆記本電腦等已成為人們日常生活當中的必需品。薄膜晶體管(TFT)式顯示屏是各類筆記本電腦和臺式機上的主流顯示設備,該類顯示屏上的每個像素點都是由集成在像素點后面的TFT來驅動,其具有高響應度、高亮度、高對比度等優(yōu)點,顯示效果接近CRT式顯示器。

      圖1a所示為現(xiàn)有技術中TFT陣列基板的結構示意圖。從圖中可以看出,該TFT陣列基板包括襯底10,以及沉積在襯底10之上的TFT結構層11。其中TFT結構層包括至少一個TFT結構單元110。圖1b所示為圖1a中一個TFT結構單元的放大圖。從圖中可以看出,對于每一個TFT結構單元110而言,從下到上依次包括絕緣層111、P型半導體層112、柵極絕緣層113、柵極114、源極115、漏極116、鈍化層117。

      然而,具備上述TFT陣列基板的移動終端設備在實際應用過程中,如果長時間連續(xù)使用,會導致機身發(fā)熱,隨之而來的可能是產品使用性能降低,耗電量增加,硬件老化加快等,這些問題無一不制約著產品性能的發(fā)揮。



      技術實現(xiàn)要素:

      有鑒于此,本發(fā)明實施例提供了一種TFT陣列基板,解決了移動終端產品長時間使用導致機身發(fā)熱,進而降低產品性能的問題。本發(fā)明實施例還提供了一種TFT陣列基板的制備方法,使TFT陣列基板同時具備了薄膜溫差電池的功能。

      本發(fā)明一實施例提供的一種TFT陣列基板,包括TFT結構單元,還包括N型半導體單元,N型半導體單元與所述TFT結構單元中的P型半導體層通過金屬線串聯(lián)形成熱電單元。

      本發(fā)明還提供了一種TFT陣列基板的制備方法,包括逐層制備TFT結構層,進一步包括,制備N型半導體單元,并將N型半導體單元與TFT結構單元中的P型半導體層通過金屬線串聯(lián)形成熱電單元。

      本發(fā)明實施例提供的一種TFT陣列基板及其制備方法,通過在現(xiàn)有TFT結構層的基礎上增加一個N型半導體層,然后借助TFT結構層中的P型半導體層形成了熱電單元結構,方法簡單,同時擴展了現(xiàn)有TFT陣列基板的功能。在制備顯示屏時,可以利用顯示屏工作時產生的熱量來發(fā)電,一方面綠色節(jié)能,另一方面可以為顯示屏表面降溫,降低了顯示屏使用過程中表面過熱帶來的一系列不良后果。

      附圖說明

      圖1a所示為現(xiàn)有技術中TFT陣列基板的結構示意圖。

      圖1b所示為圖1a中一個TFT結構單元的放大圖。

      圖2a所示為本發(fā)明一實施例提供的TFT陣列基板的局部截面示意圖。

      圖2b所示為圖2a中熱電單元的電流回路示意圖。

      圖3所示為本發(fā)明一實施例提供的熱電單元串并聯(lián)形成薄膜電池陣列的電路連接關系示意圖。

      圖4所示為本發(fā)明一實施例提供的TFT陣列基板的制備方法流程圖。

      圖5a-圖5d所示為本發(fā)明一實施例提供的TFT陣列基板制備過程示意圖。

      具體實施方式

      下面將結合本發(fā)明實施例中的附圖,對本發(fā)明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅是本發(fā)明一部分實施例,而不是全部的實施例。基于本發(fā)明中的實施例,本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例,都屬于本發(fā)明保護的范圍。

      本發(fā)明提供的TFT陣列基板,與現(xiàn)有技術相比進一步包括N型半導體層,該N型半導體層又包括至少一個N型半導體單元,每一個N型半導體單元對應一個TFT結構單元,N型半導體單元的一端與與之對應的TFT結構單元中的P型半導體層的一端通過金屬線相連形成熱電單元。

      圖2a所示為本發(fā)明一實施例提供的TFT陣列基板的局部截面示意圖。從圖中可以看出,該陣列基板相比于現(xiàn)有技術而言,在TFT結構層11中位于最底層的絕緣層111與襯底10之間進一步包括一個N型半導體層12,該N型半導體層12包括至少一個N型半導體單元120,每一個N型半導體單元120對應一個TFT結構單元110。每一個N型半導體單元120的兩端分別包括第一金屬引線121和第二金屬引線122,其中第一金屬引線121與TFT結構單元110的源極115(或漏極116)相連形成串聯(lián)結構的電路單元,即熱電單元,則第二金屬引線122和TFT結構單元110的漏極116(或源極115)分別為熱電單元的正、負電極,該熱電單元中的電流回路如圖2b中虛箭頭線所示。本領域技術人員可以理解,圖2a和圖2b示出的熱電單元的具體結構只是示例性的,也可以不借助TFT結構單元110的源極115和漏極116,而是在TFT結構單元110中的P型半導體層兩端單獨設置兩條金屬線,專門用于形成熱電單元,此時可以設置其中的一條金屬線與第一金屬引線121電連接,另一條金屬線作為熱電單元的負極。

