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      一種邊緣封裝結(jié)構(gòu)的制作方法

      文檔序號:11726955閱讀:665來源:國知局
      一種邊緣封裝結(jié)構(gòu)的制作方法與工藝

      本實用新型屬于半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域,特別是涉及一種邊緣封裝結(jié)構(gòu)。



      背景技術(shù):

      在半導(dǎo)體封裝行業(yè)中,邊緣封裝主要使用封裝膠進行封裝。目前常用的邊緣封裝解決方案如圖1所示,包括:基板1及位于基板1上表面的平行排列的待密封材料層2,所述待密封材料層2中通常具有間隙;覆蓋于所述待密封材料層2表面的隔離層3,所述隔離層3中通常也會具有空隙;以及位于所述隔離層3上表面,覆蓋于所述空隙處的封裝膠層4。其中,封裝膠層的厚度h為0.3~1mm,寬度W為3~10mm,長度為100~500mm。

      邊緣封裝中使用的封裝膠一般為UV膠、熱熔膠、或硅膠等有機材料,利用封裝膠中相應(yīng)有機材料獨有的化學(xué)性質(zhì),在待封裝材料(例如閃爍體層等)與外界環(huán)境之間形成有效地隔離區(qū)域,以達到封裝需要的效果,但是這些封裝膠易受外界環(huán)境影響,并且強度較低,封裝完成后的使用過程中存在易劃傷、不耐高溫高濕、易發(fā)生形變等問題,從而使得里面的待封裝材料容易受潮或氧化,降低了封裝可靠性,減少了待封裝材料的使用壽命。



      技術(shù)實現(xiàn)要素:

      鑒于以上所述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本實用新型的目的在于提供一種邊緣封裝結(jié)構(gòu),用于解決現(xiàn)有技術(shù)中半導(dǎo)體行業(yè)中邊緣封裝結(jié)構(gòu)可靠性低的問題。

      為實現(xiàn)上述目的及其他相關(guān)目的,本實用新型提供一種邊緣封裝結(jié)構(gòu),所述邊緣封裝結(jié)構(gòu)包括:基板及位于所述基板上表面的待密封材料層;覆蓋于所述待密封材料層表面以及所述待密封材料層邊緣外圍區(qū)域的隔離層,所述隔離層中具有空隙;位于所述隔離層上且覆蓋所述空隙,以及覆蓋于邊緣外圍區(qū)域的隔離層及基板之間的封裝膠層;位于所述封裝膠層上表面的密堆積膜層。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述密堆積膜層為金屬層。

      進一步地,所述密堆積膜層為銅箔或鋁箔。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述密堆積膜層的厚度為0.4~0.5mm。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述封裝膠層為防水防氧化層。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述封裝膠層為UV膠,熱熔膠或硅膠。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述封裝膠層的厚度為0.1~0.2mm。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述封裝膠層的寬度為3~10mm,長度為100~500mm;所述密堆積膜層的寬度為3~10mm,長度為100~500mm。

      作為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)的一種優(yōu)選方案,所述隔離層為玻璃薄膜或金屬薄膜,所述基板為玻璃板或金屬板。

      如上所述,本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu),具有以下有益效果:本實用新型通過在封裝膠層上表面增加密堆積膜層,極大地提高了封裝防水、防氧化性能,減少了外界環(huán)境對封裝區(qū)域的應(yīng)力、劃傷、撕扯造成的影響,延長產(chǎn)品的使用壽命。而且,本實施新型具有在半導(dǎo)體邊緣封裝行業(yè)廣泛應(yīng)用的潛力,可以改善封裝結(jié)構(gòu),減少封裝占用空間,提高元器件邊緣封裝可靠性,提高產(chǎn)品競爭力。

