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      前照式圖像傳感器的形成方法與流程

      文檔序號(hào):12680702閱讀:292來源:國(guó)知局
      前照式圖像傳感器的形成方法與流程

      本發(fā)明涉及半導(dǎo)體領(lǐng)域,尤其是涉及一種前照式圖像傳感器的形成方法。



      背景技術(shù):

      圖像傳感器是將光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)的半導(dǎo)體器件,圖像傳感器具有光電轉(zhuǎn)換元件,通常光電轉(zhuǎn)換元件形成在襯底表面之下,邏輯電路形成在光電轉(zhuǎn)換元件之上,光在穿過邏輯電路之后才到達(dá)光電轉(zhuǎn)換元件,期間光經(jīng)過了多層結(jié)構(gòu),導(dǎo)致光損失或光線通過串?dāng)_(crosstalk)至相鄰的圖像傳感器單元芯片,影響每一圖像傳感器單元芯片的光電轉(zhuǎn)換元件的光響應(yīng)特性。

      本專利主要針對(duì)FSI 產(chǎn)品, 這一段多余,刪除圖像傳感器按又可分為互補(bǔ)金屬氧化物(CMOS)圖像傳感器和電荷耦合器件(CCD)圖像傳感器。CCD圖像傳感器的優(yōu)點(diǎn)是對(duì)圖像敏感度較高且噪聲小,但是CCD圖像傳感器與其他器件的集成比較困難,而且CCD圖像傳感器的功耗較高。相比之下,CMOS圖像傳感器具有工藝簡(jiǎn)單、易與其他器件集成、體積小、重量輕、功耗小、成本低等優(yōu)點(diǎn)。因此,隨著技術(shù)發(fā)展,CMOS圖像傳感器越來越多地取代CCD圖像傳感器應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品中。目前CMOS圖像傳感器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于靜態(tài)數(shù)碼相機(jī)、照相手機(jī)、數(shù)碼攝像機(jī)、醫(yī)療用攝像裝置(例如胃鏡)、車用攝像裝置等。

      互補(bǔ)金屬氧化物圖像傳感器又分為前照式(Frontside Illumination)和背照式(Backside Illutimination)。請(qǐng)參見圖1,圖1為典型的前照式圖像傳感器

      ,其中器件層100的上部形成有金屬層200:M1、M2、M3。器件層100中設(shè)置有感光區(qū)域110,也即光電二極管區(qū)域,對(duì)于前照式圖像傳感器,為了縮短光程,提高光電轉(zhuǎn)換效率,提升靈敏度,通常需要在感光去上方,刻蝕去除多余的電介質(zhì)層,降低介質(zhì)層厚度,提升入光量,現(xiàn)有技術(shù)中采用圖2的方式直接刻蝕,采用此方法刻蝕的深度需要通過刻蝕時(shí)間控制,刻蝕深度和刻蝕精度難以控制,開口精度不高。



      技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素:

      本發(fā)明解決的問題是提供一種前照式圖像傳感器的形成方法,

      形成位于器件層表面的金屬層;對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域形成至少一輔助金屬層;刻蝕介質(zhì)層至暴露出輔助金屬層,所述輔助金屬層作為停止層;去除輔助金屬層,所述輔助金屬層下部的介質(zhì)層作為停止層。

      優(yōu)選的,所述輔助金屬層位于頂層金屬層。

      優(yōu)選的,所述輔助金屬層為一整體區(qū)域,對(duì)應(yīng)覆蓋于感光區(qū)域上部。

      優(yōu)選的,所述輔助金屬層為多個(gè)間隔的區(qū)域,分別對(duì)應(yīng)于像素單元的光電二極管區(qū)域。

      優(yōu)選的,刻蝕介質(zhì)層暴露出輔助金屬層的窗口大于輔助金屬層的范圍。

      優(yōu)選的,所述介質(zhì)層的刻蝕精度誤差為5納米至200納米。

      優(yōu)選的,所述介質(zhì)層為二氧化硅層、氮化硅層。

      優(yōu)選的,所述金屬層的材質(zhì)為鋁、銅。

      本發(fā)明在金屬層對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域的部分區(qū)域形成輔助金屬層,通過對(duì)金屬層介質(zhì)材料的刻蝕首先停止在輔助金屬層的表面,輔助金屬層作為停止層,再去除輔助金屬層,輔助金屬層的底部作為第二次的停止層,并且針對(duì)多層金屬層可對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域形成多層的輔助金屬層,提高了刻蝕深度的均勻性和刻蝕精度,進(jìn)而提高了前照式圖像傳感器的性能。

      附圖說明

      圖1至圖2為現(xiàn)有技術(shù)中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖;

      圖3至圖5為本發(fā)明第一實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。

      圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。

      圖7至圖10為本發(fā)明第三實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。

      圖11為本發(fā)明一種前照式圖像傳感器的形成方法。

      具體實(shí)施方式

      下面結(jié)合具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明內(nèi)容進(jìn)行說明,本發(fā)明提供一種前照式圖像傳感器的形成方法,形成位于器件層表面的金屬層;對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域形成至少一輔助金屬層;刻蝕介質(zhì)層至暴露出輔助金屬層,所述輔助金屬層作為停止層;去除輔助金屬層,所述輔助金屬層下部的介質(zhì)層作為停止層。

      請(qǐng)參考圖3至圖5,圖3至圖5為本發(fā)明第一實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。

