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      一種用于等離子蝕刻切割的芯片結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號:11859171閱讀:390來源:國知局
      一種用于等離子蝕刻切割的芯片結(jié)構(gòu)的制作方法與工藝

      本實用新型涉及集成電路設(shè)計領(lǐng)域,尤其涉及圓片流片和圓片切割的芯片結(jié)構(gòu)領(lǐng)域。



      背景技術(shù):

      當(dāng)前芯片的結(jié)構(gòu),如圖1所示,為現(xiàn)有的輪刀切割芯片結(jié)構(gòu)剖面圖,該芯片結(jié)構(gòu)中,110為普通焊盤,120為芯片金屬層(Chip Metal Layer),130為密封環(huán),140為劃片槽結(jié)構(gòu),150為芯片鈍化層, 160為硅襯底。如圖2所示,為現(xiàn)有的輪刀切割芯片劃片槽結(jié)構(gòu)示意圖;該劃片槽140結(jié)構(gòu)中,包括鈍化層141、通孔層143、金屬層142和絕緣層144,密封環(huán)130包裹在劃片槽外。

      如圖3所示,為現(xiàn)有的輪刀切割芯片鈍化層結(jié)構(gòu)剖面圖,該芯片鈍化層150由外向內(nèi)依次排列氮化硅層151和氧化硅層152?,F(xiàn)有的輪刀切割芯片結(jié)構(gòu)中,劃片槽寬度一般在60微米以上,劃片槽中分布著測試焊盤,由于測試焊盤有最小尺寸要求,傳統(tǒng)的輪刀切割要求劃片槽寬度最小在50微米以上,鐳射切割要求劃片槽寬度最小在30微米以上,密封環(huán)設(shè)計寬度基本在5微米及以上,所以目前劃片槽寬度以傳統(tǒng)的流片及切割模式已經(jīng)到達一個技術(shù)極限,無法再縮減。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      針對現(xiàn)有技術(shù)采用劃片槽結(jié)構(gòu)以傳統(tǒng)的流片及切割模式的不足,本實用新型的目的是提供一種用于等離子刻蝕切割的芯片結(jié)構(gòu)。

      為了達到上述技術(shù)目的,本實用新型采用的技術(shù)方案是:

      一種用于等離子刻蝕切割的芯片結(jié)構(gòu),包括芯片鈍化層、劃片槽、芯片金屬層和硅襯底,其中,

      芯片鈍化層由外向內(nèi)依次設(shè)置氧化硅層、氮化硅層和氧化硅層;

      劃片槽內(nèi)部由氮化硅填充,外部無密封環(huán)包裹,以確??涛g精度可控。

      本實用新型的有益效果在于,該芯片結(jié)構(gòu)中芯片鈍化層采用由外向內(nèi)依次設(shè)置氧化硅層、氮化硅層和氧化硅層三層設(shè)計,劃片槽內(nèi)部由氮化硅填充,外部無密封環(huán)包裹,適用于等離子刻蝕切割芯片,具有縮短產(chǎn)品加工周期,增加芯片數(shù)量,降低成本,并提高芯片良品率。

      下面結(jié)合附圖和具體實施方式對本實用新型做進一步說明。

      附圖說明

      圖1為現(xiàn)有的輪刀切割芯片結(jié)構(gòu)剖面圖。

      圖2為現(xiàn)有的輪刀切割芯片劃片槽結(jié)構(gòu)剖視圖。

      圖3為現(xiàn)有的輪刀切割芯片鈍化層結(jié)構(gòu)剖面圖。

      圖4為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片結(jié)構(gòu)剖面圖。

      圖5為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片劃片槽結(jié)構(gòu)剖視圖。

      圖6為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片鈍化層剖面圖。

      具體實施方式

      如圖4所示,為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片結(jié)構(gòu)剖面圖。在該等離子蝕刻切割芯片結(jié)構(gòu)中,410為焊盤,420為芯片金屬層(Chip Metal Layer),430為由氮化硅431填充的劃片槽,440為由外向內(nèi)依次設(shè)置氧化硅層441、氮化硅層442和氧化硅層441的芯片鈍化層,450為硅襯底。

      如圖5所示,為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片劃片槽結(jié)構(gòu)剖視圖。劃片槽內(nèi)部由氮化硅431填充,底部為絕緣層144,外部無密封環(huán)包裹,以確??涛g精度可控。

      如圖6所示,為本實用新型具體實施例的等離子蝕刻切割芯片鈍化層剖面圖。芯片鈍化層由外向內(nèi)依次設(shè)置氧化硅層441、氮化硅層442和氧化硅層441,替代現(xiàn)有芯片鈍化層的氧化硅層441和氮化硅層442兩層結(jié)構(gòu),以提高后續(xù)劃片槽的刻蝕選擇比。

      采用本實用新型的等離子刻蝕切割方式,可以做到蝕刻寬度5微米以內(nèi),并且沒有崩齒的影響,幾乎沒有熱損傷,幾乎沒有機械應(yīng)力損傷,可以刻蝕的寬度為5微米,無需設(shè)計密封環(huán);刻蝕一片12英寸的圓片時間與激光切割的時間比約為1:5;與輪刀切割的時間比約為 1:9;芯片由于采用無密封環(huán)設(shè)計及細劃片槽設(shè)計,芯片數(shù)量可以增加17%及以上,為芯片制造降低極大成本。

      上述僅為本實用新型的具體實施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在不脫離本實用新型技術(shù)思路的基礎(chǔ)上能有許多變形和變化,這些顯而易見形成的技術(shù)方案也包含在本實用新型保護的技術(shù)范圍內(nèi)。

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