      附圖說明

      圖1顯示為現(xiàn)有技術(shù)中的邊緣封裝結(jié)構(gòu)示意圖。

      圖2顯示為本實用新型的邊緣封裝結(jié)構(gòu)示意圖。

      元件標(biāo)號說明

      1 基板

      2 待密封材料層

      3 隔離層

      4 封裝膠層

      5 密堆積膜層

      具體實施方式

      以下由特定的具體實施例說明本實用新型的實施方式,熟悉此技術(shù)的人士可由本說明書所揭露的內(nèi)容輕易地了解本實用新型的其他優(yōu)點及功效。

      請參閱圖2。須知,本說明書所附圖式所繪示的結(jié)構(gòu)、比例、大小等,均僅用以配合說明書所揭示的內(nèi)容,以供熟悉此技術(shù)的人士了解與閱讀,并非用以限定本實用新型可實施的限定條件,故不具技術(shù)上的實質(zhì)意義,任何結(jié)構(gòu)的修飾、比例關(guān)系的改變或大小的調(diào)整,在不影響本實用新型所能產(chǎn)生的功效及所能達成的目的下,均應(yīng)仍落在本實用新型所揭示的技術(shù)內(nèi)容得能涵蓋的范圍內(nèi)。同時,本說明書中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中間”及“一”等的用語,亦僅為便于敘述的明了,而非用以限定本實用新型可實施的范圍,其相對關(guān)系的改變或調(diào)整,在無實質(zhì)變更技術(shù)內(nèi)容下,當(dāng)亦視為本實用新型可實施的范疇。

      如圖2所示,本實用新型提供一種邊緣封裝結(jié)構(gòu),所述邊緣封裝結(jié)構(gòu)包括:基板1及位于所述基板1上表面的待密封材料層2;覆蓋于所述待密封材料層2表面以及所述待密封材料層2邊緣外圍區(qū)域的隔離層3,所述隔離層3中具有空隙;位于所述隔離層3上且覆蓋所述空隙,以及覆蓋于邊緣外圍區(qū)域的隔離層3及基板1之間的封裝膠層4;位于所述封裝膠層4上表面的密堆積膜層5。

      通常來說,隔離層3中的間隙以及隔離層3與基板1之間的間隙是待封裝材料層最容易受潮及受氧化的區(qū)域,因此,本實用新型在這些區(qū)域表面制作了封裝膠層4以及密堆積膜層5,可以大大增強結(jié)構(gòu)的抗潮抗氧化性能,提高邊緣封裝的可靠性。

      具體的,所述封裝膠層4為防水防氧化層,例如UV膠,熱熔膠或硅膠等有機材料。所述隔離層為玻璃薄膜或金屬薄膜,所述基板1為玻璃板或金屬板。所述待封裝材料層為閃爍體層等。由于封裝膠層4材質(zhì)較軟,待密封材料層2、隔離層3或封裝膠層4發(fā)生彈性形變時,封裝膠層4會隨之發(fā)生塑形形變甚至撕裂。而且,封裝膠層4直接暴露在外界環(huán)境中時,水氧透過量受到外界劃傷、溫度、濕度等因素的影響較大。所以,本示例中的封裝膠層4在密堆積膜層5的保護下,不會直接暴露在外界環(huán)境中,水氧透過量受到外界劃傷、溫度、濕度等因素的影響較小,而且密堆積膜層5的強度也比封裝膠層4較高,當(dāng)待密封材料層2、隔離層3、封裝膠層4或密堆積膜層5發(fā)生彈性形變時,密堆積膜層5和封裝膠層4塑性形變較小,不會導(dǎo)致封裝膠層4的撕裂。

      作為示例,所述密堆積膜層5為金屬層。金屬層本身硬度比較高,可以防止封裝處被劃傷,而且具有極佳的防水氧性能。優(yōu)選地,所述密堆積膜層5為銅箔或鋁箔。具體的,所述密堆積膜層以銅箔為例,銅為面心立方最密堆積,銅的金屬半徑127.8pm,共價半徑117pm。美國物理學(xué)家萊納斯·鮑林將原子的共價半徑定義為由共價單鍵結(jié)合的兩個相同原子核之間距離的一半,實際操作中,共價半徑是綜合了多種實驗測量數(shù)據(jù)后得到的統(tǒng)計平均值。對于不同原子形成的共價鍵,理論上共價鍵的長度可以表示為組成原子共價半徑之和,即:R(AB)=r(A)+r(B)。因此,銅單質(zhì)的共價鍵長度為234pm。所以銅原子的半徑大于其共價半徑,原子尺寸以上的物質(zhì)無法透過完美晶格結(jié)構(gòu)的最密堆積材料,實際材料中一定厚度的非完美晶格結(jié)構(gòu)的最密堆積材料亦無法透過。水分子的直徑為400pm,氧氣分子直徑為350pm,因此水分子、氧氣分子無法透過一定厚度的較完善晶格密堆積材料。