      形成位于器件層300表面的金屬層400,本實(shí)施例中金屬層400包括:M1、M2、M3三層,器件層300中形成有感光區(qū)域310,感光區(qū)域310也即圖像傳感器像素單元的光電二極管區(qū)域(Photodiode,PD),對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域310形成位于頂層M3的輔助金屬層410,輔助金屬層410的范圍較感光區(qū)域310的范圍大些,請(qǐng)繼續(xù)參考圖4,覆蓋光刻膠PR,通過圖形化工藝刻蝕金屬層400的部分介質(zhì)層至暴露出輔助金屬層410,所述輔助金屬層410作為停止層,刻蝕介質(zhì)層暴露出輔助金屬層410的窗口420大于輔助金屬層410的范圍,介質(zhì)層的刻蝕精度誤差為5納米至200納米,請(qǐng)繼續(xù)參考圖5,去除輔助金屬層410,輔助金屬層410下部的介質(zhì)層作為停止層,對(duì)去除部分介質(zhì)層的窗口420和去除輔助金屬層后的凹槽區(qū)域430進(jìn)行填充,形成填充區(qū)域,該填充區(qū)域?qū)?yīng)于感光區(qū)域310,該填充區(qū)域的折射率低于介質(zhì)層的區(qū)域,這樣在光線照射至前照式圖像傳感器時(shí)能提高光通量。介質(zhì)層為二氧化硅層、或氮化硅層以及其他電介質(zhì)材料及其混合結(jié)構(gòu);金屬層的材質(zhì)為鋁、銅、鎢或其他金屬材料。

      請(qǐng)繼續(xù)參考圖6,圖6為本發(fā)明第二實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。本實(shí)施例中第一實(shí)施例的區(qū)別在于輔助金屬層410為多個(gè)間隔的區(qū)域,分別對(duì)應(yīng)于像素單元的感光區(qū)域310。

      請(qǐng)繼續(xù)參考圖7至圖10,圖7至圖10為本發(fā)明第三實(shí)施例中前照式圖像傳感器的形成方法的部分步驟示意圖。

      圖7中形成位于器件層300表面的金屬層400,本實(shí)施例中金屬層400包括:M1、M2、M3三層,器件層300中形成有感光區(qū)域310,感光區(qū)域310也即圖像傳感器像素單元的光電二極管區(qū)域(Photodiode,PD),對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域310形成位于頂層M3的輔助金屬層410;位于M2的輔助金屬層440,其中輔助金屬層440,為多個(gè)間隔的區(qū)域,分別對(duì)應(yīng)于像素單元的感光區(qū)域310。輔助金屬層410的范圍較感光區(qū)域310的范圍大些,請(qǐng)繼續(xù)參考圖8,覆蓋光刻膠PR,通過圖形化工藝刻蝕金屬層400的部分介質(zhì)層至暴露出輔助金屬層410,所述輔助金屬層410作為停止層,刻蝕介質(zhì)層暴露出輔助金屬層410的窗口420大于輔助金屬層410的范圍,介質(zhì)層的刻蝕精度誤差為5納米至200納米。請(qǐng)繼續(xù)參考圖8,去除輔助金屬層410,輔助金屬層410下部的介質(zhì)層作為停止層;繼續(xù)參考圖9在去除輔助金屬層410后的凹槽區(qū)域430中繼續(xù)刻蝕至輔助金屬層440的表面,輔助金屬層440的表面作為第二停止層。圖10,進(jìn)一步去除M2的輔助金屬層440,形成第二凹槽區(qū)域460。對(duì)去除部分介質(zhì)層的窗口420區(qū)域、除另一介質(zhì)層450的區(qū)域凹槽區(qū)域430、第二凹槽區(qū)域460進(jìn)行填充,形成填充區(qū)域,該填充區(qū)域?qū)?yīng)于感光區(qū)域310,該填充區(qū)域的折射率低于介質(zhì)層的區(qū)域,這樣在光線照射至前照式圖像傳感器時(shí)能提高光通量。介質(zhì)層為二氧化硅層、或氮化硅層以及其他電介質(zhì)材料及其混合結(jié)構(gòu);金屬層的材質(zhì)為鋁、銅、鎢或其他金屬材料。

      請(qǐng)繼續(xù)參考圖11,圖11為本發(fā)明一種前照式圖像傳感器的形成方法,包括:

      S100:形成位于器件層表面的金屬層;對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域形成至少一輔助金屬層;

      S200:刻蝕介質(zhì)層至暴露出輔助金屬層,所述輔助金屬層作為停止層;

      S300:去除輔助金屬層,所述輔助金屬層下部的介質(zhì)層作為停止層。

      本發(fā)明在金屬層對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域的部分區(qū)域形成輔助金屬層,通過對(duì)金屬層介質(zhì)材料的刻蝕首先停止在輔助金屬層的表面,輔助金屬層作為停止層,再去除輔助金屬層,輔助金屬層的底部作為第二次的停止層,并且針對(duì)多層金屬層可對(duì)應(yīng)于感光區(qū)域形成多層的輔助金屬層,提高了刻蝕深度的均勻性和刻蝕精度,進(jìn)而提高了前照式圖像傳感器的性能。

      雖然本發(fā)明披露如上,但本發(fā)明并非限定于此。任何本領(lǐng)域技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi),均可作各種更動(dòng)與修改,因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)當(dāng)以權(quán)利要求所限定的范圍為準(zhǔn)。

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