      在一個實施例中,N型半導體層12也可以設置在TFT結構層11之上。

      根據本發(fā)明實施方式的TFT陣列基板,通過在現(xiàn)有TFT結構層11的基礎上增加一個N型半導體層12,然后借助TFT結構層中的P型半導體層形成了熱電單元結構。方法簡單,同時擴展了現(xiàn)有TFT陣列基板的功能。

      當將如圖2a所示TFT陣列基板用于制造顯示屏時,可以將所有的熱電單元通過串聯(lián)和/或并聯(lián)的方式組成薄膜電池陣列。圖3所示為本發(fā)明一實施例提供的熱電單元串并聯(lián)形成薄膜電池陣列的電路連接關系示意圖。從圖中可以看出,熱電單元1-1到1-6、熱電單元2-1到2-6、熱電單元3-1到3-6分別串聯(lián)組成三個串聯(lián)行,三個串聯(lián)行再相互并聯(lián)組成薄膜電池陣列。這種情況下,薄膜電池陣列可以進一步包括儲電單元,儲電單元的兩端分別連接薄膜電池陣列的正、負極,用于將薄膜電池陣列產生的電能儲存起來。

      本領域技術人員可以理解,這里給出的熱電單元的數(shù)量、連接關系只是示例性的,對于連接關系可以是所有熱電單元串聯(lián)組成薄膜電池陣列,也可以是所有熱電單元并聯(lián)組成薄膜電池陣列。

      根據本發(fā)明實施方式的TFT陣列基板,可以用于制備顯示屏,當顯示屏工作時,會產生大量熱量,而由于TFT陣列基板的層級結構中每一層的材質是不同的,使得每一層的導熱效果不同,這樣就會在層與層之間形成溫度差,這種情況下,將位于TFT陣列基板的不同層的P型半導體層112和N型半導體單元120串聯(lián)起來,就可以根據塞貝克效應,在P型半導體層112和N型半導體單元120所構成的回路中產生電流,從而形成可發(fā)電的熱電單元結構。這種發(fā)電形式一方面綠色節(jié)能,另一方面可以為顯示屏表面降溫,降低了顯示屏使用過程中表面過熱帶來的一系列不良后果。

      本發(fā)明還提供了一種TFT陣列基板的制備方法,在現(xiàn)有技術中的逐層制備TFT結構層的基礎上,還包括,制備與TFT結構層中的每一個TFT結構單元一一對應的N型半導體單元,并將TFT結構單元中的P型半導體的一端與與之對應的N型半導體單元的一端電連接。下面通過一個具體實施例詳述本發(fā)明中TFT陣列基板的制備過程。

      圖4所示為本發(fā)明一實施例提供的TFT陣列基板的制備方法流程圖。從圖中可以看出,該方法包括:

      步驟301,在襯底上形成N型半導體層,該N型半導體層包括至少一個與TFT結構單元一一對應并且彼此絕緣的N型半導體單元。

      參考圖5a,具體為,在襯底10上沉積N型半導體層12,通過光刻掩模技術形成彼此絕緣的N型半導體單元120,該N型半導體單元120與后續(xù)形成的TFT結構層11中的TFT結構單元110一一對應。

      步驟302,參考圖5b,在N型半導體層12上沉積第一金屬層,并通過一道光刻制程圖案化該第一金屬層,形成分別位于每一個N型半導體單元120一端的第一金屬引線121和第二金屬引線122。

      步驟303,參考圖5c,在襯底10、N型半導體層12,以及第一金屬引線121和第二金屬引線122之上形成TFT結構層11。該形成TFT結構層的過程為現(xiàn)有技術,對此不作限定。

      步驟304,參考圖5d,將每一個N型半導體單元120一端的第一金屬引線121(或第二金屬引線122)與與之對應的TFT結構單元110中的源極115(或漏極116)通過金屬線連接,即得到如圖2a所示TFT陣列基板。

      在一個實施例中,采用過孔的形式將N型半導體單元120一端的第一金屬引線121(或第二金屬引線122)與與之對應的TFT結構單元110中的源極115(或漏極116)電連接。

      本領域技術人員可以理解,一個熱電單元中的TFT結構單元與N型半導體單元的數(shù)量并不一定是相等的,本發(fā)明實施例中給出的一一對應的關系只是示例性的。例如,也可以設置多個N型半導體單元120與一個TFT結構單元110中的P型半導體層112串聯(lián)形成一個熱電單元,或者一個N型半導體單元120與多個TFT結構單元110中的P型半導體層112串聯(lián)形成一個熱電單元。當然,也可以實施成有的TFT結構單元110中的P型半導體層112與N型半導體單元120形成熱電單元,而有的TFT結構單元110中的P型半導體層112沒有與N型半導體單元120形成熱電單元。這需要結合實際TFT陣列基板產生的熱量以及一個熱電單元的發(fā)電量合理設置。

      以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已,并不用以限制本發(fā)明,凡在本發(fā)明的精神和原則之內,所作的任何修改、等同替換等,均應包含在本發(fā)明的保護范圍之內。

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