      作為示例,本示例中密堆積膜層5寬度及長度大于等于所述封裝膠層4的寬度及長度。作為示例,所述密堆積膜層5的厚度為0.4~0.5mm,寬度為3~10mm,長度為100~500mm。優(yōu)選地,所述密堆積膜層5的厚度為0.5mm,寬度為5mm,長度為500mm。所述封裝膠層4的厚度為0.1~0.2mm,寬度為3~10mm,長度為100~500mm。優(yōu)選地,所述封裝膠層4的厚度為0.2mm,寬度為5mm,長度為500mm。本示例在通過增加密堆積膜層5,在保證防水氧能力的基礎(chǔ)上,減小了封裝膠層4的厚度,使得密堆積膜層5加上封裝膠層4的整體厚度減少,壓縮封裝占用空間。

      本示例通過增加密堆積膜層后,可以將防水防氧化能力提高20倍。具體的,封裝膠層4的防水氧能力與封裝膠層4直接暴露在外界環(huán)境中的表面積成正比,目前常用的封裝解決方案如圖1所示,這種方案中封裝膠層4直接暴露在外界環(huán)境中的表面積S1為:

      S1=2*L*h1+2*w*h1+w*L

      其中,w是封裝膠層4的寬度,h1是封裝膠層4的厚度,L是封裝膠層4的長度(圖未見),w>>h1。因為封裝膠層4的防水氧能力與封裝膠層4厚度h1呈正相關(guān),通過增加封裝膠層4的厚度h1及寬度w,能有效增強封裝膠層4的防水氧能力,但這樣會導(dǎo)致封裝影響范圍過大。如圖2所示,本實用新型在封裝膠層4上表面貼附一層密堆積膜層5后,水分子無法透過密堆積膜層,使封裝膠層4的上表面不再暴露在外界環(huán)境中,那么可知封裝膠層4暴露在外界環(huán)境中的表面積S2為:

      S1=2*L*h2+2*w*h2

      其中,w是封裝膠層4的寬度,h2是封裝膠層4的厚度,L是封裝膠層4的長度(圖未見)。

      本實施例由于增加了一層密堆積膜層5,在保證防水防氧化性能的基礎(chǔ)上,使得封裝膠層4的防水氧能力不受其上表面積的影響,而且可以減少封裝膠層4的厚度,使得h2<h1,4h2<<(w+4h1),因此S2<<S1。實際應(yīng)用時,本示例中的封裝結(jié)構(gòu)可以使得封裝膠層4暴露在外界的面積S2減小至現(xiàn)有封裝膠層4暴露在外界的面積S1的5%,即本示例中的封裝結(jié)構(gòu)的防水、防氧能力提高至現(xiàn)有封裝結(jié)構(gòu)(如圖1所示)的20倍。

      綜上所述,本實用新型通過在封裝膠層上表面增加密堆積膜層,極大地提高了封裝防水、防氧化性能,減少了外界環(huán)境對封裝區(qū)域的應(yīng)力、劃傷、撕扯造成的影響,延長產(chǎn)品的使用壽命。而且,本實施新型具有在半導(dǎo)體邊緣封裝行業(yè)廣泛應(yīng)用的潛力,可以改善封裝結(jié)構(gòu),減少封裝占用空間,提高元器件邊緣封裝可靠性,提高產(chǎn)品競爭力。所以,本實用新型有效克服了現(xiàn)有技術(shù)中的種種缺點而具高度產(chǎn)業(yè)利用價值。

      上述實施例僅例示性說明本實用新型的原理及其功效,而非用于限制本實用新型。任何熟悉此技術(shù)的人士皆可在不違背本實用新型的精神及范疇下,對上述實施例進行修飾或改變。因此,舉凡所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識者在未脫離本實用新型所揭示的精神與技術(shù)思想下所完成的一切等效修飾或改變,仍應(yīng)由本實用新型的權(quán)利要求所涵蓋。

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